技术特征：
技术总结
本发明公开了一种基于宇航应用的PROM评价方法，所述方法包括如下步骤：步骤一：对元器件级进行评价；其中，元器件级评价包括存储单元评价、存储单元‑存储关联特性评价和元器件级功能性能分析；步骤二：对板级进行评价；其中，板级评价包括基本功能验证、端口时序验证、电源拉偏测试、上下电测试和与CPU匹配测试；步骤三：对编程器进行评价；其中，编程器评价包括编程器输出稳定性分析和编程后电阻一致性分析。本发明能够全面的对PROM器件进行评价，对于PROM的评价具有重要意义。
技术研发人员：王亚男;谷瀚天;王文炎;肖爱斌;王喆;朱恒静;张洪伟;孙明;张含
受保护的技术使用者：中国空间技术研究院
技术研发日：2018.02.08
技术公布日：2018.09.04