扫描单位，分别对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描。下面参照图3所示的块扫描示意图进行说明，如图3所示，指纹传感器包含160*160个像素点，像素点的起始坐标为(0，0)，终点坐标为(159，159)，在图3中，SI表示预设的扫描块，扫描块的大小为M1*M2，其中，M分别指扫描块的像素点行数和列数，当像素点扫描装置以预设大小的扫描块为扫描单位，分别对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描时，可以如图3中的箭头方向，从左到右对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描，对应于到图2中，扫描的感兴趣区域的顺序依次为8-9-a-b，然后上行，继续从左至右对感兴趣区域2-0-1-3顺序扫描，以此类推。当然，块扫描的顺序也可以是其它顺序，例如，对应到图2中，块扫描的感兴趣区域的顺序也可以依次为8-2-9-0-a-l-b-3-4-5-6-7，本发明实施例不对块扫描的顺序进行限定。在图2中，Ml和M2的取值可以相同，也可以不同。
[0030]在另一种应用场景中，预设的扫描方式也可以为行扫描方式，则，像素点扫描装置以行为扫描单位，分别对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描。可选地，为了提高扫描的效率，当像素点扫描装置以行为扫描单位，分别对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描时，像素点扫描装置每隔S行对当前扫描的感兴趣区域中的像素点进行扫描，其中，上述S不小于1，S的取值可以根据实际需求进行设定，当然，像素点扫描装置也可以采用其它行扫描方式对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描，例如，像素点扫描装置可以逐行对当前扫描的感兴趣区域中的像素点进行扫描，或者，像素点扫描装置也可以采用先扫描奇数行后扫描偶数行的方式对当前扫描的感兴趣区域中的像素点进行扫描，此处不作限定。
[0031]103、若在扫描过程中发现存在坏点的感兴趣区域，则修改与上述存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息，使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含上述坏点；
[0032]本发明实施例中，当像素点扫描装置在步骤102的扫描过程中发现某一像素点为坏点时，根据该坏点所在的感兴趣区域对该感兴趣区域对应的寄存器的配置信息进行修改，使得修改后的该寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含上述坏点，进一步，像素点扫描装置可以综合其它感兴趣区域的寄存器中的配置信息对该坏点所在的感兴趣区域所对应的寄存器的配置信息进行修改，使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含上述坏点且不与其它感兴趣区域重叠，当然，即使修改后的感兴趣区域与其它感兴趣区域有重叠部分，也不影响本发明实施例的实施。需要说明的是，对于坏点的发现可以参照已有技术实现，此处不再赘述。
[0033]本发明实施例中，当像素点扫描装置在步骤102的扫描过程中发现存在坏点的感兴趣区域时，像素点扫描装置可以自适应对与上述存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息进行修改，或者，像素点扫描装置也可以输出相应的寄存器配置信息修改控件，并指示用户修改该寄存器的配置信息以规避坏点，当用户从该寄存器配置信息修改控件输入新的配置信息并确认修改后，像素点扫描装置根据用户在该寄存器配置信息修改控件的输入，修改相应的寄存器的配置信息。
[0034]下面在图2所示的感兴趣区域分布示意图的基础上进一步对步骤103进行说明，在图2中，当扫描发现标号为“4”的感兴趣区域出现坏点时，像素点扫描装置可以通过手动修改或自动修改的方式修改标号为“4”的感兴趣区域对应的寄存器(为便于描述，下面将改寄存器描述为寄存器A)的配置信息，以改变标号为“4”的感兴趣区域的位置，具体地，标号为“4”的感兴趣区域的位置可以通过修改寄存器A的配置信息中的区域中心点坐标和区域大小重新确定。如图4所示，左边标号为“4”的感兴趣区域(为便于区分，将该感兴趣区域用灰色填充)为出现坏点的区域，右边标号为“4”的感兴趣区域为重新设置后的感兴趣区域，应理解，在修改标号为“4”的感兴趣区域对应的寄存器的配置信息后，左边标号为“4”的感兴趣区域将不存在。
[0035]需要说明的是，本发明实施例中的指纹传感器可以为包含160*160个像素点的指纹传感器，也可以为包含112*88个像素点的指纹传感器，或者也可以为其它规格的指纹传感器，此处不作限定。本发明实施例中的像素点扫描装置可以集成在配备指纹传感器的电子设备中。
[0036]由上可见，本发明中通过配置N个寄存器，使得N个寄存器的配置信息分别用于指定指纹传感器的N个感兴趣区域，并当根据N个寄存器的配置信息的指定，对该指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描时发现存在坏点的感兴趣区域时，修改与存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息，使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含坏点，通过可变的感兴趣区域实现了对坏点的规避，从而避免了因某一感兴趣区域存在坏点而直接将指纹传感器定义为缺陷芯片，相对于传统的指纹传感器像素点扫描方案，有效提高了指纹传感器的良率。另外，本发明实施例还提供了行扫描、块扫描等灵活的扫描方式，能够进一步提高扫描效率。
[0037]下面以另一实施例对本发明实施例中的应用于指纹传感器的像素点扫描装置进行描述，请参阅图5，本发明实施例中的像素点扫描装置500包括:
[0038]获取单元501，用于获取预设的N个寄存器的配置信息，其中，上述N个寄存器的配置信息分别用于指定指纹传感器的N个感兴趣区域，上述N不小于I ;
[0039]扫描单元502，用于根据上述N个寄存器的配置信息的指定，对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描；
[0040]寄存器配置单元503，用于当在扫描单元502扫描过程中发现存在坏点的感兴趣区域时，修改与上述存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息，使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含上述坏点。
[0041]可选的，扫描单元502具体用于:以预设大小的扫描块为扫描单位，分别对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描。
[0042]可选的，扫描单元502具体用于:以行为扫描单元，分别对上述指纹传感器的N个感兴趣区域中的像素点进行扫描。进一步，扫描单元502具体还用于:每隔S行对当前扫描的感兴趣区域中的像素点进行扫描，其中，上述S不小于I。
[0043]可选的，寄存器配置单元503具体用于:当在扫描单元502扫描过程中发现存在坏点的感兴趣区域时，修改与上述存在坏点的感兴趣区域对应的寄存器中的配置信息，使得修改后的寄存器的配置信息指向的感兴趣区域不包含上述坏点且不与其它感兴趣区域重置。
[0044]需要说明的是，本发明实施例中的指纹传感器可以为包含160*160个像素点的指纹传感器，也可以为包含112*88个像素点的指纹传感器，或者也可以为其它规格的指纹传感器，此处不作限定。本发明实施例中的像素点扫描装置可以集成在配备指纹传感器的电子设备中。
[0045]应理解，本发明实施例中的像素点扫描装置可以如上述方法实施例中提及的像素点扫描装置，可以用于实现上述方法实施例中的全部技术方案，其各个功能模块的功能可以根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可参照上述实施例中的相关描述，此处不再赘述。
[0046]由上可见，本发明中通过配置N个寄存器，使得N