专利名称：磁记录装置的走带速度的测量方法及装置的制作方法
本申请是中国专利申请号为96109602.0的分案申请。
本发明是关于测量磁记录装置走带速度的测量方法及其装置。
VTR或DAT等螺线扫描型磁记录装置，由于其高功能化及高密度记录化，与一般磁记录装置相比，要求有高度的加工精度和可控制性。因此，对螺线扫描型磁记录装置的各参数的测量，必须比一般磁记录装置的各参数的测量更加严密。
在这种测量中，对记录在磁带上的信号幅度(磁道的宽度)的测量，是一个重要的测量项目，它是再生记录在磁带上的信号时，为了决定再生信号的电平所必须的。
在最近的螺线扫描型磁记录装置中，是通过安装在旋转圆筒上的多个磁头交互地扫描磁带(如图8所示)来把图象信号和(或)声音信号记录到磁带上的。磁道的宽度决定于旋转圆筒上安装的磁头的位置和走带速度。
下面对现有走带速度的测量方法进行说明。
相对于旋转圆筒的旋转，如果磁带的移动速度具有一定量的误差(走带速度偏差)，将会引起磁道宽度的整体误差。例如，当相对于旋转圆筒的旋转，走带速度大于规定值时，对应于旋转圆筒的一个旋转周期的磁带移动距离将变长，使得磁道宽度比规定值增宽。反之，当相对于旋转圆筒的旋转，走带速度小于规定值时，对应于旋转圆筒的一个旋转周期的磁带移动距离将变短，使得磁道宽度比规定值窄。
这种走带速度偏差，会由于传送磁带的主导轴转数误差，主导轴轴径误差，主导轴与磁带间的打滑(空转)等而产生。当走带速度偏差在一定容许值以内时，可以通过控制主导轴的转数，例如ATF(Auto Track Fouowing)等来补偿走带速度偏差。但为了进行这种控制，要具备应付可能出现走带偏差应的控制系统。由于得到充分的控制系统，必须使用驱动主导轴的昂贵的马达以及复杂的控制电路。
为了尽量避免使用昂贵的马达和复杂的控制电路，就要把不进行ATF等控制时的走带速度偏差控制在某规定范围内。
在测量走带速度偏差时，可以采用主导轴旋转一转，产生数百个脉冲信号，记录其脉冲数，求出主导轴旋转误差，检测出走带速度偏差这样的方法。
这种走带速度偏差检测方法中，存在如下所述的问题。现在走带速度偏差检测方法中，引起走带速度偏差的主要原因的主导轴轴径误差、磁带与主导轴之间的空转等是无法检测的。而且，即使地主导轴输出的输出脉冲计数值控制在规定范围内，如果主导轴轴径存在误差，就会引起主导轴旋转速度误差，导致磁带实际速度的偏差。另外，主导轴为了传送磁带，而主导轴的旋转未传及磁带，使磁带空转的情况下，也会引起磁带速度与主导轴旋转速度之间的偏差。仅仅靠记录从主导轴输出的输出脉冲数，无法测量磁带走带时实际的走带速度偏差的问题也是存在的。
本发明的目前的是，检测磁带走带时的实际走带速度偏差。
为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案一种测定磁记录装置的走带速度的测量方法，所述磁记录装置包括以第一走带速度或者不同于第一走带速度的第二走带速度驱动磁带的驱动电路；以及至少一个将在所述第一走带速度下记录在上述磁带上的第一及第二导频信号、以所述第二走带速度放音的磁头，所述测量方法的特征是根据由其至少一个磁头放音的所述第一及第二导频信号，生成表示第一导频信号与第二导频信号之差的时间变化关系的第一信号的生成过程；检测所述第一信号的波长的检测过程；以及根据所述第一走带速度和所述第二走带速度之差与所述第一走带速度之比例、其检测出的波长及事先确定的时间，计算走带速度偏差的过程。
所述的磁记录装置的走带速度的测量方法，其特征在于上述磁带具有第一磁道、第二磁道和夹在所述第一磁道与所述第二磁道之间的第3磁道，所述第一磁道中记录上述第一导频信号，所述第二磁道中记录上述第二导频信号，所述第3磁道中记录电平为0的导频信号。
一种测定磁记录装置的走带速度的测量装置，所述磁记录装置包括以第一走带速度或者不同于第一走带速度的第二走带速度驱动磁带的驱动电路；及至少一个将在所述第一走带速度下、记录在所述磁带上的第一及第二导频信号，以所述第二走带速度放音的磁头，所述测量装置的特征是包括根据所述至少一个磁头放音的第一导频信号及第二导频信号，生成表示第一导频信号与第二导频信号之差的时间变化关系的第一信号的生成部；检测出所述第一信号波长的检测部；和根据所述第一走带速度和所述第二走带速度之差与所述第一走带速度之比例、所述检测出的波长及事先确定的时间，来计算走带速度偏差的计算部。
所述的测定磁记录装置的走带速度的测量装置，其特征在于上述磁带具有第一磁道、第二磁道及夹在所述第一磁道与所述第二磁道之间的第3磁道，所述第一磁道中记录上述第一导频信号，所述第二磁道中记录上述第二导频信号，所述第三磁道中记录电平为0的导频信号。
本发明是将一般记录走带速度下记录的磁带，在不同于一般记录走带速度的一定走带速度下放音，检测出放音时从多个磁头得到的导频信号差，通过比较从各个磁头分别得到的导频信号的相位，检测出多个磁头之间的相对高度。
本发明是将一般记录走带速度下记录的磁带，在不同于一般记录走带速度的一定走带速度下放音，检测出放音时磁头的导频信号差，由其导频信号差的波长，计算出走带速度偏差。
本发明具有如下积极的效果如上所述，根据在一般记录和不同于一般记录的走带速度下再生磁带时的监控信号电平差与时间的关系，可以得到多个磁头间的相对高度误差及走带速度偏差。因此，可以在旋转栓面安装在底盘上的状态，即实际上已经完成了被测装置的组装的状态下，测量磁头相对高度误差。所以，可以得到包括由于把旋转圆筒安装到底盘上的安装过程所引起的误差在内的，多个磁头间的相对高度误差和走带速度偏差。
另外，由于使用了被测量装置中实际走带时的导频信号，所以可以测量出包括被测量装置固有的主导轴径误差及磁带空转在内的实际的走带速度偏差。
以下参照附图，详细说明
具体实施例方式
图1是表示有关磁记录装置的记录/再生的主要部分的斜视图。
图2是表示磁道与磁头的相对位置关系的模式图。
图3表示本发明的测量装置构成的一个例子。
图4是表示图3所示的CPU7的处理流程图。
图5(a)是表示将贮存在存贮器6中的、磁头(a)的相关数据以等间隔(取样时间)描绘的波形301，图5(b)是表示将贮存在存贮器6中的、磁头(b)的相关数据以等间隔(上述取样时间)描绘的波形303，图5(c)是表示将贮存在存储器中的数据按阈值O(v)二进制化后等间隔(上述取样时间)描绘的波形302，图5(d)表示贮存在存贮器中的数据按阈值O(V)数字化后等间隔(上述取样时间)描绘的波形304。
图6是表示一般记录速度时及不同于一般记录速度的一定速度下再生时的磁头2a及磁头2b的位置关系的平面图。
图7是表示贮存在存贮器中的ATF误差信号波形的相关数据的波形图。
图8是表示记录在磁带上的信号磁道的图。
图9是表示磁头相对高度及磁头高度的图。
图1是本发明要测量的装置即磁记录装置的记录/再生相关主要部分的斜视图。
下面，对磁记录装置做简单的说明。
旋转圆筒1，拥有再生记录在磁带20上的信号的磁头2a、2b。旋转圆筒1顺箭头A的方向旋转。磁带20夹在主导轴21和紧带轮22之间，随着主导轴21的旋转，磁带20顺箭头B方向走带。磁带20的走带，受杆23的引导。
信号的记录/再生，是通过磁头2a、2b交互地扫描斜绕在旋转的旋转圆筒1上的磁带20来实现的。磁头2a、2b通过固定螺丝19a、19b固定在旋转圆筒1上。
图8是记录在磁带20上的信号的一个例子。如图8所示那样，信号被记录在对磁带20斜向分割成的多个磁道24上。图2是表示磁道25a-25e与磁头26a-26c的相对位置关系模式图。图2中的磁道25a-25e是把图中的磁道24纵向显示的结果。从图2可以看出，磁头26a-26c的扫描位置是各不相同的。箭头是表示扫描方向。
下面通过图9对利用ATF(Auto Track Fouowing)的磁带走带控制进行说明。
在磁道25a-25e中，除一般信号外，还记录了频率为f1、f0、f2、f0、f1的导频信号。一般信号是指的图象信号和(或)声音信号。一般地说，导频信号的频率比一般信号的频率低，但导频信号的频率也可以比一般信号的频率高。
记录导频信号的顺序，是如图2所示的磁道25a～25e的顺序。另外对应于各导频信号的频率的顺序是f1→f0→f2→f0→f1。对应于整个磁带记录下的信号是频率按f1→f0→f2顺序循环反复的导频信号。另外，频率为f0的导频信号的电平也可以为0。为了简化对ATF的说明，以下说明中，假定频率为f0的导频信号的电平为0。
下面说明的是磁头扫描磁道25b时的例子。由于磁头26a～26c的宽度比磁道宽度25b宽，所以在磁头26a再生的信号中，也包含了记录在相邻的磁道25a及25c中的导频信号。具体地说，频率为f1、f2的导频信号，包含在再生的信号之中。
由于磁头26a的中心几乎与磁道25b的中心重合，所以磁头26a与得到的频率为f1、f2的导频信号的电平是相同的。不过，当磁头26b扫描磁道25b时，频率为f2的导频信号的电平将大于频率为f1的导频信号的电平。反之，当磁头26c扫描磁道25b时，频率为f1的导频信号的电平将大于频率为f2的导频信号的电平。这样，相对于磁道的中央，磁头的扫描位置偏向某一方时，其方向上相邻的磁道上的导频信号的电平就发生变化。
在ATF控制中，是从记录有频率为f0的导频信号的磁道再生的信号中，检测出频率为f1、f2的信号，从“频率为f2的导频信号电平”减去“频率为f1的导频信号电平”得出ATF误差信号，为了使该信号尽可能地接近于0，对主导轴转数进行控制，使磁道中心与磁头中心保持一致。
下面利用图3对本发明的磁记录装置的测量装置的构成进行说明。图3是本发明的磁记录装置的测量装置的构成图。图3的测量装置具有ATF误差信号生成电路3a、3b以及控制电路4。
将第一走带速度下记录到磁带上的第一及第二导频信号，在不同于第一走带速度的第二走带速度下由磁头2a、2b再生而成的导频信号，由ATF误差信号生成电路3a、3b分别接收。磁头2a及磁头2b均安装在旋转圆筒1上，磁头2a、旋转圆筒的旋转轴与磁头2b构成180度角。另外，图3中所表示的磁头2a、2b是从旋转圆筒上方透视的状态。
ATF误差信号生成电路3a、3b，在接收到的导频信号的基础上生成ATF误差信号。另外，在磁头2a、2b与ATF误差信号生成电路之间，还设置了对磁头2a、2b再生的信号进行增幅的前置放大器和从磁头2a、2b再生的信号中检测出导频信号的检测电路。
在控制电路4中具有将ATF误差信号生成电路3a、3b中输出的ATF误差信号进行模拟-数字转换(以后称之为A/D转换)的A/D转换电路5、贮存将ATF误差信号进行A/D转换后所得数据的存贮器6以及对贮存在存贮器中的数据进行运算处理的CPU7。CPU7运算处理的结果显示在监视器上。
下面利用图4及图5对本发明的磁记录装置的测量装置的动作进行简单的说明。图4是表示图3中CPU7所进行的处理的处理流程图。
在二进制化处理9中，是将通过A/D转换电路5进行A/D转换后的数据，即离散化的量化信号，根据规定的阈值进行二进制化。换言之，也就是把根据磁头2a、2b再生的导频信号生成的ATF误差信号二进制化的过程。具体来说，把大于某阈值的量化信号变换成1，而把小于某阈值的量化信号变换成-1。将ATF误差信号进行A/D转换，对贮存在存贮器6中的数据进行了二时制化处理的信号的例子表示在图5(c)及图5(d)中。图5(c)和图5(d)中，横座标表示时间t，纵坐标表示2进制化信号值。
以零交叉判定处理10，在二进制化处理的数据中，对数据的正负反转时刻进行判断。例如，在图5(c)所示例中，检测出了时刻a1、a2、a3及a4，在图5(d)所示例中检测出了时刻b1、b2及b3。
波长检测处理11，根据零交叉时刻，即二进制化了的数据的正负反转时刻，检测出波长。例如，在图5(c)所示例中，从时刻a3减去时刻a1，可求出磁头2a相关的ATF误差信号的波长。在图5(d)所示例中，从时刻b3减去时刻b1，可求出磁头2b相关的ATF误差信号的波长。
相位检测处理12，是将根据零交叉判断处理得到的时间轴上零交叉位置变换成相位值。由此可求出从磁头2a得到的信号的相关相位值和从磁头2b得到的信号的相关相位值。
相位差检测处理13，是求出从磁头2a得到的信号的相关相位值与从磁头2b得到的信号的相关相位值之差。
磁头相对高度误差检测处理14，是将相位差检测处理13得出的相位差值变换成磁头相对高度，通过比较该变换值与理论值，检测出磁头相对高度误差。
走带速度偏差检测处理15，是将波长检测处理11得到的波长变换成走带速度后，通过比较变换而得走带速度与理论值，求出走带速度偏差。
下面对本发明的测量装置的动作进行详细说明。
如图1所示，在把主导轴21的转数设定为高于一般记录时转数的w％的状态下，使磁带20以一定速度走带。在再生模式下，磁头2a、2b再生记录在磁带20上的信号。例如，考虑相对于一般记录时的转数，再生时的转数高出1％的情况。假设一般记录时主导轴的转数为180rpm，则再生时的转数为181.8rpm。而且，只检测ATF误差信号而不进行上述ATF控制。并且使用的再生磁带20最好是磁道宽度与规定格式极为接近、磁道弯曲很少、被称作标准磁带的用于调整走带的磁带。
下面利用图6对磁带20的磁道与磁头2a、2b之间的位置关系进行说明。
在图6中，表示出了磁道16a～16i共9条磁道。在磁道16a～16i中，分别记录有频率为f0～f2之一的监测信号。具体来说，磁道16a中记录有频率为f1的导频信号，磁道16b中记录有频率为f0的导频信号，磁道16c中记录有频率为f2的导频信号。在磁道16c以后的磁道(磁道16d～16i)中顺序记录有频率为f1的导频信号、频率为f0导频信号和频率为f2的导频信号。
最初，磁头2a位于位置17a，磁道16a的中心与磁头2a的中心一致。磁头2a扫描完磁道16a后，磁头2b扫描磁道16b。由于再生记录在磁带上的信号的速度(再生速度)比往磁带上记录信号的速度(记录速度)快w％，使得磁头2b的中心，沿从磁道16b的中心偏离出w％的磁道宽度的位置进行扫描。之后，磁头2a扫描磁道16c，磁头2b扫描16d。
这样，当相对于磁道间距L，扫描间距S大w％时，扫描位置的偏差将随着扫描次数的增加成比例地增大。
然而，由于ATF的误差信号是由导频信号的电平之差(F2-F1)来决定的，例如，本应当扫描磁道16b中心的磁头，即使偏差到磁道16f的中心位置，ATF误差信号(F2-F1)同样为0。而且，F1表示频率为f1的导频信号的电平，F2表示频率为f2的导频信号的电平。
因此，磁头位置的偏差达到4个磁道宽时，ATF误差信号就会复原。若着眼于2个磁头中的单个磁头来看，ATF误差信号成为以4个磁道宽为一个周期的周期性信号。
另外，如图7所示，其中，横坐标表示时间t，纵会标表示ATF误差信号(f2-f1)，由于磁头2a及2b的扫描位置17a及17b几乎偏离了1个磁道宽，如果磁头2b相对于磁头2a的相对高度设置正确的话，ATF误差信号将偏移几乎一个磁道宽的部分，即ATF误差信号的变化周期的四分之一波长部分的相位。
下面，对图3中的ATF误差信号生成电路3a及3b生成的ATF误差信号与图3中的存贮在存贮器6中的数据之间的关系进行简单的说明。
如图1所示，磁头2a及磁头2b交互地扫描绕在旋转圆筒1上的磁带20。因此，从ATF误差信号生成电路3a及3b输出的信号波形是不连续的信号波形。ATF信号生成电路3a及3b输出的ATF误差信号，由A/D转换电路5进行A/D转换。表示A/D转换后的ATF误差信号的数据贮存在存贮器6中。但当ATF误差信号生成电路3a未生成ATF误差信号时，磁头2a的相关数据就不贮存到存贮器6之中。而且，当ATF误差信号生成电路3b未生成ATF误差信号时，磁头2b的相关数据也不贮存到存贮器6之中。因此如果把存贮器6中贮存的数据等间隔地(上述A/D转换电路使用的取样时间)表示出来，ATF误差信号的波形就成为图7所示的波形。
作为参考，把贮存在存贮器6中的磁头2(a)的相关数据以等间隔(上述取样时间)画出的波形301表示在图5(a)中，把存贮在存贮器6中的磁头(b)的相关数据以等间隔(上述取样时间)画出波形303表示在图5(b)中。在图5(a)和图5(b)中，横坐标表示时间t，纵坐标表示ATF误差信号电平。
对于贮存在存贮器6中的数据，进行二制化处理9。二进制化处理，是指根据做为阈值的既定电压值或峰-峰值(p-p值)的中心值，把数据变换成1和-1两个值的处理。当数据大于阈值时，变换成1，当数据小于阈值时，变换成-1。
作为参考，把根据阈值0(v)将贮存在存贮器中的数据二进制化的的值以等间隔(上述取样时间)画出的波形302表示在图5(c)中，把根据阈值0(v)降贮存在存贮器中的数据二进制化后的值以等间隔(上述取样时间)画出的波形304表示在图5(d)中。
在图4所示的零叉处理10中，检测二进制化信号的正负反转时刻。零交叉时刻，通过检测二进制信号的差分值的变化点可以得到。例如，作为磁头2a的相关ATF误差信号的零交叉时刻，可以求得图5(a)中的时刻a1、时刻a2、时刻a3及时刻a4，作为磁头2b的相关ATF误差信号的零交叉时刻，可以求得图5(b)中的时刻b1、时刻b2、时刻b3及时刻b4。
在图4所示的波长检测处理11中，波长相当于2倍的零交叉时刻间距。因此，在图5中，时刻a1到时刻a3的时间相当于一个波长λ。因而由λ(sec)＝a3-a1…………(1)来计算。当然，波长λ也可以通过a4-a2、b3-b1等来计算。
在图4所示的相位检测处理12中，如果设时刻a1～时刻an的相位值分别为α1～αn，则通过αi(rad)＝(ai-a1)×2π/λ(i＝1～n)……(2)来计算。
同样地，以时刻a1为基准计算时刻b1～时刻bn的相位值。设时刻b1～时刻bn的相位值分别为β1～βn，则通过βi(rad)＝(bi-a1)×2π/λ(i＝1～n)……(3)来计算。
这样，利用得到的相位值，就可以进行相位差检测处理13。设相位差为θi，则通过算式(2)、算式(3)，由θi＝βi-αi(i＝1～n)…………(4)来计算。
接着，利用根据算式(4)得到的相位差，进行磁头相对高度误差检测处理14。
首先，相位差误差δi由下式求得。
δi＝θi-λ/4(i＝1～n)…………(5)当磁头的相对高度没有误差时，由于相位差θi为一条磁道宽的部分，即λ/4，所以相位差误差δi为0。因此，相位差误差δi，表示磁头2a与磁头2b的相对高度误差所引起的相位偏差。这样，为了把相位差误差δi变换成磁头相对高度误差，进行以下处理。
4倍磁道宽的扫描位置偏差，对应于一个波长即2π的相位。因此，设磁道宽为Tw(μm)，则4×Tw对应于2π。由下式可将相位差误差δi变换成磁头相对高度误差Xi(μm)。
Xi＝4×Tw×δi/2π(i＝1～n)(6)在这里，虽然可以得到n个Xi，但也没必要算出很多个，仅算出一个也是可以的。而且，为了减小检测误差，也可以求出磁头相对高度误差Xi的平均值。
这样，就可以把图3中CPU7运算出的磁头相对高度误差数值显示在监视器8上。
下面对图4中的速度偏差检测处理15进行说明。
当把主导轴转数加快W％的走带速度时，如上所述，磁头扫描间隔会比磁道宽度加宽W％。如果走带速度正确地加快W％，每扫描100/w(回)，扫描位置会偏差一个磁道宽度。要产生ATF误差信号的一个变化周期即4倍磁道宽度的扫描位置偏差，需要扫描400/w次。这里假设一次扫描需要的时间为T(sec)。
例如，转数为9000rpm，两个磁头成180度相对时，一次扫描所花时间T(sec)为T＝0.5×60/9000。从而，产生ATF误差信号的一个波长即4倍磁道宽的扫描偏差所需时间Y(sec)为Y＝T×400/W(7)如果磁带按所设速度运转，图4的波长检测处理11所得出的波长λ(sec)与Y是一致的。不过，即使把主导轴转数设定成比基准转数正确地快W％，由于主导轴径误差等因素，有时实际的走带速度并不是快W％。这种情况，对于一般记录时的走带速度也是同样的。在这里，当设定走带速度增加W％时，通过检测实际运转时的走带速度，可以求出要测定的装置的走带速度偏差。假设实际的走带速度的增加率为P(％)，利用波长检测处理11所得到的波长λ，及算式(7)，有以下算式(8)成立。
λ＝T×400/P(8)由算式(8)，通过波长检测处理11得到的波长λ和T，可以求出实际的走带速度增加率P(％)。因此，走带速度偏差e％为e＝P-W (9)这样，求得的走带速度偏差e也可以显示在图3的监视器8上了。
以上对于相对成180度的两个磁头的相对高度误差和走带速度偏差的测量装置及其方法进行了阐述。不言而喻，对于间隔90度配置4个磁头等，或具有其他多个磁头的磁记录装置，利用磁头的相对高度误差与ATF误差信号的相位值偏差的对应关系，同样可以求出磁头相对高度误差。
另外，本实施例在ATF误差信号的波形处理中，进行了二进制处理，采用其他的方法计算信号的波长与相位，例如求微分检测出其顶点位置，检测波长与相位的方法，也可以得出同样的结果。
再者，本实施例中列举了走带速度比一般再生时快的情况下产生的ATF误差信号的变动情况，当然采用其他方法使扫描偏差量随时间成比例地增加也是可以的。例如，设定走带速度低于一般速度时，很明显，也会得到同样的结果。
权利要求
1.一种测定磁记录装置的走带速度偏差的测量方法，所述磁记录装置包括以第一走带速度或者不同于第一走带速度的第二走带速度驱动磁带的驱动电路；以及至少一个将在所述第一走带速度下记录在上述磁带上的第一及第二导频信号、以所述第二走带速度放音的磁头，所述测量方法的特征是根据由其至少一个磁头放音的所述第一及第二导频信号，生成表示第一导频信号与第二导频信号之差的时间变化关系的第一信号的生成过程；检测所述第一信号的波长的检测过程；以及根据所述第一走带速度和所述第二走带速度之差与所述第一走带速度之比例、其检测出的波长及事先确定的时间，计算走带速度偏差的过程。
2.如权利要求1所述的磁记录装置的走带速度偏差的测量方法，其特征在于上述磁带具有第一磁道、第二磁道和夹在所述第一磁道与所述第二磁道之间的第3磁道，所述第一磁道中记录上述第一导频信号，所述第二磁道中记录上述第二导频信号，所述第3磁道中记录电平为0的导频信号。
3.一种测定磁记录装置的走带速度偏差的测量装置，所述磁记录装置包括以第一走带速度或者不同于第一走带速度的第二走带速度驱动磁带的驱动电路；及至少一个将在所述第一走带速度下、记录在所述磁带上的第一及第二导频信号，以所述第二走带速度放音的磁头，所述测量装置的特征是包括根据所述至少一个磁头放音的第一导频信号及第二导频信号，生成表示第一导频信号与第二导频信号之差的时间变化关系的第一信号的生成部；检测出所述第一信号波长的检测部；和根据所述第一走带速度和所述第二走带速度之差与所述第一走带速度之比例、所述检测出的波长及事先确定的时间，来计算走带速度偏差的计算部。
4.如权利要求3所述的测定磁记录装置的走带速度偏差的测量装置，其特征在于上述磁带具有第一磁道、第二磁道及夹在所述第一磁道与所述第二磁道之间的第3磁道，所述第一磁道中记录上述第一导频信号，所述第二磁道中记录上述第二导频信号，所述第三磁道中记录电平为0的导频信号。
全文摘要
本发明公开一种磁记录装置的磁头相对高度及走带速度的测量方法及其装置,其是把在一般录音的走带速度下记录了信号的磁带,在不同于一般录音的走带速度的大致一定的走带速度下放音,从磁头检测出磁道偏离信号,通过比较从多个磁头得到的磁道偏离信号的相位,检测出多个磁头间的相对高度。另外,本发明的测定装置由磁道偏离信号的波长检测出走带速度偏差。
文档编号G11B15/46GK1345055SQ01103720
公开日2002年4月17日 申请日期2001年2月6日 优先权日1995年8月22日
发明者曾我部靖 申请人:松下电器产业株式会社