专利名称：光拾取器装置及光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光拾取器装置及光盘装置。
背景技术：
作为本技术领域的背景技术，例如，存在日本专利特开
2006-344344号公报(以下称为专利文献1)。在该公报中记载了 "从具 有多个记录层的光盘高精度地取得所希望的信号"。而且，还存在日本 专利特开2006-344380号公报(以下称为专利文献2)。在该公报中记 载了 "即使是在使用具有2个信息记录面的光存储介质的情况下，也 能够检测出偏移量(才7ir:y卜)小的跟踪误差信号"。进而，例如在 电子信息通信学会信学技术报CPM20005-149 (2005-10，第33页， 图4、图5)(以下称为非专利文献l)中，记载了 "将跟踪用光盘配置 于其他层没有杂散光的区域"。
在专利文献l中，其结构为，由聚光透镜聚焦光盘所反射的光束， 由聚光透镜使透过2枚1/4波长板与偏光光学元件而扩展的光聚集，照 射于检测器。因此，具有检测光学体系复杂，尺寸增大的担忧。在专 利文献2中，由于是在激光光源后配置3点生成用的衍射光栅，在盘 上照射有1个主光点与2个次光点，所以存在记录所必要的主光束的 利用率下降的担忧。
在非专利文献1中，由于是在聚焦用光检测器周围生成的聚焦用 光束的来自其他层的杂散光的外侧配置跟踪用光检测器，进而使全息 摄影元件的中央部所衍射的光从来自其他层的杂散光的外侧飞出的结 构，所以有关测器的尺寸增大的担忧。
发明内容
本发明的目的在于，提供即使是在对具有多个记录面的信息存储介质进行记录再现的情况下，也能够得到稳定的伺服信号的光拾取器 装置及装载有该光拾取器装置的光盘装置。
上述目的，可以通过权利要求中所述的发明而达到。
本发明提供一种光拾取器装置，其包括射出光束的半导体激光 器；用于将从上述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜; 对从上述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多个接受通过 上述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测器，其中，上述衍射光栅 具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，由上述光盘上的轨道所 衍射的衍射光中，只有O次衍射光入射到上述区域A， 0次、±1次衍 射光入射到上述区域B，在上述光检测器中，从在上述区域A、 B、 C 衍射的光束检测出再现信号，对在上述衍射光栅的区域A衍射的+l次 衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应上述光盘 的轨道的方向大体垂直的方向或大体平行的方向上。
根据本发明，还提供一种光拾取器装置，其包括射出光束的半 导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光 盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多 个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测器，其中，上 述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，由上述光盘 上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入射到上述区域A， 0次、 ±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光检测器中，从在上述区域A、 B、 C衍射的光束检测出再现信号，对在上述衍射光栅的区域A衍射的 + 1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应上述 光盘的轨道的方向大体垂直的方向上，并且对在上述衍射光栅的区域B 衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对 应上述光盘的轨道方向大体平行的方向上。
根据本发明还提供一种光盘装置，其搭载有，光拾取器装置，其 包括射出光束的半导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的 光束聚光并照射到光盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的 衍射光栅；和具有多个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的 光检测器，其中，上述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三 个区域，由上述光盘上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入射到上述区域A， 0次、±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光 检测器中，从在上述区域A、 B、 C衍射的光束检测出再现信号，对在 上述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1次衍射光进行检测的多 个受光面排列在与对应上述光盘的轨道的方向大体垂直的方向或大体 平行的方向上；激光器点亮电路，其驱动上述光拾取器装置内的上述 半导体激光器；伺服信号生成电路，其使用从上述光拾取器装置内的 上述光检测器检测出的信号，生成聚焦误差信号与跟踪误差信号；和 信息信号再现电路，其对记录在上述光盘的信息信号进行再现。
根据本发明还提供一种光盘装置，其搭载有，光拾取器装置，其 包括射出光束的半导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的 光束聚光并照射到光盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的 衍射光栅；和具有多个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的 光检测器，其中，上述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三 个区域，由上述光盘上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入 射到上述区域A， 0次、±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光 检测器中，从在上述区域A、 B、 C衍射的光束检测出再现信号，对在 上述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1次衍射光进行检测的多 个受光面排列在与对应上述光盘的轨道的方向大体垂直的方向上，并 且对在上述衍射光栅的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检 测的多个受光面排列在与对应上述光盘的轨道方向大体平行的方向 上；激光器点亮电路，其驱动上述光拾取器装置内的上述半导体激光 器；伺服信号生成电路，其使用从上述光拾取器装置内的上述光检测 器检测出的信号，生成聚焦误差信号与跟踪误差信号；和信息信号再 现电路，其对记录在上述光盘的信息信号进行再现。
根据本发明，能够提供即使是在对具有多个记录面的信息存储介 质进行记录再现的情况下，也能够得到稳定的伺服信号的光拾取器装 置及装载有该光拾取器装置的光盘装置。
本发明的上述及其他特征、目的与优点，能够通过以下的附图与 说明而得到更好的理解。图1是说明实施例1中的光拾取器装置与光盘的配置的图。
图2是说明实施例1中本发明的光学体系的图。
图3是表示实施例1中本发明的衍射光栅的图。
图4是表示实施例1中本发明的受光面的图。
图5是表示实施例1中2层光盘的杂散光的形状的图。
图6是说明来自2层光盘的其他层的杂散光的行为的图。
图7是说明来自2层光盘的其他层的杂散光的行为的图。
图8是表示实施例1中本发明的其他受光面的图。
图9是表示实施例1中本发明的其他衍射光栅的图。
图10是表示实施例2中本发明的受光面的图。
图11是表示实施例2中2层光盘的杂散光的形状的图。
图12是表示实施例2中本发明的其他受光面的图。
图13是表示实施例3中本发明的受光面的图。
图14是表示实施例3中杂散光的形状的图。
图15是表示实施例3中2层光盘的杂散光的形状的图。
图16是说明实施例4中光学的记录再现装置的图。
图17是说明实施例5中光学的记录再现装置的图。
具体实施例方式
以下说明本发明的实施形式。 (实施例1)
图1是表示本发明的实施例1中的光拾取器装置的一例的图。
光拾取器装置1，如图1所示，是能够由驱动机构7在光盘100 的Rad方向上驱动的机构。而且，在光拾取器装置的致动器5上，装 载有物镜2，从该物镜2向光盘照射光。从物镜2射出的光在光盘100 上形成光点，由光盘100反射。通过检测该反射光，生成聚焦误差信 号、跟踪误差信号。
在上述光拾取器装置中，图2表示光学系统。这里是对BD进行 说明，但也可以是HDDVD等其他记录方式。
从半导体激光器50作为发散光射出波长约为405nm的光束。从半 导体激光器50射出的光束，由光束分离器52所反射。还有， 一部分的光束透过光束分离器52，入射到前面监视器53。 一般地，在对 BD-RE、 BD-R等记录型的光盘记录信息的情况下，由于是对光盘的记 录面照射既定量的光，所以必须高精度地控制半导体激光器的光量， 为此，前面监视器53在对记录型的光盘记录信号时，检测出半导体激 光器50的光量的变化，反馈到半导体激光器50的驱动电路(未图示)。 由此能够监视光盘上的光量。
光束分离器52反射的光束由校准透镜51变换为大体平行的光束。 透过校准透镜51的光束入射到光束扩展器54。光束扩展器54通过改 变光束的发散/收敛状态，用于补偿由于光盘100覆盖层的厚度误差所 引起的球面像差。从光束扩展器54射出的光束被直立镜55所反射， 透过1/4波长板56之后，由致动器5上装载的物镜2聚光于光盘100。
光盘100所反射的光束，透过物镜2、 1/4波长板56、直立镜55、 光束扩展器54、校准透镜51、光束分离器52，入射到衍射光栅11。 由衍射光栅11将光束分割到多个领域，每个领域分别向不同的方向行 进，其焦点集中于光检测器10。光检测器10上形成有多个受光面，由 衍射光栅11所分割的光束照射于各个受光面，与照射到受光面的光量 相对应，从光检测器10输出电气信号，对这些输出进行计算，生成作 为再现信号的RF信号、聚焦误差信号或跟踪误差信号。
图2的衍射光栅11，成为图3的模式。实线表示区域的境界，二 点画线表示激光光束的外形，斜线部表示由光盘的轨迹所生成的推挽 模式(:/:y、乂二:7。少/《夕一y)。在图3中，区域A是由区域De、 Df、 Dg、 Dh所构成，区域B是由区域Da、 Db、 Dc、 Dd所构成，区域C 是由区域Di所构成。区域A与区域B都是对于中心轴呈轴对称，对 于与中心轴垂直的轴也呈轴对称。如图3所示，中心轴是通过区域Di 的中心，与Tan方向平行的轴。衍射光栅11的Di区域以外的分光比，
例如0次光+1次光-1次光=0: 7: 3， Di区域为0次光+1次光 -1次光=0: 1: 0。而且，光检测器10成为图4所示的模式。
这里，衍射光栅11的Da、 Db、 Dc、 Dd、 De、 Df、 Dg、 Dh、 Di 所衍射的+l次光，分别入射到图4所示的光检测器的受光面al、 bl、 cl、 dl、 el、 fl、 gl、 hl、 il， -1次光分别入射到受光面r、 s、 t、 u、 v、 e2、 f2、 g2、 h2。从受光面al、 bl、 cl、 dl、 el、 fl、 gl、 hl、 il、 r、 s、 t、 u、 v、 e2、 f2、 g2、 h2所得到的Al、 Bl、 Cl、 Dl、 El、 Fl、 Gl、 Hl、 II、 R、 S、 T、 U、 V、 E2、 H2、 F2、 G2、 H2的信号，由以下的计算而得 到聚焦误差信号、跟踪误差信号及RF信号。
公式1
FES= (R+T+V) - (S+U)
TES={ (A1+B1+E1+F1) - (C1+D1+G1+H1) }-ktx{ (E2+F2)-(G2+H2) }
RF=A 1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1 +i 1+E2+F2+G2+H2
还有，kt是物镜发生变位时不会由跟踪误差信号发生DC成分的 系数。这里，聚焦误差检测方式是刀口 (knife edge)方式，由于本方 式是共知技术，所以其说明予以省略。
图5是表示2层光盘记录/再现时的信号光与来自其他层的杂散光 的关系。(a)表示层0 (Layer0)记录/再现时的情况；(b)表示层1 记录/再现时的情况，可知，衍射光栅ll的Di区域衍射的光束以外， 受光面上的信号光与来自其他层的杂散光不重合。但是，由于从受光 面ill所检测的信号Ill，不用于跟踪误差信号的检测，仅用于再现信 号的检测，所以，即使是有杂散光，在实用上也不会出现问题。
在实际的信号检测中，为了使物镜跟踪盘上的轨迹而进行记录/再 现，需要物镜在半径方向(以下称为Rad方向)上移动(变位)。物镜 移动时，在光检测器上仅杂散光成分变化。因此，如果是通常的光检 测器的受光面图案，在物镜移动时，来自其他层的杂散光就有可能入 射到受光面。与此相比，在本发明中，通过使光检测器IO对于衍射光 栅ll的图案的最优化，能够增大物镜的移动容许量。这里所必须考虑 的是，对于透镜的移动方向，信号光与杂散光是否总得分离。关于这 一点，进行以下的说明。
图6是表示由衍射光栅区域Dh所衍射、入射到受光面hl的光束。 而且，图7是表示由衍射光栅区域Dd所衍射、入射到受光面dl的光 束。(a)、 (b)、 (c)是由光盘上光点的状态所分开，(b)表示焦点聚 集于盘的状态，(a)、 (c)表示聚焦偏离(散焦)的状态。但是，(a)、 (b)、 (c)的关系与受光面的位置无关。这里，对散焦进行说明，是由于能够解释为杂散光在不是焦点位置的地方反射的散焦光。
比较图6与图7可知，由散焦引起的移动方向不同。图6的Dh所 衍射的光束，是由散焦而向盘的轨迹方向(以下称为Tan方向)移动。 与此相比，图7的Dd所衍射的光束，是向Rad方向移动。这是由于对 于衍射光栅上的光束中心15中心对称模糊，散焦的移动方向不同。因 此，按照区域而分开，避免杂散光的方法是很重要的。
在衍射光栅的区域对于光束中心15在Tan方向上离开的情况下 (Dh、 De、 Df、 Dg)，希望杂散光能够在Tan方向避开。这样避开杂 散光，即使是在物镜在Rad方向上移动的情况下，也不会入射到检测 器。因此，通过将检测衍射光栅的区域Dh、 De、 Df、 Dg所衍射的光 束的受光面在Rad方向上并排，就能够将其他区域所衍射的杂散光的 影响抑制到最小限。
接着，在衍射光栅的区域对于光束中心15在Rad方向上离开的情 况下(Da、 Db、 Dc、 Dd),希望杂散光能够在Rad方向避开。因此， 通过将检测衍射光栅的区域Da、 Db、 Dc、 Dd所衍射的光束的受光面 在Tan方向上并排，就能够将杂散光的影响抑制到最小限，同时能够 使光检测器小型化。如果在区域Da、 Db、 Dc、 Dd所衍射光束在Rad 方向上并排，物镜在Rad方向上移动的情况下，就会有杂散光入射到 受光面的问题发生。
以上，如图4所示，光检测器10能够有效地分离信号光与杂散光， 且能够使光检测器小型化。还有，这里是受光面al、 bl、 cl、 dl在Tan 方向，el、 fl、 gl、 hl及e2、 f2、 g2、 h2在Rad方向上直线配置，但 是，当然也可以是如图8所示，在Tan方向、Rad方向上不是直线配置， 如果是2个以上的受光面在Tan方向、Rad方向上并排配置，也可以取 得同样的效果。而且，衍射光栅11也可以是如图9 (a)、 (b)的模式。 进而，在本实施形式中衍射光栅是配置于光束分离器透过后，但衍射 光栅ll作为偏光衍射光栅，也可以配置于光束分离器透过前。而且， 虽然这里是对2层盘进行的说明，但也可以是2层以上的光盘。 (实施例2)
图10是表示本发明的实施例2中光拾取器装置的光学系统的光检 测器。与图1的不同之处在于，衍射光栅11的各区域的衍射方向、衍射角与光检测器10的受光面的配置不同，此外都与实施例1具有同样 的结构。
衍射光栅11成为图3所示的模式。实线表示区域的境界线，双点 画线表示激光光束的外形，斜线部表示由光盘的轨迹所生成的推挽模 式。衍射光栅11的Di区域以外的分光比，例如0次光+1次光-1 次光=0: 7: 3， Di区域为0次光+1次光-1次光=0: 1: 0。而且， 光检测器10成为图IO所示的模式。
这里，衍射光栅11的Da、 Db、 Dc、 Dd、 De、 Df、 Dg、 Dh、 Di 区域所衍射的+1次光，分别入射到图4所示的光检测器的受光面al、 bl、 cl、 dl、 el、 fl、 gl、 hl、 il， -l次光，分别入射到受光面r、 s、 t、 u、 v、 e2、 ￡2、 g2、 h2。
从受光面al、 bl、 cl、 dl、 el、 fl、 gl、 hl、 il、 r、 s、 t、 v、 u、 e2、 f2、 g2、 h2所得到的Al、 Bl、 Cl、 Dl、 El、 Fl、 Gl、 Hl、 II、 R、 S、 T、 U、 E2、 H2、 F2、 G2、 H2的信号，由以下的计算而得到聚 焦误差信号、跟踪误差信号及RF信号。
式2
FES= (R+U) - (S+T)
TES={ (A1+B1+E1+F1) - (C1+D1+G1+H1) }-ktx{ (E2+F2)画 (G2+H2) }
RF=A 1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1 +i 1+E2+F2+G2+H2
还有，kt是物镜发生变位时不会由跟踪误差信号发生DC成分的 系数。这里，聚焦误差检测方式是刀口方式，由于本方式是共知技术， 所以其说明予以省略。
图11是表示2层光盘记录/再现时的信号光与来自其他层的杂散光 的关系。(a)表示层0记录/再现时的情况；(b)表示层l记录/再现时 的情况，可知，衍射光栅ll的Di区域衍射的光束以外，受光面上信 号光与来自其他层的杂散光不重合。但是，由于从受光面ill所检测的 信号Ill，不用于跟踪误差信号的检测，仅用于再现信号的检测，所以， 即使是有杂散光，在实用上也不会出现问题。
如实施例1中的说明，由于希望衍射光栅区域Da、 Db、 Dc、 Dd 所衍射的光束在Tan方向上并排，所以受光面al、 bl及cl、 dl在Tan方向上直线配置。而且，受光面el、 fl、 gl、 hl及e2、 ￡2、 g2、 h2在 Rad方向上配置。这样，将受光面分别配置于衍射光栅的每个区域，由 此能够增大物镜的移动容许量。而且，通过这样的配置还能够使光检 测器小型化。
以上，按照图10所示的方法，光检测器10能够有效地将信号光 与杂散光分离。还有，这里如图10所示，受光面el、 fl、 gl、 hl及 e2、 f2、 g2、 h2是在Rad方向上直线配置，但当然也可以是如图12所 示，受光面al、 M及cl、 dl在Tan方向上配置，受光面el、 hl及e2、 h2在Rad方向上配置，也能够取得同样的效果。而且衍射光栅也可以 是图9 (a)、 (b)所示的模式。进而，在本实施形式中衍射光栅是配置 于光束分离器透过后，但衍射光栅作为偏光衍射光栅，也可以配置于 光束分离器透过前。而且，虽然这里是对2层盘进行的说明，但也可 以是2层以上的光盘。 (实施例3)
图13是表示实施例3中光拾取器装置的光学系统的光检测器。与 图1的不同之处在于，图2的物镜与衍射光栅11之间的距离增大，此 外都与实施例1具有同样的结构。物镜与衍射光栅11之间的距离增大 时杂散光的影响因记录再现层而不同。这是由于，杂散光是L0记录/ 再现时的收敛光，Ll记录/再现时的发散光，所以存在衍射光栅11上 的杂散光的光束直径增大的影响。
例如，衍射光栅11上的信号光和杂散光的光束直径如图14所示。 (a)表示L0记录/再现时，(b)表示L1记录/再现时的情况。而且， 在各个图中，用双点划线表示信号光，杂散光用点划线46所表示。该 情况下的杂散光示于图15。图15 (a)表示LO记录/再现时，(b)表示 Ll记录/再现时的情况。可知，衍射光栅11的Di区域衍射的光束以外， 在受光面上信号光与来自其他层的杂散光不重合。但是，由于从受光 面ill所检测的信号Ill，不用于跟踪误差信号的检测，仅用于再现信 号的检测，所以，即使是有杂散光，在实用上也不会出现问题。
如图13所示，这样的结构中也可以是受光面al、 bl、 cl、 dl在 Tan方向上直线配置，受光面el、 fl、 gl、 hl及e2、 f2、 g2、 h2在Rad 方向上直线配置，能够分离杂散光，且能够使光检测器小型化。以上，即使是物镜与衍射光栅11的距离增大，光检测器10也能 够如图13所示，有效地将信号光与杂散光分离。而且，关于信号检测， 能够通过与实施例1同样的计算而得到。这里，衍射光栅11也可以是
图9 (a)、 (b)所示的模式。进而，在本实施形式中衍射光栅是配置于 光束分离器透过后，但衍射光栅ll作为偏光衍射光栅，也可以配置于 光束分离器透过前。而且，虽然这里是对2层盘进行的说明，但也可 以是2层以上的光盘。 (实施例4)
在实施例4中，对装载有光拾取器装置1的光学再现装置进行说 明。图16是光学的再现装置的概略图。光拾取器装置l，设置有能够 沿着光盘100的Rad方向而驱动的机构，根据来自访问控制电路172 的访问控制信号，进行位置控制。
从激光器点亮电路177向光拾取器装置1内的半导体激光器供给 既定的激光驱动电流，半导体激光器以对应于再现的既定光量而射出 激光。还有，激光器点亮电路177也可以组装于光拾取器装置1内。
从光拾取器装置1内的光检测器IO所输出的信号，发送到伺服信 号生成电路174及信息信号再现电路175。伺服信号生成电路174基于 来自上述光检测器10的信号，生成聚焦误差信号、跟踪误差信号及倾 斜控制信号等伺服信号，基于这些伺服信号，通过致动器驱动电路173， 驱动光拾取器装置1内的致动器，对物镜的位置进行控制。
上述信息信号再现电路175，基于来自上述光检测器10的信号， 对光盘100中记录的信息信号进行再现。
由上述伺服信号生成电路174及信息信号再现电路175所得到的 信号的一部分，发送到控制电路176。该控制电路176与主轴马达控制 电路171、访问控制电路172、伺服信号生成电路174、激光器点亮电 路177、球面像差修正元件驱动电路179等相连接，进行旋转光盘IOO 的主轴马达180的旋转控制、访问方向及访问位置的控制、物镜的伺 服控制、光拾取器装置1内的半导体激光器发光光量的控制、以及对 由盘基板厚度不同引起的球面像差的修正等。 (实施例5)
在实施例5中，对装载有光拾取器装置1的光学记录再现装置进行说明。图17是光学的再现装置的概略结构。该装置与图19中说明 的光学信息记录再现装置的不同之处在于，附加有以下的功能，在控 制电路176与激光器点亮电路177之间设置有信息信号记录电路178， 基于来自信息信号记录电路178的记录控制信号，进行激光器点亮电 路177的点亮控制，对光盘100写入所希望的信息。
以上，对本发明的光拾取器及光学信息记录再现装置的实施形式 进行了说明，但本发明并不限于此，在不脱离本发明的要旨的范围内， 能够进行各种改良与变形。
权利要求
1.一种光拾取器装置，其特征在于，包括射出光束的半导体激光器；用于将从所述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜；对从所述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多个接受通过所述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测器，其中，所述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，由所述光盘上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入射到所述区域A，0次、±1次衍射光入射到所述区域B，在所述光检测器中，从在所述区域A、B、C衍射的光束检测出再现信号，对在所述衍射光栅的区域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应所述光盘的轨道的方向大体垂直的方向或大体平行的方向上。
2. 根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于 对在所述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面为4个受光面。
3. 根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于 对在所述衍射光栅的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面为4个受光面。
4. 根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于 通过在所述衍射光栅的区域B衍射的-1次衍射光检测出聚焦误差信号，通过在所述衍射光栅的区域A、 B衍射的+l次衍射光检测出跟踪误差信号，通过在所述衍射光栅的区域A衍射的-1次衍射光检测出跟踪误差 信号的偏移量修正信号，通过在所述区域A、B、C衍射的+1次衍射光的和检测出再现信号。
5. 根据权利要求l所述的光拾取器装置，其特征在于 所述衍射光栅的区域A对于通过区域C的中心的中心轴呈轴对称，并且对于与所述中心轴垂直的方向的轴呈轴对称， 所述衍射光栅的区域B对于所述中心轴呈轴对称， 对于与所述中心轴垂直的方向的轴呈轴对称。
6. 根据权利要求l所述的光拾取器装置，其特征在于 对在所述衍射光栅的区域C衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面是一个受光面。
7. —种光拾取器装置，其特征在于，包括射出光束的半导体激光器；用于将从所述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜；对从所述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和 具有多个接受通过所述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测 器，其中，所述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三个区域， 由所述光盘上的轨道所衍射的衍射光中， 只有0次衍射光入射到所述区域A， 0次、±1次衍射光入射到所述区域B，在所述光检测器中，从在所述区域A、 B、 C衍射的光束检测出再 现信号，对在所述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1次衍射光进行 检测的多个受光面，排列在与对应所述光盘的轨道的方向大体垂直的方向上，并且对在所述衍射光栅的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光 进行检测的多个受光面，排列在与对应所述光盘的轨道方向大体平行 的方向上。
8. 根据权利要求7所述的光拾取器装置，其特征在于对在所述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1次衍射光进行 检测的受光面为4个受光面。
9. 根据权利要求7所述的光拾取器装置，其特征在于 对在所述衍射光栅的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面为4个受光面。
10. 根据权利要求7所述的光拾取器装置，其特征在于 通过在所述衍射光栅的区域B衍射的-1次衍射光检测出聚焦误差信号，通过在所述衍射光栅的区域A、 B衍射的+l次衍射光检测出跟踪 误差信号，通过在所述衍射光栅的区域A衍射的-1次衍射光检测出跟踪误差 信号的偏移量修正信号，通过在所述区域A、B、C衍射的+1次衍射光的和检测出再现信号。
11. 根据权利要求7所述的光拾取器装置，其特征在于 所述衍射光栅的区域A对于通过区域C的中心的中心轴呈轴对称，并且，对于与所述中心轴垂直的方向的轴呈轴对称， 所述衍射光栅的区域B对于所述中心轴呈轴对称， 对于与所述中心轴垂直的方向的轴呈轴对称。
12. 根据权利要求7所述的光拾取器装置，其特征在于 对在所述衍射光栅的区域C衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面是一个受光面。
13. —种光盘装置，其特征在于，搭载有，光拾取器装置，其包括射出光束的半导体激光器；用于将从所 述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜；对从所述光盘 反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多个接受通过所述衍射光栅 分光的光束的受光面的光检测器，其中，所述衍射光栅具有区域A、 区域B、和区域C这三个区域，由所述光盘上的轨道所衍射的衍射光 中，只有0次衍射光入射到所述区域A， 0次、±1次衍射光入射到 所述区域B，在所述光检测器中，从在所述区域A、 B、 C衍射的光束 检测出再现信号，对在所述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1 次衍射光进行检测的多个受光面排列在与对应所述光盘的轨道的方向 大体垂直的方向或大体平行的方向上；激光器点亮电路，其驱动所述光拾取器装置内的所述半导体激光器；伺服信号生成电路，其使用从所述光拾取器装置内的所述光检测 器检测出的信号，生成聚焦误差信号与跟踪误差信号；和信息信号再现电路，其对记录在所述光盘的信息信号进行再现。
14. 一种光盘装置，其特征在于，搭载有，光拾取器装置，其包括射出光束的半导体激光器；用于将从所 述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜；对从所述光盘 反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多个接受通过所述衍射光栅 分光的光束的受光面的光检测器，其中，所述衍射光栅具有区域A、 区域B、和区域C这三个区域，由所述光盘上的轨道所衍射的衍射光 中，只有0次衍射光入射到所述区域A， 0次、±1次衍射光入射到 所述区域B,在所述光检测器中，从在所述区域A、 B、 C衍射的光束 检测出再现信号，对在所述衍射光栅的区域A衍射的+l次衍射光或-1 次衍射光进行检测的多个受光面排列在与对应所述光盘的轨道的方向 大体垂直的方向上，并且对在所述衍射光栅的区域B衍射的+1次衍射 光或-1次衍射光进行检测的多个受光面排列在与对应所述光盘的轨道方向大体平行的方向上；激光器点亮电路，其驱动所述光拾取器装置内的所述半导体激光器；伺服信号生成电路，其使用从所述光拾取器装置内的所述光检测 器检测出的信号，生成聚焦误差信号与跟踪误差信号；和信息信号再现电路，其对记录在所述光盘的信息信号进行再现。
全文摘要
本发明涉及光拾取器装置及光盘装置。该光拾取器装置，将来自多层光盘的反射光分割为多个区域，分割后的光束在光检测器上的不同位置聚集于焦点，同时使用多个分割后的光束，由刀口法检测出聚焦误差信号，使用多个分割后的光束检测出跟踪误差信号。进而，在焦点与目的层相吻合时，配置光束的分割区域与受光面，使来自其他层的杂散光不进入光检测器的伺服信号用的受光面。由此，在多层光盘的记录再现中，聚焦误差信号与跟踪误差信号都不受来自其他层的杂散光的影响，能够得到稳定的伺服信号。
文档编号G11B7/135GK101494064SQ20081017308
公开日2009年7月29日 申请日期2008年11月26日 优先权日2008年1月21日
发明者山崎和良 申请人:日立视听媒介电子股份有限公司