一种用于测试治具的简易键盘的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种用于测试治具的测试设备。
【背景技术】
[0002]现有测试治具中使用的测试键盘普遍存在以下问题:1、按键使用率低:普通通用键盘按键个数一般为83、101、102、104或107个，产线在生产测试使用过程中，按键使用个数一般为小于等于5个，按键使用率约为5%，按键使用率低；2、空间面积占用率高:现产线使用键盘尺寸主要为439mm*168mm*32mm ;测试工作区域尺寸大概为空间占用率为2.4 %，面积占用率为7.4 %，占用产品放置的区域较大，减少了产品放置工作区域量即较少了每次物料周转量；3、耗费测试工时:以现有工业工时测量发现，以IE MOD法计算，员工测试每件产品按键耗费工时约为7*M0D?1S，以每月5KK生产量计算，每件产品3个工位测试，约耗费总工时4166.67H，折合人民币72916.67元；4、键盘损坏即报废无法维修，增加杂项成本:现每件键盘价格约为25RMB，生产使用过程中损坏后即报废无法维修，现键盘使用量约为340件，折旧周期约为2年，故键盘年成本为4250RMB。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种体积小、复用率高且成本低廉的用于测试治具的简易键盘。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]本实用新型的用于测试治具的简易键盘，包括电源电路板，电源电路板上设有单片机，所述单片机为89C51单片机，单片机接有复位电路和晶振电路，单片机的第9引脚连接复位电路，单片机的第10引脚和第11引脚为PS/2接口，单片机的第18引脚和第19引脚连接晶振电路，单片机的第21引脚至第28引脚连接按键，单片机的第1-8引脚、第12-17引脚和第32-39引脚连接待测试设备。
[0006]本实用新型所述晶振电路电连接无源晶振，无源晶振的两个引脚上各设置一个谐振电容。
[0007]本实用新型所述单片机的第20引脚为接地端，所述单片机的第40引脚为电源端。
[0008]本实用新型所述按键的个数为1-5个，所述按键为点触开关，所述待测试设备为LED或传感器。
[0009]本实用新型所述电源电路板固定在测试治具的底板上，电源电路板上还设有4*8位Pin针，4*8位Pin针与89C51单片机的32个I/O接口对应电连接。
[0010]本实用新型的用于测试治具的简易键盘的有益效果:本实用新型的用于测试治具包括电源电路板，电源电路板固定在测试治具的底板上，电源电路板上设有单片机，单片机为89C51单片机，单片机与其他功能模块集成为具有测试按键功能的简易键盘，单片机利用I/O端口技术，基于PS/2通信协议实现简易键盘与PC通信，单片机的编程程序可修改，从而实现按键的功能可选，而且单片机可以重复擦写，易于拓展测试功能。89C51单片机尺寸远远小于通用键盘尺寸，易集成在现有的测试治具中。
【附图说明】
[0011]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细的说明。
[0012]图1是本实用新型的用于测试治具的简易键盘结构示意图；
[0013]图2是本实用新型的单片机的电路原理图。
【具体实施方式】
[0014]实施例一:
[0015]如图1所示，本实施例的用于测试治具的简易键盘包括电源电路板1，电源电路板I固定在测试治具5的底板上，电源电路板I上设有单片机2，单片机2为89C51单片机，单片机2与其他功能模块集成为具有测试按键功能的简易键盘，单片机2利用I/O端口技术，基于PS/2通信协议实现简易键盘与PC通信，单片机的编程程序可修改，从而实现按键3的功能可选，而且单片机可以重复擦写，易于拓展测试功能。89C51单片机的最小系统结构尺寸约为60mm*50mm*20mm，是通用键盘尺寸的2.54%，故易集成在现有的测试治具5中，电源电路板I上的单片机集成模块便于拆解、集成和维修，提供了治具的复用性。
[0016]如图2所示，单片机2接有复位电路和晶振电路，具体地，单片机2的第9引脚连接复位电路，单片机2的第18引脚和第19引脚连接晶振电路，晶振电路电连接无源晶振，无源晶振的两个引脚上各设置一个谐振电容，无源晶振用于提供单片机外部工作频率，无源晶振为11.0592MHz晶振，谐振电容为22pF电容。
[0017]如图2所示，单片机2的第10引脚和第11引脚为PS/2接口，单片机2通过PS/2接线连接PC，通过PC编制源码发送给单片机2。
[0018]单片机2的第21引脚至第28引脚连接按键3，按键3的个数为1_5个，单片机2的第21引脚至第28引脚中的任意一个引脚可以连接一个按键3，最多可以连接8个按键3，但实际测试过程中按键个数一般为1-5个，每个按键3的功能可根据编程约定。单片机2的第1-8引脚、第12-17引脚和第32-39引脚连接待测试设备，例如待测试设备为LED或传感器，可以测试LED的亮度，或者测试传感器的光线感应功能或者磁感应功能，单片机2的第1-8引脚、第12-17引脚和第32-39引脚中的一个或者多个引脚连接待测试设备，具体连接方式根据待测试设备而定。具体实施时，按键3的个数也根据待测试的设备而定，例如本实施例中测试LED时按键3为一个，优选的，按键3为点触开关，LED与单片机2的第5引脚连接。此外单片机2的32位I/O端口可拓展使用于其他功能，如集成插拔次数管控功能，对此不做限制。
[0019]本实施例中的单片机2的第20引脚为接地端，单片机2的第40引脚为电源端。电源电路板I上还设有4*8位Pin针4，4*8位Pin针4与单片机2的32个I/O接口——对应连接，4*8位Pin针4用于外部拓展接线，避免重复焊接，易拆解维修及复用。
[0020]应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。由本实用新型的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。
【主权项】
1.一种用于测试治具的简易键盘，包括安装在测试治具(5)上的电源电路板(1)，其特征在于:所述电源电路板(I)上设有单片机(2)，所述单片机(2)为89C51单片机，单片机(2)接有复位电路和晶振电路，单片机(2)的第9引脚连接复位电路，单片机(2)的第10引脚和第11引脚为PS/2接口，单片机(2)的第18引脚和第19引脚连接晶振电路，单片机(2)的第21引脚至第28引脚连接按键(3)，单片机(2)的第1-8引脚、第12-17引脚和第32-39引脚连接待测试设备。2.根据权利要求1所述的用于测试治具的简易键盘，其特征在于:所述晶振电路电连接无源晶振，无源晶振的两个引脚上各设置一个谐振电容。3.根据权利要求1所述的用于测试治具的简易键盘，其特征在于:所述单片机(2)的第20引脚为接地端，所述单片机(2)的第40引脚为电源端。4.根据权利要求1所述的用于测试治具的简易键盘，其特征在于:所述按键(3)的个数为1-5个，所述按键(3)为点触开关，所述待测试设备为LED或传感器。5.根据权利要求1所述的用于测试治具的简易键盘，其特征在于:所述电源电路板(I)可拆卸地固定在测试治具(5)的底板上，电源电路板(I)上还设有4*8位Pin针(4)，4*8位Pin针(4)与单片机(2)的32个I/O接口对应电连接。
【专利摘要】本实用新型涉及测试设备，尤其是一种用于测试治具的简易键盘，包括电源电路板，电源电路板固定在测试治具的底板上，电源电路板上设有单片机，单片机为89C51单片机，单片机的第10引脚和第11引脚为PS/2接口，单片机的第18引脚和第19引脚连接晶振电路，单片机的第21引脚至第28引脚连接按键。本实用新型的单片与其他功能模块集成为具有测试按键功能的简易键盘，单片机利用I/O端口技术，基于PS/2通信协议实现简易键盘与PC通信，单片机的编程程序可修改，从而实现按键的功能可选，而且单片机可以重复擦写，易于拓展测试功能。
【IPC分类】G06F3/02
【公开号】CN204833167
【申请号】CN201520583248
【发明人】张海峰
【申请人】群光电子(苏州)有限公司
【公开日】2015年12月2日
【申请日】2015年8月5日