专利名称：信号质量评估方法、信息记录/还原系统和记录校正方法
技术领域：
本发明涉及对使用诸如光盘的信息介质的信息记录/还原过程中的信号处理的改进。具体地，本发明涉及评估信息记录/还原过程中的信号质量的方法、信息记录/还原系统的改进和记录校正方法的改进。
背景技术：
日本专利申请KOKAI公开说明书2000-90436描述了现有技术的、使用光盘的信息记录系统。在这个系统中，使用PUH(读取头)将光盘上记录的信息还原成弱模拟信号。
还原的模拟信号被前置放大器放大以具有足够高的信号电平，接着结果信号被转换成对应于标记/间隔(mark/space)的二进制信号。
另一方面，从PLL(锁相环)电路产生与二进制信号相位同步的通道时钟信号。根据二进制信号和通道时钟信号，参数计算装置计算出波形校正值。此外，根据波形校正值、记录数据和基准时钟信号，记录波形产生装置产生记录波形脉冲。从PUH向光盘发射对应于记录波形脉冲的激光束，并且以标记/间隔的形式将对应于记录数据的信息记录在光盘上。
在上述现有技术中，根据二进制信号和通道时钟信号的上升沿或下降沿之间的相位差计算波形校正值。当分割方法被用于识别还原信号的内容时，这种技术是有效的。然而这种技术不适用于整体检测方法，其中根据还原信号样本的振幅值识别还原信号。尤其是在记录密度较高的情况下，例如在使用蓝光激光器的光盘系统中，将分割方法用作鉴别方法是不充分的，并且需要诸如PRML(部分响应完全匹配)方法的高级鉴别方法。在PRML方法中，也是根据还原信号样本的振幅值鉴别还原信号内容，因而上述现有技术是不适用的。概括地说，在根据还原信号样本的振幅值鉴别还原信号的技术中不能正确评估还原信号质量或计算出适当的波形校正值。
发明内容
针对上述问题提出了本发明，本发明的目的是在根据还原信号样本振幅值鉴别还原信号的技术中提供能够正确评估还原信号质量的方法。
本发明的另一个目的是在根据还原信号样本振幅值鉴别还原信号的技术中提供能够正确计算波形校正值的系统或方法。
根据本发明一个方面，为了实现所述目的，提供针对还原信号的信号质量评估方法，其中使用预定还原信号(E200)、对应于还原信号(E200)的信号波形模式的第一模式、和对应于还原信号(E200)的信号波形模式并且不同于第一模式的指定模式。求出还原信号(E200)和第一模式之间的距离Eo以及还原信号(E200)和指定模式之间的距离Ee之间的距离差D(Ee-Eo；等式18)。接着求出相对多个还原信号样本的距离差D分布(图5A和5B)。接着，根据距离差D的均值M和距离差D的分布的标准偏差σ之间的比值确定还原信号(E200)的质量评估参数(M/σ；等式19)。于是根据通过质量评估参数(M/σ)表示的指标(等式19中的评估指标Mgn)评估还原信号(E200)的质量。
根据本发明的另一个方面，提供一种信息记录/还原系统，该系统使用根据信号样本振幅值鉴别信号内容的方法(PRML方法)。该系统包括模式提供装置(模式存储器212)，该模式提供装置提供包含码位系列＂10＂或＂01＂的第一模式，包含对应于码位系列＂10＂或＂＂01＂的＂11＂的第二模式，和包含对应于码位系列＂10＂或＂01＂的＂00＂的第三模式；使用预定信息记录介质(光盘100)记录/还原第一模式的记录/还原装置(200、230)；和校正值计算装置(202-224)，所述校正值计算装置根据记录/还原装置(200、230)得到的第一模式还原信号(E200)被识别成对应于第二模式的信号的第一概率(图5A)，和记录/还原装置得到的第一模式还原信号被识别成对应于第三模式的信号的第二概率，计算出信息记录介质(100)的记录校正值(WC)。
根据本发明的另一个方面，提供一种记录校正方法，该方法使用预定还原信号(E200)、对应于还原信号(E200)的信号波形模式的第一模式、对应于还原信号(E200)的信号波形模式并且不同于第一模式的第二模式、和对应于还原信号(E200)的信号波形模式并且不同于第一模式和第二模式的第三模式，在信息记录介质(光盘100)上记录信息或从信息记录介质还原信息。在该方法中，求出还原信号(E200)和第一模式之间的第一距离E1(等式2)、还原信号(E200)和第二模式之间的第二距离E2(等式3)，以及还原信号(E200)和第三模式之间的第三距离E3(等式4)。接着求出第一距离E1和第二距离E2之间的第一距离差D2＝E2-E1(等式7)，以及第一距离E1和第三距离E3之间的第二距离差D3＝E3-E1(等式8)。接着求出第一距离差D2相对多个还原信号样本的分布(图5A)和第二距离差D3相对多个还原信号样本的分布(图5B)。此后，求出第一距离差D2的均值M2与第一距离差D2的分布(图5A)的标准偏差σ2，以及第二距离差D3的均值M3和第二距离差D3的分布(图5B)的标准偏差σ3。接着，根据关系(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)求出记录校正参数(等式13中的Ec；单位为欧几里德距离)。于是根据记录校正参数(Ec)校正(＂记录波形自适应控制＂)信息记录介质(100)的信号记录波形(图8B-8D)。
下面的说明会描述本发明的其它目的和优点，通过说明可以理解其中的一部分，通过本发明的实践可以领会其它部分。通过如下所述的手段和组合可以实现和达到本发明的目的和优点。
被说明书引用并且构成说明书组成部分的附解了本发明的优选实施例，并且和前面的概括描述、下面针对优选实施例的详细描述一起被用来说明本发明的原理。
图1示出了基于本发明第一实施例的信息记录/还原系统的结构；图2示出了图1的系统中使用的理想信号计算器的结构的例子；图3示出了有关图1的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第一个例子；图4示出了图1的结构中的还原信号(E200)和理想信号(IEA、IEB、IEC)之间的关系；图5A和5B示例出图1的结构中计算的欧几里德距离差(D2＝E2-E3；D3＝E3-E1)的分布；图6图解了图1结构中计算的基于欧几里德距离差(D2＝E2-E3；-D3＝E1-E3)的欧几里德距离校正值；图7A-7C示出了图1的系统中使用的记录波形脉冲的例子；图8A-8D图解了图1的系统中使用的记录波形校正方法的例子；图9示出了有关图1的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第二个例子；图10示出了有关图1的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第三个例子；图11示出了有关图1的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第四个例子；图12示出了在使用图3或10示出的模式时的记录校正值确定模式的例子；图13示出了在使用图9示出的模式时的记录校正值确定模式的例子；图14示出了被用作本发明的信息记录/还原介质的光盘(DVD-RAM、DVD-RW、DVD-R)的结构；图15示出了基于本发明第二实施例的信息记录/还原系统的结构；
图16示出了基于本发明第三实施例的信息记录/还原系统的结构；图17示出了有关图16的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第一个例子；图18示出了图16的结构中的还原信号(E200)和理想信号(IEA、IEB、IEC)之间的关系；图19图解了从质量评估参数Ec到质量评估参数Ec＇的转换，这种转换使得DC电平在校正前后不会改变。
图20示出了有关图16的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第二个例子；图21示出了有关图16的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第三个例子；图22示出了有关图16的系统中使用的模式存储器的内容(模式1、2和3)与距离差存储器的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第四个例子；图23示出了基于本发明第四实施例的信息记录/还原系统的结构；而图24是说明记录校正方法的流程图。
具体实施例方式
现在参照附图描述基于本发明的信号质量评估、信息记录/还原系统、记录校正方法和信息介质的实施例。
图1示出了基于本发明第一实施例的信息记录/还原系统的结构。
在图1中，读取头(PUH)200读出光盘100上记录的标记/间隔(未示出)形式的信息以作为弱模拟还原信号E200。还原信号E200被前置放大器202充分放大。放大的模拟还原信号E202被A/D转换器204转换成数字还原信号E204。数字还原信号E204被延迟部件206适当延迟。延迟信号E206被输入到距离计算器208A-208C。
另一方面，在模式确定部件210中登记多种预定模式。当光盘100上记录的记录数据RD与在模式确定部件210中登记的模式一致(或匹配)时，模式确定部件210输出指示哪个登记模式与一致(或匹配)记录数据RD相关的模式指示信号E210a(如果使用的模式类型数量为3，可以是2位信号)。
模式存储器212根据来自模式确定部件210的模式指令信号E210a的内容输出3种在其中登记的二进制模式(模式1、模式2和模式3)。输出的二进制模式(模式1、模式2和模式3)被传送到理想信号计算器214A、214B和214C。
理想信号计算器214A-214C根据传送的二进制模式(模式1、模式2和模式3)产生对应于使用的PR特性(部分响应特性)的理想还原信号E214A-E214C(此后被称作＂理想信号＂；后面会参照图4描述理想信号和还原信号的信号模式之间的关系)。
理想信号E214A-E214C被提供给距离计算器208A-208C。来自延迟部件206的延迟信号E206也被输入到距离计算器208A-208C。设置延迟部件206施加的延迟的数值，使得理想信号E214A-E214C和还原信号E204同相。
距离计算器208A-208C计算理想信号E214A-E214C和还原信号E206之间的距离(如下所述的欧几里德距离)(计算的距离＝E1、E2和E3)。计算距离E1和E2被输入到减法器216，并且计算距离E1和E3被输入到减法器218。减法器216计算距离E2和E1之间的差值(E2-E1)，而减法器218计算距离E3和E1之间的差值(E3-E1)。计算差值(E2-E1)和(E3-E1)被存储在距离差存储器220和222中。
根据从模式确定部件210输出的存储器选择信号E210b确定距离差存储器220和222中的位置(即根据信号E210b确定存储器220和222的写/读地址)。
当在光盘100上记录和还原预定数量的数据时，参数计算器224根据距离差存储器220和222中存储的数据计算记录波形的波形校正值WC。具体地，参数计算器224根据从距离差存储器220和222读出的距离差数据E220(＝E2-E1)和E222(＝E3-E1)执行预定参数算术运算，并且输出波形校正值WC。波形校正值WC、基准时钟信号RC和记录数据RD被输入到记录波形发生器230。根据波形校正值WC、基准时钟信号RC和记录数据RD，记录波形发生器230产生记录波形脉冲E230，其中进行了适当的波形校正(或波形自适应控制)。使用产生的记录波形脉冲E230，PUH 200在光盘100上记录信息。
按照下述方式构造记录波形发生器230，当其接收具有如图7A所示的周期T的基准时钟信号RC，和具有如图7B所示的长度nT的NRZI(不归零翻转)波形(对应于记录数据RD)时，产生具有如图7C所示的波形的记录脉冲E230。另外，根据根据的波形校正值WC，增加或减少图7C示出的记录脉冲E230的第一脉冲的脉冲宽度。上述日本专利申请KOKAI公开说明书2000-90436公开了＂记录波形产生装置＂，即记录波形发生器230的内部结构，所述记录波形发生器230产生根据基准时钟RC、记录数据RD和波形校正值WC发生改变的记录波形E230。(然而应当注意，日本专利申请KOKAI公开说明书2000-90436的实施例中的波形校正值WCA在技术上不同于本发明实施例中的波形校正值WC。)现在参照图6和其它图例描述如何得到本发明实施例中的波形校正值WC。另外，参照图7A-7C、图8A-8D和其它附图描述如何根据得到的波形校正值WC校正记录波形脉冲E230的波形。
图2示出了图1的系统(设备)中使用的理想信号计算器214(214A-214C)的结构的例子。在这个例子中，理想信号计算器214将PR(1，2，2，1)特性用作部分响应特性。计算器214是普通4抽头FIR(有限脉冲响应)滤波器，并且抽头系数为(1，2，2，1)。
具体地，在理想信号计算器214中串联均具有延迟时间1T(对应于基准时钟信号RC的1个周期)的延迟单元2141-2143。具有预定模式(模式1、2或3)的位系列E212被输入到第一延迟单元2141。输入位系列被后面的延迟单元2142和2143以和基准时钟信号RC同步的方式接连延迟1T。未延迟的位系列E212被输入到具有系数＂1＂的加法器2140。已经被延迟单元2141延迟1T的位系列被系数乘法器2144乘以系数＂X2＂，并且被输入到加法器2140。已经被延迟单元2142延迟1T的位系列被系数乘法器2145乘以系数＂X2＂，并且被输入到加法器2140。已经被延迟单元2143延迟1T的位系列被输入到具有系数＂1＂的加法器2140。于是，加法器2140产生理想信号E214(E214A、E214B或E214C)，其中对理想信号E214进行了对应于PR(1，2，2，1)特性的算术运算。
例如，如果位系列＂00010000＂(E212)被输入到理想信号计算器214，则得到输出＂00012210＂。如果位系列＂000110000＂被输入到理想信号计算器214，则得到输出＂000134310＂。如果位系列＂0001110000＂被输入到理想信号计算器214，则得到输出＂000135531＂。如果位系列＂00011110000＂被输入到理想信号计算器214，则得到输出＂00013565310＂。对于PR(1，2，2，1)特性，FIR滤波器的输出(E214)具有7个电平(0、1、2、3、4、5、6)中的任何一个。
为了方便，将具有N个位＂1＂的位系列表示成＂nT标记＂，将具有n个位＂0＂的位系列表示成＂nT间隔＂。如果RLL(行程长度限制)(1，7)编码被用作调制编码，则记录数据中出现的位系列被限制成2T到8T标记和间隔。
在下面对实施例的描述中，假定长度为2T、3T和≥4T，标记和间隔配对，并且针对各个模式得到记录校正值。
图3示出了有关图1的系统(设备)中使用的模式存储器212的内容(模式1、2和3)与距离差存储器220的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第一个例子。
例如，图3中右边部分示出的各个模式1、2和3的第一行指示记录2T标记/2T间隔的模式。使用第一行模式计算的结果(MEC)被存储在用于标记末端控制的距离差存储器220/222中如箭头所示的地址上。
现在描述选择模式2和3的方法的例子。在模式2具有对应于模式1的位系列中的中间位＂10＂(或＂01＂)的位＂00＂(或＂11＂)、并且满足调制编码(RLL(1，7)等等)的规则的条件下，模式2是与模式1的理想信号(图4中的IEA(以后描述))之间具有最小欧几里德距离的模式。在模式3具有对应于模式1的位系列中的中间位＂10＂(或＂01＂)的位＂11＂(或＂00＂)、并且满足调制编码(RLL(1，7)等等)的规则的条件下，模式3是与模式1的理想信号(图4中的IEA(以后描述))之间具有最小欧几里德距离的模式。
当具有相同长度的2个位系列被表示成PA(n)和PB(n)(n＝0-N)时，欧几里德距离被定义成∑n＝0N{PA(n)-PB(n)}2…(1)下面通过某些例子描述欧几里德距离。在图3的第二行中，模式1是＂000111001111＂，而模式2是＂000110001111＂。模式1和2之间的纯差值是中间位上的＂10＂或＂00＂。
模式1的理想信号(图4中的IEA)为＂000135532356531＂，模式2的理想信号(图4中的IEB)为＂000134311356531＂。2个位系列之间的欧几里德距离为＂10＂。在这种情况下，具有中间位＂00＂并且其理想信号和模式1的理想信号之间的欧几里德距离为＂10＂或更小的模式仅为＂000110001111＂。于是，＂000110001111＂被用作模式2。
参照图3的模式3的第二行，采用＂000111100111＂。通过将模式1的中间位＂10＂替换成＂11＂形成的模式为＂000111101111＂。模式＂000111101111＂的理想信号＂000135654456531＂和模式1的理想信号＂000135532356531＂之间的欧几里德距离为＂10＂。在这种情况下，具有中间位＂11＂并且其理想信号和模式1的理想信号之间的欧几里德距离为＂10＂或更小的模式仅为＂000111101111＂。然而模式＂000111101111＂包含位系列＂101＂，违反了调制编码(RLL(1，7))的规则。于是，＂000111101111＂不能被用作模式3。可以被用作模式3的模式为＂000111100111＂，此模式满足调制编码(RLL(1，7))的规则。
模式＂000111100111＂的理想信号＂000135653235531＂和模式1的理想信号＂000135532356531＂之间的欧几里德距离为＂12＂。在这种情况下，满足调制编码(RLL(1，7))的规则、具有中间位＂11＂并且其理想信号和模式1的理想信号之间的欧几里德距离为＂12＂或更小的模式仅为＂000111100111＂。于是，＂000111100111＂被用作模式3。
现在参照图4-6和其它附图描述本实施例中计算记录校正值的方法的基本概念。
图4示出了图1的结构中的模式1-3的还原信号(E200)和理想信号(IEA、IEB、IEC)之间的关系。假定模式确定部件210选择的模式1、2和3具有图4示出的内容。根据模式1、2和3计算的理想信号IEA、IEB和IEC对应于图4的下部示出的波形。在这个实施例中的PR特性为具有限制长度＂4＂的PR(1，2，2，1)，于是对应于模式1、2和3的前3位和后3位的理想信号是不确定的。
假定图4的模式1、2和3的理想信号系列(IEA、IEB、IEC)为P1(t)、P2(t)和P3(t)，并且还原信号为Y(t)。则P1(t)、P2(t)和P3(t)之间的欧几里德距离，以及Y(t)被定义成E1＝∑{Y(t)-P1(t)}2…(2)E2＝∑{Y(t)-P2(t)}2…(3)E3＝∑{Y(t)-P3(t)}2…(4)尽管记录了模式1但还原信号的鉴别结果仍然为模式E2的条件是E1＞E2 …(5)类似地，尽管记录了模式1但还原信号的鉴别结果仍然为模式E3的条件是E1＞E3 …(6)现在考虑按下面方式定义的欧几里德距离(D2、D3)D2＝E2-E1 …(7)D3＝E3-E1 …(8)图5A和5B示例出图1的结构中计算的欧几里德距离差(D2＝E2-E3；D3＝E3-E1)的分布。在图5A和5B中，欧几里德距离差D2和D3的分布为0或更小的区域对应于误差。
假定欧几里德距离差D2和D3的均值为M2和M3，并且距离差D2和D3的标准偏差为σ2和σ3。于是，当模式1被记录时还原信号的鉴别结果不变成模式2的界限Mgn2被表示成Mgn2＝M2/σ2…(9)类似地，当模式1被记录时还原信号的鉴别结果不变成模式3的界限Mgn3被表示成Mgn3＝M3/σ3…(10)记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式2的事件(即模式1被错误识别成模式2的事件)，与记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式3(即模式1被错误识别成模式3的事件)的事件被认为是矛盾的。
图6图解了图1结构中计算的基于欧几里德距离差(D2＝E2-E3；-D3＝E1-E3)的欧几里德距离校正值。
图6示出了欧几里德距离差D2和-D3的分布。在图6中，横座标表示数值Ec(如下所述的记录校正参数)。距离差分布D2和-D3的最高为设定数值Ec的界限Mgn2和Mgn3被定义成Mgn2＇＝(M2-Ec)/σ2 …(11)Mgn3＇＝(M3+Ec)/σ3 …(12)假定等式(11)和(12)相等(即界限Mgn2＇和Mgn3＇相等)，则Ec被定义成Ec＝(σ3*M2+σ2*M3)/(σ2+σ3)…(13)如果图6的分布(距离差分布D2和-D3)通常被偏移通过等式(13)得到的Ec(即，如果图6的纵坐标上的原点＂0＂被向右偏移到记录校正参数Ec的设定位置)，则记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式2的概率，与记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式3的概率相等。这个状态对应于最小误差状态。
具体地，通过图1示出的参数计算器224产生对应于记录校正参数Ec(或以后描述的记录校正参数Ec＇)的波形校正值WC。产生的校正参数WC被传送到记录波形发生器230。于是，进行记录校正，使得＂记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式2的概率，与记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式3的概率相等＂。因此，得到读取记录信息的还原信号的最小误差状态。因此，在使用蓝光激光器的高密度光盘上可以进行良好的记录/还原。
记录校正参数Ec的符号对应于记录标记尺寸的增加/减少。Ec的绝对数值对应于记录标记尺寸的变化。在图6的例子中，记录校正参数Ec的符号表示Ec的位置将被设置在原点＂0＂的右边还是左边。Ec的绝对数值表示Ec的设定位置与原点＂0＂之间的偏离有多少。
记录校正参数Ec的单位为欧几里德距离。由于理想信号的位系列长度为＂7＂，欧几里德距离(Ec)可以被转换成如下所示的振幅(Vc)Vc＝(Ec/7) …(14)可选地，由于使用的PR特性的限制长度为＂4＂，振幅可以被指定成Vc＝(Ec/4)…(15)为了得到记录脉冲E230的校正值WC，有必要根据通过等式(14)或(15)表示的振幅校正数值Vc求出时间校正值，并且接着求出脉冲校正值。然而，由于这两步转换因记录介质特性以及标记长度和间隔长度的不同而不同，因此不容易找到转换等式以便根据Vc得到WC。
然而根据等式(13)的Ec(或以后描述的Ec＇)或等式(14)或(15)的Vc，可以按照下面的方式方便地进行记录校正。例如，当根据Ec(或以后描述的Ec＇)求出记录校正值时，提供接近图6的原点＂0＂的死区。如果Ec(或以后描述的Ec＇)在死区中，下一时间的记录校正值WC被确定成不变。如果Ec(或以后描述的Ec＇)大于死区，则下一时间的记录校正值为+1。如果Ec(或以后描述的Ec＇)小于死区，则下一时间的记录校正值为-1。根据求出的记录校正值(WC)的增加/减少/不变[-1，0，+1]，如图7C所示的记录波形E230的第一脉冲的宽度被增加/减少。因此可以校正记录波形E230。
通过使用实际设备进行测试，可以确定死区的宽度(大小)和±步长的量级(每次改变WC的程度)。
校正记录波形E230的方法不局限于增加/减少记录波形E230的第一脉冲的宽度。可以增加或减少第一脉冲、最后脉冲和/或尾迹脉冲(cooling pulse)的宽度。
改变记录波形脉冲E230的方法不局限于如图8B的虚线所示的改变脉冲宽度的方法。可选地，可以采用如图8C的虚线所示的脉冲振幅变化或如图8D的虚线所示的脉冲相位变化。可以适当合并图8B-8D所示的脉冲宽度变化、脉冲振幅变化和/或脉冲相位变化。
在这个实施例中，术语＂记录波形自适应控制＂表示一种控制方法，该方法根据波形校正值WC改变记录波形E230的脉冲宽度、脉冲振幅和/或脉冲相位，使得记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式2的概率，与记录的是模式1但还原信号的鉴别结果为模式3的概率相等。
使用通过＂记录波形自适应控制＂重新产生的记录波形脉冲230进行记录/还原。根据记录/还原，通过上述方法计算数值Ec，并且重复类似过程若干次。通过过程的循环重复，优化了记录波形脉冲E230(针对单独的记录/还原系统和/或单独的光盘)，并且保证得到良好的记录/还原。
在上述例子中，为记录波形脉冲E230提供3个变化步长[-1，0，+1]。可选地，Ec的范围可以被细分成5个步长[-2，-1，0，+1，+2]。
在一个可能的方法中，事先确定计算记录波形脉冲E230的过程的重复次数。在另一个可能的方法中，重复这个过程，直到评估指标(以后描述的Mgn)表明还原信号的质量达到预定数值。
等式(9)或(10)可被用作指示还原信号质量的评估指标。现在以概括方式说明等式(9)或(10)。假定当已经记录某些数据时得到的还原信号为Y(t)，记录数据的理想信号为p(t)，并且除了记录数据之外的指定数据的理想信号为p＇(t)。Y(t)和p(t)之间的欧几里德距离Eo被定义成Eo＝∑{Y(t)-p(t)}2…(16)类似地，Y(t)和p＇(t)之间的欧几里德距离Ee被定义成Ee＝∑{Y(t)-p＇(t)}2…(17)根据Eo和Ee求出欧几里德距离差DD＝Ee-Eo …(18)根据欧几里德距离差D的均值M及其标准偏差σ得到评估指标MgnMgn＝M/σ…(19)重复记录波形脉冲E230的计算，直到等式(19)的评估指标Mgn达到预定数值或更高。
在参照图1和其它附图描述的第一实施例中，光盘100上记录的标记/间隔的长度被设置为3种数值，即2T、3T和≥4T。可选地，标记/间隔的长度可以被设置为4种数值，即2T、3T、4T和≥5T。
图9在标记/间隔的长度被设置为4种数值，即2T、3T、4T和□5T的情况下示出了模式1、2和3和距离差存储器220/222的结构之间的关系。除了模式类型数量(从3个增加到4个)之外，可以按照与参照图1和其它附图描述的第一实施例相同的过程得到记录波形脉冲E230。
根据这个实施例，可以进行记录/还原以得到这样的还原信号，即该还原信号优于在使还原信号E200和记录数据RD的理想信号一致的情况下得到的还原信号。
例如，在图3的第四行中，模式1和2的理想信号之间的欧几里德距离为＂12＂，而模式1和3的理想信号之间的欧几里德距离为＂10＂。当以符合模式1的理想信号的方式进行记录时，并且在白噪声被认为是引起还原信号退化的主要因素的情况下，Mgn2＞Mgn3并且Mc＜0。即进行记录，使得2T标记可以变得更小。
即使2T标记变得更小，在使用Viterbi解码器(图15中的＂240＂，以后描述)的情况下，可以避免还原信号的读取差错。使用排除调制编码规则的1T的Viterbi解码器的特性会更加有利，并且即使2T信号相对较小也不会出现差错。
然而如果还原信号偏离理想信号，则会出现其它缺点。例如，当使用从穿过中心电平的还原信号E200的定时提取时钟信号的定时发生器时，在图1示出的第一实施例中会降低时钟精度。在这种情况下，图3的模式可以被替换成图10示出的模式。在图10的模式中，不是从Viterbi解码器实际输出的信号的1T信号被提供到模式2和3。因此，还原信号E200更接近理想信号。类似地，图9的模式可以被替换成图11示出的模式。
图12示出了在使用图3或10示出的模式时的记录校正值(WC)确定模式的例子。
在一个可能的方法中，随机数据可以被提供给记录校正值(WC)确定模式(记录数据RD)，并且可以从中提取模式1。在另一个可能的方法中，图12所示的模式可以被用作记录校正值(WC)确定模式。图12的模式包含图2中的所有模式1。设计模式的排列。用于求出nT标记/mT间隔的记录校正值的模式后面跟有用于求出nT间隔/mT标记的记录校正值的模式。通过这种排列，图12的模式在每个其它行中均具有为零的DSV(数字累加值)。
另外，图13示出了在使用图9示出的模式时的记录校正值(WC)确定模式的例子。类似于图12的例子，提供针对图10和11的模式的记录数据(RD)。
在一个可能的方法中，模式1、2和3和记录校正值(WC)确定模式可以被预先存储在信息记录系统(设备)(图1中的210、212)中。另一方面，存在这样的情况，即这些模式可以因记录/还原时使用的介质(光盘100)的不同而不同。在另一个可能的方法中，考虑到这种情况，并且模式1、2和3和/或记录校正值(WC)确定模式可以被预先存储部分的单独介质上，例如预先存储在光盘的读入区102(参见图14)上。
如果模式数据和/或记录校正值数据被预先记录在单独的信息记录介质(可记录/可还原空白盘片)上，则使用该介质的系统(记录/还原设备等等)可以快速并且精确地记录/还原具有与该介质匹配的记录波形的信息。
信息记录介质(可记录/可还原空白盘片)的例子为DVD-RAM、DVD-RW和DVD-R。记录模式数据和/或记录校正值数据以实现最优记录/还原的位置不局限于图14的读入区102。也可以是数据区104或读出区106上的特定部分。
通常情况下，读入区102是用于记录模式数据和/或记录校正值数据以实现最优记录/还原的适当位置。然而根据具体情况，其它位置也可以是较优的。假定介质为DVD-R，而数据已经被记录在DVD-R中并且到达数据区104的某个部分。在这种情况下，可以使用紧接在已经记录数据的部分之后的较小记录区X记录用于最优记录/还原的模式数据和/或记录校正值数据。当新的数据将被记录在DVD-R上时，使用区域X中的记录内容(模式数据和/或记录校正值数据)进行记录波形校正，并且可以利用校正的记录波形将新数据记录在DVD-R的非记录区(从区域X开始)上。
例如，当介质在两侧均具有记录层、已经完成表面A上的记录并且表面B上的记录将要开始时，会出现数据记录起始点接近读出区106的程度更甚于接近读入区102的程度的情况。在这种情况下，在允许PUH200具有更短的搜寻距离的读出区106中可以更好地记录模式数据和/或记录校正值数据(在这种情况下，读入区102也可被用作模式数据和/或记录校正值数据的记录区)。
图15示出了基于本发明第二实施例的信息记录/还原系统(设备)的结构。在第二实施例中，Viterbi解码器240被加到图1示出的第一实施例的结构中。换言之，在图15的实施例中，被用作模式确定部件210的输入的是Viterbi解码器240产生的鉴别结果D240，而不是记录数据RD。当使用Viterbi鉴别结果D240时，图5A和5B示出的分布的负数部分会消失，并且在求出记录波形脉冲E230时会出现计算误差。然而当在记录数据RD和还原信号E200之间进行相位调整很困难时，可以象图15的实施例中那样Viterbi解码器240。
例如，在等式(2)到(4)中，欧几里德距离Ea被计算成＂Ea＝∑{Y(t)-Px(t)}2＂(平方后的累积值)。然而通过Eb＝∑|Y(t)-Py(t)|＂可以计算对应于Ea的其它信息(求绝对值之后的累积值)。
现在参照图16到24，下面以第三和第四实施例作为应用第一和第二实施例的例子进行描述。其中省略了第三和第四实施例中与第一和第二实施例重叠的部分。
图16图解了基于本发明实施例的信息记录/还原系统(第三实施例)的结构。图16示出的信息记录/还原系统的基本结构与图1示出的信息记录/还原系统的结构相同，这里省略了对该结构的详细描述。
图16示出的信息记录/还原系统的理想信号计算器214(214A-214C)的结构如图2所示，这里省略了对该结构的详细描述。
图16示出的信息记录/还原系统中计算的欧几里德距离差(D2＝E2-E3；D3＝E3-E1)的分布如图5A和5B所示，这里省略了对该分布的详细描述。
基于图16示出的信息记录/还原系统中计算的欧几里德距离差(D2＝E2-E3；-D3＝E1-E3)的欧几里德距离校正值如图6所示，这里省略了对该校正值的详细描述。
图16的信息记录/还原系统中使用的记录波形脉冲的例子如图7A-7C所示，这里省略了对这些例子的详细描述。
图16的信息记录/还原系统中使用的记录波形校正方法的例子如图8A-8D所示，这里省略了对这些例子的详细描述。
图17示出了有关图16的系统(设备)中使用的模式存储器212的内容(模式1、2和3)与距离差存储器220(222)的内容(用于标记末端控制和标记前端控制)之间的关系的第一个例子。
例如，图17的右边部分示出的各个模式1、2和3的第一行指示记录2T标记/2T间隔的模式。使用第一行模式计算的结果(MEC)被存储在用于标记末端控制的距离差存储器220/222中如箭头所示的地址上。
现在描述选择模式2和3的方法的例子。在模式2具有对应于模式1的位系列中的中间位＂10＂(或＂01＂)的位＂00＂(或＂11＂)，并且满足调制编码(RLL(1，7)等等)的规则的条件下，模式2是与模式1的理想信号(图18中的IEA(以后描述))之间具有最小欧几里德距离的模式。在模式3具有对应于模式1的位系列中的中间位＂10＂(或＂01＂)的位＂11＂(或＂00＂)，并且满足调制编码(RLL(1，7)等等)的规则的条件下，模式3是与模式1的理想信号(图18中的IEA)之间具有最小欧几里德距离的模式。
当具有相同长度的2个位系列被表示成PA(n)和PB(n)(n＝0-N)时，欧几里德距离被定义成等式(1)。
下面通过某些例子描述欧几里德距离。在图17的第二行中，模式1是＂0111001111＂，而模式2是＂0110001111＂。模式1和2之间的纯差值是第四位上的＂1＂或＂0＂。
模式1的理想信号(图18中的IEA)为＂5532356＂，模式2的理想信号(图18中的IEB)为＂4311356＂。2个位系列之间的欧几里德距离为＂10＂。在这种情况下，具有10位长度、第四位为＂0＂并且其理想信号和模式1的理想信号之间的欧几里德距离为＂10＂或更小的模式仅为＂0110001111＂。于是，＂0110001111＂被用作模式2。
参照图17的模式3的第二行，采用＂0111100111＂。通过将模式1的第五位＂0＂替换成＂1＂形成的模式为＂0111101111＂。模式＂0111101111＂的理想信号＂5654456＂和模式1的理想信号＂5532356＂之间的欧几里德距离为＂10＂。在这种情况下，具有10位长度、第五位为＂1＂并且其理想信号和模式1的理想信号之间的欧几里德距离为＂ 10＂或更小的模式仅为＂0111101111＂。
然而模式＂0111101111＂包含位系列＂101＂，违反了调制编码(RLL(1，7))的规则。于是，＂0111101111＂不能被用作模式3。可以被用作模式3的模式为＂0111100111＂，此模式满足调制编码(RLL(1，7))的规则。
模式＂0111100111＂的理想信号＂5653235＂和模式1的理想信号＂5532356＂之间的欧几里德距离为＂12＂。在这种情况下，满足调制编码(RLL(1，7))的规则、具有10位长度、第五位为＂1＂并且其理想信号和模式1的理想信号之间的欧几里德距离为＂12＂或更小的模式仅为＂0111100111＂。于是，＂0111100111＂不能被用作模式3。
第三和第四实施例中计算记录校正值的方法的基本概念与第一和第二实施例中的方法的基本概念相同，这里省略了对该基本概念的详细描述。
通过充当算术运算装置、转换装置和校正装置的参数计算器224计算这里描述的记录校正值。具体地，通过参数计算器224计算以后描述的分布和标准偏差。另外，通过参数计算器224完成基于出现频率、从记录校正值Ec到记录校正值Ec＇的转换。此外，通过参数计算器224计算以后描述的波形校正值WC。
如结合第一和第二实施例所描述的，当已经确定记录校正值(Ec)时，DC电平在记录校正前后发生改变。在某些情况下，执行某个模式的校正会导致DC电平的变化，并且需要进行另一个模式的记录校正。结果，会出现无论进行多少次记录校正均不能达到收敛的情况。
为了防止在记录校正前后出现DC电平变化，可以采用以下技术。如图19所示，提供存储针对各个模式计算的Ec的Ec存储器M1、存储各个模式的出现频率的出现频率存储器M2、和存储通过校正Ec得到的Ec＂以使DC电平不会改变的Ec＇存储器M3。
具体如图16所示，参数计算器224配有Ec存储器M1、出现频率存储器M2和Ec＇存储器M3。参数计算器224向记录波形发生器230提供对应于记录校正参数Ec＇的波形校正值WC。
出现频率存储器中存储的数值α，β，…ρ表示各个模式的出现频率，并且α+β+…+ρ＝1。使用计数器并且根据模式确定部件210的结果计算出出现频率。可以根据调制编码的性质事先计算出现频率。可以按照下面的方式计算Ec＇存储器M3中存储的数值(a＇，b＇…，r＇)。
a＇＝a-{aα+bβ+…+rρ}b＇＝b-{aα+bβ+…+rρ}…r＇＝r-{aα+bβ+…+rρ}(20)等式(20)表示从各个数值a，b，…c中减去结合出现频率求出的平均值所得到的结果。因此a＇α+b＇β+…+r＇ρ＝0。
上述方法是合并标记前端和标记尾端的DC分量的方法。存在这样的情况，其中如果仅针对标记前端或标记尾端将DC分量设置成0，则记录校正系统变得稳定。
在这种情况下，假定α+β+…+ι＝1，φ+κ+…+ρ＝1，则数值a＂，b＇，…r＇被定义成a＇＝a-{aα+bβ+…+iι}b＇＝b-{aα+bβ+…+iι}…i＇＝i-{aα+bβ+…+iι} (21)
j＇＝j-{aα+bβ+…+iρ}k＇＝k-{aα+bβ+…+iρ}…r＇＝r-{aα+bβ+…+iρ} (22)现在参照图24的流程图总结上述记录校正方法。作为开始，作如下定义预定还原信号、对应于该还原信号的信号波形模式的第一模式、不同于第一模式并且对应于还原信号的信号波形模式的第二模式、和不同于第一和第二模式并且对应于还原信号的信号波形模式的第三模式。
通过参数计算器224计算还原信号和第一模式之间的第一距离E1、还原信号和第二模式之间的第二距离E2、以及还原信号和第三模式之间的第三距离E3(ST1)。接着通过参数计算器224计算第一距离E1和第二距离E2之间的第一距离差D2＝E2-E1，和第一距离E1和第三距离E3之间的第二距离差D3＝E3-E1(ST2)。接着针对多个还原信号样本，通过参数计算器224计算第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布。通过参数计算器224计算第一距离差D2的均值M2与第一距离差D2的分布的标准偏差σ2，以及第二距离差D3的均值M3和第二距离差D3的分布的标准偏差σ3(ST4)。
接着根据关系(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)，通过参数计算器224计算记录校正参数Ec(ST5)，并且计算的记录校正参数Ec被存储在Ec存储器M1中。接着，根据出现频率存储器M2中存储的出现频率信息，Ec存储器M1中存储的记录校正参数Ec被转换成记录校正参数Ec＂(ST6)，并且经过转换的记录校正参数Ec＇被存储在Ec＇存储器M3中。
最后，根据Ec＇存储器M3中存储的记录校正参数Ec＇，计算用于校正信息记录介质的信号记录波形的波形校正值WC(ST7)，根据波形校正值WC校正信号记录波形(ST8)。
在参照图16和其它附图描述的第三实施例中，光盘100上记录的标记/间隔的长度被设置为3种数值，即2T、3T和≥4T。可选地，标记/间隔的长度可以被设置为4种数值，即2T、3T、4T和≥5T。
图20在标记/间隔的长度被设置为4种数值，即2T、3T、4T和≥5T的情况下示出了模式1、2和3和距离差存储器220/222的结构之间的关系。除了模式类型数量(从3个增加到4个)之外，可以按照与参照图16和其它附图描述的第三实施例相同的过程得到记录波形脉冲E230。
根据这个实施例，可以进行记录/还原以得到这样的还原信号，即该还原信号优于在使还原信号E200和记录数据RD的理想信号一致的情况下得到的还原信号。
例如，在图17的第四行中，模式1和2的理想信号之间的欧几里德距离为＂12＂，而模式1和3的理想信号之间的欧几里德距离为＂10＂。当以符合模式1的理想信号的方式进行记录时，并且在白噪声被认为是引起还原信号退化的主要因素的情况下，Mgn2＞Mgn3并且Mc＜0。即进行记录，使得2T标记可以变得更小。
即使2T标记变得更小，在使用Viterbi解码器(图23中的＂240＂，以后描述)的情况下，可以避免还原信号的读取误差。使用排除调制编码规则的1T的Viterbi解码器的特性会更加有利，并且即使2T信号相对较小也不会出现误差。
然而如果还原信号偏离理想信号，则会出现其它缺点。例如，当使用从穿过中心电平的还原信号E200的定时提取时钟信号的定时发生器时，在图16示出的第三实施例中会降低时钟精度。在这种情况下，图17的模式会被替换成图21示出的模式。在图21的模式中，不是从Viterbi解码器实际输出的信号的1T信号被提供到模式2和3。因此，还原信号E200更接近理想信号。类似地，图20的模式可以被替换成图22示出的模式。
在一个可能的方法中，随机数据可以被提供给记录校正值(WC)确定模式(记录数据RD)，并且可以从中提取模式1。
在一个可能的方法中，记录校正值(WC)确定模式可以被预先存储在信息记录系统(设备)(图16中的210、212)中。另一方面，存在这样的情况，即这些模式可以因记录/还原时使用的介质(光盘100)的不同而不同。在另一个可能的方法中，考虑到这种情况，并且模式1、2和3和/或记录校正值(WC)确定模式可以被预先存储部分的单独介质上，例如预先存储在光盘的读入区102(参见图14)上。
如果模式数据和/或记录校正值数据被预先记录在单独的信息记录介质(可记录/可还原空白盘片)上，则使用该介质的系统(记录/还原设备等等)可以快速并且精确地记录/还原具有与该介质匹配的记录波形的信息。
信息记录介质(可记录/可还原空白盘片)的例子为DVD-RAM、DVD-RW和DVD-R。记录模式数据和/或记录校正值数据以实现最优记录/还原的位置不局限于图14的读入区102。也可以是数据区104或读出区106上的特定部分。
通常情况下，读入区102是用于记录模式数据和/或记录校正值数据以实现最优记录/还原的适当位置。然而根据具体情况，其它位置也可以是较优的。假定介质为DVD-R，而数据已经被记录在DVD-R中并且到达数据区104的某个部分。在这种情况下，可以使用紧接在已经记录数据的部分之后的较小记录区X记录用于最优记录/还原的模式数据和/或记录校正值数据。当新的数据将被记录在DVD-R上时，使用区域X中的记录内容(模式数据和/或记录校正值数据)进行记录波形校正，并且可以利用校正的记录波形将新数据记录在DVD-R的非记录区(从区域X开始)上。
例如，当介质在两侧均具有记录层、已经完成表面A上的记录并且表面B上的记录将要开始时，会出现数据记录起始点接近读出区106的程度更甚于接近读入区102的程度的情况。在这种情况下，在允许PUH200具有更短的搜寻距离的读出区106中可以更好地记录模式数据和/或记录校正值数据(在这种情况下，读入区102也可被用作模式数据和/或记录校正值数据的记录区)。
图23示出了基于本发明第四实施例的信息记录/还原系统(设备)的结构。在第四实施例中，Viterbi解码器240被加到图16示出的第三实施例的结构中。换言之，在图23的实施例中，被用作模式确定部件210的输入的是Viterbi解码器240产生的鉴别结果D240，而不是记录数据RD。当使用Viterbi鉴别结果D240时，图5A和5B示出的分布的负数部分会消失，并且在求出记录波形脉冲E230时会出现计算误差。然而当在记录数据RD和还原信号E200之间进行相位调整很困难时，可以象图23的实施例中那样使用Viterbi解码器240。
本发明不局限于上述实施例，当实际应用本发明时，在不偏离本发明的宗旨的前提下可以进行各种修改和变化。
在前面对实施例的描述中，使用了PR(1，2，2，1)特性。也可以使用其它PR特性实现本发明。另外，可以使用除了RLL(1，7)编码之外的调制编码实现本发明。
在前面的描述中，根据关系(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)计算记录校正参数Ec。可选地，可以根据关系(M2-M3)/2而不是(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)计算记录校正参数Ec。因此可以简化系统的结构。
<实施例总结>
(1)包含码位系列＂10＂或＂01＂的第一模式，包含对应于码位系列＂10＂或＂01＂的＂00＂的第二模式，和包含对应于码位系列＂10＂或＂01＂的＂11＂的第三模式被准备成目标模式。接着进行记录校正，使得当记录的是第一模式时得到的还原信号被错误识别成第二模式的差错率、以及当记录的是第一模式时得到的还原信号被错误识别成第三模式的差错率相等。
(2)根据还原信号和第一模式之间的距离Eo以及还原信号和第二或第三模式之间的距离Ee得到距离差D＝Ee-Eo。通过使用D的均值和标准偏差σ，根据数值M/σ确定还原信号的质量。
(3)求出还原信号和第一模式之间的距离E1、还原信号和第二模式之间的距离E2、以及还原信号和第三模式之间的距离E3。接着求出D2＝E2-E1和D3＝E3-E1。通过等式Ec＝(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)得到数值Ec，其中M2是D2的均值，σ2是标准偏差，M3是D3的均值，σ3是标准偏差。根据Ec求出记录波形校正值。
(4)可选地，根据出现频率将Ec转换成Ec＇，并且根据Ec＇求出记录波形校正值。
本领域的技术人员会很容易地想到其它优点和修改。因此，本发明的范围不仅限于图中示出和这里描述的具体细节和典型实施例。因此，在不偏离如所附权利要求书及其等同描述定义的总的发明概念的构思或范围的前提下，可以进行各种修改。
权利要求
1.一种还原信号的信号质量评估方法，该方法使用预定还原信号、对应于还原信号的信号波形模式的第一模式、对应于还原信号的信号波形模式并且不同于第一模式的指定模式，该方法的特征在于包括求出还原信号和第一模式之间的距离Eo，以及还原信号和所述指定模式之间的距离Ee之间的距离差D；针对所述还原信号的多个样本求出距离差D的分布；根据距离差D的均值M和距离差D的分布的标准偏差σ之间的比值确定还原信号的质量评估参数；和根据通过质量评估参数表示的指标确定还原信号的质量。
2.如权利要求书1所述的方法，其特征在于根据所述指标是否具有预定数值或更高的数值确定还原信号的质量。
3.使用根据信号样本振幅值鉴别信号内容的方法的信息记录/还原系统，该系统的特征在于包括提供包含码位系列＂10＂或＂01＂的第一模式、包含对应于码位系列＂10＂或＂01＂的＂11＂的第二模式、和包含对应于码位系列＂10＂或＂01＂的＂00＂的第三模式的装置(212)；使用预定信息记录介质记录/还原第一模式的装置(200、230)；和根据将还原的第一模式的还原信号识别成对应于第二模式的还原信号的第一概率，以及将还原的第一模式的还原信号识别成对应于第三模式的还原信号的第二概率计算信息记录介质的记录校正值的装置(202、224)。
4.如权利要求3所述的系统，其特征在于确定所计算的记录校正值，使得当第一模式被记录在信息记录介质上时从信息记录介质还原的还原信号被错误识别成对应于第二模式的还原信号的差错率，以及当第一模式被记录在信息记录介质上时从信息记录介质还原的还原信号被错误识别成对应于第三模式的还原信号的差错率变成相等。
5.一种记录校正方法，该方法使用预定还原信号、对应于还原信号的信号波形模式的第一模式、对应于还原信号的信号波形模式并且不同于第一模式的第二模式、和对应于还原信号的信号波形模式并且不同于第一模式和第二模式的第三模式，在信息记录介质上记录信息或从信息记录介质还原信息，该方法的特征在于包括求出还原信号和第一模式之间的第一距离E1、还原信号和第二模式之间的第二距离E2、以及还原信号和第三模式之间的第三距离E3；求出第一距离E1和第二距离E2之间的第一距离差D2＝E2-E1，和第一距离E1和第三距离E3之间的第二距离差D3＝E3-E1；根据第一距离差D2和第二距离差D3求出记录校正参数；和根据记录校正参数校正信息记录介质的信号记录波形。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于还包括针对多个还原信号样本求出第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布；求出第一距离差D2的均值M2和第一距离差D2的分布的标准偏差σ2，以及第二距离差D3的均值M3和第二距离差D3的分布的标准偏差σ3；根据关系(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)求出记录校正参数Ec；和根据记录校正参数Ec校正信息记录介质的信号记录波形。
7.如权利要求5所述的方法，其特征在于还包括针对多个还原信号样本求出第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布；求出第一距离差D2的均值M2和第二距离差D3的均值M3；根据关系(M2-M3)/2求出记录校正参数Ec；和根据记录校正参数Ec校正信息记录介质的信号记录波形。
8.如权利要求5所述的方法，其特征在于还包括针对多个还原信号样本求出第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布；求出第一距离差D2的均值M2和第一距离差D2的分布的标准偏差σ2，以及第二距离差D3的均值M3和第二距离差D3的分布的标准偏差σ3；根据关系(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)求出记录校正参数Ec；根据按照调制编码性质确定的信息在各种模式上的出现频率，将记录校正参数Ec转换成记录校正参数Ec＇；和根据记录校正参数Ec＇校正信息记录介质的信号记录波形。
9.如权利要求5所述的方法，其特征在于还包括针对多个还原信号样本求出第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布；求出第一距离差D2的均值M2和第二距离差D3的均值M3；根据关系(M2-M3)/2求出记录校正参数Ec；根据按照调制编码性质确定的信息在各种模式上的出现频率，将记录校正参数Ec转换成记录校正参数Ec＇；和根据记录校正参数Ec＇校正信息记录介质的信号记录波形。
10.如权利要求5所述的方法，其特征在于，通过将第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布沿着第一距离差D2或第二距离差D3的轴整体偏移对应于记录校正参数的程度，从而校正信号记录波形，使得当第一模式被记录在信息记录介质上时从信息记录介质得到的还原信号被错误识别成对应于第二模式的还原信号的差错率，以及当第一模式被记录在信息记录介质上时从信息记录介质得到的还原信号被错误识别成对应于第三模式的还原信号的差错率变成相等。
11.如权利要求5所述的方法，其特征在于所述第一模式包含码位系列＂10＂或＂01＂，所述第二模式是位数与第一模式相同的模式，第二模式包含对应于第一模式的码位系列＂10＂或＂01＂的＂11＂，而所述第三模式是位数与第一模式相同的模式，第三模式包含对应于第一模式的码位系列＂10＂或＂01＂的＂00＂。
12.一种记录/还原系统，该系统使用预定还原信号、对应于还原信号的信号波形模式的第一模式、对应于还原信号的信号波形模式并且不同于第一模式的第二模式、和对应于还原信号的信号波形模式并且不同于第一模式和第二模式的第三模式，在信息记录介质上记录信息或从信息记录介质还原信息，该系统的特征在于包括被用来求出还原信号和第一模式之间的第一距离E1、还原信号和第二模式之间的第二距离E2、以及还原信号和第三模式之间的第三距离E3的第一算术运算部件；被用来求出第一距离E1和第二距离E2之间的第一距离差D2＝E2-E1，和第一距离E1和第三距离E3之间的第二距离差D3＝E3-E1的第二算术运算部件；根据第一距离差D2和第二距离差D3求出记录校正参数的第三算术运算部件；和根据记录校正参数校正信息记录介质的信号记录波形的校正部件。
13.如权利要求12所述的系统，其特征在于第三算术运算部件包括针对多个还原信号样本求出第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布的第四算术运算部件；被用来求出第一距离差D2的均值M2和第一距离差D2的分布的标准偏差σ2，以及第二距离差D3的均值M3和第二距离差D3的分布的标准偏差σ3的第五算术运算部件；根据关系(σ2*M3+σ3*M2)/(σ2+σ3)求出记录校正参数Ec的第六算术运算部件；和根据按照调制编码性质确定的信息在各种模式上的出现频率，将记录校正参数Ec转换成记录校正参数Ec＇的转换部件，并且所述校正部件根据记录校正参数Ec＇校正信息记录介质的信号记录波形。
14.如权利要求12所述的系统，其特征在于所述第三算术运算部件包括针对多个还原信号样本求出第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布的第四算术运算部件；被用来求出第一距离差D2的均值M2和第二距离差D3的均值M3的第五算术运算部件；被用来根据关系(M2-M3)/2求出记录校正参数Ec的第六算术运算部件；和根据按照调制编码性质确定的信息在各种模式上的出现频率，将记录校正参数Ec转换成记录校正参数Ec＇的转换部件；并且所述校正部件根据记录校正参数Ec＇校正信息记录介质的信号记录波形。
15.如权利要求12所述的系统，其特征在于，通过将第一距离差D2的分布和第二距离差D3的分布沿着第一距离差D2或第二距离差D3的轴整体偏移对应于记录校正参数的程度，使得当第一模式被记录在信息记录介质上时从信息记录介质得到的还原信号被错误识别成对应于第二模式的还原信号的差错率，以及当第一模式被记录在信息记录介质上时从信息记录介质得到的还原信号被错误识别成对应于第三模式的还原信号的差错率变成相等。
16.如权利要求12所述的系统，其特征在于所述第一模式包含码位系列＂10＂或＂01＂，所述第二模式是位数与第一模式相同的模式，第二模式包含对应于第一模式的码位系列＂10＂或＂01＂的＂11＂，而所述第三模式是位数与第一模式相同的模式，第三模式包含对应于第一模式的码位系列＂10＂或＂01＂的＂00＂。
全文摘要
使用预定还原信号、对应于还原信号的信号波形模式的第一模式、和对应于还原信号的信号波形模式并且不同于第一模式的指定模式进行信号质量评估。
文档编号G11B7/0045GK1417793SQ02149949
公开日2003年5月14日 申请日期2002年11月8日 优先权日2001年11月9日
发明者柏原裕, 长井裕士, 小川昭人 申请人:株式会社东芝