专利名称：盘驱动器和预置凹坑检测方法
技术领域：
本发明涉及用于从/自盘状存储介质，如光盘，写入/读取数据的盘驱动器，还涉及检测预置凹坑的方法。
背景技术：
为了在盘上写入数据，需要盘具有形成数据轨道的导向装置。为了满足上述要求，形成了用作预置凹槽的凹槽，并用所形成的凹槽或槽脊(相邻凹槽之间具有高原横截面形状的突出部分)作为数据轨道。
为了在数据轨道上指定的位置写入数据，需要在盘上记录地址信息。通常，通过在数据轨道上摆动凹槽或形成预制凹坑来记录地址信息。
例如，在基于相位变化记录的可重写的DVD(数字多功能盘)，即DVD-RW，或使用有机染料材料的一次写入盘，即DVD-R中，如图12中所示，在盘上形成摆动凹槽G作为预置格式，在相邻凹槽G之间的槽脊L上形成槽脊预置凹坑LPP。
在这种结构中，摆动凹槽所提供的反射光信息用来控制盘的旋转，还用来生成写入数据时使用的主时钟信号。槽脊预置凹坑用来确定各个位的精确的写位置，还用来获得各种盘信息，如预置地址信息。也就是说，使用槽脊预置凹坑LPP来记录表示盘上物理位置的地址。
适用于这种盘的盘驱动器通过检测盘上形成的槽脊预置凹坑读取地址，并基于表示盘上位置的所检测的预置凹坑信息，在写入/读取操作中执行各种控制。
图13表示槽脊预置凹坑LPP的格式。
包括8个摆动的每个轨道的间隔形成一个帧，每个由一个偶数的帧和一个奇数的帧组成的集合总共包括16个摆动，形成一个槽脊预置凹坑信息单位。
如图12中所示，通过与摆动同步地在槽脊中形成挖空的部分，来形成槽脊预置凹坑LPP。地址数据的1位由一个槽脊预置凹坑LPP集合表示。
图13A举例说明了在偶数帧中形成槽脊预置凹坑信息。在这种情况下，每个偶数帧的前3个摆动形成一个槽脊预置凹坑集合。
用b2，b1和b0表示槽脊预置凹坑LPP的出现/不出现。如果(b2，b1，b0)是(1，1，1)，也就是说，当形成3个槽脊预置凹坑时，那些预置凹坑LPP组成的集合作为同步信号。数据位“1”通过在b2和b0形成两个槽脊预置凹坑LPP来表示。也就是说，当(b2，b1，b0)＝(1，0，1)时，数据位是“1”。另一方面，数据位“0”通过在b2形成一个预置凹坑LPP来表示。就是说，当(b2，b1，b0)＝(1，0，0)时，数据位是“0”。
图13B举例说明了在奇数帧中形成槽脊预置凹坑信息。在这种情况下，每个奇数帧的前3个摆动形成一个槽脊预置凹坑集合，其中槽脊预置凹坑LPP的出现/不出现用(b2，b1，b0)表示。
在奇数帧中形成槽脊预置凹坑信息的情况下，当(b2，b1，b0)＝(1，1，0)时，那些预置凹坑LPP组成的集合表示一个同步信号。与偶数帧中的情况相同，数据位“1”用(b2，b1，b0)＝(1，0，1)表示，数据位“0”用(b2，b1，b0)＝(1，0，0)表示。
在图13C中，以表格的形式总结了b2、b1和b0的组合所代表的同步信号和数据位。
在每16个摆动的间隔中，槽脊预置凹坑LPP只能以偶数帧或奇数帧来形成。对每16个摆动间隔确定以哪种帧形成槽脊预置凹坑，以便不会在盘上相邻凹槽轨道上形成槽脊预置凹坑LPP。
通过检测盘上的光信号，用槽脊预置凹坑LPP表达的信息可以以推挽信号的形式获得。更具体而言，获得的推挽信号是两个信号间的一种差分信号，所述信号对应于沿轨道行方向在盘上扫描的激光点从左手和右手部分反射的光的强度。
图14所示为检测槽脊预置凹坑LPP的电路。
盘驱动器具有一个包括光电检测器51的光学头，如具有四个光电检测单元A，B，C和D的四分光电检测器，用于检测从盘反射的光。
在图14中所示的这个电路中，从光电检测器51的光电检测单元A和光电检测单元C输出的信号由一个加法器56相加在一起，从光电检测单元B和光电检测单元D输出的信号由一个加法器55相加在一起。加法器55和56的输出被提供给推挽信号生成器52。推挽信号生成器52包括一个差动放大器A1以及电阻R11到R14。
推挽信号生成器52输出一个推挽信号P/P与((A+C)-(B+D))成正比。
在推挽信号P/P中，如图15A中所示，得到与槽脊预置凹坑LPP相对应的相对较大的振幅(SLP1，SLP2和SLP3)。因此，通过检测大的振幅，可以检测到槽脊预置凹坑所表示的信息。
为此，参考电压Vth从参考电压源54提供到比较器53，而比较器53比较推挽信号P/P与所提供的参考电压Vth。比较器53输出一个两级信号，表示比较结果。因此，如图15A所示，获得对应于槽脊预置凹坑的检测信号LPPout。
对应于该槽脊预置凹坑的此检测信号LPPout的高电平和低电平分别对应于槽脊预置凹坑LPP的b2，b1和b0所表示的“1”和“0”。
此外，解码器(未示出)通过检测对应于b2、b1和b0的同步信号和数据位(具有电平“1”和“0”)来提取地址信息。
在美国专利第6337838中可以找到检测槽脊预置凹坑LPP的已知方法。
然而，如果将信息写入作为记录轨道的凹槽上，则在凹槽上形成的记录标记(相变位)与槽脊预置凹坑LPP干涉。因此，很难正确读取槽脊预置凹坑LPP。更具体而言，记录标记的干涉导致反射系数降低，从而导致对应于槽脊预制凹坑LPP的推挽信号P/P的振幅减少。
推挽信号P/P的振幅由于轨道摆动、相邻轨道的串扰以及盘数量的变化会发生改变。
在图15A所示的例子中，振幅SLP2小于振幅SLP1和SLP3。
振幅SLP2的减少是由于相邻于槽脊预置凹坑LPP出现了记录标记M，在图12中用I表示。
从图15A中所示的推挽信号P/P的波形的包络线可以看出，由摆动所致，推挽信号P/P的电平具有周期性的变化。推挽信号P/P还包括由串扰噪声所导致的电平变化。
推挽信号P/P的这种电平变化可以导致检测信号LPPout中出现噪声，该检测信号LPPout对应于比较推挽信号P/P和参考电压Vth所检测到的槽脊预置凹坑。
图15B用示例说明了包括脉冲分量SLP的推挽信号P/P，所述脉冲分量对应于每16个摆动间隔出现一次的槽脊预置凹坑。在此示例中，对于周期T10，通过比较推挽信号P/P和参考电压Vth，获得正确的槽脊预置凹坑检测LPPout。
但是，在周期T11中，推挽信号P/P的电平增加到这样一种程度，不仅对应于槽脊预置凹坑LPP的脉冲分量SLP的电平，而且推挽信号P/P的其他部分的电平，都超过了参考电压Vth。结果，如图15B中所示，槽脊预置凹坑检测信号LPPout包括噪声脉冲N。
不正确的槽脊预置凹坑检测导致地址错误率增加。也就是说，正确地读取地址信息变得不可能。这导致在盘上写入和从盘上读取数据的操作性能下降，还导致查找操作性能下降。
如果提高参考电压Vth，可以避免这种噪声脉冲。然而，参考电压Vth的提高可能使检测其电平因在附近出现记录标记而降低的槽脊预置凹坑变得不可能，这种情况如图15A中的脉冲分量SLP2所示。
相反，如果减少阈值电压Vth，使得对于小振幅脉冲分量，如SLP2，也可以检测到槽脊预置凹坑，则阈值电压Vth的减少带来了错误地将噪声检测为槽脊预置凹坑的可能性。
基于上述原因，使用固定的阈值电压(参考电压)Vth，很难正确地检测槽脊预置凹坑。
上文中引用的美国专利No.6,337,838公开了一种方法，使用所谓的AGC电路减少推挽信号P/P的振幅中的变化。然而，美国专利No.6,337,838并没有公开正确地设置生成槽脊预置凹坑检测信号LPPout所使用的阈值。
发明内容
考虑到上述内容，本发明的目的是提供一种盘驱动器，即使在由于摆动、噪声和/或记录标记的干扰而导致推挽信号的振幅变化的情况下，也能够正确检测槽脊预置凹坑。
一方面，本发明提供了一种盘驱动器，包括一个光学头，用来发出激光束，以照射一个盘状存储介质，从而从盘状存储介质读取或向磁盘存储介质写入数据，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑；一个推挽信号生成器，用于从光学头检测的反射光信息生成一个推挽信号；一个预置凹坑检测器，用于比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；以及一个噪声去除器，用于基于从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号。
另一方面，本发明提供了一个盘驱动器，包括一个光学头，用来发出激光束，以照射一个盘状存储介质，从而从盘状存储介质读取或向磁盘存储介质写入数据，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑；一个推挽信号生成器，用于从光学头检测的反射光信息生成一个推挽信号；一个预置凹坑检测器，用于比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；一个计数器，用于按每个预定周期间隔，对从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的脉冲数量进行计数；以及一个控制器，用于根据计数器的计数值改变参考信号。
另一方面，本发明提供了一个盘驱动器，包括一个光学头，用来发出激光束，以照射一个盘状存储介质，从而从盘状存储介质读取或向磁盘存储介质写入数据，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑；一个推挽信号生成器，用于从光学头检测的反射光信息生成一个推挽信号；一个预置凹坑检测器，用于比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；一个噪声去除器，用于基于从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号；一个计数器，用于按每个预定周期间隔，对从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的脉冲数量进行计数；一个控制器，用于根据计数器的计数值改变参考信号，以及一个地址解码器，用于从已去除了噪声的检测信号获得由预置凹坑表示的地址信息。
另一方面，本发明提供了一种检测在盘状存储介质上形成的预置凹坑的方法，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑用来表示地址信息，该方法包括下列步骤从反射光信息生成一个推挽信号，该反射光信息是用激光束照射盘状存储介质时得到的；比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；以及基于输出检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除检测到的噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号。
另一方面，本发明提供了一种检测在盘状存储介质上形成的预置凹坑的方法，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑用来表示地址信息，该方法包括下列步骤从反射光信息生成一个推挽信号，该反射光信息是用激光束照射盘状存储介质时得到的；比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；按每个预定周期间隔，对输出检测信号中包括的脉冲数量进行计数；以及根据计数器的计数值改变参考信号。
另一方面，本发明提供了一种检测在盘状存储介质上形成的预置凹坑的方法，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑用来表示地址信息，该方法包括下列步骤从反射光信息生成一个推挽信号，该反射光信息是用激光束照射盘状存储介质时得到的；比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；基于输出检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号；按每个预定周期间隔，对输出检测信号中包括的脉冲数量进行计数；以及根据计数器的计数值改变参考信号。
如上所述，在本发明中，通过比较推挽信号和参考信号生成槽脊预置凹坑检测信号，通过检测脉冲宽度小于预定值的脉冲来检测槽脊预置凹坑检测信号中包括的噪声脉冲。从槽脊预置凹坑检测信号中去除所检测的噪声脉冲，从而获得不包括噪声脉冲的正确的槽脊预置凹坑检测信号。
在正确的槽脊预置凹坑脉冲检测信号中，对应于一个16个摆动的每个特定周期中的脉冲的数量被限制在特定的范围。就是说，脉冲的数量必须等于1到3。如果所观察到的脉冲数量不在上述范围内，则槽脊预置凹坑检测信号包括噪声脉冲。因此，监视脉冲数量，并根据所测得的脉冲数量调整参考信号。
图1是一幅框图，说明了根据本发明实施例的一个盘驱动器；图2是一幅框图，说明根据本发明的第一实施例，用于检测槽脊预置凹坑的电路；图3所示是与根据本发明第一实施例的检测槽脊预置凹坑的操作有关的信号波形；图4是一幅框图，说明根据本发明的第二实施例，用于检测槽脊预置凹坑的电路；图5是一幅框图，说明根据本发明的第三实施例，用于检测槽脊预置凹坑的电路；图6所示是与根据本发明第三实施例的检测槽脊预置凹坑的操作有关的信号波形；图7是一幅框图，说明根据本发明的第四实施例，用于检测槽脊预置凹坑的电路；图8所示是与根据本发明第四实施例的检测槽脊预置凹坑的操作有关的信号波形；图9是流程图，根据本发明第四实施例，在检测槽脊预置凹坑时用到的设置阈值的流程；图10是一幅框图，说明根据本发明的第五实施例，用于检测槽脊预置凹坑的电路；图11是一幅框图，说明根据本发明的第六实施例，用于检测槽脊预置凹坑的电路；图12所示为一个在其上形成有槽脊预置凹坑的盘；图13所示为一个槽脊预置凹坑信号的格式；图14是一幅框图，说明了根据现有技术，用于检测槽脊预置凹坑的电路；以及图15所示为根据现有技术，检测槽脊预置凹坑的操作。
具体实施例方式
下面将结合优选实施例来进一步详细描述本发明。在下文将要描述的实施例中，以举例的方式，假设一种盘驱动器(读取/写入设备)，适用于DVD-R或DVD-RW类型的光盘。
首先，参照图1来说明在所有实施例中通用的一个盘驱动器的基本结构，然后结合第一到第六实施例，说明槽脊预制凹坑提取器24的结构的各种实例。
图1所示为根据本发明一个实施例的盘驱动器30的结构。
盘100，如DVD-R或DVD-RW放在一个转动台面7上，并在写入/读取操作中由转轴电机驱动按恒定线速度转动(CLV)。光学拾波器1读取记录在盘100的轨道(凹槽轨道)上的凹坑标记数据，轨道的摆动信息和槽脊预置凹坑信息。数据凹坑在轨道上以凹槽的形式形成为染料改变凹坑或相变凹坑，从而在盘上记录数据。
拾波器1在其内部包括一个作为激光源的激光器二极管4，一个用于检测反射光的光电检测器5，一个物镜2，激光通过它发射到外部，以及一个光学系统(未示出)，用于通过物镜2，用激光照射盘的记录表面，并用于将反射光导引到光电检测器5。
拾波器1还包括一个监视检测器22，从激光器二极管4输出的部分激光被提供到该监视检测器。
激光器二极管4输出波长为650nm或635nm的波长。该光学系统的NA为0.6。
物镜2受一个二轴机构3的支持，使得物镜2在跟踪方向和聚焦方向都是可以移动的。
拾波器1在盘的径向受一个雪橇机构8的驱动。
拾波器1的激光器二极管4受从激光驱动器18输出的驱动信号(驱动电流)的驱动。激光器二极管4根据该驱动信号发出激光。
来自盘100的反射光信息被光电检测器5检测到，并转换成对应于反射光强度的电信号。最终的电信号被提供到矩阵电路9。
矩阵电路9包括一个电流电压转换器，用于将从光电检测器5的多个光电检测单元输出的电流信号转换成电压信号，还包括一个矩阵运算/放大电路，用于利用矩阵运算生成必要的信号。
矩阵运算/放大电路生成的信号包括一个对应于从盘读取的数据的RF信号，一个聚焦误差信号FE和一个伺服控制中使用的跟踪误差信号TE。
此外，矩阵运算/放大电路还产生与槽脊预置凹坑和凹槽摆动相关的推挽信号P/P。推挽信号P/P还用作跟踪误差信号。
从矩阵电路9输出的RF信号被提供给二进制化电路11，而聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE被提供给伺服电路14。推挽信号P/P被提供给槽脊预置凹坑提取器24和一个摆动PLL 25。
推挽信号P/P被槽脊预置凹坑提取器24转换成一个二级信号。最终的信号作为槽脊预置凹坑信息被提供给地址解码器26。地址解码器26解码预先格式化的地址信息。最终被解码的地址信息被提供给一个系统控制器10。
摆动PLL 25通过PLL操作从推挽信号P/P生成一个摆动时钟信号WCK。所生成的摆动时钟信号WCK被提供给编码时钟信号生成器25、地址解码器26、转轴伺服电路23和槽脊预置凹坑提取器24。
从矩阵电路9输出的RF信号由二进制化电路11转换成一个二级信号，并输入到一个编码器/解码器12。
编码器/解码器12包括一个用于读取操作的解码器和一个用于写入操作的编码器。
在读取操作中，编码器/解码器12执行的解码操作包括解码游程受限码、纠错和去交织，从而产生复制的数据。
此外，在读取操作中，编码器/解码器12通过PLL操作生成一个与RF信号同步的复制时钟信号，并根据该复制时钟信号执行上述解码过程。
在读取操作中，从编码器/解码器12输出的解码数据存储在缓冲存储器20中。
存储在缓冲存储器20中的数据被读取并输出到盘驱动器30的外部。
连接到外部主机计算机40的接口13在传送/接收复制数据、要存储的数据或各种命令的过程中，用于与主机计算机40交互。
在读取操作中，被解码并存储在缓冲存储器20中的数据被读取，并通过接口13传送到主机计算机40。
从主机计算机40输出的读取命令和写入命令通过该接口13被提供到系统控制器10。
另一方面，在写入操作中，要写入的数据从主机计算机40输出并通过接口13存储在缓冲存储器20中。
在写入操作中，编码器/解码器12对存储在缓冲存储器20中的数据进行编码，其中，编码包括增加纠错码、交织、增加子编码以及对要在盘100上写入的数据进行游程受限编码。
在写入操作中用作参考时钟信号的编码时钟信号由编码时钟信号生成器27生成。编码器/解码器与编码时钟信号同步，执行编码操作。
编码时钟信号生成器27根据从摆动PLL 25提供的摆动时钟信号WCK和从槽脊预置凹坑提取器24提供的槽脊预置凹坑信息，生成编码时钟信号。
通过由编码器/解码器12执行编码而产生的要写入的数据，被记录脉冲生成器21转换成记录脉冲，并提供到激光驱动器18。
记录脉冲生成器21还根据记录层的特征、激光点的形状进行记录补偿，根据盘的线速度对最佳写入功率进行微调，以及对激光驱动脉冲的波形进行调整。
激光驱动器18根据所提供的激光驱动脉冲向激光器二极管4提供一个驱动电流，从而驱动激光器二极管4发出一个激光束。结果，在盘100上形成与记录数据相应的位(染色变化位/相变位)。
一个APC(自动功率控制)电路19利用监视检测器22来监视激光的输出功率，并控制激光的输出功率，以便不论温度和其他因素如何，都将输出功率保持在一个恒定值。具体而言，激光输出功率的目标值由系统控制器10给出，而APC电路19控制激光驱动器18，使得激光输出功率保持在目标值。
伺服电路14生成伺服驱动信号，所述伺服驱动信号与从矩阵电路9输出的聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE的聚焦、跟踪和滑动相关，从而伺服电路14对聚焦、跟踪和滑动操作进行伺服控制。
更具体而言，伺服电路14根据聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE生成聚焦驱动信号FD和跟踪驱动信号TD，并将所生成的聚焦驱动信号FD和跟踪驱动信号TD提供给二轴驱动器16。根据所提供的聚焦驱动信号FD和跟踪驱动信号TD，二轴驱动器16驱动拾波器1的二轴机构3的聚焦线圈和跟踪线圈。由此，由拾波器1、矩阵电路9、伺服处理器14和二轴驱动器16以及二轴机构3形成一个跟踪伺服环路和一个聚焦伺服环路。
如果伺服电路14从系统控制器10接收一个跟踪跳跃命令，则伺服电路14关闭跟踪伺服环路，并向二轴驱动器16输出一个跳跃驱动信号，从而使二轴驱动器16执行一个跟踪跳跃操作。
此外，伺服电路14根据作为跟踪误差信号TE的低频分量获得的滑动误差信号，并根据从系统控制器10提供的访问命令，生成一个滑动驱动信号。所生成的滑动驱动信号被提供给一个滑动驱动器15。根据所提供的滑动驱动信号，滑动驱动器15驱动滑动机构8。尽管未在图中示出，滑动机构8包括一个主轴，用于固定拾波器1，一个滑动马达以及一个传动齿轮，其中滑动机构8与滑动马达配合，滑动拾波器1，该滑动马达由滑动驱动器15输出的滑动驱动信号来驱动。
转轴伺服电路23控制转轴马达6，从而以恒定的线速度旋转。
在写操作中，转轴伺服电路23根据摆动PLL所生成的摆动时钟信号WCK检测指示转轴马达6当前旋转速度的转动速度信息，转轴伺服电路23比较所检测的旋转速度信息与预定的CLV参考信息，从而生成一个转轴误差信号SPE。
在读取操作中，指示转轴马达6当前旋转速度的旋转速度信息由编码器/解码器12中的PLL所生成的复制时钟信号(在解码中用作参考时钟信号)给出，转轴伺服电路23通过比较复制时钟信号与预定的CLV参考信息生成转轴误差信号SPE。
转轴伺服电路23根据转轴误差信号SPE生成转轴驱动信号，并将所生成的转轴驱动信号提供给转轴马达驱动器17。转轴马达驱动器17根据所输入的转轴驱动信号生成一个三相驱动信号，并将所生成的三相信号提供到转轴马达6，从而以恒定线速度(CLV)驱动转轴马达6。
此外，转轴伺服电路23根据从系统控制器10提供的转轴启动/制动控制信号生成一个转轴驱动信号。根据从转轴伺服电路23提供的转轴驱动信号，转动马达驱动器17使转轴马达6启动、停止、加速和减速。
伺服系统的上述操作和写入/读取系统由组成微计算机的系统控制器10进行控制。
系统控制器10根据主机计算机40发出的命令执行各种处理。
例如，如果主机计算机40发出一个读取记录在盘100上的数据的读取命令，响应该命令，首先系统控制器10控制查找操作以查找一个指定的地址。更具体而言，系统控制器10向伺服电路14发出一个命令，以将拾波器1移动到查找命令指定的地址。
之后，系统控制器10控制必要的部件以从指定的扇区读取数据，并将所读取的数据传送到主机计算机40。更具体而言，所请求的数据从盘100读取，被解码、缓冲存储并传送到主机计算机40。
如果主机计算机40发出一个写入命令，系统控制器10将拾波器移动到与指定地址相对应的要在其中写入数据的位置。编码器/解码器12对从主机计算机40提供的数据进行编码。
记录脉冲生成器21向激光驱动器18提供激光驱动脉冲。由此，将数据写入到盘上。
下面概括说明盘驱动器30的写入/读取操作。
读取操作*伺服操作由拾波器1检测的信号被矩阵电路9转换成伺服误差信号，如聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE。最终的伺服误差信号被提供到伺服电路14。拾波器1的二轴机构3由伺服电路14输出的驱动信号FD和TD驱动，因而，聚焦和跟踪得以伺服控制。
*读取数据拾波器1所检测的信号被矩阵电路9转换成RF信号，并提供给编码器/解码器12。编码器/解码器12复制一个通道时钟信号，并根据通道时钟信号对RF信号进行解码。经过解码的数据被提供给接口13。
*控制旋转盘100的旋转根据从编码器/解码器12提供的通道时钟信号被转轴伺服电路23进行控制。
*检测地址地址包括在RF信号中，并被编码器/解码器12提取。所提取的地址被提供给系统控制器10。
但是，在查找操作中，地址从槽脊预置凹坑提取，并且根据所提取的地址执行查找目标地址的操作。
*控制激光APC电路将激光输出功率控制在由系统控制器10指定的恒定值。
写入操作*伺服操作执行伺服操作的方式与执行读取操作相同，不同之处在于，由矩阵电路9或伺服电路14进行修正，以便激光的高输出功率不会导致增益的升高。
*写入数据通过接口13获得将要写入的数据。编码器/解码器12执行通道编码，包括对数据进行ECC增加，重新排列和调制。在进行通道编码之后，数据由记录脉冲生成器21转换成其形式适合在盘100上写入数据的激光驱动脉冲。通过激光驱动器18(APC电路19)将激光驱动脉冲提供给拾波器1的激光器二极管4。
*控制旋转根据从矩阵电路9输出的推挽信号P/P，摆动PLL生成摆动时钟信号WCK。根据该摆动时钟信号WCK，转轴伺服电路23将转速控制在恒定线速度(CLV)。
*检测地址从矩阵电路9输出的推挽信号P/P被提供给槽脊预置凹坑提取器24，并检测槽脊预置凹坑信息。所检测的槽脊预制凹坑信息被地址编码器解码成地址值，并由系统控制器10解释。
槽脊预置凹坑信息还被提供给编码时钟信号生成器27。根据该槽脊预置凹坑信息，编码时钟信号生成器27生成编码时钟信号，并将其提供给编码器/解码器12。
尽管在图1所示的示例中，盘驱动器30连接到主机计算机40，但根据本发明，盘驱动器30不见得一定要连接到主机计算机40等。当盘驱动器30不连接到主机计算机40或类似设备时，盘驱动器30可以包括一个操作控制单元和一个显示器，与数据输入/输出接口相关的配置可以被修改，以便根据用户通过操作控制单元发出的命令写入输入数据或输出所读取的数据。
第一实施例在上文描述的盘驱动器30中，根据本发明的第一实施例，在盘上形成了一个用于检测槽脊预置凹坑的特定的电路配置，下面将结合图2和图3说明该电路以及该电路的操作。
在盘驱动器30的各个部件中，有一个如图2中所示的用于检测槽脊预置凹坑的部件。该部件包括拾波器1的光电检测器5，加法器9b、9c和矩阵电路9的差分放大器9a，以及槽脊预置凹坑提取器24。
尽管图2中未示出，矩阵电路9不只包括用于生成推挽信号P/P的差分放大器9a和加法器9b和9c，还包括一个电路部件，用于生成RF信号、聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE。
如图2中所示，光电检测器5为一种四分类型，包括四个光电检测器单元A，B，C和D。从盘反射的光被各个光电检测器单元A，B，C和D检测，并转换成对应于光强度的电流信号。从光电检测器单元A，B，C和D输出的电流信号由矩阵电路9转换成电压信号。根据这些电压信号，产生聚焦误差信号FE、推挽信号P/P和其他信号。下面说明产生推挽信号P/P的过程。
推挽信号是根据从沿轨道行方向扫描的激光点的左手部分反射的光学信号和从沿轨道行方向扫描的激光点的右手部分反射的光学信号产生的。差分放大器9a计算从加法器9c输出的信号A+C与从加法器9b输出的信号B+D二者之间的差值，从而获得推挽信号P/P，其中，信号A+C是电压信号的和，所述电压信号是根据分别从光电检测器单元A和C输出的电流信号得到的，信号B+D是电压信号的和，所述电压信号是根据分别从光电检测器单元B和D输出的电流信号得到的。
如上文结合图1所述，推挽信号被提供给摆动PLL 25，以形成与凹槽摆动同步的摆动时钟信号WCK。
推挽信号P/P还提供给槽脊预置凹坑提取器24。
槽脊预置凹坑提取器24包括一个比较器61，一个数字到模拟转换器62以及一个噪声去除器70。
在槽脊预置凹坑提取器24中，推挽信号被施加到比较器61上。
从如图1中所示得系统控制器10中，参考电压数据Dth被提供给数字到模拟转换器62。数字到模拟转换器43将参考电压数据Dth转换成一个相应的模拟电压，并将最终的模拟电压作为参考电压Vth提供给比较器61。
比较器61比较推挽信号P/P与参考电压Vth。如果挽信号P/P大于参考电压Vth，则比较器61输出“1”。比较器61的输出作为槽脊预置凹坑检测信号LPPout’，其电平“1”对应于槽脊预置凹坑LPP。
此槽脊预置凹坑信号LPPout’对应于上文结合图15说明的现有技术中的检测信号LPPout，并且存在槽脊预置凹坑检测信号LPPout’中包括上文曾经描述过的噪声脉冲的可能性。
在图2中所示的示例中，其中可能包括噪声脉冲的槽脊预置凹坑检测信号LPPout’被提供给噪声去除器70以去除噪声脉冲。从噪声去除器70输出不包括噪声脉冲的槽脊预置凹坑检测信号LPPout，并提供给图1中所示的地址解码器26，以获得地址信息。
噪声脉冲去除器70包括一个D型触发器71和72，一个“和”门73，一个计数器74，一个比较器75和一个保持电路76。根据例如上文参考图1说明的摆动时钟信号，生成施加到那些电路单元的时钟信号CK。
由D型触发器71和72以及“和”门73形成一个下降边检测器，其输入端为一个倒相输入端。
从比较器61输出的检测信号LPPout’被施加到D型触发器71的D输入端，并且在时钟信号CK施加到D型触发器71时由该D型触发器71锁存。从D型触发器71输出的Q1被提供给D型触发器72，并且Q1的倒相信号被提供给“和”门73。
从D型触发器72输出的Q2被提供给“和”门73，并且还作为一个启动信号和一个清除信号提供给计数器74。
图3的(a)，(b)，(c)和(d)分别表示D型触发器71的输出Q1，D型触发器72的输出Q2，输出Q1的反相信号Q1和“和”门73的输出Aout。
D型触发器71锁存检测信号LPPout’，并将锁存的信号作为Q1输出。D型触发器72将输出Q1延迟一个等于时钟信号周期的时间，并将经过延迟的信号作为Q2从D型触发器72输出。
从图3(b)中所示的输出Q2和图3(c)中所示的反相信号Q1作为Aout从“和”门73输出。从图3(d)中可以看出，通过上述过程获得的输出信号Aout表示检测信号LPPout’的下降沿。
当D型触发器72的输出Q2上升到“1”时，计数器74开始对时钟信号CK进行计数。由于输出Q2还作为一个复位信号施加到D型触发器72，当输出Q2下降到“0”时，计数器74的计数值被清除。
因此，如图3(e)中所示，在每个周期中，计数器74的计数值CT当输出Q2位于电平“1”时增加，当输出Q2变为电平“0”时复位到0。
比较器75比较计数器74的计数值CT与参考值Dcp。比较结果作为一个启用信号输出到保持电路76。参考值Dcp从系统控制器10提供。也就是说，系统控制器10可以改变参考值Dcp。
如图3(e)中所示，计数值CT与参考值Dcp进行比较，并且如图3(f)所示，启用信号作为比较结果给出。
保持电路76在且仅在启用信号En位于电平“1”的周期内，保持“和”门73的输出Aout，因此，保持电路76如图3中的(g)所示输出一个信号。
在上述操作中，在检测信号LPPout’所包括的脉冲中，如图3(g)中所示，只有其脉冲宽度大于特定值的那些脉冲作为边沿检测信号被提取出来，而不再包括噪声脉冲的槽脊预置凹坑检测信号LPPout由此信号(g)给出。
因此，从图3可以看出，当检测信号LPPout’的脉冲所具有的脉冲宽度小时(如在输出Q1的脉冲P1)，其中的边沿检测脉冲在最终的检测信号LPPout中不出现，而仅当脉冲宽度大于预定值时(如在输出Q1的脉冲P2)，其中的边沿检测脉冲才在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中出现。
就是说，在图2所示的电路中，在作为槽脊预置凹坑检测信号LPPout’从比较器61输出的脉冲中，那些脉冲宽度小于预定值(由参考值Dcp指定)的脉冲被当成噪声脉冲并消除。
如上文结合图15所述，噪声脉冲的振幅小于对应于槽脊预置凹坑LPP的正确脉冲SLP的振幅。因此，作为比较器61的比较结果的噪声脉冲输出所具有的脉冲宽度小于对应于槽脊预置凹坑LPP的正确脉冲的脉冲宽度。
如果图2中所示的噪声脉冲去除器70检测到一个具有小脉冲宽度的脉冲，则噪声脉冲去除器70把它当成一个噪声脉冲，并将其去除。结果，获得一个不包括噪声脉冲的槽脊预置凹坑检测信号LPPout。
因而，在本实施例中，即使由于轨道摆动、来自相邻轨道的串扰和/或由附近的记录标记而引起的槽脊预置凹坑LPP反射系数减少而造成推挽信号P/P的振幅改变，也能正确检测槽脊预置凹坑信息。
这样可以减少开始输出正确的槽脊预置凹坑信息之前的空档时间，并改善地址误差率。此外，即使对于特征变化较大的存储介质，也可能进行高度可靠的写入/读取。
由于拾波器(光学头3)的特征变化也会导致推挽信号P/P的振幅改变，本实施例还允许在推挽信号P/P具有这种振幅改变时，能够正确检测槽脊预置凹坑信息。这使得拾波器产品收得率得以改进。
通过改变参考值Dcp可以改变检测噪声脉冲中使用的脉冲宽度的阈值。例如，通过根据地址误差率等优化参考值Dcp，可以实现噪声脉冲去除性能的最大化。更具体而言，如果地址误差率增加，可以得出提供给地址解码器26的检测信号LPPout包括噪声脉冲的结果，通过提高参考值Dcp，从而增加检测噪声脉冲时使用的脉冲宽度的阈值，可以改善地址误差率。
尽管图2中所示的噪声脉冲去除器70中，下降沿检测器由D型触发器71和72以及“和”门73组成，但边沿检测器并不是限制于图2中所示的电路配置。例如，边沿检测器可以由电阻、电容和一个“和”门构成。
计数器74不限于数字计数器，还可以使用其他电路配置。例如，一个使用电阻和电容的模拟电路可以用来产生对应于图3(e)所示的计数值CT的波形。
此外，比较器75不限于特定的类型，任何具有比较功能的电路都可以使用。例如，可以使用模拟比较器或运算放大器。
对于保持电路76，只要可能根据比较器75执行的比较结果输出边沿检测脉冲，就可以使用任何电路配置。例如，保持电路76可以由一个电容荷一个模拟开关组成。
在图2所示的示例中，从系统控制器10提供参考值Dcp。作为替代，也可以用不同的方式提供参考值Dcp。例如，可以使用电池和开关的组合，或使用电压源和可变电阻的组合来提供参考值Dcp。
第二实施例参看图4，现在说明根据本发明第二实施例的包括噪声脉冲去除器70的噪声脉冲。电路配置与上文所述的第一实施例中的相似，不同之处在于，噪声脉冲去除器70以模拟的形式进行配置。
如图4中所示，噪声脉冲去除器70包括一个电阻R1，一个二极管D1，一个电容C1，一个比较器77和一个参考电压源78。
在此电路配置中，其中可能包括噪声脉冲的检测信号LPPout’从比较器61提供到噪声脉冲去除器。在噪声脉冲去除器70中，当检测信号LPPout’处于电平“1”时，电容C1以电阻R1所确定的时间常数所对应的速率用检测信号LPPout’进行充电。
电容C1充电电压改变的方式与根据上文描述的第一实施例中图3(e)中所示的计数值CT的改变方式相类似。
比较器77比较电容C1的充电电压与同参考电压源78提供的参考电压Vcp。比较结果变得与图3(f)中所示的启用信号En相似。
在图4中所示的电路配置中，上述与图3(f)中所示的信号相似的上述信号作为不包括噪声脉冲的槽脊预置凹坑检测信号LPPout输出。
在此电路配置中，脉冲宽度小于阈值被当成噪声脉冲并去除，因此得到与第一实施例相似的优点。
参考电压源78可以由电池和开关的组合构成，或者由电压源和可变电阻的组合构成。作为替代，电压源78还可以代之以数字到模拟转换器，从系统控制器10提供的参考值Dcp可以转换成一个模拟信号，并作为参考电压Vcp输出。
第三实施例参看图5和图6，现在说明根据本发明第三实施例的包括噪声脉冲去除器70的电路配置。电路配置与上文所述的第一实施例中的相似，不同之处在于，噪声脉冲去除器70使用移位寄存器构成。
在第三实施例中，噪声脉冲去除器70包括一个由n个触发器SR1到SR(n)组成的移位寄存器和一个脉冲长度检测器79，从各个触发器SR1到SR(n)向脉冲长度检测器79提供锁存信号。
在脉冲长度检测器79中，由系统控制器10给出设置值CL，如果多个触发器的输出和设置值CL相比是“1”，则脉冲长度检测器79的输出变为“1”。脉冲长度检测器79可以，例如，使用一个多输入“和”门实现。
图6所示为与噪声脉冲去除器70的操作相关的波形。
如图6(a)所示，还是在噪声脉冲去除器70中，其中可能包括噪声脉冲的检测信号LPPout’从比较器61提供到噪声脉冲去除器70。
在在噪声脉冲去除器70中，各个触发器SR1到SR(n)在根据时钟信号CK的时间锁存输入信号，从而如图6(b)，(c)和(d)中所示，提供延迟的输出信号，所述延迟是对以前阶段的触发器输出的延迟。
这里，假设设置值CL等于三个触发器的总延迟时间。
当脉冲长度检测器79对于图6(a)中所示的脉冲P1计算触发器SR1到SR3的输出的“和”时，结果不会变为“1”。另一方面，对于脉冲P2，“和”变为“1”。
因此，如果用“和”操作的结果作为槽脊预置凹坑检测信号LPPout，则最终的槽脊预置凹坑检测信号LPPout不包括噪声脉冲，如P1，如图6(e)所示。
因此，还是在第三实施例中，如第一和第二实施例中所述，其宽度小于预定值的脉冲被当成噪声脉冲并去除。就是说，还获得了与第一和第二实施例中相似的优点。
通过改变设置值CL可以改变检测噪声脉冲时使用的脉冲宽度的阈值。更具体而言，脉冲长度检测器79中，其输出受“和”操作控制的触发器数量，根据该设置值CL而变化。
第四实施例在上文所述的第一到第三实施例中，从比较器61输出的槽脊预置凹坑检测信号LPPout’中所包括的噪声脉冲被噪声脉冲去除器70去除。在下面说明的第四实施例中，施加到比较器61的用于检测槽脊预置凹坑的参考电压Vth被改变，使得比较器61的输出不包括噪声脉冲。
在此第四实施例中，推挽信号P/P被提供给包括一个比较器61、一个数字到模拟转换器62、一个计数器81、一个寄存器82和一个时间测量单元83的槽脊预置凹坑提取器24。
在如图2所示的电路配置中，参考电压数据Dth从系统控制器10提供到数字到模拟转换器62。该数字到模拟转换器62将参考电压数据Dth转换成对应的模拟电压，并将最终的模拟电压作为参考电压Vth提供给比较器61。
比较器61比较推挽信号P/P与参考电压Vth。如果推挽信号P/P大于参考电压Vth，则比较器61输出“1”。就是说，当推挽信号P/P大于参考电压Vth时，比较器61进行比较所得的结果作为电平为“1”的预置凹坑检测信号LPPout输出。最终的槽脊预置凹坑检测信号LPPout被提供给如图1中所示的地址解码器26。
在这种技术方法中，参考电压可以改变，使得噪声脉冲不包括在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中。
为此，在槽脊预置凹坑提取器24中，还包括了计数器81，寄存器82和时间测量单元83。
时间测量单元83测量对应于16个摆动的周期所经过的时间，并且时间测量单元83每经过这样一段时间，便输出一个“1”电平脉冲信号S1。
图8(a)所示为其振幅因摆动而改变的推挽信号P/P，并且图8(b)所示的信号S1每经过一个16个摆动的周期上升到电平“1”。
时间测量单元83可以使用用于对摆动时钟信号WCK计数的计数器和一个电路来实现，所述电路用于每当计数器的计数值达到对应于16个摆动的周期的值时生成一个“1”电平脉冲。
16个摆动的周期不见得一定要与摆动时钟信号WCK同步，使用只对经过的时间计数的硬件计数器或使用在系统控制器10上运行的软件程序都可以对16个摆动的周期进行测量。更具体而言，每次时间测量单元检测到一个约等于4.5μs的对应于16个摆动的周期，时间测量单元便输出一个脉冲。
16个摆动的周期等于图13中所示的两个帧的和。从图13可以看出，在每个由两个帧组成的周期中，必须检测包括在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中的一到三个脉冲。换句话说，没有其间在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中不出现脉冲的16个摆动的周期，也没有其间在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中出现四个或更多脉冲的16个摆动的周期。
计数器81对从比较器61输出的槽脊预置凹坑检测信号LPPout的脉冲进行计数。
从时间测量单元83输出的信号S1作为复位信号被施加到计数器81，以便每经过一个16个摆动的周期清除一次计数值。
计数器81不限于特定的类型，只要能够输出表示测量的脉冲数量的信息，任何类型的计数器都可以使用。例如，可以通过用脉冲对电容充电来对脉冲进行计数。
寄存器82保持计数器81的计数值。例如，可以用D型触发器作为寄存器82。从时间测量单元83输出的信号S1作为一个启用信号施加到寄存器82。这导致每个16个摆动的周期将计数器81的计数值加载到寄存器82中，并在下一个16个摆动的周期保持。
寄存器82保持的计数值被提供给系统控制器10。
寄存器82不限于特定类型，任何类型的寄存器82都可以使用。例如，可以使用模拟开关和电容实现该寄存器82。
从时间测量单元83输出的信号S1作为一个中断信号也提供给系统控制器10。响应于接收中断信号，系统控制器10根据从寄存器82提供的计数值改变参考电压数据Dth。
参看图9，下面说明由系统控制器10执行用来改变参考电压数据的过程。
在步骤F101中，系统控制器10等待来自时间测量单元83的中断信号(信号S1)。如果检测到中断信号，则过程进行到步骤F102。在步骤F102中，检查寄存器82中保持的计数值。如果计数值等于1，2和3中的一个，过程返回到F101，以便不改变参考电压数据Dth而等待下一个中断信号。
如果在步骤F102确定计数值等于0，过程进行到步骤F104。在步骤F104，参考电压数据Dth降低一级，使得通过数字到模拟转换器62提供到比较器61的参考电压Vth降低一级。
如果在步骤F102确定计数值大于或等于4，过程进行到步骤F103。在步骤F103，参考电压数据Dth升高一级，使得通过数字到模拟转换器62提供到比较器61的参考电压Vth升高一级。
参看图8，下面说明图7中所示的槽脊预置凹坑提取器24的操作。
在图8中，T1到T6分别表示一个16个摆动的周期。如上所述，图8(b)中所示的信号S1每经过一个16个摆动的周期(T1到T6)上升到“1”一次。
在周期T1，在检测信号LPPout中没有出现对应于正确槽脊预置凹坑的脉冲SLP(图8(e))，因为施加到比较器61的参考电压Vth太高。
这时，由于从比较器61输出的检测信号LPPout中不包括脉冲，计数器81的计数值等于0，如图8(c)所示，计数值0被寄存器82与信号S1同步地保持，如图8(d)中所示。
在将此信号S1施加到系统控制器10时，系统控制器10执行图9中所示的过程。在这一特定情况下，由于寄存器值等于0，过程进行到步骤F104以降低参考电压数据Dth。
因此，在接下来的周期T2，使用降低的参考电压Vth。
在周期T2，过程的执行方式与在周期T1相同。在此周期T2中，参考电压Vth仍然过高，因此计数值仍然保持在0。结果，当信号S1施加到系统控制器10时，系统控制器10执行如图9中所示的过程。因此，在接下来的周期T3中，使用降低的参考电压Vth。
在周期T3中，对应于槽脊预置凹坑的脉冲SLP的振幅大于参考电压Vth，如图8(e)中所示，一个脉冲正确地出现在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中。
在此周期T3中，一个脉冲出现在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中，因此，能正确检测到上文结合图13所描述的数据“0”。
这时，计数器81正确地将脉冲数计数为1，并且计数值1被保持在寄存器82中。
在这一特定情况下，由于寄存器值等于1，参考电压数据Dth在系统控制器10响应接收到信号S1而执行的过程中不发生改变。因此，在接下来的周期T4，使用同样的参考电压Vth。
但是，在周期T4中，由于某种原因，推挽信号P/P的振幅发生改变，并且不仅是对应于槽脊预置凹坑LPP的正确的脉冲SLP的振幅改变，而且超过参考电压Vth的噪声脉冲的振幅也发生改变。例如，假设由于推挽信号P/P的振幅增加，导致检测信号LPPout中出现了10个脉冲。
结果，计数器将脉冲的数量计数为10，且计数值10由寄存器82保持。因此，在系统控制器10执行的该过程中，参考电压数据Dth在步骤F103升高。
结果，在接下来的周期T5中，使用升高的参考电压Vth。
在周期T5中，参考电压Vth的升高导致只在检测信号LPPout中检测正确的脉冲SLP，如图8(e)中所示。
在这一特定情况下，计数值2被寄存器保持，因而，在系统控制器10所执行的过程中，参考电压数据Dth不改变。结果，在接下来的周期T6中，使用同样的参考电压Vth。
从上述说明可以看出，在本实施例中，被用于和推挽信号P/P比较的参考信号Vth收敛改变到一个值，该值允许对应于槽脊预置凹坑LPP的脉冲正确出现在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中。
这意味着即使参考电压Vth的初始值不合适，也会将参考电压Vth引导到一个适当的值。此外，如果因推挽信号P/P的振幅变化而导致电流参考电压Vth变得不合适，该参考电压Vth将会引导到一个适当的值。
就是说，如果在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中检测到一个噪声脉冲，则参考电压Vth上升，使得槽脊预置凹坑被引导到该槽脊预置凹坑检测信号中不包括噪声脉冲的状态。另一方面，如果没有检测到对应于槽脊预置凹坑的正确的脉冲SLP，则参考电压Vth下降到一个值，该值允许在槽脊预置凹坑检测信号LPPout中正确地检测到对应于槽脊预置凹坑LPP的脉冲SLP。
因此，在本实施例中，在不受因摆动或噪声而导致的推挽信号P/P的振幅变化的影响，而且还不受因记录标记的干扰而导致的脉冲SLP的振幅减小的影响的情况下，能够获得只包括对应于槽脊预置凹坑LPP的脉冲SLP、而不包括噪声脉冲的槽脊预置凹坑检测信号LPPout。
这样可以减少开始输出正确的槽脊预置凹坑信息之前的空档时间，并改善地址误差率。此外，即使对于特征变化较大的存储介质，也可能进行高度可靠的写入/读取。
由于拾波器(光学头3)的特征变化也会导致推挽信号P/P的振幅改变，本实施例还允许在推挽信号P/P具有这种振幅改变时，能够正确检测槽脊预置凹坑信息。这使得拾波器产品收得率得以改进。
尽管在本实施例中，参考电压Vth在图9所示的由系统控制器10执行的过程中进行控制，参考电压Vth还可以由使用硬件逻辑电路构成的控制系统控制，或者根据对应于脉冲数量的模拟信号，由一个模拟电路进行控制。
第五实施例下面参照图10说明本发明的第五实施例。
在图10中所示的此第五实施例中，将第一到第三实施例中使用的噪声脉冲去除器70增加到上文参照图7的第四实施例中使用的电路配置中。
从比较器61输出的检测信号LPPout’可能包括噪声脉冲，如果检测信号LPPout’中包括噪声脉冲，则噪声去除器70去除该噪声脉冲，并且不包括噪声脉冲的槽脊预置凹坑检测信号LPPout被输出到地址解码器26。
可以以图2，4或5中所示相似的方式构成噪声脉冲去除器70。
电路配置以及计数器81、寄存器82和时间测量单元83的操作与上文描述的第四实施例中相似。此外，系统控制器10控制参考电压数据Dth，从而通过以类似上文所述第四实施例中方式，执行图9中所示的过程，来控制参考电压Vth。
在图10中所示电路配置中，按每个16个摆动得间隔，对从噪声脉冲去除器70输出的槽脊预置凹坑检测信号LPPout中包括的脉冲数量进行计数，并且根据该计数值对参考电压Vth进行控制。
因而，在图10中所示的电路配置中，即使从比较器61输出的检测信号LPPout’包括一个噪声脉冲，该噪声也将由噪声脉冲去除器70去除，并且输出一个不包括噪声的槽脊预置凹坑检测信号。
此外，参考电压Vth被控制在适当的电平，以进一步在比较器61的输出中抑制噪声脉冲。
噪声脉冲去除器70和对阈值电压Vth进行控制二者相结合，使得和前面的实施例相比，有可能获得更为精确的槽脊预置凹坑检测信号LPPout。
如上文在第二到第四实施例中所述，在检测噪声脉冲时噪声脉冲去除器70使用的脉冲宽度的阈值可以改变。脉冲宽度的阈值可以根据脉冲的计数数量(即寄存器82中保持的值)来控制。
第六实施例下面参照图11说明本发明的第六实施例。
在第六实施例中，与第五实施例相同，由噪声去除器70去除噪声脉冲，并且由计数器81、寄存器82和时间测量单元83，连同系统控制器10执行的图9中所示的过程来控制参考电压Vth。其中计数器81、寄存器82和时间测量单元83与第五实施例中使用的相似。
在第六实施例中，与第五实施例的不同之处在于，在第五实施例中，计数器81对从噪声去除器70输出的槽脊预置凹坑信号LPPout中所包括的脉冲数量进行计数，而在第六实施例中，计数器81则对从比较器61输出，并且其中可能包括噪声脉冲的检测信号LPPout’中所包括的脉冲数量进行计数。
参看图10，在根据第五实施例的电路配置中，由于计数器81对从噪声去除器70输出的检测信号LPPout中所包括的脉冲数量进行计数，计数值变得不规则，因而必需改变参考电压Vth可能性很小。
换句话说，在图10中所示的第五实施例中，仅当参考电压Vth变得不合适，以致噪声去除器70无法去除噪声脉冲时，才改变参考电压Vth。
与此相比，在图11所示的第六实施例中，由于对其进行脉冲计数的检测信号LPPout’尚未去除过噪声，计数值变得不规则，因而必需改变参考电压Vth可能性相对较大。
也就是说，在第六实施例中，通过控制参考电压Vth，从比较器61输出的检测信号LPPout’中包括的噪声脉冲的数量最小化，而仍然包括在检测信号LPPout’中的噪声脉冲被噪声脉冲去除器70去除。
和第五实施例相同，在此第六实施例中，可以获得精确的槽脊预置凹坑检测信号LPPout。
结合上述实施例，已经对本发明进行了详细的说明。注意本发明不限于那些特定的实施例，在不背离本发明的实质和范围的情况下，可能进行各种修改。
从上述说明可以看出，本发明具有很大好处。就是说，在本发明中，根据脉冲宽度，对通过比较推挽信号与参考电压而获得的槽脊预置凹坑信号中包括的噪声脉冲进行检测，去除所检测的噪声脉冲，从而获得正确的预置凹坑检测信号。
此外，对槽脊预置凹坑检测信号包括的脉冲数量进行计数，并根据脉冲计数对参考电压进行控制。
即使在由于轨道摆动、相邻轨道间的串扰、记录标记的干扰，盘的特征变化，和/或其它原因而导致推挽信号的振幅改变时，或者即使在推挽信号包括较大的噪声时，通过去除噪声脉冲和控制阈值电压，也可能正确地检测槽脊预置凹坑。
就是说，即使槽脊预置凹坑检测信号包括由于推挽信号的振幅变化而导致的误差，通过取出噪声脉冲去除该误差，从而最终输出一个不包括误差的正确的槽脊预置凹坑检测信号。
当检测信号包括由于推挽信号的振幅变化而导致的噪声脉冲时，可以调整参考电压，使得检测信号不包括噪声脉冲。
这样可以减少开始输出正确的槽脊预置凹坑信息之前的空档时间，并改善地址误差率。此外，即使对于振幅变化较大的存储介质，也可能进行高度可靠的写入/读取。
因拾波器的特征变化会造成槽脊预置凹坑检测误差，本发明的槽脊预置凹坑检测误差也会降低。这样有助于改进拾波器产品收得率。
权利要求
1.一个盘驱动器，包括一个光学头，用来发出激光束，以照射一个盘状存储介质，从而从盘状存储介质读取或向磁盘存储介质写入数据，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑；一个推挽信号生成器，用于从光学头检测的反射光信息生成一个推挽信号；一个预置凹坑检测器，用于比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；以及一个噪声去除器，用于基于从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号。
2.根据权利要求1的盘驱动器，其特征在于盘状存储介质使用预置凹坑来代表地址信息，地址信息表示盘上的一个地址；并且盘驱动器还包括一个地址解码器，用于从已去除了噪声的检测信号获得由预置凹坑表示的地址信息。
3.根据权利要求1的盘驱动器，其特征在于，噪声去除器包括一个脉冲宽度检测器，用于检测从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的脉冲的脉冲宽度，并且，当由脉冲宽度检测器检测到脉冲宽度比参考值小的脉冲时，噪声去除器把所检测的脉冲作为噪声脉冲去除。
4.根据权利要求1的盘驱动器，其特征在于，噪声去除器能够改变脉冲宽度的参考值。
5.一个盘驱动器，包括一个光学头，用来发出激光束，以照射一个盘状存储介质，从而从盘状存储介质读取或向磁盘存储介质写入数据，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑；一个推挽信号生成器，用于从光学头检测的反射光信息生成一个推挽信号；一个预置凹坑检测器，用于比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；一个计数器，用于对于每个预定周期间隔，对从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的脉冲数量进行计数；以及一个控制器，用于根据计数器的计数值改变参考信号。
6.根据权利要求5的盘驱动器，其特征在于盘状存储介质使用预置凹坑来代表地址信息，地址信息表示盘上的一个地址；并且盘驱动器还包括一个地址解码器，用于从已去除了噪声的检测信号获得由预置凹坑表示的地址信息。
7.根据权利要求5的盘驱动器，其特征在于，控制器控制参考信号，使得当计数值大于预定值时，参考信号的电平降低，当计数值小于预定值时，参考信号的电平上升。
8.一个盘驱动器，包括一个光学头，用来发出激光束，以照射一个盘状存储介质，从而从盘状存储介质读取或向磁盘存储介质写入数据，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑；一个推挽信号生成器，用于从光学头检测的反射光信息生成一个推挽信号；一个预置凹坑检测器，用于比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；一个噪声去除器，用于基于从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号；一个计数器，用于对于每个预定周期间隔，对从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的脉冲数量进行计数；一个控制器，用于根据计数器的计数值改变参考信号，以及一个地址解码器，用于从已去除了噪声的检测信号获得由预置凹坑表示的地址信息。
9.根据权利要求8的盘驱动器，其特征在于盘状存储介质使用预置凹坑来代表地址信息，地址信息表示盘上的一个地址；并且盘驱动器还包括一个地址解码器，用于从已去除了噪声的检测信号获得由预置凹坑表示的地址信息。
10.根据权利要求8的盘驱动器，其特征在于，噪声去除器包括一个脉冲宽度检测器，用于检测从预置凹坑检测器输出的检测信号中包括的脉冲的脉冲宽度，并且，当由脉冲宽度检测器检测到脉冲宽度比预定值小的脉冲时，噪声去除器把所检测的脉冲作为噪声脉冲去除。
11.根据权利要求10的盘驱动器，其特征在于，噪声去除器能够改变脉冲宽度的参考值。
12.根据权利要求6的盘驱动器，其特征在于，控制器控制参考信号，使得当计数值大于预定值时，参考信号的电平降低，当计数值小于预定值时，参考信号的电平上升。
13.一种检测在盘状存储介质上形成的预置凹坑的方法，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑用来表示地址信息，该方法包括下列步骤从反射光信息生成一个推挽信号，该反射光信息是用激光束照射盘状存储介质时得到的；比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；以及基于输出检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除检测到的噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号。
14.一种检测在盘状存储介质上形成的预置凹坑的方法，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑用来表示地址信息，该方法包括下列步骤从反射光信息生成一个推挽信号，该反射光信息是用激光束照射盘状存储介质时得到的；比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；对于每个预定周期间隔，对输出检测信号中包括的脉冲数量进行计数；以及根据计数器的计数值改变参考信号。
15.一种检测在盘状存储介质上形成的预置凹坑的方法，以摆动的方式在盘状存储介质上形成用作记录轨迹的凹槽，在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑用来表示地址信息，该方法包括下列步骤从反射光信息生成一个推挽信号，该反射光信息是用激光束照射盘状存储介质时得到的；比较推挽信号与参考信号，并将比较结果输出为预置凹坑检测信号；基于输出检测信号中包括的一个脉冲的脉冲宽度来检测噪声脉冲，从检测信号去除噪声脉冲，并输出不包括噪声脉冲的检测信号；对于每个预定周期间隔，对输出检测信号中包括的脉冲数量进行计数；以及根据计数器的计数值改变参考信号。
全文摘要
在盘状存储介质上具有形成记录轨迹的摆动凹槽，以及通过在相邻凹槽之间的槽脊上形成预置凹坑而记录的地址信息，在这样的存储介质上检测推挽信号。将检测到的推挽信号与参考电压比较，从而生成槽脊预置凹坑检测信号。对于槽脊预置凹坑检测信号中包括的脉冲，那些宽度小的脉冲被当成噪声脉冲而去除，从而获得修正的槽脊预置凹坑检测信号。对槽脊预置凹坑检测信号中包括的脉冲数进行计数，根据脉冲计数控制参考电压。
文档编号G11B27/19GK1497543SQ20031010066
公开日2004年5月19日 申请日期2003年10月9日 优先权日2002年10月10日
发明者佐野达史, 幸, 番场光幸, 三好俊匡, 匡 申请人:索尼株式会社