光拾取装置的评价方法、测试盘及光盘的制作方法

专利名称：：光拾取装置的评价方法、测试盘及光盘的制作方法
技术领域：
：本发明涉及一种光拾取装置的评价方法以及测试盘，特别适合在评价HDDVD(High—DefinitionDigitalVersatileDisc)的记录/再生中使用的光拾取装置的特性时应用。再有，本发明涉及一种根据上述评价方法以及测试盘认为适当的光拾取装置中适用的光盘。
背景技术：
：现在，作为下一代光盘，正在进行HDDVD(以下，称为"HD")的商品化。在直径12cm的HD中，在一个记录层就能记录15G字节的数据，在各面各具有2层记录层的两面2层型的HD中，合计能记录60G字节的数据。在这样，叠层2个记录层的HD中，能显著提高记录容量。但是，另一方面，会产生了层间串扰以及层间分离的问题，因此，在HD用的光拾取装置中，必须要求高的光学性能。图6(a)以及(b)，分别表示对2层型的DVD以及HD进行聚焦搜索时的聚焦误差信号的理想波形的图。如图所示，如果在这些记录装置中进行聚焦搜索的话，激光的焦点在第1个记录层(层L0)与第2个记录层(层L1)上分别接近时产生S形曲线SO、Sl。这些S形曲线S0、Sl与基准等级(出现S形曲线的前后的区域中的聚焦误差信号的等级)相交叉的位置F0、F1，为层L0、L1所对应的激光的在焦(onfocus)位置。如果激光的焦点在这些记录层之间配置的中间层(ML)移动的话，聚焦误差信号就变得平坦。在HD中，为了盘片的高密度化而使再生波长变短等，其结果，使得层L0、Ll间的间隙为DVD的一半左右，因此如该图(a)以及(b)所示，聚焦误差信号上，中间层(ML)所对应的区域(以下，称为"ML区间")，HD比DVD小的多。因此，在HD中，很难从聚焦误差信号检测出ML区间。g卩，在HD中，很难分离S形曲线S0、Sl。这里，在该图(b)中，表示了理想的聚焦误差信号，但如果光拾取装置的光学特性比理想光学系统差的话，则如该图(c)所示，ML区间中聚焦误差信号并不平坦，该区间的信号，成为从基准等级起向上抬起并倾斜的状态。这种倾向会使光学特性的恶化更显著(参照该图(d))。因此，如果象这样光学特性的恶化更进一步的话，在图中，用虚线圆围住的部分的信号W就会渐渐与前后的S形曲线同化，盘片装置一侧中不能顺利判别的ML区间。这样，在HD中，原本就短很难判别的ML区间，由于光拾取装置的光学特性的恶化变得更难判别了。如果ML区间的判别变得困难的话，就会很难判别2个S形曲线S0、Sl的边界，例如，不能顺利进行使读取位置在层间跳跃时的动作。通常，在将光拾取装置的读取位置从层LO转换成层Ll时，必须识别作为跳跃目的地层的层L1的S形曲线S1。然而，如上所述，如果ML区间倾斜而与前后的S形曲线同化，则S形曲线SO、Sl的边界就变得不清楚，在装置侧，存在不能顺利判别层Ll的S形曲线Sl的开始端的问题。这样的话，就不能进行向层1的跳跃动作，其结果，在向层1的跳跃动作未完时就结束了。这时，进行聚焦搜索，进行对层l的导入。但是，因为要进行该动作，会延迟向层1的移转时间。如果象这样延迟移转的话，就会延迟开始对层l的再生，其结果，存在不能保证数据的无缝性的问题。在跨层间记录有电影内容等时，如果像这样无缝性发生问题的的话，就会产生图像不连续等的不希望的情形，因此，就会存在显著损害播放机的商品价值的问题。为了预先回避这样的问题，在HD播放机装载的光拾取装置中，就必须具有能适当分离2个S形曲线的性能(以下，称为"层间分离特性")。另外，在以下的专利文献l中，记载了根据在用光检测器接受透过板状材料的激光时输出的信号的脉冲形状，来评价光拾取装置的性能的方法。专利文献h日本国特开2004—310952号公报
发明内容本发明正是为了解决上述课题而提出的，其目的为提供一种能顺利评价光拾取装置中的S形曲线的分离性能(层间分离特性)的评价方法以及其使用的测试盘。再有，本发明的目的还提供一种根据该评价方法以及测试盘认为适当的光拾取装置中适用的光盘。本发明鉴于上述课题，具有以下特征。本发明的第l发明，为一种光拾取装置的评价方法，使用在叠层方向上具有多个记录层的测试盘对光拾取装置的性能进行评价，其特征在于，包括第1工序，使评价对象的光拾取装置，进行对上述测试盘的聚焦搜索；第2工序，根据在上述第1工序中对上述光拾取装置取得的聚焦误差信号，检测该聚焦误差信号上连续出现的第1以及第2个S形曲线的分离度；禾口，第3工序，判定用上述第2工序检测出的上述分离度是否在阈值范围内，上述第2工序，判定在上述第1个S形曲线与上述第2个S形曲线之间存在的上述聚焦误差信号的平坦区间(B)，根据该平坦区间(B)与上述第l以及第2个S形曲线的间隔(A)的比率，检测上述分离度。本发明的第2发明为根据第1发明所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述第2工序具有求出第l切线的工序，该第l切线是在从上述第1个S形曲线的第2个峰值位置起到终止端为止的区间的预先决定的位置上对该第1个S形曲线引出的切线；求出第2切线的工序，该第2切线是在从上述第2个S形曲线的开始端起到第1个峰值位置为止的区间的预先决定的位置上对该第2个S形曲线引出的切线；和，取得上述平坦区间(B)的工序，该平坦区间为上述聚焦误差信号的基准等级与上述第1切线相交的第1交点、和上述基准等级与上述第2切线相交的第2交点之间的区间。本发明的第3发明为根据第2发明所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述第1切线，在相对于上述第1个S形曲线的第2个峰值的振幅为给定比例大小的上述第1个S形曲线上的位置上求出，上述7第2切线，在相对于上述第2个S形曲线的第1个峰值的振幅为大小与上述比例同样的比例的上述第2个S形曲线上的位置上求出。本发明的第4发明为根据第2发明所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述第1切线，在从上述第1个S形曲线的第2个峰值往终止端侧错位给定的信号区间后的上述第1个S形曲线的位置上求出，上述第2切线，在从上述第2个S形曲线的第1个峰值往开始端侧错位与上述信号区间相同的信号区间后的上述第2个S形曲线的位置上求出。本发明的第5发明为根据第1至4中的任一项发明所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述测试盘中，相邻的上述记录层的标准间隔设定为20pm，上述分离度，通过B/A的计算求出，上述第3工序中，判定B/A是否为0.1以上或者超过O.l。本发明的第6发明为一种测试盘，用于评价光拾取装置的性能，其特征在于，在叠层方向上具有多个记录层，将相邻的上述记录层间的标准间隔设定为从131im开始到40^im为止的范围内。本发明的第7发明为根据第6发明所述的测试盘，其特征在于，将上述标准间隔设定为从20|im开始到35pm为止的范围内。本发明的第8发明为根据第6发明所述的测试盘，其特征在于，将上述标准间隔设定为从25pm开始到3(^m为止的范围内。本发明的第9发明为根据第6发明所述的测试盘，其特征在于，将上述标准间隔设定为20(im。本发明的第IO发明为一种测试盘，为本发明的第1中所述的评价方法中使用的测试盘，其特征在于，在用具有基准光学系统的光拾取装置进行上述工序1至3得到的上述参数值A以及B，并据此求出B/A时，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得B/A的标准值包含在0.1至0.7的范围内的值。本发明的第11发明为根据第IO发明所述的测试盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.2至0.6的范围内。本发明的第12发明为根据第10发明所述的测试盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.4至0.5的范围内。本发明的第13发明为根据第10发明所述的测试盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值是0.2。本发明的第14发明为一种再生专用的光盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得B/A的标准值包含在从0.1到0.7的范围内，其中B/A表示，在用具有基准光学系统的光拾取装置对该光盘进行聚焦搜索时，在聚焦误差信号上连续出现的第1以及第2个S形曲线间的平坦区间(B)与上述第1以及第2个S形曲线的间隔(A)的比率。本发明的第15发明为根据第14发明所述的光盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.2到0.6的范围内。本发明的第16发明为根据第14发明所述的光盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.4到0.5的范围内。本发明的第17发明为根据第14发明所述的光盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值是0.2。另外，所谓本发明的第2发明所述的"标准等级"，是S形曲线出现前后的区间中的聚焦误差信号的信号等级。另外，所谓本发明的第5至9发明所述的"标准间隔"，是在不存在因形成误差等引起的间隔变化时的记录层间的间隔。例如，"标准间隔"，相当于对记录层间的间隔在测试盘的全部区域内进行平均化时的间隔。另外，所谓本发明的第10至13发明以及本发明的第14至17发明所述的"标准值"，是在不存在因形成误差等引起的记录层间的间隔变化时，对标准光学系统求出的B/A的值。例如，"标准值"相当于对该B/A的值在测试盘的全部区域内进行平均化时的间隔。再有，所谓本发明的第10以及14发明所述的"基准光学系统"，是光学设计值以及光学设计正规的光学系统。例如，"基准光学系统"的光学设计值，为HDDVD标准中规定的光学设计值的容许范围的中心值。根据本发明，能顺利地评价光拾取装置中的S形曲线地分离性能(层间分离特性)。通过由本发明来管理特性，能提供层间分离性能均一的光拾取装置。另外，光盘只要具有本发明的第14至17发明的特征，就能通过这样管理特性的光拾取装置来顺利地再生该光盘。各本发明的第发明效果以及意义，通过以下所述的实施方式的说明能清楚理解。但是，以下的实施方式，只是将本发明实施化的一个示例，本发明以及各构成要素的术语的意义，并不限制于以下的实施方式所述的内容。图1是表示实施方式的测试盘10的构成的图。图2是表示实施方式的测试盘10的区域格式的图。图3是说明实施方式的平坦区间的时间长B的测定方法的图。图4是表示实施方式的光拾取装置的评价方法的流程图。图5是说明实施方式的阈值a的设定方法的图。图6是说明本发明的课题的图。图中10—测试盘，ll一基板，12—记录层，13—中间层，14一记录层，15—基板，100—光拾取装置。具体实施例方式以下，参照本发明的实施方式。本实施方式中，在评价可对应HD的光拾取装置的特性时的评价方法中应用本发明。首先，图1表示在光拾取装置的评价中使用的测试盘10的构成。测试盘10，具有与再生专用型的HDDVD—ROM大致相同的物理格式。如图所示，测试盘10在基板11上，具有以记录层12、中间层13、记录层14、基板15和印刷层16的顺序叠层的构造。在这里，中间层的厚度(记录层12、14间的间隔)和基板ll、15的厚度以及折射率，如下设定。(1)基板ll、15的厚度0.590(mm)(2)基板ll、15的折射率1.6(波长405nm时)(3)中间层13的厚度20pm基板ll、15由聚碳酸酯等、容易透过波长400nm左右的激光的材料形成。此外，作为形成基板ll、15的材料，也能使用以聚烯烃以及聚乙烯乳酸等为主成分的生物降解材料。基板11、15由使用具有轨迹图案(凹点列)的压模的喷射模塑法而形成。在基板11、15的表面上，转印压模上的轨迹图案。另外，也能由玻璃材料形成基板11、15的双方或者任何一方。该情况下，在比0.590mm还稍薄的玻璃板上涂紫外线固化树脂，在其上压上具有上述轨迹图案的压模后照射紫外线。之后，通过从玻璃板分离压模，玻璃板上被转印轨迹图案。这种情况下，进行调整，使得玻璃板与紫外线固化树脂的层加起来的厚度为0.590(mm)。这样，通过由玻璃材料形成基板11、15的双方或者任何一方，能抑制测试盘IO的翘曲以及面抖动。另外，特别是优选用玻璃形成基板11。这样做，即使在光拾取装置100的特性评价时万一物镜与基板11表面冲撞，也能防止基板ll表面受创伤，能提高测试盘io的耐久性。另外，若基板15也由玻璃形成，能更彻底地抑制测试盘10的翘曲以及面抖动，能更顺利地进行光拾取装置的特性评价。再有，因为由于测定时的温度变化以及湿度变化而产生的翘曲以及面抖动不易产生，因此非常有利。基板ll、15为玻璃时，由于减少了翘曲以及面抖动，因此在光拾取装置的评价时这些影响得以减少，不易产生测定的偏差。记录层12，由银合金等的半透过性材料形成。另外，记录层14由铝以及银等的高反射率材料形成。这些记录层12、14，通过溅射等的手法，在转印有轨迹图案的基板11、15的表面上薄膜状形成。中间层13，由对波长400nm左右的光的吸收率低的紫外线固化树脂形成。中间层13，作为粘合叠层有记录层12的基板11、和叠层有记录层14的基板15时的粘结层发挥作用。在粘合时，在记录层12的表面上，涂敷形成中间层13的紫外线固化树脂，在其上，从记录层14侧重合基板15。之后，从基板ll侧照射紫外线来固化紫外线固化树脂。ii由此，形成中间层13，该中间层13作为媒介，粘合基板11与基板15。另外，在这里，将基板ll、15的厚度设为0.590mm，将折射率设为1.6，但并不限定于此，基板ll、15的厚度也可以是0.570.63mm，折射率也可以是1.51.7(在波长400410的范围中)。图2表示测试盘10的区域格式。层0(记录层12)，从盘内周侧起，依次区域分割为系统导入区域、连接区域、数据导入区域、数据区域、中间区域。另外，层l(记录层14)从盘内周侧起，依次区域分割为突发分割区(BCA:BurstCuttingArea)、系统导出区域、连接区域、数据导出区域、数据区域、中间区域。另外，在层O中没有配置BCA。在BCA中，通过使平坦的记录层14在盘圆周方向上间歇消失，记录有所依照的规格书的登记信息等。另外，记录层14的消失，例如通过使用高功率激光器烧断记录层14来进行。在系统导入区域中，螺旋状排列凹点列，由此，记录与该测试盘IO的物理参数(凹点大小，轨道间距)相关的信息。连接区域与层O、l一起形成平坦的镜面。在层O的数据导入区域、数据区域、中间区域中，螺旋状地形成凹点列。在层1的数据导出区域、数据区域、中间区域中，也螺旋状形成凹点列。但是，该凹点列与层O的凹点列反方向旋转。在系统导出区域中，记录有给定的信息。另外，本实施方式中的测试盘10的物理格式如下表所示。表1系统导入区域系统导出区域数据区域数据位长0.36um0.153um信道位长0.204um0.102um最小凹点长(2T)0.408um0.204腿最大凹点长(13T)2.652匿1.326um轨道间距0.68um0,4碰盘直径12cm12<table>tableseeoriginaldocumentpage13</column></row><table>接着，说明光拾取装置的评价方法。首先，参照图3说明在2个S形曲线之间出现的平坦区间的时间长B的测定手法。该图(a)是示意表示使用评价对象的光拾取装置来对上述测试盘10进行聚焦搜索时的聚焦误差信号的波形的图。如图所示，对测试盘IO进行聚焦搜索后，就会在聚焦误差信号上出现2个S形曲线S0、Sl。如上面以往技术所述，中间层13对应的ML区间的信号W，由于光拾取装置的层间分离特性不断恶化，逐渐与前后的S形曲线SO、SI同化了。因此，信号W的平坦区间由于光拾取装置的层间分离特性不断恶化而变短了。该图(b)是说明平坦区间的时间长B的测定方法的图。在该测定方法中，首先，对上述2个S形曲线S0、S1求出切线L0、Ll。这里，切线LO如图所示，在聚焦误差信号为S形曲线SO的第2个峰值的振幅Pb的1/2大小的位置上被求出，另外，切线L1在聚焦误差信号为S形曲线S1的第1个峰值的振幅Pa的1/2大小的位置上被求出。接着，求出聚焦误差信号的基准等级与切线LO、Ll相交的2个交点，这些交点间的时间幅，设为平坦区间的时间长B。另外，在这里，虽然在聚焦误差信号为峰值振幅Pb、Pa的l/2大小的位置上求出了切线LO、Ll，但只要在相对峰值振幅Pb、Pa为相同比率的位置上求出切线LO、Ll就可以，例如，也可以在聚焦误差信号为峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出切线L0、Ll。另外，在这里，虽然规定了由峰值振幅Pb、Pa所对应的比率求出切线L0、Ll的位置，但如该图(b)所示，也可以从S形曲线S0的第2个峰值时刻与S形曲线Sl的第1个峰值时刻起、往ML区间一侧分别移动相同的时间幅At得到的聚焦误差信号的位置上，求出切线L0、Ll。在本实施方式中，如此求出平坦区间的时间长B，再有，在求出该图(a)所示的S形曲线SO、Sl间的时间间隔A的基础上，计算B/A，将其计算结果设为S形曲线SO、Sl的分离度。在这里，时间间隔A，通过测定S形曲线SO、Sl与基准等级分别相交的2个焦点间的间隔来求出。这样求出的分离度如下所述，适合作为表示S形曲线SO、Sl的分离情况的指标。艮口，中间层13所对应的ML区间的信号W，随着光拾取装置的层间分离特性恶化，逐渐从基准等级起抬高并从平坦变为倾斜，存在与前后的S形曲线SO、Sl同化的倾向。参照该图(b)可知，如果相对前后的S形曲线SO、Sl的信号W进一步同化的话，前后的S形曲线SO、Sl的波形的倾斜度就变缓了，并且，切线LO、Ll的倾斜度也变缓了。如果象这样切线LO、Ll的倾斜度变缓的话，这些切线LO、Ll与基准等级的交点的间隔就会缩小，平坦区间的时间长B就变短了。因此，如果相对于前后的S形曲线SO、S1的信号W进一步同化、S形曲线SO、Sl的分离情况下降的话，平坦区间的时间长B就会变短。另外，时间间隔A与S形曲线SO、Sl的分离情况无关，总为固定值。因此，计算B/A的话，其结果就表示平坦区间的时间长B的长短的程度，S卩，S形曲线SO、Sl的分离情况。图4是表示评价光拾取装置的特性时的流程的流程图。参照图4(a)，在特性评价时，首先，使用评价对象的光拾取装置，对测试盘10进行聚焦搜索(S101)。接着，如上所述，求出该聚焦搜索时取得的聚焦误差信号上的2个S.形曲线SO、Sl的时间间隔A(S102)。另外，如参照上述图3(b)说明的那样，对于S形曲线SO、Sl，求出切线LO、Ll(S103)。这里，如上述图3(b)所示，在为峰值振幅Pb、Pa的1/2大小的位置上求出切线L0、Ll。接着，求出切线LO、Ll与聚焦误差信号的基准等级相交的交点间的时间间隔，作为平坦区间的时间长B(S104)。这样求出时间间隔A与时间长B后，接着，计算B/A，对其计算结果是否为预先决定的阈值a以上进行判别(S105)。如上所述，在测试盘10的中间层13的厚度为20nm时，阈值ot设定成a二O.l。这里，如果B/A^a的话(S105:YES)，评价为该光拾取装置的层间分离特性合适(S106)。另外，如果不是B/A^a的话(S105:NO)，评价为该光拾取装置的层间分离特性不合适(S107)。另外，在图4(a)的流程S103中，虽然在为峰值振幅Pb、Pa的1/2大小的位置上求出切线LO、Ll，但也可以在为峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出切线L0、Ll。另外，如图4(b)的S110所示，也可以从S形曲线S0的第2个峰值时刻和S形曲线Sl的第1个峰值时刻起、往ML区间侧分别移动相同的时间幅At得到的聚焦误差信号的位置上，求出切线L0、Ll。图4(b)的其它的步骤，与该图(a)相同。另外，在S105中，虽然判别计算值B/A是否为a(=0.1)以上，但也可以判别其是否超过a(二O.l)。接着，参照图5(a)，说明上述阈值a的设定方法。该图(a)是表示在使测试盘10的中间层13的厚度不断变化的情况下，使用具备基准光学系统的光拾取装置实测上述计算值B/A的测定结果的图。实测值在该图中表示为标绘图(plot)。另外，所谓"基准光学系统"，就是光学设计值以及光学设计正规的光学系统。这里，基准光学系统的激光波长X与物镜的数值孔径(NA)，分别设定为X二405nm，NA=0.65。另夕卜，上述图3中的切线L0、Ll，被在为峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出。即使在为峰值振幅Pb、Pa的1/4大小的位置上求出切线L0、Ll，中间层13的厚度与计算值B/A的关系，也与图5(a)的情况大致相同。参照图5(a)，在将测试盘10的中间层13的厚度如上所述设定成2(Hmi时，对基准光学系统实测的计算值B/A，稍微超过0.2。因此，上述的情况下，如果计算值B/A为0.2以上的话，就评价认为评价对象的光拾取装置的层间分离特性合适。但是，中间层13的厚度，会因测试盘10的形成误差等，而导致有可能产生以20^im为中心的摇摆。因此，如果在评价时，进行聚焦搜索的区域的中间层13的厚度从20pm变动了的话，即使层间分离特性合适，计算值B/A也有可能低于0.2。例如，假设盘全面中的变动幅度的最大值为7pm，评价时进行聚焦搜索的区域就是该最大变动幅度的位置的话，此时的中间层13的厚度就变成了13|im。这时，如果由具有与基准光学系统同等的层间分离特性的光拾取装置进行评价的话，参照图5(a)可知，计算值B/A变成0.1左右。在上述图4的流程图中，为了在这种情况下也判别光拾取装置的层间分离特性合适，将阈值a设定成a二O.l。另外，在严格进行评价、要求层间分离特性合适时，优选将阈值cc设定成0.10.2的范围内。另外，在上述说明中，为了将测试盘10的中间层13的厚度设定成20|im，考虑到盘片导致的偏差，将阈值ot设定成了O.l，但是例如，在测试盘10的中间层13的厚度设定成30pm时，根据图5(a)，将阈值a设定成0.4左右。这样，阈值a对应于测试盘10的中间层13的厚度做适当变更。如上所述，根据本实施方式，能顺利地且适当地评价光拾取装置的层间分离特性。另外，按照上述图4的流程图的评价，优选在凹点长和轨道间距不同的系统导入区域/系统导出区域以及数据区域(图2的数据/数据导入/数据导出)的双方来进行，另外，希望在测试盘10的内周部、中周部、外周部来进行。这样的话，就能确认即使在轨道间距与标记(mark)长不同导致光学的干扰不同时，也能正确地进行层间分离。另外，在没有凹点的连接区域中也可以进行测定评价。再有，在上述实施方式中，虽然在测试盘IO上形成了凹点，但也可以不形成凹点，将记录层12、14用镜面形成。这时，因为在连接区域等的镜面中没有凹点以及轨道，因此能在基于此的没有光学干扰的状态下确认光拾取装置的特性。然而，虽然在上述实施方式中，将测试盘10的中间层13的厚度设定成20nm，但也可以设定成此之外的厚度。参照图5(a)，在中间层13的厚度为1340pm的范围时，中间层13的厚度与计算值B/A的关系为线性关系，该范围的前后，两者的关系急剧变化。即，中间层13的厚度比13nm小时，计算值B/A急剧降低，一般认为这是因为层间串扰的影响。图5(b)仿真了中间层13的厚度与层间串扰(xtalk)的关系。从该图可知，层间串扰(xtalk)在记录层12、14的间隔(中间层13的厚度)越小时越大，间隔在14pm以下时达到了50%以上。在该图(a)的实测结果中，之所以中间层13的厚度若比13pm小则计算值b/a急剧降低，是因为层间串扰导致S形曲线SO、Sl的分离达到了界限。因此，测试盘10的中间层13的厚度，必须设定为13pm以上。因为在中间层13的厚度为13pm时，根据基准光学系统测定时的计算值B/A为0.1，因此在用计算值B/A规定中间层13的厚度时，必须将中间层13的厚度设定为使得计算值B/A为0.1以上。另外，在中间层13的厚度超过40pm时，计算值B/A急剧降低。这是因为产生了球面像差，表示出若中间层13的厚度超过40|am就不能得到基于层间隔的正确的S形曲线。这时的计算值B/A为0.7。因此，测试盘10的中间层13的厚度必须设定为40pm以下，或者使计算值B/A为0.7以下。如上所述，中间层13的厚度必须设定为131im4(Him左右。但是，这是在假设中间层13的厚度不变时的情况，实际上，如上所述，由于盘形成误差等，中间层13的厚度会有偏差。因此，考虑该偏差的话，测试盘10的中间层13的厚度优选设定为20^im35pm左右，进一步限定的话，为了进行更安定的评价，优选设定为25pm30^im左右。另外，在用计算值B/A规定中间层13的厚度时，中间层13的厚度必须设定为使计算值B/A为0.10.7左右。但是，这也与上述的情况相同，假设为中间层13的厚度不变的情况。因此，考虑该偏差的话，测试盘10的中间层13的厚度优选设定成使计算值B/A为0.20.6左右，进一步限定的话，优选设定成使计算值B/A为0.40.5左右时的值。基于本实施方式的评价也可以在盘静止的状态下进行。这是因为在测试盘10为ROM盘时，不照射相当强的激光就不会变形的缘故，如果像这样在静止的状态下进行评价的话，就能抑制基于盘旋转的旋转抖动的影响，能提高测定精度。本实施方式中的评价方法，是适合用在能将表1所示的盘参数的数据正确再生的光拾取装置中的检查方法，适于对如下所述的光拾取装置进行检査，该光拾取装置具备N.A.为0.60.9、激光波长为395420nm的范围的光学系统，且能再生基板的折射率在1.41.75的范围内、基板ii的厚度为0.580.65、最短凹点长(2T)为0.408pm以下(系统17导入)以及轨道间距为0.68pm以下(系统导入)的高密度多层光盘。以上，说明了本发明的实施方式，但本发明并不只限于上述实施方式，另外，本发明的实施方式也能为上述以外的各种变更。例如，本发明也能适用于层间窄、且层分离重要的多层蓝光盘(BD:Blue-rayDisc)的记录/再生中使用的光拾取装置的特性评价，以及为此使用的测试盘。因为，虽然蓝光盘中，记录层间的厚度与HD相同，但保护层的厚度与HD的基板厚度不相同，因此通过将上述实施方式的测试盘10的基板11设定为厚度0.1pm的保护层，就能作成蓝光盘用的测试盘。另外，虽然上述说明中表示了测试盘中的层间间隔的范围，但只要将再生专用盘设定为与测试盘中的层间间隔相同的范围，就能用上述评价方法认为适当的光拾取装置，顺利地再生该再生专用盘。本发明的实施方式能在权利要求的范围所示的技术思想的范围内，进行适当的各种的变更。18权利要求1.一种光拾取装置的评价方法，使用在叠层方向上具有多个记录层的测试盘对光拾取装置的性能进行评价，其特征在于，包括第1工序，使评价对象的光拾取装置，进行对上述测试盘的聚焦搜索；第2工序，根据在上述第1工序中对上述光拾取装置取得的聚焦误差信号，检测该聚焦误差信号上连续出现的第1以及第2个S形曲线的分离度；和，第3工序，判定用上述第2工序检测出的上述分离度是否在阈值范围内，上述第2工序，判定在上述第1个S形曲线与上述第2个S形曲线之间存在的上述聚焦误差信号的平坦区间B，根据该平坦区间B与上述第1以及第2个S形曲线的间隔A的比率，检测上述分离度。2.根据权利要求1所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述第2工序具有求出第1切线的工序，该第1切线是在从上述第1个S形曲线的第2个峰值位置起到终止端为止的区间的预先决定的位置上对该第1个S形曲线引出的切线；求出第2切线的工序，该第2切线是在从上述第2个S形曲线的开始端起到第1个峰值位置为止的区间的预先决定的位置上对该第2个S形曲线引出的切线；禾口，取得上述平坦区间B的工序，该平坦区间B为上述聚焦误差信号的基准等级与上述第1切线相交的第1交点、和上述基准等级与上述第2切线相交的第2交点之间的区间。3.根据权利要求2所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述第1切线，在相对于上述第1个S形曲线的第2个峰值的振幅为给定比例大小的上述第1个S形曲线上的位置上求出，上述第2切线，在相对于上述第2个S形曲线的第1个峰值的振幅为大小与上述比例同样的比例的上述第2个S形曲线上的位置上求出。4.根据权利要求2所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述第1切线，在从上述第1个S形曲线的第2个峰值往终止端侧错位给定的信号区间后的上述第1个S形曲线的位置上求出，上述第2切线，在从上述第2个S形曲线的第1个峰值往开始端侧错位与上述信号区间相同的信号区间后的上述第2个S形曲线的位置上求出。5.根据权利要求1至4中的任一项所述的光拾取装置的评价方法，其特征在于，上述测试盘中，相邻的上述记录层的标准间隔设定为20jim，上述分离度，通过B/A的计算求出，上述第3工序中，判定B/A是否为0.1以上或者超过O.l。6.—种测试盘，用于评价光拾取装置的性能，其特征在于，在叠层方向上具有多个记录层，将相邻的上述记录层间的标准间隔设定为从13pm开始到40|^m为止的范围内。7.根据权利要求6所述的测试盘，其特征在于，将上述标准间隔设定为从20|am开始到35(im为止的范围内。8.根据权利要求6所述的测试盘，其特征在于，将上述标准间隔设定为从25pm开始到30pm为止的范围内。9.根据权利要求6所述的测试盘，其特征在于，将上述标准间隔设定为20pm。10.—种测试盘，为权利要求1中所述的评价方法中使用的测试盘，其特征在于，在用具有基准光学系统的光拾取装置进行上述工序1至3得到的上述参数值A以及B，并据此求出B/A时，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得B/A的标准值包含在0.1至0.7的范围内。11.根据权利要求10所述的测试盘，其特征在于，.将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.2至0.6的范围内。12.根据权利要求10所述的测试盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.4至0.5的范围内。13.根据权利要求10所述的测试盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值是0.2。14.一种再生专用的光盘，其特征在于，将相邻的记录层间的间隔，设定为使得B/A的标准值包含在从0.1到0.7的范围内，其中B/A表示，在用具有基准光学系统的光拾取装置对该光盘进行聚焦搜索时，在聚焦误差信号上连续出现的第1以及第2个S形曲线间的平坦区间B与上述第1以及第2个S形曲线的间隔A的比率。15.根据权利要求14所述的光盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.2到0.6的范围内。16.根据权利要求14所述的光盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值包含在从0.4到0.5的范围内。17.根据权利要求14所述的光盘，其特征在于，将相邻的上述记录层间的间隔，设定为使得上述B/A的标准值是0.2。全文摘要本发明提供一种可以顺利评价光拾取装置中的S形曲线的分离性能(层间分离特性)的评价方法以及其使用的测试盘。判定S形曲线S0与S形曲线S1间存在的聚焦误差信号的平坦区间的时间长B，从该时间长B与S形曲线S0、S1的时间间隔A的比率B/A检测S形曲线S0、S1的分离度。然后，在该比率B/A为阈值α以上时，评价为光拾取装置的层间分离特性合适。文档编号G11B7/09GK101471092SQ200810185258公开日2009年7月1日申请日期2008年12月24日优先权日2007年12月25日发明者中谷守雄,日比野清司,鹫见聪申请人:三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社