专利名称：用来分析反射测量信息的分析系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及用来分析反射测量信息的分析系统。
背景技术：
从WO 01/01158中可以了解到现有技术的分析系统，该文件公开了一种通过向回路发送脉冲，并根据接收到的回波信号获取数据，从而判断用户回路的组成的方法和系统。
这种已知的分析系统是有缺陷的，主要是由于其智能有限。
根据本发明的分析系统的特征在于，所述的分析系统至少包括进行第一次分析的第一模块，和进行第二次分析的第二模块，每个模块包括生成模块部分、测试模块部分和调试模块部分，所述的第一模块作为所述的第二模块的生成系统部分，所述的第二模块作为所述的第一模块的测试系统部分和调试系统部分。
通过在模块级别上为每个模块配备生成模块部分、测试模块部分和调试模块部分，每个模块都在模块级别上获得了所谓的生成-测试-调试结构，或者GTD结构。这个GTD结构本身是普遍常识，其中G模块从输入单元接收(输入信息)信号，并向T模块提供(解)信号；T模块从G模块接收(解)信号，并向D模块提供(解+错误报告)信号，并为输出单元生成(输出信息)信号；D模块向G模块提供(校正)信号，并向T模块提供(新的解)信号，并为所述的输入单元生成(校正)信号。通过在系统级别上进一步为本分析系统配备生成系统模块、测试系统模块和调试系统模块，本分析系统在系统级别上也具有GTD结构，其中所述的第一模块具有G功能，所述的第二模块具有T功能和G功能。因此，本分析系统获得了提高的智能(例如人工智能)。
本发明特别基于这样一种认识可以通过在两个或更多的级别上引入GTD结构来产生提高的智能，并特别基于这样一种基本的观点每个模块应当在模块级别上具有这种GTD结构，并且应当通过给予所述的第一模块GTD结构中的G功能，给予所述的第二个模块T功能和D功能，以在系统级别上实现至少一个GTD结构。
本发明主要解决了提供如前序部分中所定义的改进的分析系统的问题，并且优势特别在于具有更高智能的分析系统将能够比目前已知的分析系统更加有效。
如同权利要求2中所定义的、根据本发明的分析系统的第一个实施例的优点在于，所述的分析系统至少包括进行第三次分析的第三模块，其中所述的第三模块包括生成模块部分、测试模块部分和调试模块部分，所述的第二模块作为所述的第三模块的生成系统部分，所述的第三模块作为所述的第二模块的测试系统部分和调试系统部分。
通过为所述的第三模块在模块级别上配备生成模块部分、测试模块部分和调试模块部分，第三模块在模块级别上获得了所谓的生成-测试-调试-结构，或者GTD结构。通过为本分析系统进一步在系统级别上配备生成系统部分、测试系统部分和调试系统部分，本分析系统进一步在系统级别上获得了GTD结构，其中所述的第二模块具有G功能，所述的第三模块具有T功能和D功能。因此，本分析系统获得了进一步提高的智能(例如人工智能)。
如同权利要求3中所定义的、根据本发明的第二个实施例的分析系统的优点在于，所述的第一次分析是基于脉冲的分析，所述的第二次分析是基于能量的分析，所述的第三次分析是基于仿真的分析。
通过引入至少三次分析，第一次基于脉冲的分析作为初步分析，第二次基于能量的分析作为中间分析，第三次基于仿真的分析作为精确分析，除五个GTD结构之外，引入了第六个机制，来使分析系统能够在最高的效率下做出最好的分析。
如同权利要求4中所定义的、根据本发明的分析系统的第三个实施例的优点在于，所述的分析系统至少包括一个处理器，其中所述的模块、模块部分和系统部分都是通过所述的至少一个处理器运行的软件。
这样的分析系统是基于规则的专家系统，包括许多，例如五十或者一百或者五百条规则，来进行所述的分析。
如同权利要求5中所定义的、根据本发明的分析系统的第四个实施例的优点在于，所述的第一模块的生成模块部分从特征提取和可信网络模块接收测量特征信息和/或拓扑结构信息，所述第一模块的调试模块部分向所述的特征提取和可信网络模块发送错误的拓扑结构信息和/或噪声信息，所述第一模块的测试模块部分向所述第二模块的生成模块部分发送峰解释信息和线路延时信息。
所述的特征提取和可信网络模块生成测量特征信息，并生成拓扑结构信息。所述的测量特征信息可以包括，例如，峰的起始位置和在此位置的幅度、峰的最大值和/或最小值位置和在此位置的幅度，峰的结束位置和在此位置的幅度，能量、剩余能量等。所述的拓扑结构信息包括，例如，定义拓扑结构的编码、段的数目、抽头数等。所谓的峰解释信息是第一次(初步)分析的结果，可以包括，例如，解释(由于被概略地分析)每个峰的信息等，所述的线路延时信息是第一次(初步)分析的结果，包括，例如，估计(由于被概略地分析)线路延时的信息等。
如同权利要求6中所定义的、根据本发明的分析系统的第五个实施例的优点在于，所述的第二模块的测试模块部分向所述的第三模块的生成模块部分传送线路参数信息，所述的第二模块的调试模块部分向所述的第一模块的生成模块部分传送不可能的峰解释信息。
所述的线路参数信息是第二次(中间)分析的结果，包括例如估计(由于被中等程度地分析)衰减的信息。
如同权利要求7中所定义的、根据本发明的分析系统的第六个实施例的优点在于，所述的第三模块的测试模块部分向信号识别模块发送线路延时信息和/或线路定义信息，所述的第三模块的生成模块部分从所述的信号识别模块接收错误的解信息，所述的第三模块的调试模块部分向所述的第二模块的生成模块部分发送错误参数范围信息。
所述的线路延时信息和所述的线路定义信息是第三次(精确)分析的结果，包括例如定义(由于被精确分析)线路延时的信息和线路定义(比如线路参数)等。
本发明还涉及包含用来分析反射测量信息的分析系统的通信系统。
例如，这样的通信系统可以与电话交换机或者接入复用器，像数字用户线路(DSL)接入复用器等，进行通信。
根据本发明的通信系统的特征在于，所述的分析系统至少包括一个用来进行第一次分析的第一模块，和用来进行第二次分析的第二模块，其中每个模块都包括生成模块部分、测试模块部分和调试模块部分，并且所述的第一模块作为所述的第二模块的生成系统部分，所述的第二模块作为所述的第一模块的测试系统部分和调试系统部分。
本发明此外还涉及分析反射测量信息的方法。
根据本发明的方法特征在于，所述的方法至少包括进行第一次分析的第一步骤和进行第二次分析的第二步骤，其中每个步骤都包括生成子步骤、测试子步骤和调试子步骤，所述的第一步骤作为所述的第二步骤的生成步骤，所述的第二步骤作为所述第一步骤的测试步骤和调试步骤。
此外，本发明还涉及用来分析反射测量信息的处理器程序产品。
根据本发明的处理器程序产品的特征在于，所述的处理器程序产品至少包括进行第一次分析的第一功能和进行第二次分析的第二功能，其中每个功能包括生成子功能、测试子功能和调试子功能，所述的第一功能作为所述的第二功能的生成功能，所述的第二功能作为所述的第一功能的测试功能和调试功能。
根据本发明的通信系统、方法，以及处理器程序产品的实施例与根据本发明的分析系统的实施例相一致。
通过参考下文描述的实施例，本发明的这些以及其它方面情况将会更加清晰。
图1用框图的形式描绘了根据本发明的分析系统，该分析系统包含三个模块，每个都在模块级具有生成-测试-调试结构或者GTD结构，所述的分析系统在系统级别具有两个GTD结构。
图2用框图形式描绘了在图2a中建立起来的测试，以及在图2b中有待被根据本发明的分析系统测试的网络，图2c描绘了有待被根据本发明的分析系统分析的基本反射测量图，图2d和图2e分别描绘了检测/推断出的第一和第二峰值的反射测量图，这些都用来解释根据本发明的方法和/或根据本发明的处理器程序产品。
具体实施例方式
图1所示的分析系统IS包括三个模块，M1、M2和M3，每个模块分别包括生成模块部分G1、G2和G3，测试模块部分T1、T2和T3，以及调试模块部分D1、D2和D3。
因此，在模块级，模块M1、M2、M3中的每一个都获得了所谓的生成-测试-调试-结构，或者GTD结构。该GTD结构本身是常识，其中G模块从输入单元接收(输入信息)信号，并为T模块提供(解)信号，T模块从G模块接收(解)信息，向D模块提供(解+错误报告)信号并为输出单元生成(输出信息)信号，D模块向G模块提供(校正)信号，向T模块提供(新的解)信号，并为所述的输出单元生成(校正)信号。
对于模块M1，所述的输入单元是特征提取和可信网络模块M4，用来生成并向生成模块部分G1提供输入信号，诸如测量特征信息和/或拓扑结构信息，生成模块部分G1生成并向测试模块部分T1提供诸如峰解释信息的信号。测试模块部分T1生成并向所述的输出单元，对于模块M1来说是生成模块部分G2(或者换言之，模块M2)，提供输出信号，诸如峰解释信息和线路延时信息。调试模块部分D1生成并向所述特征提取和可信网络模块M4提供校正信号，诸如错误的拓扑结构信息和/或噪声信息。所述特征提取和可信网络模块M4对于本领域的技术人员来说属于常识。
对于模块M2，所述输入单元是测试模块部分T1(或者换言之，模块M1)，用来生成并向生成模块部分G2提供输入信号，诸如峰值解释信息和线路延时信息；生成模块部分G2生成并向测试模块部分T2提供信号。测试模块部分T2生成并向所述的输出单元，对于模块M2来说是生成模块部分G3(或者换言之，模块M3)，提供输出信号，诸如线路参数信息。调试模块部分D2生成并向所述的生成模块部分G1(或者换言之，模块M1)提供校正信号，诸如不可能的峰值解释信息。
对于模块M3，所述输入单元是测试模块部分T2(或者换言之，模块M2)，用来生成并向生成模块部分G3提供输入信号，诸如峰值解释信息和线路参数信息；生成模块部分G3生成并向测试模块部分T3提供信号。测试模块部分T3生成并向所述输出单元，对于模块M3来说是信号识别模块M5，提供输出信号，诸如线路延时信息和/或线路定义信息。信号识别模块M5生成并向所述的生成模块部分G3(或者换言之，模块M3)提供校正信号，诸如错误的解信息。调试模块部分D3生成并向所述的生成模块部分G2(或者换言之，模块M2)提供校正信息，诸如错误参数范围信息。所述信号识别模块M5对于本领域的技术人员来说属于常识。
模块M1进行第一次分析，例如，基于脉冲的分析的形式；模块M2进行第二次分析，例如，基于能量的分析的形式；模块M3进行第三次分析，例如，基于仿真的分析的形式。例如，第一次基于脉冲的分析是初步分析，第二次基于能量的分析是中间分析，第三次基于仿真的分析是精确分析。
所述的测量特征信息包括，例如，峰的起始位置和在这个位置的幅度，峰达到最大和/或最小值的位置和在这个位置的幅度，峰结束的位置和在这个位置的幅度、能量、剩余能量等。所述的拓扑结构信息包括，例如，说明拓扑结构的编码、段的数目、抽头数目等。所述的峰解释信息是第一次(初步)分析的结果，包括，例如，解释(由于被概略地分析)每个峰的信息等，所述的线路延时信息是第一次(初步)分析的结果，包括，例如，估计(由于被概略地分析)线路延时的信息等。
所述的线路参数信息是第二次(中间)分析的结果，包括例如估计(由于被中等程度地分析)衰减的信息。
所述的线路延时信息和所述的线路定义信息是第三次(精确)分析的结果，包括例如定义(由于被精确分析)线路延时的信息和线路定义(例如线路参数)等。
在系统级别，模块M1为模块M2形成了生成系统部分，模块M2为模块M1形成了测试系统部分和调试系统部分。并且模块M2为模块M3形成了生成系统部分，模块M3为模块M2形成了测试系统部分和调试系统部分。作为双层GTD结构的结果，在模块级别和在系统级别，分析系统IS都具有运行很好的提高的智能(例如人工智能)，用来比以往任何时候都更加智能化地分析反射测量信息。
分析系统IS此外包括至少一个未示出的处理器，所述模块、模块部分和系统部分作为在所述的至少一个处理器上运行的软件。这样的分析系统是基于规则的专家系统，包括许多，例如五十或者一百或者五百条规则，用来进行所述的分析。
本发明特别基于一种认识可以通过在两个或更多的级别上引入GTD-结构来产生提高的智能，并特别基于一种基本的观点每个模块在模块级别上应当具有这种GTD结构，并且应当通过给予所述的第一模块GTD结构中的G功能，给予所述的第二模块T功能和D功能，以在系统级别上实现至少一个GTD结构。
本发明特别解决了提供如前序中所定义的改进的分析系统的问题，并且优势特别在于具有更高智能的分析系统将能够比目前已知的分析系统更加有效。
在图2a中建立起来的测试公开了一个电源10，位于地和电源阻抗11之间，电源阻抗11连接到网络12的第一端，终端13位于地和所述网络12的另一端之间。公共点1连接了电源10和电源阻抗11，公共点2连接了电源阻抗11和网络12。待被分析系统IS测试的网络12在附图2b中显示一个第一线路21，第二线路22和第三线路23，公共点3连接了三条线路21、22、23，线路21的另一端是点2，线路22的另一端是点4，线路23的另一端是点5。
附图2c示出了，例如，分析图2a和2b所示网络12所得到的基本反射波形，图2d和2e分别显示了，例如，当通过检测和推断第一和第二峰来分析所述的基本反射波形的时候，由模块4生成的反射波形。
图2a和2b所示的网络12称为桥式抽头线路，或者LTL。这样的网络12具有三个反射测量点，当由点2开始时，点3＝抽头开始，点4＝结束回路，点5＝结束抽头。表1显示了本测试例的特性。
表1测试例特性
本例的反射波形在图2c中描绘。图2d描绘了第一个检测峰及应当被去除的其影响的外推。在去除了第一个峰(P1)之后得到的信号用于检测第二个峰(P2)并去除其影响，见图2e。
模块4的特征提取部分不断重复这个检测-去除影响原则，最终生成例如下面的基本反射测量波形的性能，如表2所示。
表2外推性能选择
模块4的可信网络部分根据检测到的性能做出可能的拓扑结构的可能性推论，发现LTL是最可能的拓扑结构。这个信息与表2的信息一同作为模块4生成的输入信号，提供给生成模块G1(或者换言之，模块M1)，如图1所示。
作为对上述输入信号的回应，生成模块G1将生成一个对反射波形的内部表示，之后它会试图用发现的性能来匹配这个表示。基于提供的LTL拓扑结构，它会生成下列反射测量波w11，w1221，w1331，w133331，w122221，w122331，w133221，…每个下标代表经历了哪条线路。分析系统IS现在将会试图通过三个在模块级具有GTD结构的模块M1、M2和M3，把P1、P2、P3和P4的特性与反射测量波相匹配，其中在系统级别，所述的第一模块M1具有G功能，所述的第二模块M2具有T功能和D功能，并且在系统级别，所述的第二模块M2具有G功能，所述的第三模块M3具有T功能和D功能。
生成模块部分G1将会进行下述关联和/或计算●P1相应于w11。这表示，由于w11两次经过第一条通路21的长度，第一条通路21的延时=StartP12=12.3132=6.1565μs.]]>●P2相应于w1331。这表示第三条通路23的延时=StarP2-StartP12=15.597-12.3132=1.642μs.]]>●P3相应于w1221。这表示第二条通路22的延时=StartP3-StartP12=18.880-12.3132=3.2835μs.]]>成模块部分G1会向测试模块部分T1提交所述结果。
测试模块部分T1会通过，例如，检验峰的数目、关联的数目、符号等，来测试这些关联和/或计算，并生成下述测试报告● P4没有与任一反射波关联。
●符号P3不正确。
测试模块部分T1会向调试模块部分D1提交上述结果。
调试模块部分D1会通过，例如，提出与P4的关联等，来调试这些结果，并将生成下述调试报告●P4相应于w122331+w133221，是经过第二条线路22和第三条线路
23的延时=StartP4-StartP12=23.183-12.3132=5.435μs≈3.2825+1.642μs=4.9255μs]]>这个调试结果会被送回到测试模块部分T1。
现在测试模块部分T1会根据增加的和/或采用的关联和/或计算来再次进行测试，并生成下述测试报告●符号P3不正确调试模块部分D1无法改进这种状况，相应地，它将通知所述的测试模块部分T1。
测试模块部分T1将把这个最好的可能解释通知给生成模块部分G2(或者换言之，模块M2)，并把目前的解提供给模块M2。这个解是●P1相应于w11●P2相应于w1331●P3相应于w1221●P4相应于w122331+w133221●第一条线路21延时＝6.1565μs●第二条线路22延时＝1.642μs●第三条线路23延时＝3.2835μs生成模块部分G2会通过，例如，把每个峰的能量分派给目前对峰的解释，做出下列关联和/或计算●能量w11＝能量P1●能量w1331＝能量P2●能量w1221＝能量P3●能量w122331+w133221＝能量P4生成模块部分G2将计算每条线路上的大概的衰减，并把结果提交给测试模块部分T2。
测试模块部分T2会通过，例如，在衰减之间相互比较和/或比较衰减和门限，来测试这些关联和/或计算，并生成如下的测试报告●线路2的衰减有很大的不一致。
测试模块部分T2会把这个结果提交给调试模块部分D2。
调试模块部分D2不能改进这种情况，会向模块M1发送一个(P3，P4)＝不可能的峰解释的消息。
生成模块部分G1会通过，例如，给峰分派反射波，来进行关联和/或计算。在P3不能被解释成w1221的情况下，提出了如下的解●P1相应于w11。这表示，由于w11经过了两次第一条通路21的长度，第一条通路21的延时=StartP12=12.3132=6.1565μs.]]>●P2相应于w1331。这表示第三条通路23的延时=StartP2-StartP12=15.597-12.3132=1.642μs]]>●P4相应于w1221。这表示第二条通路22的延时=StartP4-StartP12=23.183-12.3132=5.435μs]]>测试模块部分T1会通过，例如，检验峰的数目、关联的数目以及符号等，来测试这些关联和/或计算，并会生成如下的测试报告●P3没有与任何波相关联。
测试模块部分T1会将所述结果提交给调试模块部分D1。
调试模块部分D1会通过，例如，为P3找出关联等方法，来调试这些结果，并生成如下的调试报告●把w133331分派给P3，延时为=StartP3-StartP12=18.880-12.3132=3.2835μs≈2·1.642μs=3.284μs.]]>这个调试报告被送回测试模块部分T1。
现在，测试模块部分T1根据增加的和/或采用的关联和/或计算，再次进行测试，并生成如下的测试报告●没有(Blanco)错误报告。
测试模块部分会把当前解传给模块M2。
生成模块部分G2将会把每个峰的能量分配给现有的峰的解释●能量w11＝能量P1●能量w1331＝能量P2●能量w1221＝能量P4●能量w133331＝能量P3
生成模块部分G2把这个结果提交给测试模块部分T2。
测试模块部分T2会测试这些关联和/或计算，并生成如下测试报告●没有错误报告。
然后，测试模块部分T2不必通知调试模块部分D2，而是把这个最佳的可能解释直接通知给生成模块部分G3(或者换言之，模块M3)，并把当前解提交给M3。
生成模块部分G3会根据当前解和计算出的延时以及每条线路的衰减来选择仿真模型参数(例如，直径为0.4mm的聚乙烯电缆的参数)。
测试模块部分T3会测试这些被选择的仿真模型参数，并做出没有错误报告。
然后，找到的解被传送到模块M5，用来识别信号。
例如，五十或者一百或者五百条规则中的三条显示如下A.在第一模块M1的生成模块部分G1中如果拓扑结构＝LL，那么，峰1相应于波11，第二个峰相应于波1221。
B.在第一个模块M1的检测模块部分T1中如果存在有未分配的峰，那么，对于每个未分配的峰，把未分配的峰加入错误清单。
C.在第一个模块M1的调试模块部分D1中如果第三个峰未被分配给任何波，那么将第三个峰分派给波122221。
总的来说，用来分析反射测量信息的分析系统(IS)具有用来进行分析的模块(M1，M2)，每个模块包括生成模块部分(G1，G2)、测试模块部分(T1，T2)、以及调试模块部分(D1，D2)，并且第一模块作为下一模块的生成系统部分，所述的下一模块作为所述的第一模块的测试系统部分和调试系统部分，以引入提高的智能(例如人工智能)。这样的分析系统(IS)具有双层生成-测试-调试-结构或者GTD结构，在模块级别有两个这样的结构，在系统级别有一个。可以通过引入第三个模块(M3)，使得在模块级别有三个GTD结构，在系统级别有两个GTD结构，从而使这个提高的智能获得(进一步)提高。初步分析、中间分析以及精确分析分别基于脉冲、能量和仿真，来增加提高的智能的效率。
应当看出，由于模块部分之间、模块和系统部分之间的界限是相当灵活的，这些术语不应当被理解得太狭隘。例如，当考虑G功能、T功能和D功能时，在模块级别以及系统级别，每种功能的一部分都可以转换到另外一种功能中，每种功能都可以部分或者全部地和另外一种功能(的另一部分)集成在一起，而并不偏离本发明的范围。例如，在模块级别和/或系统级别，T功能和D功能可以被结合成一个新的T/D功能(比如检查功能，或者C功能)，其中T功能和D功能无法再彼此分开，但是由于测试功能和调试功能仍然存在，因此并不偏离本发明的范围。
权利要求
1.一种用来分析反射测量信息的分析系统(IS)，其特征在于，所述的分析系统(IS)至少包括用来进行第一次分析的第一模块(M1)，和用来进行第二次分析的第二模块(M2)，每个模块(M1，M2)包括生成模块部分(G1，G2)、测试模块部分(T1，T2)和调试模块部分(D1，D2)，所述第一模块(M1)作为所述第二模块(M2)的生成系统部分，所述第二模块(M2)作为所述第一模块(M1)的测试系统部分和调试系统部分。
2.根据权利要求1的分析系统(IS)，其特征在于所述的分析系统(IS)至少包括进行第三次分析的第三模块(M3)，所述第三模块(M3)包括生成模块部分(G3)、测试模块部分(T3)和调试模块部分(D3)，所述第二个模块(M2)作为所述第三模块(M3)的生成系统部分，所述第三模块(M3)作为所述第二模块(M2)的测试系统部分和调试系统部分。
3.根据权利要求2的分析系统(IS)，其特征在于所述第一次分析是基于脉冲的分析，所述第二次分析是基于能量的分析，所述第三次分析是基于仿真的分析。
4.根据权利要求3的分析系统(IS)，特征在于所述分析系统(IS)至少包括一个处理器，所述模块(M1-3)、模块部分(G1-3，T1-3，D1-3)和系统部分都是通过所述至少一个处理器运行的软件。
5.根据权利要求3和4的分析系统(IS)，其特征在于所述第一模块(M1)的生成模块部分(G1)从特征提取和可信网络模块(M4)接收测量特征信息和/或拓扑结构信息，所述第一模块(M1)的测试模块部分(T1)向所述第二模块(M2)的生成模块部分(G2)发送峰解释信息和线路延时信息，所述第一模块(M1)的调试模块部分(D1)向所述特征提取和可信网络模块(M4)发送错误拓扑结构信息和/或噪声信息。
6.根据权利要求5的分析系统(IS)，其特征在于所述第二模块(M2)的测试模块部分(T2)向所述第三模块(M3)的生成模块部分(G3)传送线路参数信息，所述第二模块(M2)的调试模块部分(D2)向所述第一模块(M1)的生成模块部分(G1)传送不可能的峰解释信息。
7.根据权利要求6的分析系统(IS)，其特征在于所述第三模块(M3)的测试模块部分(T3)向信号识别模块(M5)发送线路延时信息和/或线路定义信息，所述第三模块(M3)的生成模块部分(G3)从所述信号识别模块(M5)接收错误解信息，所述第三模块(M3)的调试模块部分(D3)向所述第二模块(M2)的生成模块部分(G2)发送错误参数范围信息。
8.一个通信系统包括用来分析反射测量信息的分析系统(IS)，其特征在于，所述的分析系统(IS)至少包括用来进行第一次分析的第一模块(M1)，和用来进行第二次分析的第二模块(M2)，每个模块(M1，M1)都包括生成模块部分(G1，G2)、测试模块部分(T1，T2)和调试模块部分(D1，D2)，并且所述第一模块(M1)作为所述第二模块(M2)的生成系统部分，所述第二模块(M2)作为所述第一模块(M1)的测试系统部分和调试系统部分。
9.一种分析反射测量信息的方法，其特征在于，所述的方法至少包括进行第一次分析的第一步骤和进行第二次分析的第二步骤，其中每个步骤都包括生成子步骤、测试子步骤和调试子步骤，所述第一步骤作为所述第二步骤的生成步骤，所述第二步骤作为所述第一步骤的测试步骤和调试步骤。
10.一种用来分析反射测量信息的处理器程序产品，其特征在于所述的处理器程序产品至少包括进行第一次分析的第一功能和进行第二次分析的第二功能，其中每个功能都包括生成子功能、测试子功能和调试子功能，所述第一功能作为所述第二功能的生成功能，所述第二功能作为所述第一功能的测试功能和调试功能。
全文摘要
用于分析反射测量信息的分析系统(IS)具有用来进行分析的模块(M1，M2)，其中每个模块包括生成模块部分(G1，G2)、测试模块部分(T1，T2)和调试模块部分(D1，D2)，第一模块(M1)作为下一模块(M2)的生成系统部分，下一模块(M2)作为第一模块(M1)的测试系统部分和调试系统部分，以引入更高的智能(例如，人工智能)。这样的分析系统(IS)具有双层生成－测试－调试结构或者GTD结构，在模块级别有两个这样的结构，在系统级别有一个。可以通过引入第三模块(M3)，使得在模块级别有三个GTD结构，在系统级别有两个GTD结构，从而使这个提高的智能获得(进一步)提高。初步分析、中间分析以及精确分析分别是基于脉冲、能量和仿真，来增加提高的智能的效率。
文档编号H04B3/46GK1482469SQ03150199
公开日2004年3月17日 申请日期2003年7月21日 优先权日2002年7月26日
发明者T·韦尔梅朗, T·博斯东, L·P·范比耶桑, F·卢阿热, P·J·M·博埃特斯, ⑷, M 博埃特斯, T 韦尔梅朗, 苟, 范比耶桑 申请人:阿尔卡特公司