产品生命周期监控方法及电子设备与流程

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种产品生命周期监控方法及电子设备。

背景技术：

产品生命周期，是指产品从被生产出来，进行操作使用到产品报废的整个过程。在实际应用过程中，产品会因为使用频率、器件损耗等因数，缩短产品的使用寿命。但市面上大部分产品没有对产品的生命周期进行监控，导致产品一旦出售，只能凭借过往经验，对产品的后续服务进行大致评估，更别说对产品进行品质控制了。一方面，无法保证产品持续给用户带来优质的使用体验，另一方面，突发性的功能故障会降低用户的评价，带来产品不稳定的感觉。

技术实现要素：

本发明实施例提供产品生命周期监控方法及电子设备，以解决现有技术中，由于难以对产品的生命周期进行监控而产生的影响用户体验的问题。

一方面，本发明实施例提供一种产品生命周期监控方法，适用于电子设备，所述方法包括：

在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项；

根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据；

获取所述电子设备的生命周期数据；

根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。

在其中一个实施例中，所述生命周期数据包括关键部件运行时间阈值或关键部件启动次数阈值中的至少一项；所述根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行的步骤，包括：

根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，判断所述关键部件运行时间是否大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数是否大于所述关键部件启动次数阈值；

若所述关键部件运行时间大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数大于所述关键部件启动次数阈值，减少相应的关键部件的使用；

发出对于所述关键部件的维护提醒。

在其中一个实施例中，在所述根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行的步骤之后，还包括：

判断所述关键部件是否已更换；

若是，重置所述第二现场数据，得到第三现场数据。

在其中一个实施例中，所述关键部件运行时间包括运行天数、运行小时数、运行分钟数和运行秒数。

在其中一个实施例中，所述电子设备包括ic卡读卡器，所述ic卡读卡器的关键部件包括flash存储芯片。

另一方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括处理器，所述处理器用于：

在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项；

根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据；

获取所述电子设备的生命周期数据；

根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。

在其中一个实施例中，所述生命周期数据包括关键部件运行时间阈值或关键部件启动次数阈值中的至少一项；所述处理器还用于：

根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，判断所述关键部件运行时间是否大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数是否大于所述关键部件启动次数阈值；

若所述关键部件运行时间大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数大于所述关键部件启动次数阈值，减少相应的关键部件的使用；

发出对于所述关键部件的维护提醒。

在其中一个实施例中，所述处理器还用于：

判断所述关键部件是否已更换；

若是，重置所述第二现场数据，得到第三现场数据。

在其中一个实施例中，所述关键部件运行时间包括运行天数、运行小时数、运行分钟数和运行秒数。

在其中一个实施例中，所述电子设备包括ic卡读卡器，所述ic卡读卡器的关键部件包括flash存储芯片。

本发明实施例提供的产品生命周期监控方法，通过在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项；根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据；获取所述电子设备的生命周期数据；根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。由于电子设备的寿命往往与其关键部件息息相关，由此，通过由电子设备本身智能地对电子设备及其关键部件进行监控，并据此控制其运行，可用于延长电子设备的使用寿命，提升了用户体验。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例的附图，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明产品生命周期监控方法的第一实施例的流程图；

图2是本发明产品生命周期监控方法的第二实施例的流程图；

图3是本发明电子设备的结构框图；

图4是本发明电子设备另一实施例的结构框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

第一实施例

如图1所示，是本发明产品生命周期监控方法的第一实施例的流程图。该产品生命周期监控方法用于电子设备，包括：

步骤101，在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项。

在本发明实施例中，电子设备记录了产品的现场数据，包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项，在所述电子设备启用时，恢复第一现场数据，即电子设备上一次运行结束时所保存的现场数据。具体地，所述关键部件运行时间包括运行天数、运行小时数、运行分钟数和运行秒数。

步骤102，根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据。

在本发明实施例中，在产品启动时对产品运行的现场数据进行恢复后，产品接着上次的运行现场继续运行，生成新的现场数据。其中，每次推进小时计数，进行运行现场备份预操作标记，并且在检测到有运行现场备份预操作标记时，对运行现场进行备份。具体地，设备运行时间或关键部件运行时间计数的最小单位为秒，最大单位为天数；最小计数单位为秒，因此一般运行计数推进的接口放于一个1秒定时器中。同时计数的接口位于定时器中，只能进行有限的操作，以避免下一次定时计数。预警计数推进模块计数到60秒，推进分钟计数，秒数清零；分钟计数到60分，推进小时计数，分钟清零；小时计数到24小时，推进天数计数，小时清零。每次推进小时计数，进行运行现场备份预操作标记。每次推进天数计数，进行功能监控预操作标记。

本步骤记录了产品的功能运行消耗，对监控产品整个生命周期和部分功能提供重要依据。

步骤103，获取所述电子设备的生命周期数据。

在本发明实施例中，电子设备的生命周期数据可以是厂家预置的极限数据，或根据极限数据生成的参考数据，其与现场数据相应，并作为产品生命周期的参考值。

步骤104，根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。

在本发明实施例中，本步骤计算并监控产品功能的损耗，通过监控电子设备及其关键部件的使用频率，结合产品的运行时间，控制功能运行发生事件的产生。

在本发明实施例中，在产品功能使用时，会进行功能计数。步骤102每次推进天数计数，进行功能监控预操作标记，本步骤在检测到有功能监控预操作标记时，对各种功能进行检查控制。功能检查控制不止检查功能使用计数是否达到设计上限，同时结合产品运行总时间对功能事件是否发生进行补偿计算。

本发明实施例提供的产品生命周期监控方法，通过在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项；根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据；获取所述电子设备的生命周期数据；根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。由于电子设备的寿命往往与其关键部件息息相关，由此，通过由电子设备本身智能地对电子设备及其关键部件进行监控，并据此控制其运行，可用于延长电子设备的使用寿命，提升了用户体验。

第二实施例

如图2所示，是本发明产品生命周期监控方法的第二实施例的流程图。该产品生命周期监控方法适用于电子设备，是基于本发明产品生命周期监控方法的第一实施例的改进，包括：

步骤201，在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项。

步骤202，根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据.

步骤203，获取所述电子设备的生命周期数据。

步骤201至步骤203与本发明产品生命周期监控方法的第一实施例的相应步骤相同，此处不再赘述。

在本发明实施例中，所述生命周期数据包括关键部件运行时间阈值或关键部件启动次数阈值中的至少一项，还可以设备运行时间阈值、设备启动次数阈值等。

步骤204，根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，判断所述关键部件运行时间是否大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数是否大于所述关键部件启动次数阈值。

步骤205，若所述关键部件运行时间大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数大于所述关键部件启动次数阈值，减少相应的关键部件的使用。

步骤206，发出对于所述关键部件的维护提醒。

步骤207，判断所述关键部件是否已更换。

步骤208，若是，重置所述第二现场数据，得到第三现场数据。

本发明对产品功能进行监控，在功能达到使用频率上限后，进行功能事件报警，方便售后服务进行产品维护更新，避免突发性功能故障影响使用体验，同时精确延长产品寿命，降低维护成本。

下面进行举例说明：假设产品的一种功能依赖于某个器件，该器件设计的使用次数上限为50000次，同时该器件的寿命会随运行时间递减。那么处理器在监查该功能使用计数的同时，还需要考虑运行时间对该功能的影响。以判断是否对该功能进行报警，控制使用该功能。由于每种功能的监控方式不同，需要根据实际使用情况进行设计，此处不进行进一步阐述。在达到功能事件发生条件时，处理器对该功能进行控制，同时备份运行现场，在进行售后维护前，对该功能进行报警控制。在售后维护后，恢复该功能，并重置该功能的监控参数。

在本发明实施例中，所述电子设备包括ic卡读卡器，所述ic卡读卡器的关键部件包括flash存储芯片。

本发明实施例提供的产品生命周期监控方法，通过在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项；根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据；获取所述电子设备的生命周期数据；根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。由于电子设备的寿命往往与其关键部件息息相关，由此，通过由电子设备本身智能地对电子设备及其关键部件进行监控，并据此控制其运行，可用于延长电子设备的使用寿命，提升了用户体验。

上文对本发明的产品生命周期监控方法的实施例作了详细介绍。下面将相应于上述方法的电子设备作进一步阐述。

第三实施例

如图3所示，为本发明电子设备的实施例的结构框图。该电子设备300可以实施本发明产品生命周期监控方法的第一实施例或第二实施例的各步骤，具体包括：关键部件301和处理器302。

其中，所述处理器302用于：在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项；根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据；获取所述电子设备的生命周期数据；根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。

进一步地，所述生命周期数据包括关键部件运行时间阈值或关键部件启动次数阈值中的至少一项；所述处理器302还用于：根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，判断所述关键部件运行时间是否大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数是否大于所述关键部件启动次数阈值；若所述关键部件运行时间大于所述关键部件运行时间阈值，或，所述关键部件启动次数大于所述关键部件启动次数阈值，减少相应的关键部件的使用；发出对于所述关键部件的维护提醒。

进一步地，所述处理器302还用于：判断所述关键部件是否已更换；若是，重置所述第二现场数据，得到第三现场数据。

进一步地，所述关键部件运行时间包括运行天数、运行小时数、运行分钟数和运行秒数。

本发明实施例提供的产品生命周期监控方法，通过在所述电子设备启用时，获取所述电子设备的第一现场数据，所述第一现场数据包括设备运行时间、设备启动次数、关键部件运行时间或关键部件启动次数中的至少一项；根据所述电子设备的运行情况，更新所述第一现场数据，生成第二现场数据；获取所述电子设备的生命周期数据；根据所述第二现场数据和所述生命周期数据，控制所述电子设备的运行。由于电子设备的寿命往往与其关键部件息息相关，由此，通过由电子设备本身智能地对电子设备及其关键部件进行监控，并据此控制其运行，可用于延长电子设备的使用寿命，提升了用户体验。

第四实施例

参见图4，所述电子设备为ic卡读卡器400，所述ic卡读卡器400的关键部件包括flash存储芯片401，ic卡读卡器400中设有处理器402。

在ic卡读卡器中，经常需要使用flash存储芯片进行数据的存储和更新，并且需要重复使用同一块存储区域。一般flash存储芯片的读取和写入是不损耗flash存储芯片的寿命；flash存储芯片的擦除则会损耗flash存储芯片的寿命。一般flash存储芯片的擦除次数大概在10万次左右。重复擦除10万次后，flash存储芯片会出现坏块，此时写入的数据无法保存，读取的数据内容无法保证。而且一般flash存储芯片有20年左右的数据保持特性，超过20年，flash存储芯片的读取内容也无法保证。

为了确保ic卡读卡器能正常稳定地工作。需要对flash数据存储和更新功能引入产品生命周期监控方法。

处理器402负责记录flash存储芯片的使用时间，对使用时间进行备份，在重启时进行恢复，防止flash存储芯片的使用时间重复计算。

处理器402在每次擦除flash存储芯片时，对flash存储芯片的累计擦除次数进行监控和记录，处理器402对擦除次数进行备份，在重启时进行恢复，防止flash存储芯片的擦除次数重复累计。

处理器402在监控到flash存储芯片的使用时间超过20年，或擦除次数超过10万次，会对flash存储芯片相关操作进行控制，并报警，提醒客户对产品进行售后维护。

在产品进行售后维护(比如更换新的flash存储芯片)后，对flash存储芯片的产品生命周期监控运行现场进行重置，处理器402对flash存储芯片重新计数，处理器402解除对flash存储芯片的控制，停止报警。

在对flash存储芯片加入产品生命周期监控方法后，能确保flash存储芯片能正常稳定地工作，确保数据的正确性。

以上所说实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应该认为是本说明书记载的范围。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。