专利名称：介质评估方法及设备、信息再现设备及再现和记录方法
技术领域：
本发明涉及诸如形成有摆动光道的光盘之类的信息存储介质。本发明还涉及评估这种信息存储介质的质量的信息存储介质评估方法和信息存储介质评估设备。本发明涉及从这种信息存储介质再现信息的信息再现设备和信息再现方法。此外，本发明涉及把信息记录在这种信息存储介质上的信息记录设备。
背景技术：
众所周知，近年来，作为能够实现高密度信息记录的光盘，可从市场上买到4.7GB的单层/单面光盘。例如，可获得作为只读光盘的DVD-ROM，和可重写的DVD+RW(ECMA-337)，DVD-RW(ECMA-338)及DVD-RAM(ECMA-330)。
在每个光盘的透明基体上形成信息记录层。这种光盘的信息记录层具有称为“凹槽”的引导槽。沿着该引导槽进行相对于光盘的信息记录/再现。通过把激光束聚焦到信息记录层的引导槽上，信息被记录在该引导槽上，或者再现记录在引导槽上的信息。
例如，用于指定将记录/再现信息的空间位置的物理地址被记录在DVD-RAM上。例如，形成这些物理地址，从而阻断引导槽。
相反，在+RW光盘上，利用径向轻微摆动引导槽的凹槽摆动调制(下面称为摆动调制)，物理地址反映在引导槽上。这种方法对应于要记录的信息(物理地址)，改变摆动相位，在日本专利申请KOKAI公开No.10-283738中公开了其技术。由这种摆动调制记录的物理地址并不阻断记录光道。即，摆动调制记录的物理地址不限制光盘上用户信息的记录区。从而，摆动调制能够保证高的格式化效率，并且能够容易地实现与只读介质的兼容性。
通过光学再现凹槽摆动形成的摆动信号的质量的一种已知评价措施是摆动信号的窄带信号/噪声比(NBSNR)。该值被用于评价携带摆动信号的载波的振幅与噪声振幅的比值，并表示随着NBSNR增大，解调率增大。NBSNR也被称为载波/噪声比(CNR)。
通常，通过把摆动信号输入频率分量分析设备，例如频谱分析仪等，并计算载波频率峰值和载波频率附近的噪声电平之间的差值，测量摆动信号的NBSNR。但是，当摆动信号包含调制分量时，载波频率的峰值低于实际的载波频率峰值。另外，调制分量的频率升高载波频率附近的信号电平。从而，当摆动信号包含调制分量时，不能准确测量摆动信号的NBSNR。
另一方面，从+RW光盘获得的摆动信号包括两个不同的分量，即非调制分量和调制分量，并且多数分量是非调制分量。为此，通过实际忽略调制分量，能够测量摆动信号的NBSNR。但是，当调制区被减小时，可记录的信息大小变小。从而，当借助摆动调制的信息的记录容量被增大时，不能使用这种方法。
为了保持高质量的摆动光道，必须准确测量摆动信号的NBSNR。如果不能准确测量摆动信号的NBSNR，则摆动光道的质量会下降。如果摆动光道质量较差，则不能正常再现在摆动光道上表现的物理地址信息。从而，不能从光盘再现正确的信息。同样地，也不能把正确的信息记录在光盘上。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种便于准确评估性能的信息存储介质评估方法和评估设备。本发明的另一目的是提供一种借助摆动信号的准确性能评估，形成有高质量摆动光道的信息存储介质。本发明的另一目的是提供一种信息再现设备和信息再现方法，所述信息再现设备和方法能够从借助摆动信号的准确性能评估，形成有高质量摆动光道的信息存储介质再现正确信息。本发明的又一目的是提供一种信息记录方法，所述信息记录方法能够在借助摆动信号的准确性能评估，形成有高质量摆动信号光道的信息存储介质上记录正确的信息。
根据本发明的实施例，提供一种评估信息存储介质的信息存储介质评估方法，所述信息存储介质包括摆动光道，所述摆动光道用于引导光束，并对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息，所述方法包括使从照射摆动光道的光束的反射光线获得的，与摆动光道对应的再现信号平方(自乘)，并根据平方(自乘)再现信号的频率特性，评估摆动光道的质量。
根据本发明的实施例，提供一种评估信息存储介质的信息存储介质评估设备，所述信息存储介质包括摆动光道，所述摆动光道用于引导光束，并对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息，所述信息存储介质评估设备包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光的检测单元，根据检测单元检测的反射光，抑制来自和摆动光道对应的再现信号的噪声的滤波器单元，使滤波器单元抑制其噪声的再现信号平方的平方单元，和根据平方单元平方得到的平方再现信号的频率特性，评估摆动光道的质量的评估单元。
根据本发明的实施例，提供一种存储信息的信息存储介质，包括存储信息的信息存储区，和用于在信息存储区引导光束，并对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道，其中形成摆动光道，以致当使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，并根据平方再现信号的频率特性评估平方再现信号时，从平方再现信号的频率特性获得的峰值和噪声电平之间的差值不小于17dB。
根据本发明的实施例，提供一种从信息存储介质再现信息的信息再现设备，在所述信息存储介质上，形成对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道，从而以平方再现信号的频率特性为基础的评估结果满足预定的评估标准，通过使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，获得所述平方再现信号，所述信息再现设备包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光的检测单元，和根据检测单元检测的反射光，再现在摆动光道上反映的预定信息的再现单元。
根据本发明的实施例，提供一种从信息存储介质再现信息的信息再现方法，在所述信息存储介质上，形成对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道，从而以平方再现信号的频率特性为基础的评估结果满足预定的评估标准，通过使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，获得所述平方再现信号，所述信息再现方法包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光，和根据检测的反射光，再现在摆动光道上反映的预定信息。
根据本发明的实施例，提供一种在信息存储介质上记录信息的信息记录方法，在所述信息存储介质上，形成对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道，从而以平方再现信号的频率特性为基础的评估结果满足预定的评估标准，通过使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，获得所述平方再现信号，所述信息记录方法包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光，根据检测的反射光，再现在摆动光道上反映的预定信息，并根据再现的预定信息，在信息存储介质上记录信息。
本发明的其它目的和优点将在下面的说明中陈述，根据下面的说明，一部分其它目的和优点将是明显的，或者通过实践本发明，可了解本发明的其它目的和优点。借助下面具体指出的手段和组合，可实现并获得本发明的目的和优点。
包含在说明书中并构成说明书一部分的附解说明了本发明的优选实施例，并和上面给出的一般性描述和下面给出的优选实施例的详细说明一起说明本发明的原理。
图1是表示根据本发明一个实施例的光盘设备(信息记录/再现设备)的结构的示意方框图；图2表示了4-分PD的例子；
图3表示了根据本发明一个实施例的光盘上的光道等；图4是在根据本发明一个实施例的光盘上形成的摆动光道的放大图；图5是在根据本发明一个实施例的光盘上形成的摆动光道的顶视图；图6表示从光电检测器输出的和信号的例子；图7表示从光电检测器输出的差信号(径向推挽信号)的例子；图8表示了其中在整个光道上反映调相频率的一个例子；图9表示了其中在部分光道上反映调相频率的一个例子；图10是表示图1中所示的地址信号处理单元的结构例子的示意方框图；图11表示了未调制的，单频摆动信号的频率特性的例子；图12表示了符号间相差约为180°的二进制调相摆动信号的频率特性的例子；图13表示了以1∶4的比例包括调制区和非调制区的摆动信号的频率特性的例子；图14表示了通过使非调制的单频摆动信号平方获得的平方摆动信号的频率特性的例子；图15表示了通过使其中符号间的相差约为180°的二进制调相摆动信号平方获得的平方摆动信号的频率特性的例子；图16表示了通过使局部调制的摆动信号平方获得的平方摆动信号的频率特性的例子；图17表示了当摆动信号的相差约为160°时，通过使局部调制的摆动信号平方获得的平方摆动信号的频率特性的例子；图18是表示测量摆动信号的NBSNR的测量单元的例子的方框图；图19是表示再现信号评估设备的例子的方框图；图20表示了乘法电路中摆动信号的输入/输出比和频率之间的关系的例子；图21表示了频率双乘摆动信号的载波频率的峰值和在为载波频率两倍的频率处产生的峰值之间的关系的例子；图22表示了平方摆动信号的NBSNR的测量结果和调制摆动信号的调制出错率之间的关系的例子；图23是表示母备用制作设备的例子的方框图；图24是表示母盘制作设备进行的母盘制作过程的例子的流程图；图25是表示再现信号评估设备进行的再现信号的质量评估过程的例子的流程图；图26是说明光盘设备的再现过程的例子的流程图；图27是说明光盘设备的记录过程的例子的流程图。
具体实施例方式
下面参考
本发明的一个优选实施例。
图1是表示根据本发明一个实施例的光盘设备的结构的示意图。图1中所示的光盘设备用作信息再现设备，还用作信息记录设备。即，该光盘设备把记录数据记录在光盘D1上，并再现记录在光盘D1上的记录数据。
如图1中所示，光盘设备包括控制器10、记录信号处理电路20、激光驱动器(LDD)30、拾取头(PUH)40、光电检测器(PD)50、前置放大器60、伺服电路70、RF信号处理电路80、地址信号处理单元90等。
通过把PUH 40发出的激光束聚焦到光盘D1的信息记录层上，该光盘设备记录/再现信息。光盘D1反射的光线穿过PUH 40的光学系统，并被PD 50检测为电信号。
PD 50具有两个或更多的光电检测单元。通过合计各单元检测到的多个电信号获得的信号被称为和信号，通过各单元检测到的多个电信号的相减获得的信号被称为差信号。特别地，和信号附加有被称为RF信号的高频信息，例如用户信息等。另外，通过从光学上沿光盘的径向方向排列的各单元获得的信号的相减得到的信号被称为径向推挽信号。
图2表示了4分PD的一个例子。如图2中所示，PD 50包含4分光电检测单元51，加法器52、53和54，和减法器55。光电检测单元51检测到的四个信号中的两个由加法器52相加，剩余的两个信号由加法器53相加。加法器54把从加法器52和53输出的和信号相加，产生和信号。即，通过把光电检测单元51检测到的所有四个信号相加，获得和信号。另一方面，减法器55从加法器52输出的和信号中减去从加法器53输出的和信号，从而产生差信号。该差信号是径向推挽信号。
PD 50检测的电信号被前置放大器60放大，并被发送给伺服电路70、RF信号处理电路80和地址信号处理单元90。
伺服电路70根据PD 50检测到的电信号，产生聚焦、跟踪和倾斜伺服信号等，并把这些伺服信号输出给PUH 40的聚焦、跟踪和倾斜致动器。
RF信号处理电路80主要处理PD 50检测到的电信号的和信号，从而再现记录的用户信息等。限幅(slice)方法或PRML(部分响应最大似然)方法可被用作这种情况下的解调方法。
地址信号处理单元90通过处理PD 50检测到的电信号，读出指示光盘上的记录位置的物理地址信息，并把该信息输出给控制器10。控制器10根据该地址信息，读出所需位置的用户信息等，或者把用户信息等记录在所需位置。这种情况下，用户信息被记录信号处理电路20调制成适合于光盘记录的信号。例如，应用诸如(1，10)RLL、(2、10)RLL之类的调制规则。RLL是游程长度限制(runlength)的缩写，(1，10)RLL是用于把通道位“0”的游程长度的上限限制为10，把游程长度的下限限制为1的规则。即，在按照条件(1，10)RLL记录的光盘上，通道位“0”在1～10的游程范围内连续出现。类似地，在按照条件(2，10)RLL记录的光盘上，通道位“0”在2～10的游程范围内连续出现。
根据本发明一个实施例的光盘D1包含透明基体，和堆叠在该透明基体上的信息记录层。如图3中所示，光盘D1(信息记录层)包括信息记录区D12，信息记录区D12包括称为凹槽的引导槽(光道D13)。引导槽被称为光道(track)，沿该光道进行信息记录/再现。光道包括螺旋光道D13和由多个同心圆形成的同心光道，螺旋光道D13从光盘的内圆周延伸到光盘的外圆周，如图3中所示。
图4表示图3中所示的光道D13的局部放大部分D13a。如图4中所示，光道D13由信息记录层的凹陷部分和凸起部分形成。凹陷部分被称为凹槽(凹槽光道GT)，凸起部分被称为凸台(land)(凸台光道LT)。凸台-凹槽方法，以及凹槽(凸台)方法都可用作记录方法。图4表示了凸台-凹槽方法的一个例子。如图4中所示，凸台-凹槽方法既在凸台光道LT上，又在凹槽光道GT上记录信息(记录标记RM)。相反，凹槽(凸台)记录方法只在任意一种光道上记录信息。本发明可适用于这两种方法。
图5是在光盘上形成的光道的顶视图。如图5中所示，交替形成凹槽光道GT和凸台光道LT。即，在凹槽光道GT1和GT2之间形成凸台光道LT1，在凸台光道LT1和LT2之间形成凹槽光道GT2。
在本发明的光盘上形成的光道(凹槽光道GT和凸台光道LT)沿径向方向轻微摆动。这种光道被称为摆动光道D13。通过沿摆动光道D13，扫描聚焦射束点，射束点沿着摆动光道的中心，几乎直线前进，因为摆动频率高于跟踪伺服信号的频带。此时，和信号几乎保持不变，如图6中所示。相反，径向方向上的差信号，即径向推挽信号对应于摆动变化，如图7中所示。这种信号被成为摆动信号。摆动信号被用于调整主轴的旋转频率，参考记录时钟，记录物理地址信息等等。
本发明的光盘形成有对应于频率摆动的摆动光道，在预定的计时调制频率的相位，以便反映诸如物理地址信息之类的管理信息。即，可从对应于在光盘上形成的摆动光道获得的摆动信号，再现诸如物理地址信息之类的管理信息。例如，形成对应于图8或9中所示的调相频率摆动的摆动光道。图8表示了在整个光道内反映调相频率的例子。图9表示在光道的指定部分上反映调相频率，在其它部分上反映非调相频率的例子。在任一情况下，地址信息处理单元90能够读取在光道上表现的诸如物理地址信息之类的管理信息。如图10中所示，地址信息处理单元90包括带通滤波器91、摆动PLL 92、符号时钟发生器93、相位比较器94、低通滤波器95、二进制化装置96和地址信息处理电路97。地址信息处理单元90从自PD 50供给的径向推挽信号读取在摆动光道上反映的诸如物理地址信息之类管理信息。
图11表示非调制、单频摆动信号的频率特性。该频率特性在摆动信号的载波频率(f1)具有峰值，其它部分对应于噪声分量。如图11中所示，通过计算峰值和噪声电平之间的差值，能够测量NBSNR(或者CNR)。
图12表示符号间的相差约为180°的二进制调相摆动信号的频率特性。该频率特性在载波频率(f2)附近上升，但是峰值产生于载波频率的两侧，由于调制分量的影响，这些峰值的周围部分也被升高。于是，和图11不同，不能测量摆动信号的NBSNR。
图13表示了以1∶4的比例包括调制区和非调制区的摆动信号的频率特性。由于出现长的非调制区，因此该频率特性具有位于载波频率(f3)的峰值，但是由于调制分量的影响，峰值被减小，其周围部分被升高。于是，这种情况下，和图12中相同，不能准确地测量摆动信号的NBSNR。
为了准确测量摆动信号的NBSNR，本发明定义平方(squared)摆动信号的NBSNR。平方摆动信号的NBSNR根据摆动信号的平方结果的频率特性，指示噪声电平和在为摆动载波频率两倍的频率处出现的峰值之间的差值。
图14表示通过使非调制单频摆动信号平方获得的平方摆动信号的频率特性。图15表示通过使符号间的相差约为180°的二进制调相摆动信号平方获得的平方摆动信号的频率特性。图16表示通过使局部调制摆动信号平方得到的平方摆动信号的频率特性。从图14、15和16可看出，每个平方摆动信号具有简单的频率特性，这些频率特性只在2×f1、2×f2或2×f3具有一个峰值。通过平方摆动信号，这将只抽取摆动信号的载波分量。于是，当平方频率特性中，噪声电平和在为载波频率两倍的频率处出现的峰值之间的差值被计算成平方摆动信号的NBSNR，并估计平方摆动信号的该NBSNR时，能够认识摆动信号的准确性能。另外，由于平方摆动信号的NBSNR采取通过从平方前的摆动信号的NBSNR减去6dB获得的数值，因此通过使平方摆动信号的测量NBSNR增加6dB，能够估计NBSNR。但是，当利用电路测量平方摆动信号的NBSNR时，由于噪声等的影响，出现约7dB的差异。
另外，和标准的NBSNR相比，平方摆动信号的NBSNR允许更详细地评估摆动信号的性能。通常，在调制摆动信号的性能评价中，除了前面提及的载波的NBSNR之外，必须估计符号之间的相差。其原因如下。例如，当对其中符号间的相差约为180°的二进制调相摆动信号解调时，如果实际摆动信号的相差被减小到等于或小于180°，则解调时的解调出错率增大。
图17表示当摆动信号的相差被降低到约160°时，通过使局部调制的摆动信号平方获得的平方摆动信号的频率特性。如果相差为180°，那么通过平方，可从调制分量抽取载波频率，如图15或16中所示。但是，如果相差偏离180°，则不能正确地抽取载波频率。从而，峰值稍微降低，如图17中所示，并且在峰值附近产生小的凸出部分(bulge)。从而，测量的平方摆动信号的NBSNR降低。因此，根据平方摆动信号的NBSNR的下降，能够估计符号之间相差的偏离。这样，平方摆动信号的NBSNR不仅能够估计基本分量振幅方面的下降，而且同时能够估计调制分量的相差。
图18是表示测量对应于摆动光道获得的摆动信号的NBSNR的测量单元的例子的方框图，摆动光道和调相频率相一致地摆动。如图18中所示，测量单元100包括低噪声消除/放大器101、带通滤波器102、乘法电路(平方电路)103和频率特性测量电路(频谱分析仪)104。通过结合图18中所示的测量单元100和图1中所示的光盘设备1，可形成图19中所示的再现信号评估设备。例如，当测量单元100与光盘设备连接，以致图1中所示的前置放大器60的输出被输入测量单元100的低噪声消除/放大器101，并且测量单元100的频率特性测量单元104的输出被输入图1中所示的控制器10时，可形成图19中所示的再现信号评估设备。
即，再现信号评估设备的低噪声消除/放大器101接收从前置放大器60输出的径向推挽信号，即摆动信号。低噪声消除/放大器101消除包含在摆动信号中的DC分量，并恰当地放大摆动信号。随后，低噪声消除/放大器101把该摆动信号提供给带通滤波器102。带通滤波器102消除包含在接收的摆动信号中的额外的频率分量，并把该摆动信号提供给乘法电路103。注意额外的频率分量意谓充分与载波频率分离的频率分量。平方电路103使接收的摆动信号平方(square)(自乘(double-multiple))，以便产生，例如平方摆动信号，并把平方摆动信号提供给频率特性测量电路104。频率特性测量电路测量平方摆动信号的NBSNR。
此外，为了准确测量平方摆动信号的NBSNR，该测量单元具有下述特征。第一特征在于低噪声消除/放大器101和乘法电路103的频带。低噪声消除/放大器101和乘法电路103具有为要测量的摆动信号的载波频率6倍或以上的频带，如图20中所示。更具体地说，如果摆动信号的载波频率约为700kHz，则低噪声消除/放大器101和乘法电路103中的输入信号和输出信号的振幅(电平)比降低3dB的频率约为4～5MHz。
第二特征在于包含在平方摆动信号中的载波分量的残余电平。当理想的正弦波被平方时，该正弦波中在预定频率(f1、f2、f3)出现的峰值电平在平方信号中，将在为预定频率两倍的频率处出现(2×f1、2×f2、2×f3)。即，从摆动信号的频率特性获得的位于预定频率的峰值电平出现于平方摆动信号的频率特性中，为预定频率两倍的频率处。但是，实际上，由于摆动信号的残余噪声或DC分量的缘故，不仅峰值电平只出现于为载波频率两倍的频率处，而且还出现对应于载波频率的残余电平的峰值电平(残余峰值电平)。在平方摆动信号的NBSNR的测量中，对应于载波频率的残余电平的这种峰值电平变成噪声。为此，频率特性测量电路104必须充分减小这种残余载波分量。因此，如图21中所示，频率特性测量电路104把对应于平方信号的载波频率的残余电平出现的峰值电平设置成比在为载波频率两倍的频率处出现的原始峰值电平低30dB或者更大。换句话说，调整诸如频率特性、延迟之类的电路特性，以使残余峰值电平变得比在为预定频率两倍的频率处出现的原始峰值电平低30dB或更大。更具体地说，当输入理想的正弦波时，输出信号的第一和第二峰值之间的差值变成30dB或更大。这样，能够准确地测量平方摆动信号的NBSNR。
第三个特征在于平方之后的振幅降低率。通常，当正弦波被平方时，其振幅几乎被减半。从而，CNR显然降低约6dB。但是，如果电路的延迟和频率特性较差，则平方后振幅的降低量增大。如果降低量较大，则难以准确地测量平方摆动信号的NBSNR。于是，当收到单频摆动信号，或者通过把噪声分量加入理想的正弦波得到输入信号时，频率特性测量电路104被调整，从而原始信号的NBSNR值和平方信号的NBSNR值之间的差值为7dB或更小。即，当输入NBSNR＝30dB的非调制正弦波时，平方正弦信号的NBSNR变成23dB或更大。通过满足上述三个特征中的至少一个特性，能够准确地测量平方信号的NBSNR。
图22表示了平方摆动信号的NBSNR的测量结果和调制摆动信号的解调出错率之间的关系。摆动信号的解调出错率由，例如图1和10中所示的地址信息处理单元测量，平方摆动信号的NBSNR由，例如图18中所示的测量单元测量。
当将从摆动信号获得物理地址信息或类似信息时，通常要求摆动信号的解调出错率为1.0×10-3或更小。如果发生大于该出错率的解调错误，则不能准确地读出地址信息。从而，不能读出用户信息，信息会被记录在错误的记录目的地(地址)。相反，如果解调出错率为1.0×10-3或更小，则借助纠错或者通过确认相邻地址的连续性，几乎能够准确地确定物理地址。
从图22可看出，为了确保1.0×10-3的解调出错率或更可靠，要求平方摆动信号的NBSNR的最小值为17dB或更大。此时，平方前的NBSNR要求约为23dB～24dB。更具体地说，当从图3中所示的信息存储介质的摆动光道获得的频率特性的平方摆动信号的NBSNR为17dB或更大时，可在该信息存储介质上准确确定物理地址。
当测量平方摆动信号的NBSNR时，测量电路会产生约1dB的误差或读取误差。为此，18dB或更大的平方摆动信号的NBSNR最好被保证为测量值。即，当从图3中所示的信息存储介质的摆动光道获得的频率特性的平方摆动信号的NBSNR的测量结果为18dB或更大时，即使发生读取误差等时，也能可靠地保证17dB或更大的平方摆动信号的实际NBSNR。从而，在信息存储介质上，能够准确地确定物理地址。
当在摆动信号上反映地址信息等时，通常难以和地址信息一起反映纠错码，或者通常要求在不考虑相邻地址的连续性，以便提高访问速度的情况下，确定单一物理地址的读取准确性。这种情况下，必须确保1.0×10-5或更小的解调出错率。图22中的关系显示为了保证1.0×10-5或更小的解调出错率，要求19dB或更大的平方摆动信号的NBSNR。即，当从图3中所示的信息存储介质的摆动光道获得的频率特性的平方摆动信号的NBSNR为19dB或更大时，能够准确地保证物理地址，并且即使该信息存储介质不具有任何纠错码，在该信息存储介质上，也允许对所需地址的高速访问。
图23是表示作为生产图3中所示的信息存储介质的制造系统一部分的母盘制作设备的例子的方框图。利用母盘制备，压模制备，模制，介质膜形成和粘附工艺制备本发明的光盘。在母盘制备工艺中，在平直的母盘D0上涂覆保护层，并利用图23中所示的母盘制作设备使母盘D0曝光。此外，借助显影除去曝光的保护层，从而制备具有和最终的光盘介质的信息记录层相同的三维图案的母盘。在压模制备工艺中，在母盘上涂覆Ni镀层等，形成足够厚的金属盘，剥离母盘的外皮，制备压模。此时，在压模上形成的三维图案被反转成在母盘上形成的三维图案。在模制工艺中，通过把压模用作模子，注入诸如聚碳酸酯之类的树脂，从而模制基体。通过复制压模的三维图案，得到模制基体表面上的三维图案，即，基体具有和母盘的三维图案基本相同的三维图案。随后，借助溅射等，在该三维图案上形成记录材料薄膜，把另一基体粘附到该基体上以保护形成的薄膜，从而完成光盘D1。即，摆动光道D13由图23中所示的母盘制作设备记录。
如图23中所示，母盘制作设备包括控制器110、格式化器120、摆动控制电路130、激光器驱动器(LDD)140、光学系统单元150、光电检测器(PD)160、伺服电路170和主轴浮动块180。
图24是表示母盘制作设备的母盘制作过程的概观的流程图。控制器110控制整个母盘制作过程。格式化器120获得物理地址信息(ST11)。根据从格式化器120输出给LDD 140的信号，控制光学系统单元150发出的激光束的量。激光束通过包含在光学系统单元150中的AO调制器，物镜等，到达母盘D0。伺服电路170控制发射光束的聚焦、寻道等，以及光盘的旋转等。母盘D0上受到激光束照射的一部分被曝光，变成引导槽(凹槽光道)或类似物。
格式化器120根据要记录在光盘上的物理地址信息等，把信号输出给摆动控制电路130。通过光学系统单元中的AO调制器等，摆动控制电路130能够沿着径向方向，轻微地移动到达母盘的激光束的光点。即，摆动控制电路130控制光学系统单元中的AO调制器等，以致从在光盘上形成的摆动光道获得的平方摆动信号的NBSNR变成17dB或更大(ST12)。重复步骤ST11和ST12，直到在光盘的整个表面上形成摆动光道为止(ST13)。利用前述母盘制作过程制备的光盘成为能够从其准确读取物理地址的信息存储介质。
下面，参考图25说明再现信号评估设备进行的再现信号的质量评估。如上所述，通过组合图18中所示的测量单元和图1中所示的光盘设备，形成再现信号评估设备。PUH 40用光束照射光盘D1的摆动光道D13(ST21)。PD 50检测摆动光道D13反射的光线(ST22)。根据PD 50检测的信号产生的径向推挽信号，即摆动信号被输入图18中所示的测量单元。测量单元的平方电路103使摆动信号平方自乘(ST23)。频率特性测量电路104根据平方摆动信号的频率特性，检查该平方摆动信号的评估结果是否满足预定的评估标准(ST24)。即，确定从平方摆动信号的频率特性获得的峰值和噪声电平之间的差值(平方摆动信号的NBSNR)是否为17dB或更大。如果满足预定的评估标准，即，如果平方摆动信号的NBSNR为17dB或更大(ST25，是)，则确定摆动光道的质量不会造成任何问题(ST26)。从而，可从光盘的摆动光道准确读取物理地址。相反，如果不满足预定的评估标准，即，如果平方摆动信号的NBSNR小于17dB(ST25，否)，则确定摆动光道的质量会造成问题(ST27)。从而，不能从光盘的摆动光道准确读取物理地址。
下面参考图26说明图1中所示的光盘设备进行的再现过程。要经历再现的光盘是借助前述母盘制作工艺制备的，并由再现信号质量评估过程确定其摆动光道的质量不会造成任何问题的光盘。PUH 40用光束照射光盘D1的摆动光道D13(ST31)。PD 50检测摆动光道D13反射的光线(ST32)。根据PD 50检测的信号产生的径向推挽信号，即摆动信号被输入地址信号处理单元90。另一方面，根据PD 50检测的信号产生的和信号，即RF信号被输入RF信号处理电路80。地址信号处理单元90根据摆动信号再现物理地址信息(ST33)。RF信号处理电路80根据RF信号再现记录的数据。该光盘是借助前述母盘制作工艺制备的，并由再现信号质量评估过程确定其摆动光道的质量不会造成任何问题的光盘。从而，由于从该光盘的摆动光道读出正确的地址，因此能够准确地读出目标信息。重复步骤ST31～ST33，直到完成目标数据的再现过程为止(ST34)。
下面参考图27说明图1中所示的光盘设备进行的记录过程。要经历再现的光盘是借助前述母盘制作工艺制备的，并由再现信号质量评估过程确定其摆动光道的质量不会造成任何问题的光盘。PUH 40用光束照射光盘D1的摆动光道D13(ST41)。PD 50检测摆动光道D13反射的光线(ST42)。根据PD 50检测的信号产生的径向推挽信号，即摆动信号被输入地址信号处理单元90。地址信号处理单元90根据摆动信号再现物理地址信息(ST43)。根据再现的物理地址信息，识别目标记录位置，PUH40把记录数据记录在识别的目标记录位置(ST44)。该光盘是借助前述母盘制作工艺制备的，并由再现信号质量评估过程确定其摆动光道的质量不会造成任何问题的光盘。从而，由于从该光盘的摆动光道读出正确的地址，因此目标记录数据能够被准确地记录在目标位置。重复步骤S41～ST44，直到完成目标数据的记录过程为止(ST45)。
本领域的技术人员易于想到其它优点和修改。于是，本发明的范围并不局限于这里表示和说明的具体细节和典型实施例。因此，在不脱离由附加权利要求及其等同物限定的本发明的精神或范围的情况下，可做出各种修改。
权利要求
1.一种评估信息存储介质的信息存储介质评估方法，所述信息存储介质包括摆动光道，所述摆动光道用于引导光束，并对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息，其特征在于包括使从照射摆动光道的光束的反射光线获得的、与摆动光道对应的再现信号平方(ST21、ST22、ST23)；和根据平方再现信号的频率特性，评估摆动光道的质量(ST24、ST25、ST26、ST27)。
2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于当从平方再现信号的频率特性获得的峰值和噪声电平之间的差值不小于17dB时，确定摆动光道的质量满足预定标准。
3.一种评估信息存储介质的信息存储介质评估设备，所述信息存储介质包括摆动光道，所述摆动光道用于引导光束，并对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息，其特征在于包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光的检测单元(50)；根据检测单元检测的反射光，抑制来自和摆动光道对应的再现信号的噪声的滤波器单元(101)；使滤波器单元抑制其噪声的再现信号平方的平方单元(103)；和根据平方单元平方得到的平方再现信号的频率特性，评估摆动光道的质量的评估单元(104)。
4.按照权利要求3所述的设备，其特征在于当平方单元使预定正弦波平方，并输出平方正弦波时，从正弦波的频率特性获得的预定频率的峰值出现在平方正弦波的频率特性中两倍于预定频率的频率之处，并且评估单元具有把和从平方正弦波的频率特性获得的载波分量中的残余电平对应的残余峰值设置成和在两倍于预定频率的频率处出现的峰值相比，降低不小于30dB的特征。
5.按照权利要求3所述的设备，其特征在于当平方单元使包含噪声分量的预定正弦波平方并输出平方正弦波时，从正弦波的频率特性获得的位于预定频率的峰值出现在平方正弦波的频率特性中两倍于预定频率的频率之处，并且评估单元具有把从正弦波的频率特性获得的峰值和噪声电平之间的第一差值，与从平方正弦波的频率特性获得的峰值和噪声电平之间的第二差值之间的差值设置成不大于7dB的特征。
6.一种存储信息的信息存储介质，其特征在于包括存储信息的信息存储区(D12)；和用于在信息存储区引导光束，并对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道(D13)，其中形成摆动光道，使得当使从照射摆动光道的光束的反射光获得的、与摆动光道对应的再现信号平方，并根据平方再现信号的频率特性评估平方再现信号时，从平方再现信号的频率特性获得的峰值和噪声电平之间的差值不小于17dB。
7.按照权利要求6所述的介质，其特征在于形成摆动光道，使得从再现信号的频率特性获得的位于预定频率的峰值出现在平方再现信号的频率特性中两倍于预定频率的频率之处，并且和从平方再现信号的频率特性获得的载波分量中的残余电平对应的残余峰值比在两倍于预定频率的频率处出现的峰值低30dB以上。
8.一种从信息存储介质再现信息的信息再现设备，在所述信息存储介质上，形成对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道，从而以平方再现信号的频率特性为基础的评估结果满足预定的评估标准，通过使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，获得所述平方再现信号，其特征在于包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光的检测单元(50)；和根据检测单元检测的反射光，再现在摆动光道上反映的预定信息的再现单元(80)。
9.一种从信息存储介质再现信息的信息再现方法，在所述信息存储介质上，形成对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道，从而以平方再现信号的频率特性为基础的评估结果满足预定的评估标准，通过使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，获得所述平方再现信号，其特征在于包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光(ST32)；和根据检测的反射光，再现在摆动光道上反映的预定信息(ST33)。
10.一种在信息存储介质上记录信息的信息记录方法，在所述信息存储介质上，形成对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道，从而以平方再现信号的频率特性为基础的评估结果满足预定的评估标准，通过使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，获得所述平方再现信号，其特征在于包括检测照射形成于信息存储介质上的摆动光道的光束的反射光(ST42)；根据检测的反射光，再现在摆动光道上反映的预定信息(ST43)；和根据再现的预定信息，在信息存储介质上记录信息(ST44)。
全文摘要
根据本发明一方面的信息存储介质(D1)具有存储信息的信息存储区(D12)，和用于在信息存储区引导光束，并对应于其相位在预定计时被调制的频率摆动，以反映预定信息的摆动光道(D13)。形成摆动光道，以致当以平方再现信号的频率特性为基础的评估结果满足预定的评估标准，通过使从照射摆动光道的光束的反射光获得的，与摆动光道对应的再现信号平方，获得所述平方再现信号。
文档编号G11B7/26GK1530936SQ200410028480
公开日2004年9月22日 申请日期2004年3月12日 优先权日2003年3月12日
发明者小川昭人, 长井裕士, 士 申请人:株式会社东芝