专利名称：跟踪误差检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及对通过将光照射在光记录媒体上得到的光点的跟踪误差进行检测的跟踪误差检测装置。
背景技术：
近年来，我们用称为相位差法的方法，作为从以CD(CompactDisc，光盘)和DVD(Digital Video Disc，数字视盘)为代表的那种在凹凸的槽中记录信息的光盘取得跟踪控制信号的方式。
相位差法是，如在日本平成10年公开的专利公报10-162381号上记载的那样，通过利用当照射在光盘的信息记录面上的光点从信息槽上通过时，光点从信息槽的中心偏移，使光探测器上的信息槽的映像(衍射图)发生变化这样的事实，得到跟踪误差信号的方法。即，通过在信息槽的映像的磁道长度方向上分布光探测器，观测与各个受光的光量相应的输出信号电平时，因为这种变化方式对应于光点从信息槽中心偏移的方向和量值是不同的，所以通过使光探测器的输出在所定的电平上二值化后，观测这个二值化了的信号的相位差，能够得到表示光点的偏移方向和量值的跟踪误差信号。
下面，我们参照第4图到第14图说明已有的跟踪误差检测方法。
第4图是表示在已有的光盘再生装置中的光读取头装置100的主要构成的概略图。
在第4图的光读取头装置100中，将象散现象法用于聚焦误差信号的检测。
从半导体激光器等的光源1射出的光束，通过平行光管的透镜3变换成平行光后，经过半透镜6后被物镜4所会聚，作为微小的光点照射在光记录媒体(例如，光盘)5上的信息记录面51上。光点的反射光经过物镜4由半透镜6转变到图面右侧方向的光路上，可以形成作为象散现象法的特征的有两个焦点的会聚光，经过凸透镜61和圆柱透镜62到达光探测器2。光记录媒体5上的信息被有凹凸的信息槽排列记录下来。
下面，我们说明利用光点从槽上通过时生成的光的衍射图，得到表示与在信息记录面内的槽排列(磁道)相对的光点的垂直方向的位置偏移的跟踪误差信号的方法。
按照光点通过的信息槽的位置，光点的反射光量的强度分布图(远磁场图)发生变化。
第5图，第6图和第7图是举例说明光点从槽上通过时的反射光量的远磁场图的变化的图。各图的(a)是表示光点12和信息槽13之间的位置关系(由虚线表示信息槽13的中心)的图，光点12沿箭头的方向在信息槽13上行进。各图的(b)表示在光探测器2上的反射光量的强度分布图(远磁场图)的推移，各图的(b)所示的三个图分别表示光点12在(a)所示的三个位置上时的图。各图的(c)表示从光探测器2得到的两个信号。此外，光探测器2有纵横各两个并排的光接收元件2a～2d，在各图的(c)得到的两个信号，是将从四个光接收元件2a～2d得到的信号，对每个对角方向的光接收元件分别加起来的(即2a+2d和2b+2c)得到的信号。
例如，如第5(a)图所示，光点12通过信息槽13的中心左侧的行进方向时，如第5(b)图所示，使图案沿顺时针方向旋转那样地变化，能够得到如第5(c)图那样的相位偏移的两个信号。
如第6(a)图所示，光点12通过信息槽13的中心，即磁道中心时，如第6(b)图那样地，使图案左右对称地发生变化，能够得到如第6(c)图那样的相位重合的两个信号。
如第7(a)图所示，光点12通过信息槽13的中心右侧的行进方向时，如第7(b)图所示，使图案沿逆时针方向旋转那样地变化，能够得到如第7(c)图那样的相位偏移的两个信号。
如以上说明的那样，当光点从信息槽的中心偏移时，我们可以看到远磁场图的推移发生变化。相位差法是利用这个远磁场图的变化检测跟踪误差信号的方法。即是通过比较从光探测器2得到的两个加法信号的相位，检测相位超前量或相位滞后量，认识到光点12和信息槽13之间的位置偏移的方法。
下面，我们用第8图和第9图说明已有的跟踪误差检测装置。第8图是表示通过检测相位差，检测跟踪误差信号的跟踪误差信号装置的一个例子的方框图，第9图是表示在第8图中的(a)～(h)所示的信号波形的波形图。此外，第9图是当随着时间的经过，光点12从行进方向的左边到右边从信息槽13上横过过，即从第5图的状态变化到第7图的状态，同时光点12从信息槽13上通过时的波形图。
光探测器2有纵横各两个配置的光接收元件2a,2b,2c,2d，将入射到各个光接收元件的光信号作为光电流检测出来。分别通过电流电压变换电路7a,7b,7c,7d将检测出的光电流变换成电压信号。
其次，加法器8将从光探测器2的两组对角方向的光接收元件得到的信号对每个组加起来。即，加法器8a将电流电压变换电路7a和7c的输出加起来，加法器8b将电流电压变换电路7b和7d的输出加起来。两个加法信号(a),(b)分别形成第9(a)图，第9(b)图所示的波形。
分别使加法信号(a),(b)通过二值化电路9a,9b，得到二值化信号(c),(d)。
相位差检测电路10检测二值化信号(c),(d)的前沿或后沿的相位差。在第8图所例示的电路构成中，用D型双稳态多谐振荡器(D-FF)101a,101b检测后沿的相位差。D-FF 101a,101b有输入端子D，时针输入端子T，复位输入端子R，输出端子Q和Q-，当复位输入端子R的输入在逻辑“L”电平时，输出端子Q的输出无条件地成为“L”电平，当复位输入端子R的输入在逻辑“H”电平时，在时针输入端子T的“H”→“L”的后沿时刻，从输出端子Q输出有与给予输入端子D的信号相等的逻辑电平的信号。即，D-FF101a,101b分别检测二值化信号(c),(d)的相位差，得到时间差脉冲(e),(f)。从D-FF 101a的输出端子Q输出时间差脉冲(e)，从D-FF 101b的输出端子Q输出时间差脉冲(f)。
用差分检测器102将时间差脉冲(e),(f)变换成脉冲调幅信号(g)，进一步通过低通滤波器11成为模拟的跟踪误差信号(h)。
第10图表示通过多条磁道观测跟踪误差信号时得到的跟踪误差信号(h)的波形。从第8图所示的跟踪误差检测装置得到的跟踪误差信号(h)在一条特定的磁道的近旁是十分显著的，光点在磁道中央时成为零电平，形成离开零电平左右偏移和具有与偏移方向相应的极性的大致直线状的信号。当通过多条磁道观测跟踪误差信号时，在各条磁道上出现上述的直线状的信号波形，又，即便光点在磁道与磁道之间时，因为成为零电平，所以整体地形成如第10图所示那样的在每条磁道上重复的锯齿状的波形。
为了用作为以如第10图那样的极性在每条磁道上重复的锯齿状波形出现的跟踪误差信号进行跟踪伺服系统控制，构成为了与跟踪误差信号的正负相应地，用一般称为跟踪调节器的装置驱动物镜4的跟踪伺服系统的控制系统。
又，已有的相位差法，因为检测来自光点横切的各个槽的跟踪误差信号，所以容易受到槽的形状和深度的影响，当物镜4移动时在跟踪误差信号上发生偏移。
第11图和第12图是表示当根据相位差法检测跟踪误差信号时发生偏移的原理的图，第11图表示信息槽13的深度为λ/4(λ光源的波长)的情形，第12图表示信息槽13的深度为λ/4以外的情形。在各个图中，(a)图表示在物镜4不移动时的光探测器2上的反射光量的强度分布图(远磁场图)，(b)图表示在物镜4移动时的光探测器2上的反射光量的强度分布图(远磁场图)，(c)图表示得到的跟踪误差信号。此外，(a)图和(b)图表示光点12在磁道的中心上通过并且位于信息槽13的一边的情形。
如第11(a)图所示，信息槽13的深度为λ/4，物镜4不移动时，将光探测器2的一个对角方向的光接收元件2a和2d合计在一起的第一个区域(2a+2d)和将光探测器2的另一个对角方向的光接收元件2b和2c合计在一起的第二个区域(2b+2c)上出现的图案是相同的。如第11(b)图所示，由于物镜4移动，光探测器2上的光点12也移动，如果光点12位于磁道的中心上，则分别从第一个区域(2a+2d)和第二个区域(2b+2c)输出的信号的相位差成为零。所以，如第11(c)图所示，能够得到与由箭头A,B所示部分的波形图相同的跟踪误差信号。
与此相对地，如第12图所示，信息槽13的深度为λ/4以外的情形是产生从第一个区域(2a+2d)和第二个区域(2b+2c)输出的信号的相位差的情形。如第12(a)图所示，光探测器2的反射光不移动时，在第一个区域(2a+2d)和第二个区域(2b+2c)之间没有相位差，跟踪误差信号成为零。如第12(b)图所示，物镜4移动时，产生在第一个区域(2a+2d)和第二个区域(2b+2c)之间的不平衡。所以，能够得到与第12(c)图的箭头A,B所示部分的波形图不同的跟踪误差信号。当发生偏移时，因为不能够对磁道的中心进行跟踪，所以使再生波形的品质恶化了。
为了解决以上那样的问题，我们提出了如第13图所示的跟踪误差检测装置的方案。在第13图中，对与第8图相同的构成部分给予相同参照标号。
上述的跟踪误差检测装置，通过用延迟电路14a,14b调整从光探测器2输出的信号的相位，能够消除相位差跟踪误差信号的偏移，能够对磁道的中心进行跟踪。
但是，根据已有的方法进行跟踪误差信号检测时，因为通过模拟信号处理来检测跟踪误差信号，所以不能与光记录再生装置的倍速化和光记录媒体的高密度化相适应。
这里，我们说明由于倍速化和高密度化引起的问题。
根据第13图所示的模拟信号处理的跟踪误差检测装置由用于消除偏移的延迟电路14a,14b构成全通滤波器，求由滤波器的群延迟产生的延迟量，但是因为当使光记录再生装置倍速化时，光记录再生装置的读出数据的信道速率是不同的，所以需要的延迟量变大，需要使延迟电路最佳化。
又，当使光记录媒体的记录密度增高时，从光探测器2得到的读出信号的高频成分发生衰减，不能正确地检测出相位差信号。
作为解决这种问题的装置，我们提出了如第14图所示的跟踪误差检测装置。在第14图中，对与第8图相同的构成部分给予相同参照标号，这里省略了对它们的详细说明。
在如第14图所示的跟踪误差检测装置中，对于由加法器8a,8b求得的光探测器2的两个和信号(2a+2d和2b+2c)，由波形均衡滤波器15a,15b进行高频增强后，通过用二值化电路9a,9b求得二值化的相位差信号，能够对由高密度化引起的高频成分的恶化进行补偿。
但是，因为波形均衡滤波器15a,15b是由模拟的FIR(有限脉冲响应)滤波器构成的，所以为了构成FIR滤波器的延迟部分需要全通滤波器，从而发生在上述的倍速化中所述的问题。又，因为如果记录密度不同，则需要的高频区域增强特性不同，所以使得上述的跟踪误差检测装置不能与进行高密度化相适应。
这样，在用模拟信号处理进行跟踪误差检测的已有的跟踪误差检测装置中，与在光记录再生装置中的倍速化和光记录媒体的高密度化相适应是困难的。又，因为已有的跟踪误差检测装置有很多与模拟信号处理有关的构成部分，所以使跟踪误差检测装置与周围的数字信号处理装置一体化是困难的。
本发明就是为了解决上述的课题，本发明的目的是小型化和低成本地提供能够与光记录再生装置的倍速化和光记录媒体的高密度化相适应的跟踪误差检测装置。
本发明的揭示根据本发明的跟踪误差检测装置备有接收光点的反射光，输出与受光量对应的光电流的光探测器，将光探测器的光电流变换成电压信号的电流电压变换器，从电压信号，生成与光点的跟踪误差对应，相互之间有相位变化的两个信号系列的信号发生器，使两个信号系列离散化得到第一个和第二个数据信号系列的模拟-数字变换器，分别对第一个和第二个数据信号系列进行内插处理的内插滤波器，分别检测通过内插滤波器内插的第一个和第二个数据信号系列的零交叉点的零交叉点检测电路，检测第一个数据信号系列的上述的零交叉点和第二个数据信号系列的零交叉点的相位差的相位差检测电路，和通过对检测出的相位差进行频带限制得到跟踪误差信号的低通滤波器。
在这样构成的跟踪误差检测装置中，能够通过数字信号处理检测跟踪误差，并且容易实现ADC以后的信号处理与周围的数字信号处理装置一体化。又，也能够大幅度地削减必要的模拟信号处理部件。又，能够与在光记录再生装置中的倍速化和光记录媒体的高密度化相适应，并能够提供小型化和低成本的光记录再生装置。
又，根据本发明的跟踪误差检测装置的别的形态备有接收光点的反射光，输出与受光量对应的光电流的光探测器，将光探测器的光电流变换成电压信号的电流电压变换器，使电压信号离散化，变换成数字信号的模拟-数字变换器，对数字信号进行内插处理的内插滤波器，从由内插滤波器得到的信号，生成与光点的跟踪误差对应，相互之间有相位变化的第一个和第二个数据信号系列的信号发生器，分别检测第一个和第二个数据信号系列的零交叉点的零交叉点检测电路，通过比较第一个数据信号系列的零交叉点和第二个数据信号系列的零交叉点的相位，检测相位差的相位差检测电路，对检测出的相位差进行频带限制的低通滤波器，从低通滤波器的输出信号检测在跟踪误差信号上的偏移的偏移检测电路，和根据检测出的偏移量设定内插滤波器的系数的系数设定电路。
在这样构成的跟踪误差检测装置中，能够通过数字信号处理检测跟踪误差，并且容易实现ADC以后的信号处理与周围的数字信号处理装置一体化。又，也能够大幅度地削减必要的模拟信号处理部件。又，能够与在光记录再生装置中的倍速化和光记录媒体的高密度化相适应，并能够提供小型化和低成本的光记录再生装置。
诸图的简单说明第1图是表示根据本发明的实施形态1的跟踪误差检测装置的构成的方框图。
第2图是用于说明在本发明的实施形态1中的跟踪误差检测装置的工作的说明图。
第3图是表示在本发明的实施形态2中的跟踪误差检测装置的构成的方框图。
第4图是表示在已有的光盘再生装置中的光读取头的主要构成的概略图。
第5图是举例表示光点在槽上通过时的反射光量的强度分布图案变化的图。
第6图是另一个举例表示光点在槽上通过时的反射光量的强度分布图案变化的图。
第7图是另一个举例表示光点在槽上通过时的反射光量的强度分布图案变化的图。
第8图是表示已有的跟踪误差信号检测装置的构成的方框图。
第9图是表示在第8图中的(a)～(h)所示的信号波形的波形图。
第10图是表示通过多条磁道观测跟踪误差信号时看到的波形的图。
第11图是表示信息槽13的深度为λ/4时的偏移发生原理的图。
第12图是表示信息槽13的深度为λ/4以外时的偏移发生原理的图。
第13图是表示已有的别的跟踪误差信号检测装置的构成的方框图。
第14图是表示已有的别的跟踪误差信号检测装置的构成的方框图。
用于实施本发明的最佳形态实施形态1下面，我们用第1图，第2图说明根据实施形态1的跟踪误差检测装置。此外，根据实施形态1的跟踪误差检测装置备有的光盘再生装置的光读取头装置的一个例子是在已有例子的第4图中说明的光读取头装置，这里省略了对它的说明。
第1图是表示根据实施形态1的跟踪误差检测装置1的构成的方框图。对与第8图相同的构成部分，给予相同的参照标号，这里省略了对它们的说明。
跟踪误差检测装置1备有接收光点的反射光的光接收元件，输出与光接收元件的受光确量相应的光电流的光探测器2，将光探测器2的光电流输出变换成电压信号的第1个到第4个电流电压变换器7a～7d，从由第1个到第4个电流电压变换器7a～7d得到的电压信号，生成与光点的跟踪误差对应，相互之间有相位变化的两个信号系列的信号发生器，即第一个和第二个加法器8a,8b，从两个信号系列得到第一个和第二个数据信号系列的第一个和第二个模拟-数字变换器(ADC)16a,16b，分别对第一个和第二个数据信号系列进行内插处理的第一个和第二个内插滤波器17a,17b，分别检测通过第一个和第二个内插滤波器17a,17b内插的第一个和第二个数据信号系列的零交叉点的第一个和第二个零交叉点检测电路18a,18b，检测第一个数据信号系列的零交叉点和第二个数据信号系列的零交叉点的相位差的相位差检测电路19，和通过对检测出的相位差进行频带限制得到跟踪误差信号的低通滤波器(LPF)11。
光探测器2备有作为光接收元件的例如被四等分成田字形的光接收元件2a,2b,2c,2d，通过接收将光照射在光记录媒体(图中未画出)的磁道上得到的光点的反射光，输出与与受光量相应的光电流。
第1个到第4个电流电压变换电路7a,7b,7c,7d，分别在每个光接收元件2a,2b,2c,2d上将作为光探测器2的输出的光电流变换成电压信号。
第一个加法器8a将第1个和第3个电流电压变换电路7a,7c的输出加起来，第二个加法器8b将第2个到第4个电流电压变换器7b,7d的输出加起来。
第一个和第二个ADC 16a,16b，分别对从第一个和第二个加法器8a,8b输出的信号系列进行离散化(抽样)，得到第一个和第二个数据信号系列。
内插滤波器17a,17b求得在由第一个和第二个ADC 16a,16b求得的数据信号系列上的抽样数据之间的内插数据，但是作为内插的方法，例如，可以举出称为尼奎斯特内插的方法。
零交叉点检测电路18a,18b检测在经过内插的两个数据系列上的前沿或后沿上的零交叉点。作为零交叉点的检测方法，例如，可以举出求在经过内插的数据系列上的符号的变化点(+→-或-→+)的方法。
下面，我们用第2图说明相位差检测电路19的工作。第2(a)图表示从第一个零交叉点检测电路18a输出的第一个信号系列的一个例子，第2(b)图表示从第二个零交叉点检测电路18b输出的第二个信号系列的一个例子，第2(c)图表示从相位差检测电路19求得的相位差信号。现在我们说明用于第2图的数据系列(a)和(b)的记号。记号○表示由第一个或第二个ADC 16a,16b求得的抽样数据，记号△表示由第一个或第二个内插滤波器17a,17b求得的内插数据系列，记号●和记号▲表示从抽样数据系列和内插数据系列求得的零交叉点。此外，在第2(c)图中说明的相位差信号，因为在一条特定的磁道的近旁十分显著，所以是在求相位差的两个数据系列的后沿求得的相位差信号。又，内插数据的数目为n=3。
相位差检测电路19从分别在第一个和第二个信号系列的波形上的零交叉点的距离检测相位差信号。当比较第一个信号系列(a)和第二个信号系列(b)的零交叉点时，我们看到作为要求的相位差的量是与两个信号系列(a),(b)的零交叉点的距离成比例的。又，通过判断在两个信号系列(a),(b)的零交叉点中哪一个是在前面的零交叉点，求得相位的偏移方向。从上述那样地检测出的相位差的量和相位的偏移方向，能够求得如第2(c)图所示的相位差信号。
这样求得的相位差信号，当在一条特定的磁道的近旁十分显著时，成为大致直线状的信号。当通过多条磁道观测跟踪相位差信号时，能够整体地得到如在第10图中说明那样的在每条磁道上重复的大致锯齿状的波形。
用相位差检测电路19检测出的相位差信号最后通过LPF 11进行频带限制，得到对跟踪伺服系统控制是必要的频带的跟踪误差信号。
又，也可以设置能够设定内插滤波器17a,17b的系数的系数设定电路(图中未画出)。这时，例如，如果通过将具有增强高频区域的特性的滤波器系数重叠在用于内插的滤波器系数上得到的新系数作为内插滤波器17a,17b的系数进行设定，则在一个滤波器上能够同时进行“为了求得跟踪误差信号的内插”和“为了补偿伴随着高密度化引起的高频区域成分的恶化的滤波”，能够大幅度地削减电路规模。
如以上说明的那样，根据实施形态1的跟踪误差检测装置1，因为能够通过数字信号处理检测跟踪误差信号，所以能够与光记录再生装置的倍速化和光记录媒体的高密度化相适应，而已有的通过模拟信号处理的跟踪误差检测不能适应光记录再生装置的倍速化和光记录媒体的高密度化。
进一步，因为第一个或第二个ADC 16a,16b以后的处理是数字信号处理，所以第一个或第二个ADC 16a,16b以后的构成能够容易地实现与跟踪误差检测装置1周围的数字信号处理装置的一体化。又，因为能够大幅度地削减与模拟信号处理有关的构成，所以，能够实现光记录再生装置的小型化和低成本化。
实施形态2下面，我们用第3图说明实施形态2。第3图是表示根据实施形态2的跟踪误差检测装置30的构成的方框图。此外，对与第1图相同的构成部分用相同的标号，并省略对它们的说明。
根据实施形态2的跟踪误差检测装置在将由光探测器2求得的光电流变换成电压，进行数字化，施加内插处理后，生成与跟踪误差相应的有相位变化的两个信号系列。进一步，能够根据从作为LPF11的输出的跟踪误差信号检测出的偏移量，对由内插滤波器经过内插的数据的位置进行控制。
跟踪误差检测装置30有光接收元件2a,2b,2c,2d，并且备有产生光电流输出的光探测器2，在每个光接收元件2a,2b,2c,2d上将光电流变换成电压信号的第1个到第4个电流电压变换电路7a,7b,7c,7d，通过使从第1个到第4个电流电压变换器7a,7b,7c,7d得到的信号离散化(抽样)，将这些信号变换成数字信号的第1个到第4个ADC16e,16f,16g,16h，求得在离散化后的4个信号系列上的抽样数据之间的内插数据的第1个到第4个内插滤波器17e,17f,17g,17h，作为从经过内插后的4个数据系列生成用于进行相位比较的两个信号，即第一个和第二个数据信号系列的信号发生器的第一个和第二个加法器8a,8b，分别检测由第一个和第二个加法器8a,8b求得的两个信号的零交叉点的第一个和第二个零交叉点检测电路18a,18b，从第一个和第二个零交叉点检测电路18a,18b输出的信号检测相位差信号的相位差检测电路19，求得跟踪误差信号的低通滤波器(LPF)11，从LPF11的输出信号检测在跟踪误差信号上的偏移的偏移检测电路20，和根据检测出的偏移量设定内插滤波器17e,17f,17g,17h的系数的系数设定电路21。
作为用偏移检测电路20进行的偏移检测方法，例如，可以举出通过比较在跟踪误差信号上的+侧和-侧的峰值进行检测的方法。将由偏移检测电路20检测出的偏移量输入到系数设定电路21。
系数设定电路21根据检测出的偏移量，调整第1个和第2个内插滤波器17e,17f的系数和第3个和第4个内插滤波器17g,17h的系数，错开内插数据的位置，消除在跟踪误差信号中的偏移。
例如，用内插数据的数目n=3在延迟T的抽样数据之间进行内插，在每个T/4间隔设定求内插数据的系数时，能够对第1个和第2个内插滤波器17e,17f在T/4间隔设定加了偏移的系数(令这个偏移量为Δ(delta))，并求得只延迟或提前了偏移量Δ的时间的内插数据系列。
如以上说明的那样，因为只通过改变内插滤波器17e,17f,17g,17h的系数就能够消除偏移，所以也能够与光记录再生装置的倍速化相适应。
又，在系数设定电路21中设定内插滤波器17e,17f,17g,17h的系数时，通过设定将具有增强高频区域的特性的滤波器系数重叠在用于进行内插的滤波器系数上得到的新系数，在一个滤波器上能够同时进行“为了求得跟踪误差信号的内插”，“为了消除偏移的延迟”和“为了补偿伴随着高密度化引起的高频成分的恶化的滤波”，从而能够大幅度地削减电路规模，能够提供小型化和低成本的光记录再生装置。
此外，在实施形态1和2中，为了使说明简单起见，作为光探测器2，用有纵横各两个并排的4个的光接收元件2a,2b,2c,2d的探测器，但是光探测器不限于上述的例子。又，当使用与上述的例子不同的形态作为光探测器时，使电流电压变换器以后的构成与光探测器的形态一起变更，但是变更后的构成和变更方法对于作业人员来说是能够容易地实现的。所以，与光探测器的形态一起变更的跟踪误差检装置也包括在本发明的范围内是不言而喻的。
在产业上利用的可能性如上所示，与本发明有关的跟踪误差检装置能够大幅度地削减电路规模，能够小型化和低成本地实现再生以CD和DVD为代表的光记录媒体的光记录再生装置，特别是，能够与光记录再生装置的倍速化和光记录媒体的高密度化相适应。
权利要求
1．跟踪误差检测装置，它的特征是在对通过将光照射在光记录媒体上得到的光点的跟踪误差进行检测的跟踪误差检测装置中，备有接收上述光点的反射光，输出与受光量相应的光电流的光探测器。将上述的光探测器的光电流变换成电压信号的电流电压变换器，从上述的电压信号，生成与上述光点的跟踪误差相应的相互之间有相位变化的两个信号系列的信号发生器，使上述的两个信号系列离散化得到第一个和第二个数据信号系列的模拟-数字变换器，分别对上述的第一个和第二个数据信号系列进行内插处理的内插滤波器，分别检测通过上述的内插滤波器内插的第一个和第二个数据信号系列的零交叉点的零交叉点检测电路，检测上述的第一个数据信号系列的上述的零交叉点和上述的第二个数据信号系列的上述的零交叉点的相位差的相位差检测电路，和通过对上述的检测出的相位差进行频带限制得到跟踪误差信号的低通滤波器。
2．跟踪误差检测装置，它的特征是在对通过将光照射在光记录媒体上得到的光点的跟踪误差进行检测的跟踪误差检测装置中，备有接收上述光点的反射光，输出与受光量相应的光电流的光探测器，将上述的光探测器的光电流变换成电压信号的电流电压变换器，使上述的电压信号离散化，变换成数字信号的模拟-数字变换器，对上述的数字信号进行内插处理的内插滤波器，从由上述的内插滤波器得到的信号，生成与上述光点的跟踪误差相应的相互之间有相位变化的第一个和第二个数据信号系列的信号发生器，分别检测上述的第一个和第二个数据信号系列的零交叉点的零交叉点检测电路，通过比较上述的第一个数据信号系列的上述的零交叉点和上述的第二个数据信号系列的上述的零交叉点的相位，检测相位差的相位差检测电路，和对上述的检测出的相位差进行频带限制的低通滤波器。
3．跟踪误差检测装置，它的特征是在权利要求1或2中记载的跟踪误差检测装置中，上述的光探测器有纵横各两个并排的光接收元件，上述的信号发生器备有，在从上述的光探测器得到的信号中，分别将从对角方向的光接收元件得到的信号中的相同±号的加起来，得到两个信号系列的加法器。
4．跟踪误差检测装置，它的特征是在权利要求1到3的任何一项中记载的跟踪误差检测装置中，进一步备有将上述的内插滤波器的系数设定在所希望的值上的系数设定电路。
5．跟踪误差检测装置，它的特征是在权利要求4中记载的跟踪误差检测装置中，进一步备有检测从上述的低通滤波器输出的跟踪误差信号中的偏移的偏移检测电路，上述的系数设定电路，为了通过上述的内插滤波器对适当位置的数据进行内插，根据上述的检测出的偏移量设定系数。
6．跟踪误差检测装置，它的特征是在权利要求4或5中记载的跟踪误差检测装置中，上述的系数设定电路设定的系数是将用于进行内插的系数和用于补偿高频成分恶化的系数重叠在一起的系数。
全文摘要
与本发明有关的跟踪误差检测装置1,如第1图所示,是用电流电压变换电路7a～7d将由光探测器2得到的光电流变换成电压信号,通过加法器8a,b将电压信号加起来生成两个信号系列,分别用ADC(模拟－数字变换器)16a,b使两个信号系列数字化,用内插滤波器17a,b进行内插处理,用零交叉点检测电路18a,b检测零交叉点,用相位差检测电路19检测两个信号系列的零交叉点的相位差,如果用LPF(低通滤波器)11对相位差进行频带限制,则能够得到跟踪误差信号的跟踪误差检测装置。用这样构成的跟踪误差检测装置,我们能够小型化和低成本地提供与光记录再生装置的高速化和光记录媒体的高密度化相适应的跟踪误差检测装置。
文档编号G11B7/09GK1321304SQ00801881
公开日2001年11月7日 申请日期2000年8月29日 优先权日1999年8月30日
发明者平塚隆繁, 丸川昭二, 冈本敏典 申请人:松下电器产业株式会社