专利名称：光信息处理设备和方法
技术领域：
本发明的实施例涉及光信息处理设备和光信息处理方法，更具体地涉 及一种能够通过利用在光信息再现中从相邻轨道再现出的读出光束来对参 考光束的寻道误差和记录介质的伺服误差进行检测和控制的光信息处理设 备和光信息处理方法。
背景技术：
近来，随着IT和多媒体产业的快速发展，需要大容量的存储设备来 存储大量的图像数据或运动图片以及测试数据。因此，对具有大存储容量 和高处理速度的全息光信息处理设备投入了很大的关注。
全息光信息处理设备是以图像页为单位来记录和再现图像信息的面 向页的存储器。全息光信息处理设备使用并行信号处理方案按照较之CD 或DVD更高的传输速度来传输数据。另外，全息光信息处理设备使用复 用方案在同一位置上记录图像信息，从而可以极大地增加存储密度。
一般而言，全息光信息处理设备使用带有轨道的盘状光信息记录介 质。沿着光信息记录介质的轨道移动的光拾波器在轨道的记录区域中记录 数据，并从轨道的记录区域中再现出数据。
为了增加全息光信息处理设备的可靠性，必须使误码率(BER)，艮卩， 数据再现中的错误数据最小化。
为了使BER最小化，需要沿着轨道的中心准确地进行参考光束的寻 道。另外，需要在记录介质上准确地执行参考光束的角度伺服。
在H. Horimai的题为"Optical Information Recording Apparatus And Optical Information Reproducing Apparatus "的美国专禾U申请公报 No.2005/0030875中公开了检测寻道误差的方法的示例。在该专利文献中， 分开地设置了用于再现数据的光源和用于获得伺服信号的光源。另外，通
过光电二极管等来检测从预先记录在光信息记录介质上的凹坑反射回来的 光束，并使用该光束来获得寻道误差信号。
在日本的Optware公司提交的题为"Optical Information Recording Apparatus And Optical Information Reproducing Apparatus"的美国专禾U申请 公报No.2005-0030876中公开了检测角度伺服误差的方法的示例。在该专 利文献中，使用了角度伺服控制的单独激光源。
在光信息的再现中，需要准确地检测寻道误差和角度伺服误差。
可以根据记录区域的衍射效率或相邻影响来改变对(基于从光信息记 录介质再现或反射的光束的强度而获得的)寻道误差信号的灵敏度。
另外，如果寻道误差信号相对于原点(该原点对应于不存在寻道误差 的情况)不具有对称性，则需要执行复杂的计算和校准处理来确定寻道误 差。
另外，由于使用了这种单独的激光源来执行角度伺服控制，所以用于 伺服控制的光学系统和设备变得复杂。由于用于伺服控制的激光源使用了 不同于光信息处理设备的波长，所以光信息记录介质或光信息处理设备的 构造变得更加复杂。
发明内容
本发明的实施例提供了一种能够利用简单的结构准确地对寻道误差 和角度伺服误差进行检测并对寻道和角度伺服进行控制的设备和方法。
本发明的实施例还提供了一种能够通过利用从相邻轨道再现出的读 出光束来检测和控制寻道误差的光信息处理设备和光信息处理方法。
本发明的实施例还提供了一种能够通过利用从相邻轨道再现出的读 出光束来检测和控制角度伺服误差的光信息处理设备和光信息处理方法。
本发明实施例的一个方面提供了 一种光信息处理方法，该光信息处理 方法包括以下步骤在具有多个记录区域的光信息记录介质上照射参考光 束，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕(enclose) 特定记录区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域；通过使 用所述参考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与从所述第一和
第二记录区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离；以及对所述第 一和第二相邻读出光束的强度进行检测，并比较所述第一和第二相邻读出 光束的强度，以计算光信息再现误差。
本发明实施例的另一个方面提供了一种光信息处理方法，该光信息处 理方法包括以下步骤在具有多个记录区域的光信息记录介质上照射参考 光束，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕特定记录 区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域；通过使用所述参 考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与从所述第一和第二记录 区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离；以及对所述第一和第二 相邻读出光束的强度进行检测，并比较所述第一和第二相邻读出光束的强 度，以计算寻道误差。
本发明实施例的又一个方面提供了一种光信息处理方法，该光信息处 理方法包括以下步骤对从光信息记录介质的第一轨道再现出的第一相邻 读出光束和从该光信息记录介质的第二轨道再现出的第二相邻读出光束进 行检测；以及进行以下计算，将计算结果作为寻道误差用所述第一相邻 读出光束的强度误差和所述第二相邻读出光束的强度误差之和除以所述第 一相邻读出光束的强度和所述第二相邻读出光束的强度之和。
本发明实施例的又一个方面提供了一种光信息处理方法，该光信息处 理方法包括以下步骤在具有多个记录区域的光信息记录介质上照射参考 光束，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕特定记录 区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域；通过使用所述参 考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与从所述第一和第二记录 区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离；以及对所述第一和第二 相邻读出光束的强度进行检测，并比较所述第一和第二相邻读出光束的强 度，以计算角度伺服误差。
本发明实施例的又一个方面提供了 一种光信息处理设备，该光信息处 理设备包括用于发射光束的光源；用于将所述光束分为参考光束和信号 光束的偏振分束器；光学系统，其将所述参考光束照射在具有多个记录区 域的光信息记录介质上，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，
以围绕特定记录区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域； 相邻光束分离器，其通过使用所述参考光束对从所述特定记录区域再现出 的读出光束与从所述第一和第二记录区域再现出的第一和第二相邻读出光 束进行分离；光信息检测器，其从所述读出光束中检测光信息；第一和第 二光电探测器，其用于探测分别从所述第一和第二记录区域再现出的第一 和第二相邻读出光束；以及信号处理单元，其接收由所述第一和第二光电 探测器探测到的读出光束的强度并计算光信息再现误差。
通过参照附图来详细地描述本发明的示例性实施例，本发明实施例的
上述和其他特征和优点将变得更明显，在附图中
图1是例示了根据本发明实施例的光信息处理设备的结构的视图； 图2是例示了根据本发明实施例的光信息处理设备的信号处理单元的
视图3是例示了光信息记录介质上的轨道的示例的示意图； 图4是例示了由光电探测器探测到的用于检测寻道误差的读出光束的 示意图5是例示了在有寻道误差的情况下由光电探测器探测到的读出光束 的示意图6是例示了在有寻道误差的情况下读出光束的强度函数的曲线图； 图7至图9是例示了由光电探测器的光电二极管探测到的读出光束的 强度的视图10至图12是例示了寻道误差的曲线图13至图15是例示了根据效率变化的寻道误差的曲线图16至图18是例示了根据效率变化的寻道误差的曲线图19是例示了光信息记录介质上的轨道的示例的示意图20是例示了由光电探测器探测到的用于检领得道误差的读出光束 的示意图21例示了由光电探测器探测到的用于检测伺服误差的相邻读出光
9
束的强度的曲线图22是例示了在检测到伺服误差的情况下对于读出光束的时间延迟 的补偿的曲线图；而
图23是例示了根据本发明另一实施例的光信息记录再现设备的示意图。
具体实施例方式
下面将参考附图详细地描述根据本发明的示例性实施例。相同的标号 表示相同的组件。
参照图l，光信息处理设备100包括光学系统110、相邻光束分离器 150、光信息检测器160、光电探测器170和信号处理单元180。
光学系统110包括光源112和复用器114。光源112产生的参考光束 通过复用器114照射在光信息记录介质200上。复用器114通过调节参考 光束在光信息记录介质200上的入射角来执行角度复用。复用器114可以 用诸如Galvano反射镜的旋镜来构造。
光信息记录介质200包括记录有(或待记录)光信息的记录区域。当 参考光束照射在记录区域上时，形成在记录区域上的干涉图案使参考光束 发生衍射，从而产生读出光束。光信息记录介质200为盘状，并包括多个 圆形轨道。每个轨道都包括多个记录区域。
参照图3，从光信息记录介质200的中心按照向外的方向依次布置有 轨道L2、轨道L、当前轨道、轨道R和轨道R2。
当前轨道表示包括了将要再现当前数据的记录区域Rc的轨道。通过 当前寻道误差检测来对当前轨道进行寻道。当前轨道可以是光信息记录介 质200上的轨道中的任意一个。
在当前轨道的左右两侧布置有相邻轨道。轨道L (第一相邻轨道)和 轨道L2依次布置在当前轨道的左侧。轨道R (第二相邻轨道)和轨道R2 依次布置在当前轨道的右侧。这里，左侧表示当前轨道的一侧，而右侧表 示当前轨道的另一侧。但是，左右侧并不限于图3中示出的两侧。
如上所述，每个轨道都包括记录区域Rc、 Rp Ru、 Rr和Rr2。图3
中示出了其中一个记录区域Rc，还类似地示出了Rp Rl2、 Rk和Rr2。但 是实际上，沿着当前轨道布置有多个记录区域Rc,还类似地布置有Rl、
RU、 Rr和Rr2。在记录区域Rc、 R。
RL2、 Rll和RR2中记录有参考光束
和信号光束的干涉图案。当参考光束照射在记录区域Rc、 Rl^、 Ru、 Rr和
RR2上时，干涉图案使参考光束发生衍射，从而产生了与记录时所使用的
信号光束相同的读出光束。
如果参考光束照射在当前轨道的记录区域Rc上，则充分地再现出原
始数据。但是，根据本发明实施例，参考光束照射在相邻轨道以及当前轨
道上。更具体地说，参考光束照射在当前轨道和相邻轨道上，即，轨道L 和轨道R上。因此，当前轨道的记录区域Rc以及轨道L和R的记录区域
RL和RR被同时照射。
但是，参考光束需要完全围绕轨道L的记录区域&或轨道R的记录 区域Rr。可以这样来照射参考光束，使之比当前轨道的记录区域Rc更宽， 并与相邻轨道交叠。例如，可以按照与轨道L或轨道R部分交叠的方式来 照射参考光束。作为另一示例，可以按照与轨道L和L2或轨道R和R2 部分交叠的方式来照射参考光束。
由于照射的参考光束的大小比当前轨道的记录区域Rc更宽，所以由 参考光束再现出的读出光束包括了从记录区域Rc再现出的读出光束和从 相邻轨道再现出的读出光束。S卩，当按照与轨道L或轨道R交叠的方式来 照射参考光束时，读出光束包括了从当前轨道的记录区域Rc再现出的读 出光束、从轨道L的记录区域RL再现出的读出光束以及从轨道R的记录 区域RR再现出的读出光束。下面，把从当前轨道的记录区域Rc再现出的 读出光束称为主读出光束，把从相邻轨道的记录区域再现出的读出光束称 为相邻读出光束。
为了便于描述，将当前轨道的记录区域Rc、轨道L的记录区域RL和 轨道R的记录区域RR在垂直于轨道方向的直线上对齐。但是，当前轨道 的记录区域Rc、轨道L的记录区域Rl和軌道R的记录区域Rr可以不在 直线上对齐(参见图19)。
回到图1，由参考光束再现出的读出光束穿过第一透镜122，随后将
照射到偏振分束器124上。偏振分束器124使P偏振光束透过而使S偏振 光束反射。P偏振光束和S偏振光束相互垂直。这里，P偏振和S偏振并 不表示绝对偏振状态。
偏振分束器124分出的P偏振读出光束穿过波片(四分之一波片)126 而变为圆偏振光束。第二透镜128将读出光束聚焦在相邻光束分离器150 上。
相邻光束分离器150具有孔径155，使得从当前轨道的记录区域Rc 再现出的主读出光束穿过。相邻光束分离器150是一种Nyquist滤波器。
穿过孔径155的主读出光束穿过第三透镜165，将由光信息检测器160 来检测。光信息检测器160可以用诸如CCD (电荷耦合器件)或CMOS (互补金属氧化物半导体)的像素阵列来构造。光信息检测器160对包含 在主读出光束中的光信息进行检测。因此，光信息检测器160可以检测当 前轨道的记录区域Rc的数据页。
在相邻光束分离器150的孔径155的周围区域上形成有反射层156， 用于反射读出光束。如果没有寻道误差，则只有主读出光束穿过孔径155， 而由反射层156来反射相邻读出光束。不能穿过孔径155的读出光束由反 射层156反射，从而读出光束照射在第二透镜128上。
穿过第二透镜128的反射读出光束穿过波片128,而从圆偏振光束变 为S偏振光束。S偏振读出光束由偏振分束器124反射，而被引导至第四 透镜129。穿过第四透镜129的读出光束照射在光电探测器170上。
光电探测器170探测读出光束的强度。光电探测器170可以用光电二 极管或光电二极管阵列来构造。信号处理单元180接收由光电探测器170 探测到的读出光束的强度的信息，来计算寻道误差。
如图3所示，信号处理单元180基于再现光信息时所再现出的相邻读 出光束的强度来计算寻道误差和角度伺服误差。信号处理单元180包括用 于对光电探测器170探测到的读出光束的强度进行测量的功率计181、用 于调节功率计181的信号的抗混叠滤波器182，以及用于确定抗混叠滤波 器182的调节信号以产生用于对复用器114和伺服控制器190进行控制的 控制信号的数字信号处理器(DSP) 183。
数字信号处理器183包括AD转换器184 (将功率计181测得的信号 转换为数字信号)、低通滤波器185 (对AD转换器184的数字信号进行滤 波，以去除不必要的信号)、误差计算器186 (分析AD转换器184的信号， 以计算寻道误差和角度伺服误差)，以及控制器187 (基于对参考光束的伺 服状态的计算来控制复用器114)。
参照图4，光电探测器170以光斑的形式来探测穿过第四透镜129的 读出光束。这里，Su、 Sl、 Sc、 Sk和Sr2分別表示从軌道L2和L、当前 轨道以及轨道R和R2的记录区域RL2、 Rl、 Rc、 Rr和RR2再现出的读出 光束的光斑。
光电探测器170包括第一光电探测器172和第二光电探测器174。第 一光电探测器172检测光斑Sl，而第二光电探测器174检测光斑SR。
第一光电探测器172被分割为两个光电二极管A和B。第一光电探测 器172在光信息记录介质200的旋转方向(或轨道方向)上被分割。可以 根据光电二极管A和B探测到的强度Pa和Pb之间的强度误差来确定光斑
St的位置误差。即，如果不存在寻道误差，则强度误差PA-PB被设为零。
因此，可以根据强度误差PA-PB的符号和大小来确定光斑Sl的位置误差。 第二光电探测器174被分割为两个光电二极管C和D。可以根据光电
二极管C和D探测到的强度Pc;和PD之间的强度误差来确定光斑Sk的位
尽管光电探测器170是用第一光电探测器172和第二光电探测器174 构成的，但它并不限于此，而是可以用一个光电探测器来构成。另外，光 电探测器170可以使用其他光检测器件而非光电二极管来构成。
现在将详细地描述寻道误差检测。
信号处理单元180基于光电探测器170探测的读出光束的强度，使用 等式1来计算寻道误差TE。 [等式1]
7!E=-
根据本发明的实施例，寻道误差TE是通过利用相邻读出光束的强度 之间的差别来获得的。相邻读出光束包括从彼此不同的两个轨道再现出的
读出光束。将寻道误差定义为从轨道L再现出的相邻读出光束的强度误 差Pa-Pb与从軌道R再现出的相邻读出光束的强度误差Pc-Pd之和除以从 轨道L再现出的相邻读出光束的强度PA+PB与从轨道R再现出的相邻读出 光束的强度Pc+Pd之和。
在没有寻道误差时，光斑Sc:穿过孔径155，而不在反射层156上反射， 这样光电探测器170就探测不到光斑Sc。另外，在相邻读出光束当中，由 第一光电探测器172来探测光斑Sl，而由第二光电探测器174来探测光斑 SR。在该情况下，Pa-Pb-0且Pc-Pd-0，这样就利用等式1获得了寻道误 差TE-0。
参照图5，如果存在寻道误差，则参考光束未准确照射在当前轨道上。 因此，主读出光束没有完全穿过孔径155,主读出光束的一部分由反射层 156反射。由于该寻道误差，光电探测器170探测到的光斑Su、 SL、 Sc、 SR和SR2的位置发生了变化。由于Pa-P"0且Pc-Pi^0,所以利用等式l 获得的寻道误差TE^0。因此，可以根据所获得的寻道误差值TE来移动
光捡波器而校正寻道误差。
现在详细地描述用于计算寻道误差的等式1。
为了准确地计算寻道误差，寻道误差函数要具有相对于原点的对称 性。原点对应于不存在误差的情况。相对于原点的对称性表示当前轨道左 右侧的寻道误差具有相同的形状。如果不存在相对于原点的对称性，则需 要根据寻道误差的符号来单独地确定光捡波器寻道误差在左右侧的移动 量，从而使寻道的控制复杂化。
另外，为了得到寻道误差的适当公式，需要降低读出光束的效率的灵 敏度。另外，寻道误差需要不容易受到读出光束的强度变化的影响。
艮P，在这样的全息光信息处理设备中，由于读出光束是通过参考光束 在干涉图案上的衍射而产生的，所以光电探测器170探测到的读出光束的 效率根据干涉图案是不均匀的。如果寻道误差的值根据读出光束的效率而 变化，则需要根据读出光束的效率对寻道误差进行重新调节，从而使寻道 的控制复杂化。
光电探测器170探测到的光斑强度的函数用f(x)来表示。光斑SL2、
SL、 SC、 SR和SR2的强度的函数分别用fL2(X)、 fL(X)、 fC(X)、 fR(X)和fR2(X)
来表示。
因为读出光束穿过作为傅立叶变换透镜的第四透镜129，所以光斑的
函数fu(X)、 fL(X)、 fC(X)、 fR(X)和fR2(X)可以假定为彼此相等。即， 42(X戶fL(X:Kc(X)-fR(X)-fR2(X)。另外，由于进行傅立叶变换，所以强度的 函数是偶函数，艮P， f(x)-f(-x)。
图6例示了光斑偏移了 xo的存在寻道误差的情况。在该情况下，强度 的函数被分为下面由等式2定义的部分。[等式2〗<formula>formula see original document page 15</formula>这里，xo表示再现光斑的移动距离，表示光斑的半径。
根据Xo的符号来确定光斑的移动方向。在实施例中，Xq的正号(+ )
表示向右移动光斑，xo的负号(-)表示向左移动光斑。因此，图4和图5
中示出的光斑的移动对应于Xo的负号(-)。第一和第二光电探测器172、 174的光电二极管A、 B、 C和D所探 测到的读出光束的强度可以根据x。的符号和光斑的效率由两个部分来表 示。 '
如果xo的符号为正，则光电二极管A、 B、 C和D所探测到的读出光 束的强度可以由等式3来表示。
<formula>formula see original document page 15</formula>
这里，"u， "b "c， "R2分别表示光斑Su、 Sl、 Sc、Sr，和Sr2
的效率。上标"+"表示X。的符号。 如果xo的符号为负，则光电二极管A、 B、 C和D所探测出的读出光 束的强度可以由等式4来表示。 [等式4〗
户〕lA
如果参考光束照射在当前轨道、轨道L和轨道R上，则光电探测器
170几乎检测不到光斑SL2和SR2。因此，//￡2 0且;^2 0。当寻道误差由 TEfPA-PB和TE2=PC-PD来表示时，等式3和4可以由等式5来表示。 [等式5]
ZE"; = TicSi +卩A -1A
在等式5中，由于7c&，所以寻道误差不具有对称性。 为了获得对称性，通过等式6来定义新的寻道误差TE3。 [等式6]
r五3 = rA+7!￡2 = (ivi^)+(尸c-p")
等式6的寻道误差TE3可利用等式4表示为等式7。 [等式7]
艮P，不论TE3的符号如何，其绝对值都彼此相等。因此，寻道误差
TE3具有对称性。
现在来描述根据读出光束的效率的寻道误差。
等式6的寻道误差TE3易于受到读出光束强度变化的影响。艮P，可以
利用光斑Sc的效率T]c，由等式8来表示光斑的效率化2, T^， "R， T!R2。 "及=^及"c
这里，ku， kt， kR， kR2是常数。通过将等式8代入等式7，寻道误差TE3 可以表示为等式9。 [等式9〗
如果存在读出光束的强度变化，则读出光束的效率发生变化，从而常
数ku，kL，kR，kR2也发生改变。艮P， 、=、+^￡,&=&+厶&。通过将改变
后的常数代入等式9，寻道误差TE3可以表示为等式10。 [等式10]
这里，A^-M^Ma，M^-77cA^0S13 —&)。从等式10可以获 得关系lAI^-lAr《卜lA7^-| = |;/CA^(&-S2)|。应注意，寻道误差TE3'
具有相对于原点的对称性。ATE3取决于AkLR。因此，尽管寻道體TE3' 具有相对于原点的对称性，但是该寻道误差可能根据读出光束的效率而改变。
通过将等式8代入等式1的寻道误差TE,寻道误差可以由等式11来
表不o
w =-
根据读出光束的效率的寻道误差的误差可以由等式12来表示。 [等式12]
<formula>formula see original document page 18</formula>这里，下面的等式得到满足。
(WAitM)OS^2)>0
因此，等式12可以由等式13来表示。 [等式13]<formula>formula see original document page 18</formula>i卿< 这里，
<1。结果，根据读出光束的效率的寻道误差的误差厶TE
先i
可以由等式14来表示 [等式14]
ZS2
艮P，由于误差ATE的上限独立于再现光斑的效率T!的变化Ak，所以 降低了对读出光柬的效率的灵敏度。因此，如果存在读出光束的强度的变 化，则寻道误差几乎不受到读出光束强度变化的影响。即，寻道误差不易 于受到读出光束强度变化的影响。
下面来描述对根据本发明实施例的寻道误差检测的仿真。 图7至图9是例示了光电探测器170的光电二极管A、 B、 C禾B D所 探测到的读出光束的强度的视图。将光斑的效率设置为1 。即，"Hu = "Hl = %
=TlR2 = 1 。
图7例示了不存在寻道误差的情况。第一光电探测器172的光电二极 管A和B所探测到的读出光束的强度彼此之间几乎没有差别。同样的是， 第二光电探测器174的光电二极管C和D所探测到的读出光束的强度彼此 之间也几乎没有差别。
图8例示了 xo的符号为负的情况。检测到的光斑朝向左侧偏移。在该 情况下，光电二极管B探测到主读出光束的光斑Sc的一部分。
图9例示了 xo的符号为正的情况。检测到的光斑朝向右侧偏移。在该 情况下，光电二极管C探测到主读出光束的光斑Sc的一部分。
图10至图12是例示了寻道误差的曲线图。图10、 11和12分别例示 了等式7的TEi、 TE3和等式1的TE。
参照图10至图12,可以理解的是，随着x改变，TE,变得相对于原 点不对称，但TE3和TE保持相对于原点对称。
图13至图15是例示了根据效率变化的寻道误差的曲线图。这里，假 定t1l2-1,ti广0.4,t!r-0.7，t)r2-1。图13、 14和15分别例示了等式7的 TE^ TE3和等式1的TE。
参照图13至图15，可以理解的是，随着x改变，TEi变得相对于原 点不对称。尽管TE3保持相对于原点对称，但其幅值发生很大变化，如图 14所示。相反，如图15所示，TE的幅值没有太大的变化。因此，寻道误 差对于读出光束的效率不敏感。
图16至图18是例示了根据效率变化的寻道误差的曲线图。这里，假 定t1l2-1，til-1.6，tir-0.8，t!r2-1。图16、 17和18分别例示了等式7的 TEi、 TE3和等式1的TE。
参照图16至图18，可以理解的是，TE保持相对于原点对称，其幅值 并未根据读出光束的效率变化而产生很大变化，这类似于图13至15所示 的情况。
现在来详细地描述角度伺服误差。
如图3所示，可以实现相邻读出光束和光电探测器170的理想布置。 艮P，在图3中，光信息理想地记录在记录介质的当前轨道、轨道L和轨道
R的记录区域Rc、 Rl和Rh上。
信号处理单元180基于光电探测器170探测到的相邻读出光束的强度
来获得由等式15定义的角度伺服误差AE。
<formula>formula see original document page 19</formula>
根据本发明的实施例，角度伺服误差AE是根据相邻读出光束的强度 之间的差而计算出的。相邻读出光束包括从彼此不同的两个轨道再现出的 相邻读出光束。将角度伺服误差AE定义为从轨道L再现出的相邻读出 光束的强度PA+PB与从轨道R再现出的相邻读出光束的强度PC+PD之间的 差除以从轨道L再现出的相邻读出光束的强度PA+PB与从轨道R再现出的 相邻读出光束的强度Pc+Pd之和。
在实际的记录介质中，形成在记录介质上的记录区域Rc、 Rl和RR 之间的距离存在误差，并且形成在轨道中的光斑的直径之间存在误差。因 此，如图19和图20所示，从当前轨道的记录区域Rc和轨道L及R的记 录区域rl及rk再现出的探测光斑在光电探测器170的探测中处于偏移的 状态。
图21例示了在图20所示状态下由第一光电探测器172和第二光电探 测器174探测到的相邻读出光束的强度的曲线图。如图21所示，可以看 出，由第一光电探测器172和第二光电探测器174检测到的相邻读出光束 的强度的最大值根据轨道的状态以预定的时间延迟出现。
因此，即使在参考光束的正常角度伺服状态下，也可以根据第一光电 探测器172和第二光电探测器174探测到的强度之间的差别而检测到角度 伺服误差。
因此，需要考虑到根据轨道状态的时间延迟来计算参考光束的角度伺 服误差以及第一光电探测器172和第二光电探测器174探测到的相邻读出 光束的强度。因此，角度伺服误差AE可以由等式16来表示。
<formula>formula see original document page 20</formula>等式16需要满足下面的条件。
<formula>formula see original document page 20</formula>
这里，T是一个记录区域通过光电探测器172或174之一所需要的时
间间隔。
可以将等式16的时间间隔T确定为图22中所示的曲线图。通过考虑 强度的噪声(被检测为根据正上升斜率和负下降斜率的时间间隔之和，该 正上升斜率和负下降斜率对应于由第一光电探测器172和第二光电探测器 174探测到的读出光束的强度的变化)，将该时间间隔设置在所检测的时间 间隔的平均值的85%至95%的范围内。
可以根据由第一 光电探测器172和第二光电探测器174探测到的相邻 读出光束的强度，来校正记录介质的倾斜状态以及复用器。
本发明的实施例并不限于上述实施例，而是可以具有各种变型。例如， 可以不使用一个光源，而是代之以使用两个或更多个光源来产生参考光束。 在该情况下， 一个光源的参考光束照射在当前轨道的记录区域上，而另一 个光源的参考光束照射在相邻轨道的记录区域上，从而可以产生读出光束。
图23是例示了根据本发明另一实施例的光信息记录再现设备的示意 图。与图l所示实施例中相同的标号表示相同的组件。
参照图23，光信息记录再现设备300包括光学系统310、相邻光束分 离器150、光信息检测器160、光电探测器170和信号处理单元180。除了 光学系统310以外，其他组件都与图l所示实施例中的相同。下面来描述 光学系统310，而省略了对相同组件的描述。
光学系统310包括光源312、分束器313、复用器314和空间光调制 器318。分束器313将光源312产生的光束分为参考光束和信号光束。参 考光束经复用器314反射，以预定的入射角照射到光信息记录介质150上。
信号光束的路径经反射镜316改变而朝向空间光调制器318传播。空 间光调制器318对输入的信息或数据进行光学调制以产生二维数据图像或 数据页。将数据页投射到信号光束上，使信号光束照射在光信息记录介质 200上。当照射参考光束和信号光束时，参考光束和信号光束之间的干涉 图案被记录在光信息记录介质200上。
再现数据时，阻断信号光束，只照射参考光束，从而根据干涉图案而 产生读出光束。
根据本发明的实施例，可以利用从相邻轨道再现出的读出光束来检测
和控制寻道误差。
另外，根据本发明的实施例，可以利用从相邻轨道再现出的读出光束 来检测和控制角度伺服误差。
权利要求
1、一种光信息处理方法，该光信息处理方法包括以下步骤在具有多个记录区域的光信息记录介质上照射参考光束，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕特定记录区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域；通过使用所述参考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与从所述第一和第二记录区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离；以及对所述第一和第二相邻读出光束的强度进行检测，并比较所述第一和第二相邻读出光束的强度，以计算寻道误差。
2、 根据权利要求1所述的光信息处理方法，其中，在计算寻道误差 的所述步骤中，进行以下计算，将计算结果作为寻道误差用所述第一相 邻读出光束的强度误差和所述第二相邻读出光束的强度误差之和除以所述 第一相邻读出光束的强度和所述第二相邻读出光束的强度之和。
3、 根据权利要求2所述的光信息处理方法，其中所述第一相邻读出光束的强度误差是两个分得的第一相邻读出 光束的强度之间的差，并且其中所述第二相邻读出光束的强度误差是两个分得的第二相邻读出 光束的强度之间的差。
4、 一种光信息处理方法，该光信息处理方法包括以下步骤 对从光信息记录介质的第一轨道再现出的第一相邻读出光束和从该光信息记录介质的第二轨道再现出的第二相邻读出光束进行检测；以及 进行以下计算，将计算结果作为寻道误差用所述第一相邻读出光束 的强度误差和所述第二相邻读出光束的强度误差之和除以所述第一相邻读 出光束的强度和所述第二相邻读出光束的强度之和。
5、 根据权利要求4所述的光信息处理方法，其中，所述第一轨道与所述第二轨道之间布置有一轨道。
6、 一种光信息处理方法，该光信息处理方法包括以下步骤 在具有多个记录区域的光信息记录介质上照射参考光束，所述多个记 录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕特定记录区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域；通过使用所述参考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与 从所述第一和第二记录区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离； 以及对所述第一和第二相邻读出光束的强度进行检测，并比较所述第一和 第二相邻读出光束的强度，以计算角度伺服误差。
7、 根据权利要求6所述的光信息处理方法，其中，所述角度伺服误 差是由于所述第一相邻读出光束的最大值与所述第二相邻读出光束的最大 值之间的时间延迟而出现的。
8、 根据权利要求7所述的光信息处理方法，其中，计算所述第一相 邻读出光束与所述第二相邻读出光束之间的时间延迟作为所述角度伺服误 差，该角度伺服误差是所述第一相邻读出光束的最大强度与所述第二相邻 读出光束的最大强度之差除以所述第一相邻读出光束的最大强度与所述第 二相邻读出光束的最大强度之和。
9、 根据权利要求6所述的光信息处理方法，其中，所述多个记录区 域以偏移预定角度的多个复用角度连续形成在多个轨道上。
10、 根据权利要求6所述的光信息处理方法，其中，所述角度伺服误 差是所述参考光束的入射角和所述记录介质的倾斜角之一。
11、 一种光信息处理方法，该光信息处理方法包括以下步骤-在具有多个记录区域的光信息记录介质上照射参考光束，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕特定记录区域以及与该特定 记录区域相邻的第一和第二记录区域；通过使用所述参考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与 从所述第一和第二记录区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离； 以及对所述第一和第二相邻读出光束的强度进行检测，并比较所述第一和 第二相邻读出光束的强度，以计算光信息再现误差。
12、 根据权利要求11所述的光信息处理方法， 其中所述光信息再现误差是轨道的寻道误差，并且其中进行以下计算，将计算结果作为所述寻道误差用所述第一相邻 读出光束的强度误差与所述第二相邻读出光束的强度误差之和除以所述第 一相邻读出光束的强度与所述第二相邻读出光束的强度之和。
13、 根据权利要求12所述的光信息处理方法，其中所述第一相邻读出光束的强度误差是两个分得的第一相邻读出 光束的强度之间的差，并且其中所述第二相邻读出光束的强度误差是两个分得的第二相邻读出 光束的强度之间的差。
14、 根据权利要求ll所述的光信息处理方法， 其中所述光信息再现误差是所述参考光束的角度伺服误差或所述记录介质的角度伺服误差，并且其中所述角度伺服误差是由于所述第一相邻读出光束的最大值与所 述第二相邻读出光束的最大值之间的时间延迟而出现的。
15、 根据权利要求14所述的光信息处理方法，其中，计算所述第一 相邻读出光束与所述第二相邻读出光束之间的时间延迟作为所述角度伺服 误差，该角度伺服误差是所述第一相邻读出光束的最大强度与所述第二相 邻读出光束的最大强度之差除以所述第一相邻读出光柬的最大强度与所述 第二相邻读出光束的最大强度之和。
16、 一种光信息处理设备，该光信息处理设备包括 用于发射光束的光源；用于将所述光束分为参考光束和信号光束的偏振分束器； 光学系统，其将所述参考光束照射在具有多个记录区域的光信息记录介质上，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕特定记录区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域；相邻光柬分离器，其通过使用所述参考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与从所述第一和第二记录区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离；光信息检测器，其从所述读出光束中检测光信息；第一和第二光电探测器，其用于探测分别从所述第一和第二记录区域 再现出的所述第一和第二相邻读出光束；以及信号处理单元，其接收由所述第一和第二光电探测器探测到的读出光 束的强度并计算光信息再现误差。
17、 根据权利要求16所述的光信息处理设备， 其中所述光信息再现误差是对轨道的寻道误差，并且 其中所述信号处理单元进行以下计算，将计算结果作为所述寻道误差用所述第一相邻读出光束的强度误差与所述第二相邻读出光束的强度 误差之和除以所述第一相邻读出光束的强度与所述第二相邻读出光束的强 度之和。
18、 根据权利要求17所述的光信息处理设备，其中所述第一相邻读出光束的强度误差是两个分得的第一相邻读出 光束的强度之间的差，以及其中所述第二相邻读出光束的强度误差是两个分得的第二相邻读出 光束的强度之间的差。
19、 根据权利要求16所述的光信息处理设备， 其中所述光信息再现误差是所述参考光束的角度伺服误差或所述记录介质的角度伺服误差，并且其中所述角度伺服误差是由于所述第一相邻读出光束的最大值与所 述第二相邻读出光束的最大值之间的时间延迟而出现的。
20、 根据权利要求19所述的光信息处理设备，其中，计算所述第一 相邻读出光束与所述第二相邻读出光束之间的时间延迟作为所述角度伺服 误差，该角度伺服误差是所述第一相邻读出光束的最大强度与所述第二相 邻读出光束的最大强度之差除以所述第一相邻读出光束的最大强度与所述
全文摘要
本发明提供了一种光信息处理设备和光信息处理方法。该光信息处理方法包括以下步骤在具有多个记录区域的光信息记录介质上照射参考光束，所述多个记录区域在轨道方向上彼此相邻地布置，以围绕特定记录区域以及与该特定记录区域相邻的第一和第二记录区域；通过使用所述参考光束对从所述特定记录区域再现出的读出光束与从所述第一和第二记录区域再现出的第一和第二相邻读出光束进行分离；以及对所述第一和第二相邻读出光束的强度进行检测，并比较所述第一和第二相邻读出光束的强度，以计算光信息再现误差。
文档编号G11B7/125GK101101770SQ20071008918
公开日2008年1月9日 申请日期2007年3月21日 优先权日2006年7月5日
发明者丁奎一, 金永 申请人:大宇电子株式会社