电容笔、电容笔的笔尖以及电容笔笔尖的磨损检测方法与流程

本申请涉及电容笔技术领域，特别是涉及一种电容笔、电容笔的笔尖以及电容笔笔尖的磨损检测方法。

背景技术：

当前，触控笔在人们的生活中已经越来越常见了，触控笔是一种用来对具有触摸屏的触控电子设备进行触控操作的笔形工具。在实际应用中，许多触控笔都具有导电特性，可以向触控电子设备传递电信号，这类型的触控笔也可以被称为电容笔。通常情况下，电容笔的笔尖可以包括用来传递电信号的金属笔芯，同时，电容笔的笔尖还可以包括包覆该金属笔芯的壳体，该壳体可以避免金属笔芯裸露在外，从而可以起到防止金属笔芯划伤触摸屏的目的。然而，随着电容笔的使用，笔尖包括的壳体很有可能磨损而导致金属笔芯露出，这会带来触摸屏被划伤的风险。

目前对电容笔笔尖的壳体的磨损情况缺乏有效的检测手段，更多依赖于用户自行观察，从而判断是否需要更换笔尖。然而，由用户自行观察的方式准确性较差。

技术实现要素：

基于此，本申请实施例提供了一种电容笔、电容笔的笔尖以及电容笔笔尖的磨损检测方法，可以提高检测电容笔笔尖的壳体的磨损情况的准确性。

第一方面，提供了一种电容笔，该电容笔包括笔身、笔尖、光线传感器和处理器；

该笔尖与该笔身连接，该笔尖包括不透光的第一壳体，该笔身包括不透光的第二壳体，其中，该第一壳体远离该第二壳体的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，该透光层位于该第一壳体和该金属笔芯之间；该光线传感器设置于由该第一壳体和该第二壳体共同形成的腔体空间内，用于测量该腔体空间内的光线的光强，并将测得的光强传递至该处理器；该处理器用于在该光线传感器测得的光强大于预设光强阈值的情况下，输出笔尖磨损信息。

第二方面，提供了一种电容笔的笔尖，该笔尖包括不透光的第一壳体，其中，该第一壳体远离笔身安装部的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，该透光层位于该第一壳体和该金属笔芯之间；该笔身安装部设置于该笔尖的一端，用于连接该电容笔的笔身。

第三方面，提供了一种电容笔笔尖的磨损检测方法，用于上述第一方面所述的电容笔中，该方法包括：

对该电容笔的腔体空间内的光线的光强进行检测，其中，该腔体空间为由该电容笔的笔身包括的第二壳体和该电容笔的笔尖包括的第一壳体共同形成的空间，其中，该第一壳体远离该第二壳体的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，该透光层位于该第一壳体和该金属笔芯之间；若测得的光强大于预设光强阈值，则输出笔尖磨损信息。

第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述第三方面所述的电容笔笔尖的磨损检测方法。

本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

本申请实施例提供了一种电容笔，该电容笔包括笔身、笔尖、光线传感器以及处理器，其中，笔尖与笔身连接，笔尖包括不透光的第一壳体，笔身包括不透光的第二壳体，其中，该第一壳体远离第二壳体的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，该透光层位于第一壳体和金属笔芯之间，该光线传感器设置于由第一壳体和第二壳体形成的腔体空间内，用于测量该腔体空间内的光线的光强，并将测得的光强传递至处理器，该处理器用于在光线传感器测得的光强大于预设光强阈值的情况下，输出笔尖磨损信息，这样，当笔尖包括的第一壳体磨损后，该透光层即可露出，因此，电容笔外部的环境光就可以通过第一壳体磨损缺口处露出的透光层射入腔体空间内，在这种情况下，光线传感器测得的光强大于预设光强阈值，此时，处理器可以确定笔尖包括的第一壳体发生了磨损，并输出笔尖磨损信息，由于本申请实施例提供的电容笔可以利用上文所述的机制自动地检测笔尖包括的第一壳体是否发生磨损，因此，相较于由用户自行观察的方式而言，其准确性较高。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种电容笔的示意图；

图2为本申请实施例提供的一种单侧边磨损的示意图；

图3为本申请实施例提供的一种底部尖端磨损的示意图；

图4为本申请实施例提供的一种混合磨损的示意图；

图5为本申请实施例提供的一种在第一壳体1011发生磨损的情况下，电容笔外部的环境光射入至由第一壳体1011和第二壳体1021共同形成的腔体空间k内的示意图；

图6为本申请实施例提供的另一种电容笔的示意图；

图7为本申请实施例提供的一种光线传感器103在支撑部z上的设置方式的示意图；

图8为本申请实施例提供的另一种光线传感器103在支撑部z上的设置方式的示意图；

图9为本申请实施例提供的另一种光线传感器103在支撑部z上的设置方式的示意图；

图10为本申请实施例提供的另一种光线传感器103在支撑部z上的设置方式的示意图；

图11为本申请实施例提供的一种电容笔笔尖的磨损检测方法的流程图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。

电容笔是一种比较常见的触控笔，其可以分为主动式电容笔和被动式电容笔两种。

其中，被动式电容笔的笔尖可以包括金属笔芯，在该金属笔芯与触摸屏距离足够近的情况下，金属笔芯与触摸屏的电极之间的耦合电容就可以被触控电子设备检测到，基于检测到的耦合电容，触控电子设备即可确定被动式电容笔的笔尖相对触摸屏的位置，从而可以基于确定的位置生成触控事件。

主动式电容笔的笔尖也可以包括金属笔芯，与被动式电容笔不同的是，主动式电容笔还可以包括与金属笔芯连接的信号发生电路，该信号发生电路可以生成触控信号，并将该触控信号传递至金属笔芯，金属笔芯可以将该触控信号发射出去，触控电子设备在接收到该触控信号后，可以基于该触控信号确定主动式电容笔的笔尖相对触摸屏的位置，从而可以基于确定的位置生成触控事件。

如上文所述，无论是主动式电容笔的笔尖还是被动式电容笔的笔尖都可以包括金属笔芯，该金属笔芯可以向触控电子设备传递电信号(如上文所述的耦合电容或者触控信号)。

在实际应用中，电容笔的笔尖通常可以包括包覆金属笔芯的壳体，该壳体可以避免金属笔芯裸露在外，从而可以起到防止金属笔芯划伤触摸屏的目的。

然而，随着电容笔的使用，笔尖包括的壳体很有可能磨损而导致金属笔芯露出，这会带来触摸屏被划伤的风险。

目前对电容笔笔尖的壳体的磨损情况缺乏有效的检测手段，更多依赖于用户自行观察，从而判断是否需要更换笔尖。然而，由用户自行观察的方式准确性较差，而且，当用户观察到电容笔笔尖的壳体出现磨损后，往往金属笔芯已经露出，在这种情况下，有可能已经对触摸屏造成了划伤。

有鉴于此，本申请实施例提供了一种电容笔，该电容笔包括笔身、笔尖、光线传感器以及处理器，其中，笔尖与笔身连接，笔尖包括不透光的第一壳体，笔身包括不透光的第二壳体，其中，该第一壳体远离第二壳体的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，该透光层位于第一壳体和金属笔芯之间，该光线传感器设置于由第一壳体和第二壳体形成的腔体空间内，用于测量该腔体空间内的光线的光强，并将测得的光强传递至处理器，该处理器用于在光线传感器测得的光强大于预设光强阈值的情况下，输出笔尖磨损信息，这样，当笔尖包括的第一壳体磨损后，该透光层即可露出，因此，电容笔外部的环境光就可以通过第一壳体磨损缺口处露出的透光层射入腔体空间内，在这种情况下，光线传感器测得的光强大于预设光强阈值，此时，处理器可以确定笔尖包括的第一壳体发生了磨损，并输出笔尖磨损信息，由于本申请实施例提供的电容笔可以利用上文所述的机制自动地检测笔尖包括的第一壳体是否发生磨损，因此，相较于由用户自行观察的方式而言，其准确性较高。

进一步地，由于第一壳体磨损后，金属笔芯并不会直接露出，而是透光层露出，因此，在检测到第一壳体发生磨损的情况下，也不会出现金属笔芯露出划伤触摸屏的风险，故而，其安全性较高。

请参考图1，其示出了本申请实施例提供的电容笔的示意图，如图1所示，该电容笔包括笔尖101、笔身102、光线传感器103和处理器(图1中未示出)。

其中，笔尖101与笔身102连接，笔尖101包括不透光的第一壳体1011，笔身102包括不透光的第二壳体1021。其中，第一壳体1011远离第二壳体1021的一端a的内侧依次设置有透光层t和金属笔芯j，该透光层t位于第一壳体1011和金属笔芯j之间。

光线传感器103设置于由第一壳体1011和第二壳体1021共同形成的腔体空间k内，用于测量腔体空间k内的光线的光强，并将测得的光强传递至处理器。处理器用于在光线传感器103测得的光强大于预设光强阈值的情况下，输出笔尖磨损信息。

如上文所述，电容笔可以包括主动式电容笔和被动式电容笔两种，可选的，本申请实施例提供的电容笔可以为主动式电容笔。在这种情况下，本申请实施例提供的电容笔还可以包括信号发生电路(图1中未示出)，该信号发生电路分别与金属笔芯j和处理器连接，该信号发生电路用于在处理器的控制下生成触控信号，并将生成的触控信号传递至金属笔芯j，该金属笔芯j用于发射该触控信号。

在本申请的可选实施例中，处理器以及信号发生电路等电路结构可以设置于笔身102包括的第二壳体1021内。在本申请的可选实施例中，金属笔芯j可以通过弹簧导线等与信号发生电路连接。

在本申请实施例中，笔尖101和笔身102可以为一体式结构，也可以不为一体式结构，在笔尖101和笔身102不为一体式结构的情况下，笔尖101可以与笔身102固定连接，也可以与笔身102可拆卸地连接，例如，笔尖101可以通过螺纹与笔身102连接。笔尖101与笔身102可拆卸地连接可以便于用户更换笔尖101。

在本申请的可选实施例中，第一壳体1011可以为pom材质、elastomer材质、tpu材质或者其他复合材质。

在本申请的可选实施例中，第一壳体1011的硬度小于预设硬度阈值，也即是，在本申请的可选实施例中，第一壳体1011较软，这样，可以提升用户使用电容笔书写的体验。

在本申请的可选实施例中，第一壳体1011的介电常数大于预设介电常数阈值，换句话说，第一壳体1011的介电常数较高，这样，可以保证由金属笔芯j发射的触控信号可以良好地穿透该第一壳体1011。

如上文所述，在本申请实施例中，第一壳体1011远离第二壳体1021的一端a的内侧依次设置有透光层t和金属笔芯j。

其中，第一壳体1011包括靠近第二壳体1021的一端b和远离第二壳体1021的一端a，该远离第二壳体1021的一端a即为笔尖101的尖端部分，在笔尖101与笔身102可拆卸连接的情况下，第一壳体1011靠近第二壳体1021的一端b可以包括笔身安装部，该笔身安装部用于连接笔身102，例如，该笔身安装部可以包括螺纹。

如图1所示，该透光层t位于第一壳体1011和金属笔芯j之间。在本申请的可选实施例中，该透光层t可以为pmma等透光材质。在本申请的可选实施例中，该透光层t与第一壳体1011可以采用胶粘的方式粘合在一起，也可以采用其他的制造工艺铸成一体。

在本申请的可选实施例中，金属笔芯j可以与透光层t固定连接，例如，金属笔芯j与透光层t可以采用胶粘的方式粘合在一起。在本申请的可选实施例中，金属笔芯j可以为锥形，因为锥形金属笔芯j的信号发射性能较优，当然，在实际应用中，金属笔芯j还可以为其他形状，本申请实施例对其不做具体限定。

在本申请实施例中，光线传感器103设置于由第一壳体1011和第二壳体1021共同形成的腔体空间k内，实际应用中，该光线传感器103可以设置于第一壳体1011内，也可以设置于第二壳体1021内。

其中，光线传感器103的感光面朝向该第一壳体1011，同时，在本申请的可选实施例中，光线传感器103的设置位置处与透光层t之间存在直接光线通路，也即是，光线传感器103的设置位置处与透光层t之间不存在遮挡物。

在本申请的可选实施例中，电容笔中可以设置一个光线传感器103，也可以在不同位置处设置多个光线传感器103。

如上文所述，在本申请实施例中，处理器可以与光线传感器103连接，并可以接收光线传感器103传递的该光线传感器103测得的光线，此外，处理器还可以在光线传感器103测得的光强大于预设光强阈值的情况下，输出笔尖磨损信息。

下面，本申请实施例将对处理器输出笔尖磨损信息的方式进行示例性地说明。

第一种方式：电容笔还可以包括告警信息输出电路(图1中未示出)，该告警信息输出路与处理器连接，该告警信息输出电路可以为警示灯电路、震动电路、音频播放电路或者图像展示电路等，本申请实施例不对告警信息输出电路的具体类型进行限定。在本申请的可选实施例中，该告警信息输出电路可以设置于笔身102包括的第二壳体1021内。

该处理器可以通过该告警信息输出电路输出该笔尖磨损信息，其中，该笔尖磨损信息用于指示用户对笔尖101进行更换处理。

换句话说，在本申请实施例中，如果检测到笔尖101的第一壳体1011发生磨损，则电容笔可以通过警示灯闪烁、震动、播放警示音或者展示警示性文字以及图案的方式提醒用户更换笔尖101，以避免笔尖101包括的金属笔芯j露出而划伤触摸屏。

第二种方式：电容笔还可以包括通信电路(图1中未示出)，该通信电路与处理器连接，该通信电路可以为蓝牙电路等近距离通信电路，该通信电路可以为上文所述的信号发生电路，本申请实施例不对通信电路的具体类型进行限定。在本申请的可选实施例中，该通信电路可以设置于笔身102包括的第二壳体1021内。

该处理器可以通过该通信电路向与电容笔建立有通信连接的触控电子设备发送该笔尖磨损信息，其中，该笔尖磨损信息用于指示用户对笔尖101进行更换处理，或者，该笔尖磨损信息用于指示触控电子设备禁止对电容笔进行响应。

触控电子设备在接收到该笔尖磨损信息之后，可以通过弹窗、语音或者其他方式提醒用户对笔尖101进行更换处理。

或者，触控电子设备在接收到该笔尖磨损信息之后，可以禁止对该电容笔的金属笔芯j发射的触控信号进行响应。由于触控电子设备不对电容笔进行响应，因此，用户无法使用电容笔，在用户无法使用电容笔的情况下，电容笔的金属笔芯j也就不会对触控电子设备的触摸屏造成划伤。

第三种方式：处理器可以向信号发生电路输出笔尖磨损信息，该笔尖磨损信息用于指示信号发生电路禁止生成触控信号。由于信号发生电路无法生成触控信号，因此，用户无法使用电容笔，在用户无法使用电容笔的情况下，电容笔的金属笔芯j也就不会对触控电子设备的触摸屏造成划伤。

请参考图1，在笔尖101包括的第一壳体1011未发生磨损的情况下，由于第一壳体1011和第二壳体1021均不透光，因此，电容笔外部的环境光(既可以是自然光，也可以是触控电子设备发出的光线)无法射入至由第一壳体1011和第二壳体1021共同形成的腔体空间k内，在这种情况下，光线传感器103测得的腔体空间k内的光线的光强较小，也即是，小于预设光强阈值，此时，处理器可以确定第一壳体1011未发生磨损，并禁止输出笔尖磨损信息。

而在笔尖101包括的第一壳体1011发生磨损(包括书写造成的磨损或者电容笔掉落等非书写因素造成的磨损)的情况下，第一壳体1011磨损缺口处内侧的透光层t就会露出，电容笔外部的环境光就可以通过露出的透光层t射入至由第一壳体1011和第二壳体1021共同形成的腔体空间k内，在这种情况下，光线传感器103测得的腔体空间k内的光线的光强较大，也即是，大于预设光强阈值，此时，处理器可以确定第一壳体1011发生磨损，并输出笔尖磨损信息。

在实际应用中，按照第一壳体1011磨损后的形态可以将第一壳体1011的磨损情况分为三种：第一种为单侧边磨损，第二种为底部尖端磨损，第三种为混合磨损。

请参考图2，其为单侧边磨损的示意图。通常情况下，如果电容笔的笔身102具有特定的非对称结构，例如，电容笔的笔身102非对称地设置有笔夹、按键或者防滚槽，则用户握持电容笔的姿势往往较为固定，在这种情况下，长久地使用电容笔容易造成如图2所示的单侧边磨损。

请参考图3，其为底部尖端磨损的示意图。通常情况下，如果用户习惯使用笔尖101的尖端部分进行书写或者点击，握持电容笔的姿势偏向于垂直，那么，长久地使用电容笔容易造成如图3所示的底部尖端磨损。

请参考图4，其为混合磨损的示意图。通常情况下，如果用户握持电容笔的姿势不固定，缺乏规律性，那么，长久地使用电容笔容易造成如图4所示的混合磨损。

如图2至4所示，无论是哪一种类型的磨损情况，磨损都发生在笔尖101的尖端部分，也即是都发生在第一壳体1011远离第二壳体1021的一端a，由于透光层t设置于第一壳体1011远离第二壳体1021的一端a，因此，当第一壳体1011发生磨损后，第一壳体1011磨损缺口处内侧的透光层t会先于金属笔芯j露出，在透光层t露出之后，电容笔外部的环境光就可以通过露出的透光层t射入至由第一壳体1011和第二壳体1021共同形成的腔体空间k内。

请参考图5，其示出了在第一壳体1011发生磨损的情况下，电容笔外部的环境光射入至由第一壳体1011和第二壳体1021共同形成的腔体空间k内的示意图。

在实际应用中，电容笔外的环境光可以经由直射、反射、折射、漫反射等方式射入至腔体空间k内，这取决于入射光线的角度以及第一壳体1011磨损的位置。

请参考图6，在本申请的可选实施例中，第二壳体1021内设置有支撑部z，如图6所示，该支撑部z可以为片状结构，该支撑部z可以与第二壳体1021连接。笔尖101还包括与金属笔芯j连接的笔芯延长部y，其中，笔芯延长部y抵接于该支撑部z之上。在本申请的可选实施例中，该笔芯延长部y可以和金属笔芯j为一体式结构，也可以不为一体式结构，本申请实施例对此不作具体限定。

在实际应用中，电容笔进行书写时，笔尖101会受力，长久使用之后，金属笔芯j可能在力的作用下松脱，为了避免这种情况，可以设置与金属笔芯j连接的笔芯延长部y，该笔芯延长部y可以抵接于支撑部z之上，这样，在书写过程中，支撑部z就可以通过笔芯延长部y向金属笔芯j提供一个反向的抵接力，继而可以避免金属笔芯j松脱。

请继续参考图6，在本申请的可选实施例中，笔芯延长部y和支撑部z的抵接处设置有压力传感器104，该压力传感器104与处理器(图6中未示出)连接。

在实际应用中，笔芯延长部y和支撑部z的抵接处的压力可以反映笔尖101在书写过程中的受力，也即是，可以反映用户书写的轻重。在本申请实施例中，压力传感器104可以将测得的抵接处的压力传递至处理器，处理器可以根据压力传感器104测得的压力控制信号发生电路生成触控信号，该触控信号可以携带笔画粗细信息，该笔画粗细信息所指示的笔画粗细与压力传感器104测得的压力正相关，也即是，压力传感器104测得的压力越大，说明用户书写得越用力，因此，笔画越粗，反之，压力传感器104测得的压力越小，说明用户书写得越不用力，因此，笔画越细。

请继续参考图6，在本申请的可选实施例中，光线传感器103可以设置于支撑部z朝向第一壳体1011的一侧。

在本申请的可选实施例中，光线传感器103可以与压力传感器104共用电路板，从而降低电路的复杂程度。

请参考图7至图9，其示出了光线传感器103在支撑部z上的设置方式，如图7至图9所示，支撑部z可以为圆形片状结构，电容笔可以包括多个光线传感器103，其中，该多个光线传感器103围绕支撑部z的圆心均匀排布。

例如，如图7所示，电容笔可以包括2个光线传感器103，该2个光线传感器103围绕支撑部z的圆心对称排布。如图8所示，电容笔可以包括3个光线传感器103，该3个光线传感器103围绕支撑部z的圆心彼此间隔120°均匀排布。如图9所示，电容笔可以包括4个光线传感器103，该4个光线传感器103围绕支撑部z的圆心彼此间隔90°均匀排布。

请参考图10，其示出了光线传感器103在支撑部z上的另一种设置方式，如图10所示，支撑部z为圆形片状结构，光线传感器103包括环形感光涂覆层h，该环形感光涂覆层h的圆心与该支撑部z的圆心重合。

上文所述的光线传感器103在支撑部z上的设置方式可以保证从各个不同角度、位置射入腔体空间k内的环境光都可以被光线传感器103检测到，从而可以避免漏检，因此，可以提高检测第一壳体1011是否出现磨损的准确性。

在本申请的可选实施例中，为了保证检测第一壳体1011是否出现磨损的准确性，需要确保在第一壳体1011未发生磨损时，不会有环境光射入至腔体空间k内，也即是，需要确保腔体空间k整体不透光，为了达到这一目的，除了可以将第一壳体1011和第二壳体1021设置为不透光之外，还可以进行遮光处理。

例如，可以在支撑部远离第一壳体1011的一侧设置有遮光层，该遮光层可以为泡沫棉等。

在本申请的可选实施例中，电容笔还可以包括电池、按键、笔夹以及防滚槽等结构，本申请实施例对这些结构不作具体限定说明。

本申请实施例还提供了一种电容笔的笔尖，该笔尖包括不透光的第一壳体，其中，第一壳体远离笔身安装部的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，该透光层位于第一壳体和金属笔芯之间，笔身安装部设置于笔尖的一端，用于连接电容笔的笔身。

本申请实施例提供的笔尖与上文中本申请实施例提供的电容笔中的笔尖的结构同理，本申请实施例在此不再赘述。

请参考图11，本申请实施例还提供了一种电容笔笔尖的磨损检测方法，该容笔笔尖的磨损检测方法可以应用于上文图1至图10任一对应的电容笔中，如图11所示，该电容笔笔尖的磨损检测方法可以包括以下步骤：

步骤1101、电容笔对电容笔的腔体空间内的光线的光强进行检测。

其中，该腔体空间为由电容笔的笔身包括的不透光的第二壳体和电容笔的笔尖包括的不透光的第一壳体共同形成的空间，其中，第一壳体远离第二壳体的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，该透光层位于第一壳体和金属笔芯之间。

在本申请的可选实施例中，电容笔可以在启动之后，对该腔体空间内的光线的光强进行检测。

所谓“启动”指的是电容笔由非工作状态进入工作状态。

步骤1102、若测得的光强大于预设光强阈值，则电容笔输出笔尖磨损信息。

在本申请的可选实施例中，电容笔可以通过自身的告警信息输出电路输出该笔尖磨损信息，该笔尖磨损信息用于指示用户对笔尖进行更换处理。

在本申请的可选实施例中，电容笔可以向与自身建立有通信连接的触控电子设备发送该笔尖磨损信息。

其中，该笔尖磨损信息用于指示用户对笔尖进行更换处理，或者，该笔尖磨损信息用于指示触控电子设备禁止对该电容笔进行响应。

在本申请的一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

对所述电容笔的腔体空间内的光线的光强进行检测，其中，所述腔体空间为由所述电容笔的笔身包括的不透光的第二壳体和所述电容笔的笔尖包括的不透光的第一壳体共同形成的空间，其中，所述第一壳体远离所述第二壳体的一端的内侧依次设置有透光层和金属笔芯，所述透光层位于所述第一壳体和所述金属笔芯之间；若测得的光强大于预设光强阈值，则输出笔尖磨损信息。

在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：通过所述电容笔的告警信息输出电路输出所述笔尖磨损信息，所述笔尖磨损信息用于指示对所述笔尖进行更换处理。

在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：向与所述电容笔建立有通信连接的触控电子设备发送所述笔尖磨损信息；其中，所述笔尖磨损信息用于指示对所述笔尖进行更换处理，或者，所述笔尖磨损信息用于指示所述触控电子设备禁止对所述电容笔进行响应。

在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在启动所述电容笔后，对所述电容笔的腔体空间内的光线的光强进行检测。

本实施例提供的计算机可读存储介质，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以m种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(symchlimk)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。