技术总结
本发明公开了一种嵌入式系统实时性能测试方法，用于解决现有嵌入式系统实时性能测试方法精度差的技术问题。技术方案是将实时性的基础指标、多核指标和分区指标纳入实时性能测试之中，通过直接硬件访问机制实现了微秒级的时间获取，并针对指标已有的性能测试算法中存在的问题进行改进。由于采用嵌入式系统实时性能指标体系架构，能够获得更加全面的嵌入式系统实时性能数据，为现有的嵌入式系统提供性能改进方向，促进嵌入式系统结构设计和软硬件选型，能够提高嵌入式系统的可用性。在性能指标测试阶段，通过使用硬件时间获取方法，并针对嵌入式实时性能相关算法上进行改进，减少了算法的复杂度，使实时性测试精度达到10‑6级别，提高了测试结果的精度。
技术研发人员：朱怡安;黄林林;李联;魏超;罗殊彦
受保护的技术使用者：西北工业大学
文档号码：201611002818
技术研发日：2016.11.11
技术公布日：2017.05.31