应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及指纹传感器技术领域，具体涉及一种应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置。
【背景技术】
[0002]指纹传感器是实现指纹图像自动采集的关键器件，由于指纹图像的唯一性，指纹传感器被广泛应用在身份识别领域中。
[0003]现有的指纹传感器的像素点采样实现方案是以N个像素点为一个采样粒度(即一组)进行采样，采样保持后经过模数转换器(ADC，Analog-to-Digital Converter)转换，按一定顺序输出，在这个工作过程中，一个Block(为便于理解，将同时采样的N个像素点称为一个Block (即块))内的N个像素点采样一般采用N个模拟前端(AFE，Analog Front End)通道和单个ADC实现，或者采用N个AFE通道和N个ADC实现，从这两种方式中，明显可以看出，同一个Block内的N个像素点的采样过程中各自经过了不同的AFE通道，由于生产工艺中存在物理偏差，这些AFE通道之间存在着差异性，这也使得同时采样的N个像素点之间存在AFE通道物理差异性，从而影响采样输出的指纹图像质量。
【发明内容】
[0004]本发明提供一种应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置，用于消除指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性。
[0005]本发明第一方面提供一种应用于指纹传感器的像素点采样方法，包括:
[0006]在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道(即AFE通道)，其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数；
[0007]针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；
[0008]输出各个像素点的本轮采样结果。
[0009]本发明第二方面提供一种应用于指纹传感器的像素点采样装置，包括:
[0010]采样单元，用于:在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数；
[0011]第一计算处理单元，用于:针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；
[0012]第一输出单元，用于输出各个像素点的本轮采样结果。
[0013]由上可见，本发明中对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，从而使得指纹传感器的每个像素点都被采样N次且经过N个不同的AFE通道，进一步通过将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，使得指纹传感器的各个像素点之间不存在AFE通道物理差异性，即消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，另外，相对于传统的像素点采样实现方案，由于消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，因此也有利于采样输出的指纹图像质量的提尚。
【附图说明】
[0014]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1为本发明提供的像素点采样方法一个实施例流程示意图；
[0016]图2为本发明提供的两个相邻Block之间存在的马赛克效应示意图；
[0017]图3为本发明提供的像素点采样装置一个实施例结构示意图。
【具体实施方式】
[0018]为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0019]本发明实施例提供一种应用于指纹传感器的像素点采样方法，包括:在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数；针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；输出各个像素点的本轮采样结果。本发明实施例还提供相应的像素点采样装置，以下分别进行详细说明。
[0020]下面对本发明实施例提供的一种应用于指纹传感器的像素点采样方法进行描述，请参阅图1，本发明实施例中的应用于指纹传感器的像素点采样方法包括:
[0021]101、在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道；
[0022]其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数，N大于或等于I。例如，当上述指纹传感器进行像素点采样时采用了 8个AFE通道，则上述N取8，像素点采样装置在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行8次采样，并使得对同一像素点的8次采样均采用不同的AFE通道，S卩，使得同一像素点的每次采样所采用的AFE通道均不相同，以保证指纹传感器的每个像素点都被采样8次且经过8个不同的AFE通道。
[0023]可选的，在上述指纹传感器的每轮像素点采样中，以1*N个像素点为一组，每次对同组内的N个像素点(即一个Block)同时进行采样，其中，同组内的N个像素点在同一次采样中采用的AFE通道互不相同。
[0024]进一步，当以1*N个像素点为一组(其中，I表示行像素数，N表示列像素数)，可通过如下方式使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道:在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对该像素点j的后一个组内像素点进行采样时采用的AFE通道，对该像素点j进行采样；其中，若该像素点j为组内的最后一个像素点，则该像素点j的后一个组内像素点是指该像素点j所在组中的首个像素点；若该像素点j为组内的非最后一个像素点，则该像素点j的后一个组内像素点是指同组内该像素点j的后一个相邻像素点。下面以N = 8为例进行说明，采用3个格雷码区分8个AFE通道，即由O?7共8个码型来分别标识8个AFE，若像素点AO?A7为同一 Block内的8个像素点且顺序排列(即像素点AO为该Block内的首个像素点，像素点Al为该Block内的第二个像素点，以此类推，像素点A7为该Block内的最后一个像素点)，则像素点AO的后一个组内像素点为像素点Al，像素点Al的后一个组内像素点为像素点A2，像素点A2的后一个组内像素点为像素点A3，像素点A3的后一个组内像素点为像素点A4，像素点A4的后一个组内像素点为像素点A5，像素点A5的后一个组内像素点为像素点A6，像素点A6的后一个组内像素点为像素点A7，像素点A7的后一个组内像素点为像素点A0。假设对像素点AO?A7进行首次采样时所采用的AFE通道对应的码型顺序为046237