技术总结
该发明公开了一种基于局部均值思想的IC粒子区域缺陷检测方法，属于数字图像处理领域。通过采集液晶面板IC粒子区域的清晰图像，计算IC里bump区域的像素均值，将bump区域分割为大小相同的小区域，对分割的图像依次求取每个小区域的像素均值，将所有像素均值进行指数拉伸，拉伸后的最大像素均值和最小像素均值；再最大像素均值与最小像素均值做差；差值小于给定的阈值，说明该IC区域无缺陷，如果该差值大于给定的阈值，则说明有缺陷；该方法达到了提高达到检测效率高，速度快的效果。
技术研发人员：刘霖;刘鹏;倪光明;卿亮;杜晓辉;王祥舟;夏翔;张静;刘娟秀;刘永
受保护的技术使用者：电子科技大学
文档号码：201610844487
技术研发日：2016.09.23
技术公布日：2017.02.22