具有备用列重映射储存器的存储器件的制作方法

本申请要求2017年9月27日提交的申请号为10-2017-0125511和10-2017-0125512的韩国申请的优先权，其通过引用整体合并于此。

本公开的各种实施例总体而言涉及存储器件，更具体地，涉及具有备用列重映射储存器(sparecolumnremapstorage)的存储器件。

背景技术：

随着存储器件变得更加高度集成以增加数据储存容量，包括存储器件的电子系统的可靠性倾向于依赖存储器件的可靠性。存储器件可以被设计成利用冗余电路、使用内置自修复(built-in-self-repair，bisr)方案来修复故障存储单元以增加存储器件的制造良率以及保证存储器件的可靠性。根据bisr方案，可以由用于修复故障存储单元的备用列来替换包括故障存储单元的核心列。然而，在这种情况下，在修复故障存储单元方面可能存在限制。即，如果备用列的数量小于包括故障存储单元的核心列的数量，则可能难以修复全部的故障存储单元。

技术实现要素：

根据一个实施例，一种存储器件包括数据储存区和备用列重映射储存器。数据储存区包括多个子阵列，所述多个子阵列中的每个具有多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括储存使用所述多个备用列来修复的主列的地址信息的多个储存单元。所述备用列重映射储存器中包括的所述多个储存单元中的至少一个被提供以储存在所述多个子阵列中的一个中修复的主列的地址信息，以及在所述多个子阵列中的另一个中修复的主列的地址信息。

根据另一实施例，一种存储器件包括多个存储体和备用列重映射储存器。所述多个存储体中的每个包括多个子阵列，并且所述多个子阵列中的每个具有多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括储存使用所述多个备用列来修复的主列的地址信息的多个储存单元。所述备用列重映射储存器中包括的所述多个储存单元中的至少一个被配置成储存在所述多个子阵列中的一个中修复的主列的地址信息，以及在所述多个子阵列中的另一个中修复的主列的地址信息。

根据另一实施例，一种存储器件包括多个存储体。所述多个存储体中的每个包括备用列重映射储存器和多个子阵列。所述多个存储体中的每个所包括的备用列重映射储存器包括多个储存单元。所述多个子阵列中的每个包括多个主列和多个备用列。设置在所述多个存储体中的每个中的备用列重映射储存器所包括的所述多个储存单元中的至少一个被配置成：储存在所述多个子阵列中的一个中修复的主列的地址信息，以及在所述多个子阵列中的另一个中修复的主列的地址信息。

根据另一实施例，一种存储器件包括数据储存区和备用列重映射储存器。数据储存区包括多个子阵列，所述多个子阵列中的每个具有多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括多个储存单元，所述多个储存单元将所述多个子阵列中的一个中的被修复主列的列地址信息、以及所述多个子阵列中的另一个中的被修复主列的地址信息，储存在所述备用列重映射储存器所包括的所述多个储存单元中的至少一个中。

根据另一实施例，提供了一种重映射存储器件的列地址的方法。所述存储器件包括数据储存区和备用列重映射储存器。所述数据储存区包括多个子阵列，并且所述多个子阵列中的每个包括多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括多个储存单元。该方法包括将所述多个子阵列中的一个中的被修复主列的地址信息、以及所述多个子阵列中的另一个中的被修复主列的地址信息，储存在所述备用列重映射储存器所包括的所述多个储存单元中的至少一个中。

根据另一实施例，提供了一种重映射包括数据储存区和备用列重映射储存器的存储器件的地址的方法。所述数据储存区包括多个子阵列，并且所述多个子阵列中的每个包括多个主列和多个备用列。所述备用列重映射储存器包括多个储存单元。该方法包括将所述多个主列之中的以列为单位来修复的一个主列的列地址信息、以及所述多个主列之中的以行组为单位来修复的另一个主列的列地址信息储存在所述多个储存单元中的至少一个中。

附图说明

基于附图和以下具体描述，本公开的各个实施例将变得更加明显，在附图中：

图1是图示根据本公开的一个实施例的存储器件的框图；

图2是图示图1中所示的存储器件中的构成用于储存数据的存储器的第一子阵列和第二子阵列的示意图；

图3是图示修复图2中所示的第一子阵列和第二子阵列的一般方法以及使用备用列重映射储存器来重映射第一子阵列和第二子阵列中的被修复列的列地址的一般方法的示意图；

图4是图示根据本公开的一个实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器来重映射列地址的方法的流程图；

图5至图11是详细图示根据本公开的一个实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器来重映射列地址的方法的示意图；

图12是图示第一备用列区和第二备用列区连同备用列重映射储存器的示意图，在所述备用列重映射储存器中根据参照图5至图11而描述的实施例来重映射列地址；

图13是图示根据本公开的另一实施例的存储器件的框图；

图14是图示根据本公开的又另一实施例的存储器件的框图；

图15是图示修复图2中所示的第一子阵列和第二子阵列的另一个一般方法以及使用备用列重映射储存器来重映射第一子阵列和第二子阵列中的被修复列的列地址的另一个一般方法；

图16是图示根据本公开的另一实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器来重映射列地址的方法的流程图；

图17至图22是详细图示根据本公开的另一实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器来重映射列地址的方法的示意图；

图23是图示第一备用列区和第二备用列区连同备用列重映射储存器的示意图，所述第一备用列区和第二备用列区根据参照图17至图22而描述的实施例以列为单位和以行组为单位来修复；

图24至图30是详细图示根据本公开的另一实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器来重映射列地址的方法的示意图；以及

图31是图示第一备用列区和第二备用列区连同备用列重映射储存器的示意图，所述第一备用列区和第二备用列区根据参照图24至图30而描述的实施例以列为单位和以行组为单位来修复。

具体实施方式

在下面对实施例的描述中，将理解的是，术语“第一”和“第二”意在标识元件，而非用来仅限定该元件自身或者意指特定顺序。此外，当一个元件被称作位于另一元件“上”、“之上”、“以上”、“之下”或“下面”时，其意在说明相对位置关系，而非用来限制该元件直接接触另一元件或者在其间存在至少一个中间元件的特定情况。相应地，本文中使用的诸如“上”、“之上”、“以上”、“之下”、“以下”或“下面”等的术语仅用于描述特定实施例的目的，而非意图限制本公开的范围。此外，当一个元件被称作“连接”或“耦接”到另一元件时，该元件可以电气地或机械地直接连接或耦接到另一元件，或者可以通过替换其间的其他元件来形成连接关系或耦接关系。

各种实施例针对具有备用列重映射储存器的存储器件。

图1是图示根据本公开的一个实施例的存储器件100的框图。参见图1，存储器件100可以被配置成包括数据储存区200(对应于用于储存数据的存储器)和备用列重映射储存器(sparecolumnremapstorage，scrs)300。数据储存区200可以对应于实际储存数据的区域。scrs300可以对应于用于储存在对数据储存区200中的故障存储单元进行修复时被重映射的列地址的信息的区域。数据储存区200可以包括第一子阵列(通过“子阵列0”来表示)210和第二子阵列(通过“子阵列1”来表示)220。虽然图1图示了数据储存区200包括两个子阵列的示例，但是本公开不局限于此。例如，在其他一些实施例中，数据储存区200可以包括三个或更多个子阵列。在一个实施例中，第一子阵列210和第二子阵列220可以通过物理地址来彼此区分。在一个实施例中，第一子阵列210中的每个单位单元可以通过包括具有二进制数“0”的第一位(对应于最高有效位(msb))的物理地址来表示，而第二子阵列220中的每个单位单元可以通过包括具有二进制数“1”的第一位(即，msb)的物理地址来表示。

scrs300可以包括第一储存单元310和第二储存单元320。构成scrs300的储存单元的数量可以等于数据储存区200中包括的子阵列的数量。即，如果数据储存区200中包括的子阵列的数量为二，则scrs300可以被配置成包括两个储存单元。第一储存单元310可以包括第一虚拟地址储存元件311和第二虚拟地址储存元件312。第二储存单元320也可以包括第一虚拟地址储存元件321和第二虚拟地址储存元件322。即，scrs300中的第一储存单元310和第二储存单元320中的每个可以包括多个虚拟地址储存元件。第一储存单元310和第二储存单元320的每个中包括的虚拟地址储存元件的数量可以根据数据储存区200的配置来确定，这将在下面的实施例中更充分地描述。

图2是图示图1中所示的存储器件100的数据储存区200中包括的第一子阵列210和第二子阵列220的示意图。参见图2，第一子阵列210和第二子阵列220中的每个可以包括多个单位单元，所述多个单位单元分别位于多个行与多个列交叉或相交的交叉点或相交点处。在一个实施例中，第一子阵列210和第二子阵列220可以具有相同数量的单位单元，且可以具有相同的单元阵列配置。在本实施例中，第一子阵列210可以具有单位单元被排列的第一行至第四行。类似地，第二子阵列220可以具有单位单元被排列的第一行至第四行。然而，图2仅图示了数据储存区200的示例。在其他一些实施例中，第一子阵列210和第二子阵列220中的每个可以具有单位单元被排列的五个或更多个行。

所述多个行中的任意一行中排列的单位单元可以共同具有相同的行地址。第一子阵列210和第二子阵列220中的所述多个行可以具有彼此区分的不同行地址。在一个实施例中，第一子阵列210的第一行中排列的单位单元可以共同具有行地址“000”，第一子阵列210的第二行中排列的单位单元可以共同具有行地址“001”，第一子阵列210的第三行中排列的单位单元可以共同具有行地址“010”，以及第一子阵列210的第四行中排列的单位单元可以共同具有行地址“011”。如上所述，第一子阵列210中的单位单元的行地址的第一位(即，msb)可以共同具有二进制数“0”，并且第一子阵列210中的第一行至第四行可以根据行地址的第二位和第三位(即，两个最低有效位(2lsb))的逻辑电平组合来彼此区分。

类似地，第二子阵列220的第一行中排列的单位单元可以共同具有行地址“100”，第二子阵列220的第二行中排列的单位单元可以共同具有行地址“101”，第二子阵列220的第三行中排列的单位单元可以共同具有行地址“110”，以及第二子阵列220的第四行中排列的单位单元可以共同具有行地址“111”。如上所述，第二子阵列220中的单位单元的行地址的第一位(即，msb)可以共同具有二进制数“1”，并且第二子阵列220中的第一行至第四行可以根据行地址的第二位和第三位的逻辑电平组合来彼此区分。

第一子阵列210可以包括第一主列区231和第一备用列区232。第二子阵列220可以包括第二主列区241和第二备用列区242。第一主列区231和第二主列区241中的每个可以包括“n”个列，即，第一主列至第n主列，其中，“n”表示自然数。第一主列至第n主列中的每个可以通过其自身的列地址来表示。第一主列至第n主列的列地址可以通过二进制数来表示。然而，在本实施例中，为了说明的简单和方便，第一主列至第n主列的列地址可以分别通过十进制数“0”、“1”、“2”…“n-2”和“n-1”来表示。第一备用列区232和第二备用列区242中的每个可以包括第一备用列sc0和第二备用列sc1。在其他一些实施例中，在第一备用列区232和第二备用列区242的每个中可以包括三个或更多个备用列。

构成scrs300的第一储存单元310和第二储存单元320中的每个中的虚拟地址储存元件的数量可以根据第一备用列区232和第二备用列区242的每个中包括的备用列的数量来确定。在一个实施例中，第一储存单元310和第二储存单元320的每个中的虚拟地址储存元件的数量可以等于第一备用列区232和第二备用列区242的每个中包括的备用列的数量。换言之，第一储存单元310和第二储存单元320的每个中的虚拟地址储存元件中的每个可以等于子阵列210和220的每个中包括的备用列的数量。如图2中所示，如果第一子阵列210和第二子阵列220中的每个具有第一备用列sc0和第二备用列sc1，则第一储存单元和第二储存单元(图1的310和320)中的每个可以包括两个虚拟地址储存元件，即，第一虚拟地址储存元件和第二虚拟地址储存元件311和312、或321和322。

第一子阵列210中的主单位单元中的每个可以通过一个行地址和一个列地址来选择。例如，第一子阵列210中的位于第二行和第(n-2)列的交叉点处的主单位单元可以通过指示第一子阵列210中的第二行的行地址“001”和指示第(n-2)列的列地址“n-3”来选择。类似地，第二子阵列220中的主单位单元中的每个也可以通过一个行地址和一个列地址来选择。例如，第二子阵列220中的位于第二行和第(n-2)列的交叉点处的主单位单元可以通过指示第二子阵列220中的第二行的行地址“101”和指示第(n-2)列的列地址“n-3”来选择。

图3是图示修复图2中所示的第一子阵列210和第二子阵列220的一般方法和使用备用列重映射储存器(scrs)400来重映射第一子阵列210和第二子阵列220中的被修复列的列地址的一般方法的示意图。参见图3，第一子阵列210和第二子阵列220可以与参照图1和图2所描述的具有相同的配置。scrs400可以包括第一储存单元410和第二储存单元420。scrs400的第一储存单元410可以物理上分配给第一子阵列210，而scrs400的第二储存单元420可以物理上分配给第二子阵列220。因此，第一储存单元410可以储存在第一子阵列210中被修复的主列的列地址信息，而第二储存单元420可以储存在第二子阵列220中被修复的主列的列地址信息。

scrs400的第一储存单元410可以包括多个物理地址储存元件(例如，第一物理地址储存元件411和第二物理地址储存元件412)，其数量等于第一子阵列210中的备用列sc0和sc1的数量。第一物理地址储存元件411可以储存被第一子阵列210的第一备用列sc0替换的主列的第一主列区231的列地址信息。第二物理地址储存元件412可以储存被第一子阵列210的第二备用列sc1替换的主列的第一主列区231的列地址信息。scrs400的第二储存单元420可以包括多个物理地址储存元件(例如，第三物理地址储存元件421和第四物理地址储存元件422)，其数量等于第二子阵列220中的备用列sc0和sc1的数量。第三物理地址储存元件421可以储存被第二子阵列220的第一备用列sc0替换的主列的第二主列区241的列地址信息。第四物理地址储存元件422可以储存被第二子阵列220的第二备用列sc1替换的主列的第二主列区241的列地址信息。

为了执行修复过程和与修复过程相关的地址重映射过程，可以测试第一子阵列210和第二子阵列220中的主单位单元以验证每个主单位单元是否正常操作。可以使用各种测试模式、例如棋盘模式(checkerboardpattern)和行进模式(marchpattern)来测试第一子阵列210和第二子阵列220中的主单位单元。在一个实施例中，测试第一子阵列210和第二子阵列220中的主单位单元可以包括产生测试模式和将通过测试模式而提供的数据写入至主单位单元中。此外，可以通过读取操作来读出储存在主单位单元中的数据，以及可以将从主单位单元输出的数据与通过测试模式提供的数据相比较。如果从主单位单元输出的数据与通过测试模式提供的数据一致，则第一子阵列210和第二子阵列220中的全部主单位单元可以被认为是正常单位单元。与此相反，如果从主单位单元的特定主单位单元输出的数据与通过测试模式提供的数据中的对应数据不一致，则该特定主单位单元可以被认为是故障单位单元(或者异常单位单元)。

在图3中，假定第一主列区231具有三个故障单位单元而第二主列区241具有一个故障单位单元。具体地，如图3中的符号“×”所示，第一故障单位单元251可以位于第一主列区231中的第一行和第一主列的交叉点处，第二故障单位单元252可以位于第一主列区231中的第二行和第(n-1)主列的交叉点处，以及第三故障单位单元253可以位于第一主列区231中的第四行和第n主列的交叉点处。此外，与第二主列区241中的单个故障单位单元相对应的第四故障单位单元254可以位于第二主列区241中的第一行和第二主列的交叉点处。

在通过测试结果获得第一故障单位单元至第四故障单位单元251、252、253和254的分布之后，可以执行修复过程。一般而言，可以使用备用列、以列为单位来执行修复过程。如果将一般的修复过程应用到第一子阵列210和第二子阵列220，则具有第一故障单位单元251的第一主列可以通过第一子阵列210中的第一备用列sc0来替换，而具有第二故障单位单元252的第(n-1)主列可以通过第一子阵列210中的第二备用列sc1来替换。在这种情况下，排列在第一子阵列210的第一主列中的主单位单元可以分别通过排列在第一子阵列210的第一备用列sc0中的备用单位单元来替换，而排列在第一子阵列210的第(n-1)主列中的主单位单元可以分别通过排列在第一子阵列210的第二备用列sc1中的备用单位单元来替换。因此，因为第一子阵列210中的第一备用列sc0和第二备用列sc1二者被用来修复第一故障单位单元251和第二故障单位单元252，所以可能不能修复第三故障单位单元253。

与通过第一子阵列210的第一备用列sc0来替换的第一主列的列地址相对应的值“0”可以被储存在scrs400的第一储存单元410的第一物理地址储存元件411中。此外，与通过第一子阵列210的第二备用列sc1来替换的第(n-1)主列的列地址相对应的值“n-2”可以被储存在scrs400的第一储存单元410的第二物理地址储存元件412中。

此外，具有第四故障单位单元254的第二主列可以通过第二子阵列220中的第一备用列sc0或第二备用列sc1来替换。在下文中，将结合具有第四故障单位单元254的第二主列通过第二子阵列220中的第二备用列sc1来替换的示例来描述一般的修复过程。在这种情况下，排列在第二子阵列220的第二主列中的主单位单元可以分别通过排列在第二子阵列220的第二备用列sc1中的备用单位单元来替换。因此，与通过第二子阵列220的第二备用列sc1替换的第二主列的列地址相对应的值“1”可以被储存在scrs400的第二储存单元420的第二物理地址储存元件422中。因为第二子阵列220仅具有一个故障单位单元(即，第四故障单位单元254)，所以没有信息被储存在scrs400的第二储存单元420的第一物理地址储存元件421中。

如上所述，如果一般的修复过程和与一般的修复过程相关的地址重映射过程应用于包括具有第一故障单位单元至第三故障单位单元251、252和253的三个主列的第一子阵列210和包括具有第四故障单位单元254的一个主列的第二子阵列220，则具有第一故障单位单元至第三故障单位单元251、252和253的三个主列中的仅两个主列可以被修复，以及具有第四故障单位单元254的单个主列可以被修复。结果，具有第一故障单位单元至第三故障单位单元251、252和253的三个主列中的一个主列不能被修复，而第二子阵列220中的第一备用列sc0和第二备用列sc1中的一个在修复第二子阵列220中未被利用。即，虽然scrs400的第二储存单元420的第一物理地址储存元件421在修复第二子阵列220中未被利用，但可能不能成功地执行第一子阵列210和第二子阵列220的全部故障单位单元的修复过程。

在与参照图3而描述的一般的修复过程相关的列地址重映射过程中，构成scrs400的第一储存单元410和第二储存单元420可以被配置成物理上分别对应于第一子阵列210和第二子阵列220。然而，根据本公开的各个实施例，在消除scrs中的储存单元与存储器中的子阵列之间的1:1物理关系的同时，可以建立scrs中的储存单元与存储器中的子阵列之间的虚拟关系，以根据故障单位单元的分布来将重映射的列地址虚拟地分配到scrs的储存单元中。具体地，构成scrs的储存单元中的至少一个储存单元可以储存子阵列中的一个子阵列中的被修复的主列的地址信息，以及子阵列中的另一个子阵列中的被修复的主列的地址信息。这样，本公开的实施例可以采用用于虚拟地分配被修复主列的列地址的设计方案。相应地，即使在子阵列的特定子阵列中具有故障单位单元的主列的数量大于该特定子阵列中的备用列的数量，通过利用scrs的至少两个储存单元中的储存元件，可以以该特定子阵列中的备用列来修复该特定子阵列中的具有故障单位单元的全部主列。因此，能够提升存储器件的修复效率。

图4是图示根据本公开的一个实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器(scrs)来重映射主单位单元的列地址的流程图。参见图4，可以测试第一子阵列和第二子阵列以获得第一子阵列和第二子阵列的每个中的故障单位单元的分布(参见步骤451)。可以根据故障单位单元的分布来将第一子阵列和第二子阵列中的行划分成第一行组和第二行组(参见步骤452)。因此，排列在第一子阵列和第二子阵列的每个行中的主单位单元和备用单位单元可以属于第一行组或第二行组。在将第一子阵列和第二子阵列的每个中的行划分成第一行组或第二行组之后，可以以行组为单位来修复具有故障单位单元的主列(参见步骤453)。在以行组为单位修复具有故障单位单元的主列之后，可以重映射被修复主列的列地址。具体地，可以将通过第一子阵列和第二子阵列的第一行组中的故障单位单元的修复而重映射的主列的列地址信息储存在备用列重映射储存器(scrs)的第一储存单元中(参见步骤454)。此外，可以将通过第一子阵列和第二子阵列的第二行组中的故障单位单元的修复而重映射的主列的列地址信息储存在备用列重映射储存器(scrs)的第二储存单元中(参见步骤455)。

图5至图11是详细图示根据本公开的一个实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器来重映射列地址的方法的示意图。在图5至图11中，与图1和图2所使用的附图标记相同的附图标记表示相同的元件。将结合存储器件100包括第一子阵列210和第二子阵列220的示例来描述本实施例。然而，本实施例的发明构思可以同样地应用于任何包括三个或更多个子阵列的存储器件。

参见图5，可以测试第一子阵列210的第一主列区231中的单位单元和第二子阵列220的第二主列区241中的单位单元来获得故障单位单元的分布。将结合通过对第一主列区231和第二主列区241中的单位单元的测试而获得的故障单位单元的分布与图3中所示的分布相同的示例来描述根据本实施例的地址重映射方法。因此，如图5中的符号“×”所指示的，第一故障单位单元251可以位于第一主列区231中的第一行和第一主列的交叉点处，第二故障单位单元252可以位于第一主列区231中的第二行和第(n-1)主列的交叉点处，以及第三故障单位单元253可以位于第一主列区231中的第四行和第n主列的交叉点处。此外，第四故障单位单元254可以位于第二主列区241中的第一行和第二主列的交叉点处。除第一故障单位单元至第四故障单位单元251、252、253和254之外的其余的单位单元可以被认为是正常单位单元。

在获得故障单位单元的分布之后，可以执行修复过程和与修复过程相关的地址重映射过程。为了执行修复过程和地址重映射过程，可以将第一子阵列210中的行划分成第一行组或第二行组。类似地，可以将第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组。可以根据每个行中包括的故障单位单元的数量来将第一子阵列210和第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组。例如，可以将第一子阵列210和第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组，使得第一子阵列210和第二子阵列220的第一行组中的故障单位单元的数量小于或等于第一子阵列210和第二子阵列220的任意一个中的备用列的数量，以及使得第一子阵列210和第二子阵列220的第二行组中的故障单位单元的数量小于或等于第一子阵列210和第二子阵列220的任意一个中的备用列的数量。

将第一子阵列210中的行划分成第一行组或第二行组可以通过根据第一子阵列210中的每个行的行地址而定义第一行组和第二行组来执行。此外，将第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组可以通过根据第二子阵列220中的每个行的行地址而定义第一行组和第二行组来执行。

在一个实施例中，可以将第一子阵列210和第二子阵列220的第一行组定义成这样的行：所述行中的每个具有第三位(即，lsb)为值“0”的行地址。可以将第一子阵列210和第二子阵列220的第二行组定义成这样的行：所述行中的每个具有第三位(即，lsb)为值“1”的行地址。即，第一行组可以包括第一子阵列210和第二子阵列220中的行之中的偶数编号的行(即，“000”、“010”、“100”和“110”)，而第二行组可以包括第一子阵列210和第二子阵列220中的行之中的奇数编号的行(“001”、“011”、“101”和“111”)。

相应地，第一子阵列210的第一行组可以包括具有行地址“000”的第一行和具有行地址“010”的第三行，以及第二子阵列220的第一行组可以包括具有行地址“100”的第一行和具有行地址“110”的第三行。此外，第一子阵列210的第二行组可以包括具有行地址“001”的第二行和具有行地址“011”的第四行，以及第二子阵列220的第二行组可以包括具有行地址“101”的第二行和具有行地址“111”的第四行。

因为第一子阵列210和第二子阵列220的第一行组包括第一故障单位单元251和第四故障单位单元254，所以第一子阵列210和第二子阵列220的第一行组中的故障单位单元251和254的数量不大于第一备用列区232和第二备用列区242的任意一个中的备用列的数量。类似地，因为第一子阵列210和第二子阵列220的第二行组包括第二故障单位单元252和第三故障单位单元253，所以第一子阵列210和第二子阵列220的第二行组中的故障单位单元252和253的数量也不大于第一备用列区232和第二备用列区242的任意一个中的备用列的数量。

第一子阵列210的第一行组和第二行组中的行的行地址可以共同具有为“0”的第一位(即，msb)。第二子阵列220的第一行组和第二行组中的行的行地址可以共同具有为“1”的第一位。因此，特定行是属于第一子阵列210还是第二子阵列220可以根据该特定行的行地址中的第一位(即，msb)的值来确定。属于第一子阵列210和第二子阵列220的第一行组的全部行可以共同具有第三位(即，lsb)为值“0”的行地址。属于第一子阵列210和第二子阵列220的第二行组的全部行可以共同具有第三位(即，lsb)为值“1”的行地址。因此，特定行是属于第一行组还是第二行组可以根据该特定行的行地址中的第三位(即，lsb)的值来确定。

参见图6，在获得故障单位单元251、252、253和254的分布和将行划分成第一行组或第二行组之后，可以执行故障单位单元的修复过程。可以以行组为单位来执行修复过程。首先，可以通过第一子阵列210的第一备用列和第二备用列中的一个中的备用单位单元来替换第一子阵列210的第一行组中的故障单位单元和正常单位单元。具体地，可以使用第一子阵列210的第一备用列sc0来修复第一子阵列210中的包括第一故障单位单元251的第一主列(具有列地址“0”)。因为修复过程是以行组为单位执行的，所以不是第一子阵列210的第一列中的全部主单位单元都被第一子阵列210的第一备用列sc0中的全部备用单位单元替换。因此，如箭头601所表示的，第一主列的第一行中的第一故障单位单元251可以被第一备用列sc0的第一行中的备用单位单元替换。此外，如箭头602所表示的，第一主列的第三行中的正常单位单元261可以被第一备用列sc0的第三行中的备用单位单元替换。

第二子阵列220的第一行组也可以使用与修复第一子阵列210的第一行组中使用的方法实质上相同的方法来修复。因此，如箭头603所表示的，第二子阵列220的第一主列的主单位单元之中的属于第一行组的第一行中的正常单位单元262可以被第二子阵列220的第一备用列sc0的第一行中的备用单位单元替换。此外，如箭头604所表示的，第二子阵列220的第一主列的主单位单元之中的属于第一行组的第三行中的正常单位单元263可以被第二子阵列220的第一备用列sc0的第三行中的备用单位单元替换。

参见图7，可以使用第二子阵列220的第二备用列sc1来修复第二子阵列220中的第一行组的主列之中的包括第四故障单位单元254的第二主列(具有列地址“1”)。因为在修复第二子阵列220的第一主列(具有列地址“0”)中已经使用了第二子阵列220的第一备用列sc0的第一行组中的备用单位单元，所以可能不能在任何其他的修复过程中再使用第二子阵列220的第一备用列sc0的第一行组中的备用单位单元。因为修复过程是以行组为单位执行的，所以不是第二子阵列220的第二主列中的全部主单位单元都被第二子阵列220的第二备用列sc1中的全部备用单位单元替换。因此，如箭头605所表示的，第二主列的第一行中的第四故障单位单元254可以被第二备用列sc1的第一行中的备用单位单元替换。此外，如箭头606所表示的，第二主列的第三行中的正常单位单元264可以被第二备用列sc1的第三行中的备用单位单元替换。

第一子阵列210的第一行组也可以使用与修复第二子阵列220的第一行组中使用的方法实质上相同的方法来修复。因此，如箭头607所表示的，第一子阵列210的第二主列的主单位单元之中的属于第一行组的第一行中的正常单位单元265可以被第一子阵列210的第二备用列sc1的第一行中的备用单位单元替换。此外，如箭头608所表示的，第一子阵列210的第二主列的主单位单元之中的属于第一行组的第三行中的正常单位单元266可以被第一子阵列210的第二备用列sc1的第三行中的备用单位单元替换。

参见图8，可以使用第一子阵列210的第二备用列sc1来修复第一子阵列210的主列之中的包括第二故障单位单元252的第(n-1)主列(具有列地址“(n-2)”)。因为修复过程是以行组为单位执行的，所以不是第一子阵列210的第(n-1)主列中的全部主单位单元都被第一子阵列210的第二备用列sc1中的全部备用单位单元替换。因此，如箭头609所表示的，第(n-1)主列的第二行中的第二故障单位单元252可以被第二备用列sc1的第二行中的备用单位单元替换。此外，如箭头610所表示的，第(n-1)主列的第四行中的正常单位单元267可以被第二备用列sc1的第四行中的备用单位单元替换。

第二子阵列220的第二行组也可以使用与修复第一子阵列210的第二行组中使用的方法实质上相同的方法来修复。因此，如箭头611所表示的，第二子阵列220的第(n-1)主列的主单位单元之中的属于第二行组的第二行中的正常单位单元268可以被第二子阵列220的第二备用列sc1的第二行中的备用单位单元替换。此外，如箭头612所表示的，第二子阵列220的第(n-1)主列的主单位单元之中的属于第二行组的第四行中的正常单位单元269可以被第二子阵列220的第二备用列sc1的第四行中的备用单位单元替换。

参见图9，可以使用第一子阵列210的第一备用列sc0来修复第一子阵列210的主列之中的包括第三故障单位单元253的第n主列(具有列地址“(n-1)”)。因为修复过程是以行组为单位来执行的，所以仅第一子阵列210的第n主列中的主单位单元之中的在第二行组中的主单位单元可以被第一子阵列210的第一备用列sc0的第二行组中的备用单位单元替换。因此，如箭头613所表示的，第n主列的第二行中的正常单位单元270可以被第一备用列sc0的第二行中的备用单位单元替换。此外，如箭头614所表示的，第n主列的第四行中的第三故障单位单元253可以被第一备用列sc0的第四行中的备用单位单元替换。

第二子阵列220的第二行组也可以使用与修复第一子阵列210的第二行组中使用的方法实质上相同的方法来修复。因此，如箭头615所表示的，第二子阵列220的第n主列的主单位单元之中的属于第二行组的第二行中的正常单位单元271可以被第二子阵列220的第一备用列sc0的第二行中的备用单位单元替换。此外，如箭头616所表示的，第二子阵列220的第n主列的主单位单元之中的属于第二行组的第四行中的正常单位单元272可以被第二子阵列220的第一备用列sc0的第四行中的备用单位单元替换。

在修复第一子阵列210和第二子阵列220中的具有故障单位单元的主列之后，可以使用备用列重映射储存器(scrs)300来执行重映射第一子阵列210和第二子阵列220中的被修复主列的列地址的过程。然而，在其他一些实施例中，可以在修复过程期间执行列地址重映射过程。例如，可以在修复第一子阵列210和第二子阵列220中的第一行组之后执行重映射第一行组中的被修复主列的列地址的过程，以及可以在修复第一子阵列210和第二子阵列220中的第二行组之后执行重映射第二行组中的被修复主列的列地址的过程。可替代地，可以在修复第一子阵列210和第二子阵列220中的第二行组之后执行重映射第二行组中的被修复主列的列地址的过程，以及可以在修复第一子阵列210和第二子阵列220中的第一行组之后执行重映射第一行组中的被修复主列的列地址的过程。即，可以改变第一行组和第二行组的修复过程与第一行组和第二行组的列地址重映射过程的顺序。

参见图10，备用列重映射储存器(scrs)300的第一储存单元310可以包括被虚拟地分配给第一子阵列210中的第一行组和第二子阵列220中的第一行组的储存元件。具体地，具有被第一子阵列210和第二子阵列220的第一备用列sc0中的第一行组的备用单位单元替换的主单位单元的主列的列地址信息可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第一储存单元310的第一虚拟地址储存元件311中。此外，具有被第一子阵列210和第二子阵列220的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元替换的主单位单元的主列的列地址信息可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第一储存单元310的第二虚拟地址储存元件312中。因此，与第一子阵列210和第二子阵列220的第一主列的列地址相对应的值“0”可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第一储存单元310的第一虚拟地址储存元件311中，以及与第一子阵列210和第二子阵列220的第二主列的列地址相对应的值“1”可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第一储存单元310的第二虚拟地址储存元件312中。

参见图11，备用列重映射储存器(scrs)300的第二储存单元320可以包括被虚拟地分配给第一子阵列210中的第二行组和第二子阵列220中的第二行组的储存元件。具体地，具有被第一子阵列210和第二子阵列220的第一备用列sc0中的第二行组的备用单位单元替换的主单位单元的主列的列地址信息可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第二储存单元320的第一虚拟地址储存元件321中。此外，具有被第一子阵列210和第二子阵列220的第二备用列sc1中的第二行组的备用单位单元替换的主单位单元的主列的列地址信息可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第二储存单元320的第二虚拟地址储存元件322中。因此，与第一子阵列210和第二子阵列220的第n主列的列地址相对应的值“(n-1)”可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第二储存单元320的第一虚拟地址储存元件321中，以及与第一子阵列210和第二子阵列220的第(n-1)主列的列地址相对应的值“(n-2)”可以被储存在备用列重映射储存器(scrs)300的第二储存单元320的第二虚拟地址储存元件322中。

图12是图示数据储存区200的第一备用列区232和第二备用列区242连同备用列重映射储存器(scrs)300的示意图，在所述备用列重映射储存器(scrs)300中根据参照图5至图11而描述的实施例虚拟地重映射列地址。参见图12，列地址“0”储存在scrs300的第一储存单元310的第一虚拟地址储存元件311中可以意味着第一子阵列210的第一主列(具有列地址“0”)中的主单位单元之中的第一行组中的主单位单元(即，第一主列的第一行和第三行中的主单位单元)由与第一子阵列210的第一备用列sc0的第一行组相对应的第一行和第三行中的备用单位单元来替换。这也可以意味着第二子阵列220的第一主列(具有列地址“0”)中的主单位单元之中的第一行组中的主单位单元(即，第一主列的第一行和第三行中的主单位单元)由与第二子阵列220的第一备用列sc0的第一行组相对应的第一行和第三行中的备用单位单元来替换。

相应地，由第一备用列区232的第一备用列sc0中的第一行组的备用单位单元替换的第一子阵列210的第一主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“000”和列地址“0”表示的位置处以及由行地址“010”和列地址“0”表示的位置处。类似地，由第二备用列区242的第一备用列sc0中的第一行组的备用单位单元替换的第二子阵列220的第一主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“100”和列地址“0”表示的位置处以及由行地址“110”和列地址“0”表示的位置处。

因此，如果产生了用于读出由行地址“000”和列地址“0”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于储存在scrs300的第一储存单元310的第一虚拟地址储存元件311中的列地址信息“0”来读出第一备用列区232的第一备用列sc0中的第一行组的备用单位单元之中的具有行地址“000”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“000”和列地址“0”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

列地址“1”储存在scrs300的第一储存单元310的第二虚拟地址储存元件312中可以意味着第一子阵列210的第二主列(具有列地址“1”)中的主单位单元之中的第一行组中的主单位单元(即，第二主列的第一行和第三行中的主单位单元)由与第一子阵列210的第二备用列sc1的第一行组相对应的第一行和第三行中的备用单位单元来替换。这也可以意味着第二子阵列220的第二主列(具有列地址“1”)中的主单位单元之中的第一行组中的主单位单元(即，第二主列的第一行和第三行中的主单位单元)由与第二子阵列220的第二备用列sc1的第一行组相对应的第一行和第三行中的备用单位单元来替换。

相应地，由第一备用列区232的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元替换的第一子阵列210的第二主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“000”和列地址“1”表示的位置处以及由行地址“010”和列地址“1”表示的位置处。类似地，由第二备用列区242的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元替换的第二子阵列220的第二主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“100”和列地址“1”表示的位置处以及由行地址“110”和列地址“1”表示的位置处。

因此，如果产生了用于读出由行地址“000”和列地址“1”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs300的第一储存单元310的第二虚拟地址储存元件312中储存的列地址信息来读出第一备用列区232的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元之中的具有行地址“000”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“000”和列地址“1”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

列地址“(n-1)”储存在scrs300的第二储存单元320的第一虚拟地址储存元件321中可以意味着第二子阵列220的第n主列(具有列地址“(n-1)”)中的主单位单元之中的第二行组中的主单位单元(即，第n主列的第二行和第四行中的主单位单元)由与第二子阵列220的第一备用列sc0的第二行组相对应的第二行和第四行中的备用单位单元来替换。这也可以意味着第一子阵列210的第n主列(具有列地址“(n-1)”)中的主单位单元之中的第二行组中的主单位单元(即，第n主列的第二行和第四行中的主单位单元)由与第一子阵列210的第一备用列sc0的第二行组相对应的第二行和第四行中的备用单位单元来替换。

相应地，由第一备用列区232的第一备用列sc0中的第二行组的备用单位单元替换的第一子阵列210的第n主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“001”和列地址“(n-1)”表示的位置处以及由行地址“011”和列地址“(n-1)”表示的位置处。类似地，由第二备用列区242的第一备用列sc0中的第二行组的备用单位单元替换的第二子阵列220的第n主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“101”和列地址“(n-1)”表示的位置处以及由行地址“111”和列地址“(n-1)”表示的位置处。

因此，如果产生了用于读出由行地址“001”和列地址“(n-1)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs300的第二储存单元320的第一虚拟地址储存元件321中储存的列地址信息“(n-1)”来读出第一备用列区232的第一备用列sc0中的第二行组的备用单位单元之中的具有行地址“001”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“001”和列地址“(n-1)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

列地址“(n-2)”储存在scrs300的第二储存单元320的第二虚拟地址储存元件322中可以意味着第二子阵列220的第(n-1)主列(具有列地址“(n-2)”)中的主单位单元之中的第二行组中的主单位单元(即，第(n-1)主列的第二行和第四行中的主单位单元)由与第二子阵列220的第二备用列sc1的第二行组相对应的第二行和第四行中的备用单位单元来替换。这也可以意味着第一子阵列210的第(n-1)主列(具有列地址“(n-2)”)中的主单位单元之中的第二行组中的主单位单元(即，第(n-1)主列的第二行和第四行中的主单位单元)由与第一子阵列210的第二备用列sc1的第二行组相对应的第二行和第四行中的备用单位单元来替换。

相应地，由第一备用列区232的第二备用列sc1中的第二行组的备用单位单元替换的第一子阵列210的第(n-1)主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“001”和列地址“(n-2)”表示的位置处以及由行地址“011”和列地址“(n-2)”表示的位置处。类似地，由第二备用列区242的第二备用列sc1中的第二行组的备用单位单元替换的第二子阵列220的第(n-1)主列中的主单位单元可以分别位于由行地址“101”和列地址“(n-2)”表示的位置处以及由行地址“111”和列地址“(n-2)”表示的位置处。

因此，如果产生了用于读出由行地址“001”和列地址“(n-2)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs300的第二储存单元320的第二虚拟地址储存元件322中储存的列地址信息“(n-2)”来读出第一备用列区232的第二备用列sc1中的第二行组的备用单位单元之中的具有行地址“001”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“001”和列地址“(n-2)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

图13是图示根据本公开的另一实施例的存储器件700的框图。参见图13，存储器件700可以被配置成包括多个存储体710、720、…以及备用列重映射储存器(scrs)730。备用列重映射储存器(scrs)730可以被设置成与所述多个存储体710、720、…分开。多个存储体710、720、…中的每个可以包括多个子阵列。例如，第一存储体710可以包括多个子阵列711、712、…。类似地，第二存储体720可以包括多个子阵列721、722、…。多个存储体710、720、……中的每个中包括的子阵列可以被设置成具有与参照图1至图12而描述的子阵列210和220相同的配置。备用列重映射储存器(scrs)730可以被配置成包括多个储存单元，类似于参照图1而描述的scrs300。scrs730中包括的多个储存单元的数量可以等于存储器件700中包括的子阵列的数量。存储器件700可以被配置成使得通过对存储体710、720、…中的每个中的子阵列的修复而重映射的列地址被虚拟地分配和储存在与多个存储体710、720、…分开的scrs730中，而不区分存储体710、720、…。

图14是图示根据本公开的又另一实施例的存储器件800的框图。参见图14，存储器件800可以被配置成包括多个存储体810、820、…。多个存储体810、820、…中的每个可以包括备用列重映射储存器(scrs)和多个子阵列。例如，第一存储体810可以包括多个子阵列811、812、…以及第一备用列重映射储存器(scrs0)831。类似地，第二存储体820可以包括多个子阵列821、822、…以及第二备用列重映射储存器(scrs1)832。多个存储体810、820、…中的每个中包括的子阵列可以被设置成具有与参照图1至图12而描述的子阵列210和220相同的配置。第一备用列重映射储存器和第二备用列重映射储存器(scrs0、scrs1)831和832中的每个可以被配置成包括多个储存单元，类似于参照图1而描述的scrs300。第一备用列重映射储存器和第二备用列重映射储存器(scrs0、scrs1)831和832中包括的多个储存单元的总数可以等于存储器件800中包括的子阵列的总数。通过对第一存储体810中的子阵列的修复而重映射的列地址可以被虚拟地分配和储存在第一存储体810中包括的第一备用列重映射储存器(scrs0)831中。类似地，通过对第二存储体820中的子阵列的修复而重映射的列地址可以被虚拟地分配和储存在第二存储体820中包括的第二备用列重映射储存器(scrs1)832中。

图15是图示修复图2中所示的第一子阵列210和第二子阵列220的另外的一般方法以及使用备用列重映射储存器(scrs)4000来重映射第一子阵列210和第二子阵列220中的被修复列的列地址的另外的一般方法的示意图。参见图15，第一子阵列210和第二子阵列220可以具有与参照图1和图2而描述的相同的配置。scrs4000可以包括第一储存单元4100和第二储存单元4200。scrs4000的第一储存单元4100可以物理上分配给第一子阵列210，而scrs4000的第二储存单元4200可以物理上分配给第二子阵列220。因此，第一储存单元4100可以储存第一子阵列210中的被修复的主列的列地址信息，而第二储存单元4200可以储存第二子阵列220中的被修复的主列的列地址信息。

scrs4000的第一储存单元4100可以包括多个物理地址储存元件(例如，第一物理地址储存元件4110和第二物理地址储存元件4120)，其数量等于第一子阵列210中的备用列sc0和sc1的数量。第一储存单元4100的第一物理地址储存元件4110可以储存由第一子阵列210的第一备用列sc0替换的主列的列地址信息。第一储存单元4100的第二物理地址储存元件4120可以储存由第一子阵列210的第二备用列sc1替换的主列的列地址信息。scrs4000的第二储存单元4200可以包括多个物理地址储存元件(例如，第一物理地址储存元件4210和第二物理地址储存元件4220)，其数量等于第二子阵列220中的备用列sc0和sc1的数量。第二储存单元4200的第一物理地址储存元件4210可以储存由第二子阵列220的第一备用列sc0替换的主列的列地址信息。第二储存单元4200的第二物理地址储存元件4220可以储存由第二子阵列220的第二备用列sc1替换的主列的列地址信息。

为了执行修复过程和与修复过程相关的地址重映射过程，可以测试第一子阵列210和第二子阵列220中的主单位单元以验证每个主单位单元是否正常操作。可以使用各种测试模式、例如跳棋模式和行进模式来测试第一子阵列210和第二子阵列220中的主单位单元。在一个实施例中，测试第一子阵列210和第二子阵列220中的主单位单元可以包括产生测试模式以及将通过测试模式而提供的数据写入至主单位单元中。此外，可以通过读取操作来读出主单位单元中储存的数据，以及可以将从主单位单元输出的数据与通过测试模式而提供的数据相比较。如果从主单位单元输出的数据与通过测试模式提供的数据一致，则第一子阵列210和第二子阵列220中的全部主单位单元可以被认为是正常单位单元。与此相反，如果从主单位单元中的特定单位单元输出的数据与通过测试模式提供的数据中的对应数据不一致，则该特定主单位单元可以被认为是故障单位单元(或者异常单位单元)。

在图15中，假定第一主列区231具有五个故障单位单元，而第二主列区241具有三个故障单位单元。具体地，如图15中的符号“×”所示，第一故障单位单元2510可以位于第一主列区231中的第二行和第一主列的交叉点处，第二故障单位单元2520可以位于第一主列区231中的第三行和第一主列的交叉点处，第三故障单位单元2530可以位于第一主列区231中的第四行和第一主列的交叉点处，第四故障单位单元2540可以位于第一主列区231中的第二行和(n-1)主列(具有列地址“(n-2)”)的交叉点处，以及第五故障单位单元2550可以位于第一主列区231中的第三行和n主列(具有列地址“(n-1)”)的交叉点处。此外，第六故障单位单元2560可以位于第二主列区241中的第二行和第二主列的交叉点处，第七故障单位单元2570可以位于第二主列区241中的第三行和第二主列的交叉点处，以及第八故障单位单元2580可以位于第二主列区241中的第四行和第二主列的交叉点处。

在通过测试结果获得第一故障单位单元至第八故障单位单元2510、2520、2530、2540、2550、2560、2570和2580的分布之后，可以执行修复过程。一般而言，可以使用备用列、以列为单位来执行修复过程。如果将一般的修复过程应用到第一子阵列210和第二子阵列220，则包括第一故障单位单元至第三故障单位单元2510、2520和2530的第一主列(具有列地址“0”)中的全部主单位单元可以通过第一子阵列210中的第一备用列sc0中的全部备用单位单元来替换，而包括第四故障单位单元2540的第(n-1)主列中的全部主单位单元可以通过第一子阵列210中的第二备用列sc1中的全部备用单位单元来替换。在这种情况下，可能不可能修复包括第五故障单位单元2550的第n主列，因为在修复第一故障单位单元至第四故障单位单元2510～2540中已经使用了第一子阵列210中的第一备用列sc0和第二备用列sc1二者。同时，包括第六故障单位单元至第八故障单位单元2560、2570和2580的第二主列中的全部主单位单元可以通过第二子阵列220中的第一备用列sc0中的全部备用单位单元来替换。

与通过第一子阵列210的第一备用列sc0来替换的第一主列的列地址相对应的值“0”可以被储存在scrs4000的第一储存单元4100的第一物理地址储存元件4110中。此外，与通过第一子阵列210的第二备用列sc1来替换的第(n-1)主列的列地址相对应的值“n-2”可以被储存在scrs4000的第一储存单元4100的第二物理地址储存元件4120中。此外，与通过第二子阵列220的第一备用列sc0来替换的第二主列的列地址相对应的值“1”可以被储存在scrs4000的第二储存单元4200的第一物理地址储存元件4210中。因为第二子阵列220除第二主列之外没有其他的被修复主列，所以没有列地址信息被储存在scrs4000的第二储存单元4200的第二物理地址储存元件4220中。

在上述的一般的修复过程和一般的列地址重映射过程中，第一子阵列210中的包括故障单位单元的主列的数量为三，而第一子阵列210中的备用列的数量为二。因此，第一子阵列210中的包括故障单位单元的三个主列中仅两个主列可以被修复，而所述三个主列中的其余一个主列不能被修复。与此相反，第二子阵列220中的包括故障单位单元的主列的数量为一，而第二子阵列220中的备用列的数量为二。因此，在修复第二子阵列220中的故障单位单元中未使用第二子阵列220中的两个备用列中的一个。相应地，在修复第二子阵列220中可能不会使用构成第二储存单元4200的第一物理地址储存元件4210和第二物理地址储存元件4220中的任意一个。因此，即使在执行一般的列地址重映射过程之后，也没有信息储存在第一物理地址储存元件4210和第二物理地址储存元件4220的任意一个中。

在参照图15而描述的一般的列地址重映射过程中，构成scrs4000的第一储存单元4100和第二储存单元4200可以被配置成物理上分别对应于第一子阵列210和第二子阵列220。此外，修复过程可以以列为单位来执行。然而，根据本公开的各个实施例，可以采用混合重映射过程(hybridremappingprocess)，使得利用1:1物理重映射过程和虚拟重映射过程来修复第一子阵列210和第二子阵列220。具体地，构成scrs的多个储存单元中的至少一个储存单元可以包括第一地址储存元件和第二地址储存元件，所述第一地址储存元件具有与第一子阵列的1:1物理关系，所述第二地址储存元件具有以行组为单位的、与第一子阵列或第二子阵列的虚拟关系。因此，当第一地址储存元件储存具有1:1物理关系的、由第一子阵列中的备用列替换的第一子阵列中的主列的地址信息时，第二地址储存元件可以储存第二子阵列中修复的主列的地址信息。可替代地，根据故障单位单元的分布，第二地址储存元件可以储存第一子阵列中修复的主列的地址信息。

图16是图示根据本公开的另一实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器(scrs)来重映射列地址的方法的流程图。参见图16，可以测试多个子阵列来获得每个子阵列中的故障单位单元的分布(参见步骤4510)。可以根据故障单位单元的分布来将每个子阵列中的行划分成多个行组(参见步骤4520)。因此，排列在子阵列的每个行中的主单位单元和备用单位单元可以属于行组中的任意一个行组。在将每个行分配给行组中的任意一个行组之后，包括数量大于或等于临界值的故障单位单元的主列可以使用相同的子阵列中的第一备用列来以列为单位修复(参见步骤4530)。如果每个子阵列中的行的数量为“l”，而每个子阵列中的备用列的数量为“s”，则临界值可以为比“l÷s”更大的自然数。在步骤4530中，以列为单位修复的单个主列中的全部主单位单元可以用相同的子阵列中的第一备用列中的全部备用单位单元来替换，而不管行组如何。

包括数量小于临界值的故障单位单元的主列可以以行组为单位、使用相同的子阵列中的第二备用列来修复(参见步骤4540)。因此，如果故障单位单元属于主列中的第一行组，则该主列中的第一行组的全部主单位单元可以由第二备用列中的第一行组的全部备用单位单元来替换。此外，如果故障单位单元属于主列中的第二行组，则该主列中的第二行组的全部主单位单元可以由第二备用列中的第二行组的全部备用单位单元来替换。

在修复过程终止之后，可以执行列地址重映射过程。具体地，可以将以列为单位修复的主列的列地址信息储存在备用列重映射储存器(scrs)的第一储存单元的第一地址储存元件中(参见步骤4550)。可以将以行组为单位修复的主列的列地址信息储存在备用列重映射储存器(scrs)的第一储存单元的第二地址储存元件中(参见步骤4560)。更具体地，可以将包括属于第一行组的故障单位单元的主列的列地址信息储存在备用列重映射储存器(scrs)的第一储存单元的第二地址储存元件中。此外，可以将包括属于第二行组的故障单位单元的主列的列地址信息储存在备用列重映射储存器(scrs)的第二储存单元的第二地址储存元件中。列地址重映射过程的结果是，第一子阵列中的以列为单位修复的主列的列地址信息可以储存在scrs的第一储存单元的第一地址储存元件中，而包括属于第一行组的故障单位单元的主列的列地址信息可以储存在scrs的第一储存单元的第二地址储存元件中。此外，第二子阵列中的以列为单位修复的主列的列地址信息可以储存在scrs的第二储存单元的第一地址储存元件中，而包括属于第二行组的故障单位单元的主列的列地址信息可以储存在scrs的第二储存单元的第二地址储存元件中。

图17至图22是详细图示根据本公开的另一实施例的在存储器件的修复过程中利用备用列重映射储存器3000来重映射列地址的方法的示意图。在图17至图22中，与图1和图2中使用的相同的附图标记表示相同的元件。在下文中将结合存储器件100包括第一子阵列210和第二子阵列220的示例来描述本实施例。然而，本实施例中描述的列地址重映射过程可以同样地应用于其他包括三个或更多个子阵列的存储器件。

参见图17，可以测试第一子阵列210的第一主列区231中的主单位单元和第二子阵列220的第二主列区241的主单位单元以获得故障单位单元的分布。将结合下面的示例来描述根据本实施例的列地址重映射方法：在该示例中，通过对第一主列区231和第二主列区241中的主单位单元的测试而获得的故障单位单元的分布与图15中所示的分布相同。因此，如图17中的符号“×”所指示的，第一故障单位单元2510可以位于第一主列区231中的第二行和第一主列的交叉点处，第二故障单位单元2520可以位于第一主列区231中的第三行和第一主列的交叉点处，第三故障单位单元2530可以位于第一主列区231中的第四行和第一主列的交叉点处，第四故障单位单元2540可以位于第一主列区231中的第二行和第(n-1)主列(具有列地址“(n-2)”)的交叉点处，以及第五故障单位单元2550可以位于第一主列区231中的第三行和第n主列(具有列地址“(n-1)”)的交叉点处。此外，第六故障单位单元2560可以位于第二主列区241中的第二行和第二主列的交叉点处，第七故障单位单元2570可以位于第二主列区241中的第三行和第二主列的交叉点处，以及第八故障单位单元2580可以位于第二主列区241中的第四行和第二主列的交叉点处。除第一故障单位单元至第八故障单位单元2510～2580之外的其余的主单位单元可以被认为是正常单位单元。

在获得故障单位单元的分布之后，可以执行修复过程和与修复过程相关的列地址重映射过程。为了执行修复过程和列地址重映射过程，可以将第一子阵列210中的行划分成第一行组或第二行组。类似地，可以将第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组。可以根据每个行中包括的故障单位单元的分布而使用各种方法中的任意一种来将第一子阵列210和第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组。在本实施例中，第一行组可以包括第一子阵列210和第二子阵列220中的行之中的偶数编号的行(即，“000”、“010”、“100”和“110”)，而第二行组可以包括第一子阵列210和第二子阵列220中的行之中的奇数编号的行(即，“001”、“011”、“101”和“111”)。

根据本实施例，第一子阵列210中的具有行地址“000”的第一行和具有行地址“010”的第三行可以分配给第一行组，以及第二子阵列220中的具有行地址“100”的第一行和具有行地址“110”的第三行可以分配给第一行组。此外，第一子阵列210中的具有行地址“001”的第二行和具有行地址“011”的第四行可以分配给第二行组，以及第二子阵列220中的具有行地址“101”和具有行地址“111”的第四行可以分配给第二行组。

在本实施例中，第一子阵列210和第二子阵列220中的属于第一行组的行的行地址可以共同具有为“0”的第三位(即，lsb)，以及第一子阵列210和第二子阵列220中的属于第二行组的行的行地址可以共同具有为“1”的第三位(即，lsb)。此外，第一子阵列210中的属于第一行组和第二行组的行的行地址可以共同具有为“0”的第一位(即，msb)，以及第二子阵列220中的属于第一行组和第二行组的行的行地址可以共同具有为“1”的第一位(即，msb)。

在获得故障单位单元的分布并且定义第一行组和第二行组之后，可以如参照图16中的步骤4530和4540而描述的那样执行故障单位单元的修复过程。在这种情况下，可以通过混合修复过程来执行修复过程。该混合修复过程可以包括以列为单位来执行的修复过程和以行组为单位来执行的修复过程。具体地，以列为单位执行的修复过程可以针对包括数量大于或等于每个主列中的临界值的故障单位单元的主列来执行。与此相反，以行组为单位执行的修复过程可以针对包括数量小于每个主列中的临界值的故障单位单元的主列来执行。如果每个子阵列中的行的数量为“l”而每个子阵列中的备用列的数量为“s”，则临界值可以设置成比“l÷s”更大的自然数，如参照图4所述。在本实施例中，因为每个子阵列中的行的数量“l”为四，而每个子阵列中的备用列的数量“s”为二，所以临界值可以设置成比二更大的自然数。即，临界值可以设置成三。

如果临界值为三，则可以以列为单位来修复第一子阵列210的主列之中的具有三个故障单位单元(即，第一故障单位单元至第三故障单位单元2510、2520和2530)的第一主列，以及也可以以列为单位来修复第二子阵列220的主列之中的具有三个故障单位单元(即，第六故障单位单元至第八故障单位单元2560、2570和2580)的第二主列。与此相反，具有两个或更少的故障单位单元的主列可以以行组为单位来修复。即，第一子阵列210的主列之中的具有一个故障单位单元(即，第四故障单位单元2540)的第(n-1)主列(具有列地址“(n-2)”)可以以行组为单位来修复，以及第一子阵列210的主列之中的具有一个故障单位单元(即，第五故障单位单元2550)的第n主列(具有列地址“(n-1)”)也可以以行组为单位来修复。

在下文中，将参照图18至图22来详细地描述与第一故障单位单元至第八故障单位单元251～2580相关的修复过程和列地址重映射过程。首先，如图18中所示，第一子阵列210的主列之中的具有列地址“0”的第一主列可以具有三个故障单位单元(即，第一故障单位单元至第三故障单位单元2510、2520和2530)。因为第一子阵列210的第一主列中包括的故障单位单元的数量等于临界值“3”，所以第一子阵列210的第一主列可以以列为单位来修复。相应地，第一子阵列210的第一主列中的全部主单位单元可以由第一子阵列210的备用列的任意一个(例如，第一备用列sc0)中的全部备用单位单元来替换。即，如箭头6010所表示的，位于第一子阵列210的第一行和第一主列的交叉点处的正常单位单元2610可以由位于第一子阵列210的第一行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6020所表示的，位于第一子阵列210的第二行和第一主列的交叉点处的第一故障单位单元2510可以由位于第一子阵列210的第二行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6030所表示的，位于第一子阵列210的第三行和第一主列的交叉点处的第二故障单位单元2520可以由位于第一子阵列210的第三行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6040所表示的，位于第一子阵列210的第四行和第一主列的交叉点处的第三故障单位单元2530可以由位于第一子阵列210的第四行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。

类似地，第二子阵列220的主列之中的具有列地址“1”的第二主列也可以具有三个故障单位单元(即，第六故障单位单元至第八故障单位单元2560、2570和2580)。因为第二子阵列220的第二主列中包括的故障单位单元的数量等于临界值“3”，所以第二子阵列220的第二主列也可以以列为单位来修复。相应地，第二子阵列220的第二主列中的全部主单位单元可以由第二子阵列220的备用列的任意一个(例如，第一备用列sc0)中的全部备用单位单元来替换。即，如箭头6050所表示的，位于第二子阵列220的第一行和第二主列的交叉点处的正常单位单元2620可以由位于第二子阵列220的第一行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6060所表示的，位于第二子阵列220的第二行和第二主列的交叉点处的第六故障单位单元2560可以由位于第二子阵列220的第二行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6070所表示的，位于第二子阵列220的第三行和第二主列的交叉点处的第七故障单位单元2570可以由位于第二子阵列220的第三行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6080所表示的，位于第二子阵列220的第四行和第二主列的交叉点处的第八故障单位单元2580可以由位于第二子阵列220的第四行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。

接下来，如图19中所示，第一子阵列210的主列之中的具有列地址“(n-2)”的第(n-1)主列可以具有单个故障单位单元(即，第四故障单位单元2540)。因为第一子阵列210的第(n-1)主列中包括的故障单位单元的数量小于临界值“3”，所以第一子阵列210的第(n-1)主列可以以行组为单位来修复。类似地，第一子阵列210的主列之中的具有列地址“(n-1)”的第n主列可以具有单个故障单位单元(即，第五故障单位单元2550)。因为第一子阵列210的第n主列中包括的故障单位单元的数量小于临界值“3”，所以第一子阵列210的第n主列可以以行组为单位来修复。

以行组为单位来执行的修复过程可以针对具有属于第一行组的第五故障单位单元2550的第n主列来执行。具体地，具有属于第一行组的第五故障单位单元2550的第n主列可以由第一子阵列210的第二备用列sc1来替换。因为具有属于第一行组的第五故障单位单元2550的第n主列是以行组为单位来修复的，所以不是第一子阵列210的第n主列中的全部主单位单元都被第一子阵列210的第二备用列sc1中的全部备用单位单元替换。相应地，如箭头6110和6120所表示的，位于第一子阵列210的第一行和第n主列的交叉点处的正常单位单元2630可以由位于第一子阵列210的第一行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元替换，以及位于第一子阵列210的第三行和第n主列的交叉点处的第五故障单位单元2550可以由位于第一子阵列210的第三行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。

第二子阵列220的第一行组中的主单位单元的修复过程可以按照与第一子阵列210的第一行组中的主单位单元的修复过程中使用的方式相同的方式来执行。因此，如箭头6130所表示的，位于第二子阵列220的第一行和第n主列的交叉点处的正常单位单元2650可以由位于第二子阵列220的第一行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6140所表示的，位于第二子阵列220的第三行和第n主列的交叉点处的正常单位单元2660可以由位于第二子阵列220的第三行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。

在以行组为单位修复属于第一行组的主单位单元之后，可以以行组为单位来修复具有属于第二行组的第四故障单位单元2540的第(n-1)主列。具体地，具有属于第二行组的第四故障单位单元2540的第(n-1)主列可以由第一子阵列210的第二备用列sc1来替换。即使在这种情况下，由于具有属于第二行组的第四故障单位单元2540的第(n-1)主列是以行组为单位来修复的，因此不是第一子阵列210的第(n-1)主列中的全部主单位单元都被第一子阵列210的第二备用列sc1中的全部单位单元替换。相应地，如箭头6210和6220所表示的，位于第一子阵列210的第二行和第(n-1)主列的交叉点处的第四故障单位单元2540可以由位于第一子阵列210的第二行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换，以及位于第一子阵列210的第四行和第(n-1)主列的交叉点处的正常单位单元2640可以由位于第一子阵列210的第四行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。

第二子阵列220的第二行组中的主单位单元的修复过程可以按照与第一子阵列210的第二行组中的主单位单元的修复过程中使用的方式相同的方式来执行。即，如箭头6230所表示的，位于第二子阵列220的第二行和第(n-1)主列的交叉点处的正常单位单元2670可以由位于第二子阵列220的第二行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6240所表示的，位于第二子阵列220的第四行和第(n-1)主列的交叉点处的正常单位单元2680可以由位于第二子阵列220的第四行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。

在修复包括故障单位单元的主列之后，可以使用备用列重映射储存器(scrs)3000来执行重映射被修复主列的列地址的过程。在一个实施例中，列地址重映射过程可以针对以列为单位修复的主列来执行，然后可以针对以行组为单位修复的主列来执行。然而，可以根据实施例而将重映射顺序设置得不同。例如，在其他一些实施例中，可以在重映射以行组为单位修复的主列的列地址之后来重映射以列为单位修复的主列的列地址。

如图20中所示，可以提供scrs3000的第一储存单元3100的第一地址储存元件3110以储存第一子阵列210中的第一主列(c11)的列地址，所述第一子阵列210中的第一主列(c11)是以列为单位来修复以由第一子阵列210的第一备用列sc0来替换。此外，可以提供scrs3000的第二储存单元3200的第一地址储存元件3210以储存第二子阵列220中的第二主列(c22)的列地址，所述第二子阵列220中的第二主列(c22)是以列为单位来修复以由第二子阵列220的第一备用列sc0来替换。因此，scrs3000的第一储存单元3100的第一地址储存元件3110可以物理上分配给第一子阵列210，以及scrs3000的第二储存单元3200的第一地址储存元件3210可以物理上分配给第二子阵列220。

以列为单位修复的主列的地址重映射过程的结果是，与由第一子阵列210的第一备用列sc0来替换的第一主列(c11)的列地址相对应的值“0”可以被储存在scrs3000的第一储存单元3100的第一地址储存元件3110中。此外，与由第二子阵列220的第一备用列sc0来替换的第二主列(c22)的列地址相对应的值“1”可以被储存在scrs3000的第二储存单元3200的第一地址储存元件3210中。

可以提供scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120以储存具有使用属于第一行组的备用单位单元来修复的、属于第一行组的主单位单元的主列的列地址。可以提供scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220以储存具有使用属于第二行组的备用单位单元来修复的、属于第二行组的主单位单元的主列的列地址。因此，scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120可以被虚拟地分配给第一行组，而不用区分第一子阵列210和第二子阵列220，以及scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220可以被虚拟地分配给第二行组，而不用区分第一子阵列210和第二子阵列220。

如图21中所示，与包括使用第一子阵列210的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元、以行组为单位来修复的主单位单元的第n主列的列地址相对应的值“(n-1)”可以被储存在scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120中。scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120中储存的列地址“(n-1)”也可以与包括使用第二子阵列220的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元、以行组为单位来修复的主单位单元的第n主列的列地址一致。

如图22中所示，与包括使用第一子阵列210的第二备用列sc1中的第二行组的备用单位单元、以行组为单位来修复的主单位单元的第(n-1)主列的列地址相对应的值“(n-2)”可以被储存在scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220中。scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220中储存的列地址“(n-2)”也可以与包括使用第二子阵列220的第二备用列sc1中的第二行组的备用单位单元、以行组为单位来修复的主单位单元的第(n-1)主列的列地址一致。

图23是图示根据参照图17至图22而描述的实施例来修复和重映射的第一备用列区232和第二备用列区242以及备用列重映射储存器3000的示意图。参见图23，可以提供scrs3000的第一储存单元3100的第一地址储存元件3110以储存使用第一备用列区232中的第一备用列sc0、以列为单位来修复的第一子阵列210中的主列的列地址信息。列地址“0”储存在scrs3000的第一储存单元3100的第一地址储存元件3110中可以意味着第一子阵列210的第一主列(具有列地址“0”)中的全部主单位单元由第一子阵列210的第一备用列sc0中的全部备用单位单元替换。即，第一备用列区232的第一备用列sc0中的备用单位单元可以分别具有行地址“000”和列地址“0”、行地址“001”和列地址“0”、行地址“010”和列地址“0”以及行地址“011”和列地址“0”。相应地，如果产生了用于选择性地读出主单位单元中的由列地址“0”指定的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令，例如，用于读出由行地址“010”和列地址“0”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs3000的第一储存单元3100的第一地址储存元件3110中储存的列地址信息“0”来读出第一备用列区232的第一备用列sc0中的备用单位单元之中的具有行地址“010”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“010”和列地址“0”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

可以提供scrs3000的第二储存单元3200的第一地址储存元件3210以储存使用第二备用列区242中的第一备用列sc0、以列为单位来修复的第二子阵列220中的主列的列地址信息。列地址“1”储存在scrs3000的第二储存单元3200的第一地址储存元件3210中可以意味着第二子阵列220的第二主列(具有列地址“1”)中的全部主单位单元由第二子阵列220的第一备用列sc0中的全部备用单位单元来替换。即，第二备用列区242的第一备用列sc0中的备用单位单元可以分别具有行地址“100”和列地址“1”、行地址“101”和列地址“1”、行地址“110”和列地址“1”以及行地址“111”和列地址“1”。相应地，如果产生了用于选择性地读出主单位单元中的由列地址“1”指定的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“110”和列地址“1”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs3000的第二储存单元3200的第一地址储存元件3210中储存的列地址信息“1”来读出第二备用列区242的第一备用列sc0中的备用单位单元之中的具有行地址“110”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“110”和列地址“1”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

可以提供scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120和scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220以储存使用第一备用列区232和第二备用列区242中的第二备用列sc1、以行组为单位来修复的子阵列210和220中的主列的列地址信息。例如，可以提供scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120以储存使用第一备用列区232和第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元来修复的主列的列地址信息，以及可以提供scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220以储存使用第一备用列区232和第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元来修复的主列的列地址信息。

具体地，列地址“(n-1)”储存在scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120中可以意味着第一子阵列210和第二子阵列220的第n主列(具有列地址“(n-1)”)的主单位单元之中的属于第一行组的主单位单元(即，第n主列的第一行和第三行中的主单位单元)由第一备用列区232和第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元来替换。即，第一备用列区232的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元可以分别具有行地址“000”和列地址“(n-1)”以及行地址“010”和列地址“(n-1)”。类似地，第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元可以分别具有行地址“100”和列地址“(n-1)”以及行地址“110”和列地址“(n-1)”。

相应地，如果产生了用于选择性地读出第一子阵列210中的由列地址“(n-1)”指定的属于第一行组的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“010”和列地址“(n-1)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120中储存的列地址信息“(n-1)”来读出第一备用列区232的第二备用列sc1中的备用单位单元之中的具有行地址“010”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“010”和列地址“(n-1)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。此外，如果产生了用于选择性地读出第二子阵列220中的由列地址“(n-1)”指定的属于第一行组的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“110”和列地址“(n-1)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs3000的第一储存单元3100的第二地址储存元件3120中储存的列地址信息“(n-1)”来读出第二备用列区242的第二备用列sc1中的备用单位单元之中的具有行地址“110”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“110”和列地址“(n-1)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

类似地，列地址“(n-2)”储存在scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220中可以意味着第一子阵列210和第二子阵列220的第(n-1)主列(具有列地址“(n-2)”)的主单位单元之中的属于第二行组的主单位单元(即，第(n-1)主列的第二行和第四行中的主单位单元)由第一备用列区232和第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元来替换。即，第一备用列区232的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元可以分别具有行地址“001”和列地址“(n-2)”以及行地址“011”和列地址“(n-2)”。类似地，第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元可以分别具有行地址“101”和列地址“(n-2)”以及行地址“111”和列地址“(n-2)”。

相应地，如果产生了用于选择性地读出第一子阵列210中的由列地址“(n-2)”指定的属于第二行组的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“011”和列地址“(n-2)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220中储存的列地址信息“(n-2)”来读出第一备用列区232的第二备用列sc1中的备用单位单元之中的具有行地址“011”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“011”和列地址“(n-2)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。此外，如果产生了用于选择性地读出第二子阵列220中的由列地址“(n-2)”指定的属于第二行组的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“111”和列地址“(n-2)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs3000的第二储存单元3200的第二地址储存元件3220中储存的列地址信息“(n-2)”来读出第二备用列区242的第二备用列sc1中的备用单位单元之中的具有行地址“111”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“111”和列地址“(n-2)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

图24至图30是详细地图示参照图16而描述的混合修复过程和与混合修复过程相关的地址重映射过程的示意图。在图24至图30中，与图1和图2中所使用的相同的附图标记表示相同的元件。在下文中也将结合存储器件100包括第一子阵列210和第二子阵列220的示例来描述本实施例。然而，本实施例中描述的列地址重映射过程可以同样地应用于其他包括三个或更多个子阵列的存储器件。

参见图24，可以测试第一子阵列210的第一主列区231中的主单位单元和第二子阵列220的第二主列区241的主单位单元以获得故障单位单元的分布。如图24中的符号“×”所指示的，假定根据本实施例的存储器件100包括第一故障单位单元至第八故障单位单元2710、2720、2730、2740、2750、2760、2770和2780。例如，第一故障单位单元2710可以位于第一主列区231中的第二行和第一主列(具有列地址“0”)的交叉点处，第二故障单位单元2720可以位于第一主列区231中的第三行和第一主列的交叉点处，第三故障单位单元2730可以位于第一主列区231中的第四行和第一主列的交叉点处，第四故障单位单元2740可以位于第一主列区231中的第二行和第二主列(具有列地址“1”)的交叉点处，以及第五故障单位单元2750可以位于第一主列区231中的第三行和第n主列(具有列地址“(n-1)”)的交叉点处。此外，第六故障单位单元2760可以位于第二主列区241中的第一行和第二主列的交叉点处，第七故障单位单元2770可以位于第二主列区241中的第二行和第二主列的交叉点处，以及第八故障单位单元2780可以位于第二主列区241中的第三行和第二主列的交叉点处。除第一故障单位单元至第八故障单位单元2710～2780之外的其余的主单位单元可以被认为是正常单位单元。

在获得故障单位单元的分布之后，可以执行修复过程和与修复过程相关的列地址重映射过程。为了执行修复过程和列地址重映射过程，可以将第一子阵列210中的行划分成第一行组或第二行组。类似地，可以将第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组。可以根据每个行中包括的故障单位单元的分布来使用各种方法中的任意一种将第一子阵列210和第二子阵列220中的行划分成第一行组或第二行组。在本实施例中，第一行组可以包括第一子阵列210和第二子阵列220的行之中的偶数编号的行，而第二行组可以包括第一子阵列210和第二子阵列220的行之中的奇数编号的行。

根据本实施例，第一子阵列210中的具有行地址“000”的第一行和具有行地址“010”的第三行可以分配给第一行组，以及第二子阵列220中的具有行地址“100”的第一行和具有行地址“110”的第三行可以分配给第一行组。此外，第一子阵列210中的具有行地址“001”的第二行和具有行地址“011”的第四行可以分配给第二行组，以及第二子阵列220中的具有行地址“101”的第二行和具有行地址“111”的第四行可以分配给第二行组。

在本实施例中，第一子阵列210和第二子阵列220中的属于第一行组的行的行地址可以共同具有为“0”的第三位(即，lsb)，以及第一子阵列210和第二子阵列220中的属于第二行组的行的行地址可以共同具有为“1”的第三位(即，lsb)。此外，第一子阵列210中的属于第一行组和第二行组的行的行地址可以共同具有为“0”的第一位(即，msb)，以及第二子阵列220中的属于第一行组和第二行组的行的行地址可以共同具有为“1”的第一位(即，msb)。

在获得故障单位单元的分布以及定义第一行组和第二行组之后，可以如参照图16中的步骤4530和4540而描述的那样来执行故障单位单元的修复过程。在这种情况下，可以通过混合修复过程来执行修复过程。该混合修复过程可以包括以列为单位来执行的修复过程和以行组为单位来执行的修复过程。具体地，以列为单位执行的修复过程可以针对包括数量大于或等于每个主列中的临界值的故障单位单元的主列来执行。与此相反，以行组为单位执行的修复过程可以针对包括数量小于每个主列中的临界值的故障单位单元的主列来执行。如果每个子阵列中的行的数量为“l”，而每个子阵列中的备用列的数量为“s”，则临界值可以设置成比“l÷s”更大的自然数，如参照图4所述。在本实施例中，由于每个子阵列中的行的数量“l”为四，而每个子阵列中的备用列的数量“s”为二，因此临界值可以设置成比二更大的自然数。即，临界值可以设置成三。

如果临界值为三，则可以以列为单位来修复第一子阵列210的主列之中的具有三个故障单位单元(即，第一故障单位单元至第三故障单位单元2710、2720和2730)的第一主列，以及也可以以列为单位来修复第二子阵列220的主列之中的具有三个故障单位单元(即，第六故障单位单元至第八故障单位单元2760、2770和2780)的第二主列。与此相反，具有两个或更少的故障单位单元的主列可以以行组为单位来修复。即，第一子阵列210的主列之中的具有一个故障单位单元(即，第四故障单位单元2740)的第二主列(具有列地址“1”)可以以行组为单位来修复，以及第一子阵列210的主列之中的具有一个故障单位单元(即，第五故障单位单元2750)的第n主列(具有列地址“(n-1)”)也可以以行组为单位来修复。

在下文中，将参照图25至图30来详细地描述与第一故障单位单元至第八故障单位单元2710～2780相关的修复过程和列地址重映射过程。首先，如图25中所示，第一子阵列210的主列之中的具有列地址“0”的第一主列可以具有三个故障单位单元(即，第一故障单位单元至第三故障单位单元2710、2720和2730)。因为第一子阵列210的第一主列中包括的故障单位单元的数量等于临界值“3”，所以第一子阵列210的第一主列可以以列为单位来修复。相应地，第一子阵列210的第一主列中的全部主单位单元可以由第一子阵列210的备用列中的任意一个备用列(例如，第一备用列sc0)中的全部备用单位单元来替换。即，如箭头6410所表示的，位于第一子阵列210的第一行和第一主列的交叉点处的正常单位单元2810可以由位于第一子阵列210的第一行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6420所表示的，位于第一子阵列210的第二行和第一主列的交叉点处的第一故障单位单元2710可以由位于第一子阵列210的第二行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6430所表示的，位于第一子阵列210的第三行和第一主列的交叉点处的第二故障单位单元2720可以由位于第一子阵列210的第三行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6440所表示的，位于第一子阵列210的第四行和第一主列的交叉点处的第三故障单位单元2730可以由位于第一子阵列210的第四行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。

类似地，第二子阵列220的主列之中的具有列地址“1”的第二主列也可以具有三个故障单位单元(即，第六故障单位单元至第八故障单位单元2760、2770和2780)。因为第二子阵列220的第二主列中包括的故障单位单元的数量等于临界值“3”，所以第二子阵列220的第二主列也可以以列为单位来修复。相应地，第二子阵列220的第二主列中的全部主单位单元可以由第二子阵列220的备用列中的任意一个备用列(例如，第一备用列sc0)中的全部备用单位单元来替换。即，如箭头6450所表示的，位于第二子阵列220的第一行和第二主列的交叉点处的第六故障单位单元2760可以由位于第二子阵列220的第一行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6460所表示的，位于第二子阵列220的第二行和第二主列的交叉点处的第七故障单位单元2770可以由位于第二子阵列220的第二行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6470所表示的，位于第二子阵列220的第三行和第二主列的交叉点处的第八故障单位单元2780可以由位于第二子阵列220的第三行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6480所表示的，位于第二子阵列220的第四行和第二主列的交叉点处的正常单位单元2820可以由位于第二子阵列220的第四行和第一备用列sc0的交叉点处的备用单位单元来替换。

参见图26，第一子阵列210的主列之中的具有列地址“1”的第二主列可以具有单个故障单位单元(即，第四故障单位单元2740)。因为第一子阵列210的第二主列中包括的故障单位单元的数量小于临界值“3”，所以第一子阵列210的第二主列可以以行组为单位来修复。类似地，第一子阵列210的主列之中的具有列地址“(n-1)”的第n主列也可以具有单个故障单位单元(即，第五故障单位单元2750)。因为第一子阵列210的第n主列中包括的故障单位单元的数量小于临界值“3”，所以第一子阵列210的第n主列可以以行组为单位来修复。

首先，可以针对具有属于第一行组的第五故障单位单元2750的第n主列来执行以行组为单位执行的修复过程。具体地，具有属于第一行组的第五故障单位单元2750的第n主列可以使用第一子阵列210的第二备用列sc1来修复。由于具有属于第一行组的第五故障单位单元2750的第n主列是以行组为单位来修复的，因此不是第一子阵列210的第n主列中的全部主单位单元都被第一子阵列210的第二备用列sc1中的全部备用单位单元替换。相应地，如箭头6510和6520所表示的，位于第一子阵列210的第一行和第n主列的交叉点处的正常单位单元2830可以由位于第一子阵列210的第一行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换，以及位于第一子阵列210的第三行和第n主列的交叉点处的第五故障单位单元2750可以由位于第一子阵列210的第三行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。

第二子阵列220中的属于第一行组的主单位单元的修复过程可以按照与第一子阵列210中的属于第一行组的主单位单元的修复过程中使用的方式相同的方式来执行。因此，如箭头6530所表示的，位于第二子阵列220的第一行和第n主列的交叉点处的正常单位单元2840可以由位于第二子阵列220的第一行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。此外，如箭头6540所表示的，位于第二子阵列220的第三行和第n主列的交叉点处的正常单位单元2850可以由位于第二子阵列220的第三行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。

参见图27，在以行组为单位修复属于第一行组的主单位单元之后，可以以行组为单位来修复具有属于第二行组的第四故障单位单元2740的第二主列。具体地，具有属于第二行组的第四故障单位单元2740的第二主列可以使用第一子阵列210的第二备用列sc1来修复。即使在这种情况下，由于具有属于第二行组的第四故障单位单元2740的第二主列是以行组为单位来修复的，因此不是第一子阵列210的第二主列中的全部主单位单元都被第一子阵列210的第二备用列sc1中的全部单位单元替换。相应地，如箭头6610和6620所表示的，位于第一子阵列210的第二行和第二主列的交叉点处的第四故障单位单元2740可以由位于第一子阵列210的第二行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换，以及位于第一子阵列210的第四行和第二主列的交叉点处的正常单位单元2860可以由位于第一子阵列210的第四行和第二备用列sc1的交叉点处的备用单位单元来替换。

第二子阵列220中的属于第二行组的主单位单元的修复过程可以按照与第一子阵列210中的属于第二行组的主单位单元的修复过程中使用的方式相同的方式来执行。然而，在本实施例中，已经使用第二子阵列220的第一备用列sc0、以列为单位修复了第二子阵列的第二主列(具有列地址“1”)。因此，可以省略第二子阵列220的第二主列中的属于第二行组的主单位单元的修复过程。

在修复包括故障单位单元的主列之后，可以使用备用列重映射储存器(scrs)5000来执行重映射被修复主列的列地址的过程。在一个实施例中，列地址重映射过程可以针对以列为单位修复的主列来执行，然后可以针对以行组为单位修复的主列来执行。然而，可以根据实施例而将重映射顺序设置得不同。例如，在其他一些实施例中，可以在重映射以行组为单位修复的主列的列地址之后重映射以列为单位修复的主列的列地址。

如图28中所示，可以提供scrs5000的第一储存单元5100的第一地址储存元件5110以储存第一子阵列210中的第一主列(c11’)的列地址，所述第一子阵列210中的第一主列(c11’)是以列为单位来修复以由第一子阵列210的第一备用列sc0来替换。此外，可以提供scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210以储存第二子阵列220中的第二主列(c22’)的列地址，所述第二子阵列220中的第二主列(c22’)是以列为单位来修复以由第二子阵列220的第一备用列sc0来替换。因此，scrs5000的第一储存单元5100的第一地址储存元件5110可以物理上分配给第一子阵列210，以及scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210可以物理上分配给第二子阵列220。

以列为单位来修复的主列的地址重映射过程的结果是，与由第一子阵列210的第一备用列sc0来替换的第一主列(c11’)的列地址相对应的值“0”可以被储存在scrs5000的第一储存单元5100的第一地址储存元件5110中。此外，与由第二子阵列220的第一备用列sc0来替换的第二主列(c22’)的列地址相对应的值“1”可以被储存在scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210中。

在执行以列为单位修复的主列的地址重映射过程之后，可以执行以行组为单位修复的主列的地址重映射过程。为了执行以行组为单位修复的主列的地址重映射过程，可以提供scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120以储存具有使用属于第一行组的备用单位单元来修复的、属于第一行组的主单位单元的主列的列地址。可以提供scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220以储存具有使用属于第二行组的备用单位单元来修复的、属于第二行组的主单位单元的主列的列地址。因此，scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120可以被虚拟地分配给第一行组，而不用区分第一子阵列210和第二子阵列220，以及scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220可以被虚拟地分配给第二行组，而不用区分第一子阵列210和第二子阵列220。

如图29中所示，与包括使用第一子阵列210的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元、以行组为单位来修复的主单位单元的第n主列的列地址相对应的值“(n-1)”可以被储存在scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120中。scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120中储存的列地址“(n-1)”也可以与包括使用第二子阵列220的第二备用列sc1中的第一行组的备用单位单元、以行组为单位来修复的主单位单元的第n主列的列地址一致。

如图30中所示，与包括使用第一子阵列210的第二备用列sc1中的第二行组的备用单位单元、以行组为单位来修复的主单位单元的第二主列的列地址相对应的值“1”可以被储存在scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220中。由于第二子阵列220的第二主列(具有列地址“1”)未以行组为单位来修复，因此可以不执行用于第二子阵列220的第二主列的地址重映射过程。

图31是图示根据参照图24至图30的实施例来修复和重映射的第一备用列区232和第二备用列区242以及备用列重映射储存器5000的示意图。参见图31，可以提供scrs5000的第一储存单元5100的第一地址储存元件5110以储存使用第一备用列区232中的第一备用列sc0、以列为单位来修复的第一子阵列210中的主列的列地址信息。列地址“0”储存在scrs5000的第一储存单元5100的第一地址储存元件5110中可以意味着第一子阵列210的第一主列(具有列地址“0”)中的全部主单位单元由第一子阵列210的第一备用列sc0中的全部备用单位单元来替换。即，第一备用列区232的第一备用列sc0中的备用单位单元可以分别具有行地址“000”和列地址“0”、行地址“001”和列地址“0”、行地址“010”和列地址“0”以及行地址“011”和列地址“0”。相应地，如果产生了用于选择性地读出由列地址“0”指定的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“010”和列地址“0”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs5000的第一储存单元5100的第一地址储存元件5110中储存的列地址信息“0”来读出第一备用列区232的第一备用列sc0中的备用单位单元之中的具有行地址“010”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“010”和列地址“0”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

可以提供scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210以储存使用第二备用列区242中的第一备用列sc0、以列为单位来修复的第二子阵列220中的主列的列地址信息。列地址“1”储存在scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210中可以意味着第二子阵列220的第二主列(具有列地址“1”)中的全部主单位单元由第二子阵列220的第一备用列sc0中的全部备用单位单元来替换。即，第二备用列区242的第一备用列sc0中的备用单位单元可以分别具有行地址“100”和列地址“1”、行地址“101”和列地址“1”、行地址“110”和列地址“1”以及行地址“111”和列地址“1”。相应地，如果产生了用于选择性地读出由列地址“1”指定的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“110”和列地址“1”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210中储存的列地址信息“1”来读出第二备用列区242的第一备用列sc0中的备用单位单元之中的具有行地址“110”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“110”和列地址“1”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

可以提供scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120和scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220以储存使用第一备用列区232和第二备用列区242中的第二备用列sc1、以行组为单位来修复的子阵列210和220中的主列的列地址信息。例如，可以提供scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120以储存使用第一备用列区232和第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元来修复的主列的列地址信息，以及可以提供scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220以储存使用第一备用列区232和第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元来修复的主列的列地址信息。

具体地，列地址“(n-1)”储存在scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120中可以意味着第一子阵列210和第二子阵列220的第n主列(具有列地址“(n-1)”)的主单位单元之中的属于第一行组的主单位单元(即，第n主列的第一行和第三行中的主单位单元)由第一备用列区232和第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元来替换。因此，第一备用列区232的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元可以分别具有行地址“000”和列地址“(n-1)”以及行地址“010”和列地址“(n-1)”。类似地，第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第一行组的备用单位单元可以分别具有行地址“100”和列地址“(n-1)”以及行地址“110”和列地址“(n-1)”。

相应地，如果产生了用于选择性地读出第一子阵列210中的由列地址“(n-1)”指定的属于第一行组的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“010”和列地址“(n-1)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120中储存的列地址信息“(n-1)”来读出第一备用列区232的第二备用列sc1中的备用单位单元之中的具有行地址“010”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“010”和列地址“(n-1)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。此外，如果产生了用于选择性地读出第二子阵列220中的由列地址“(n-1)”指定的属于第一行组的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“110”和列地址“(n-1)”选择的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs5000的第一储存单元5100的第二地址储存元件5120中储存的列地址信息“(n-1)”来读出第二备用列区242的第二备用列sc1中的备用单位单元之中的具有行地址“110”的备用单位单元中储存的数据(而非位于由行地址“110”和列地址“(n-1)”表示的位置处的主单位单元中储存的数据)。

类似地，列地址“1”储存在scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220中可以意味着第一子阵列210的第二主列(具有列地址“1”)的主单位单元之中的属于第二行组的主单位单元(即，第二主列的第二行和第四行中的主单位单元)由第一备用列区232的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元来替换。即，第一备用列区232的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元可以分别具有行地址“001”和列地址“1”以及行地址“011”和列地址“1”。类似地，第二备用列区242的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元可以分别具有行地址“101”和列地址“(n-2)”以及行地址“111”和列地址“(n-2)”。

相应地，如果产生了用于选择性地读出第一子阵列210中的由列地址“1”指定的属于第二行组的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据的读取命令、例如用于读出由行地址“001”和列地址“1”选择的第四故障单位单元2740中储存的数据的读取命令，则可以基于scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220中储存的列地址信息“1”来读出第一备用列区232的第二备用列sc1中的备用单位单元之中的具有行地址“001”的备用单位单元中储存的数据(而非由行地址“001”和列地址“1”选择的第四故障单位单元2740中储存的数据)。

如上所述，混合列重映射过程的结果是，列地址“1”可以被储存在scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210和第二地址储存元件5220二者中。这是因为第一子阵列210的第二主列(具有列地址“1”)是以行组为单位来修复，以及第二子阵列220的第二主列(具有列地址“1”)是以列为单位来修复，如参照图30所述。在这种情况下，如果产生了读取命令以选择性地输出具有列地址“1”的第二主列中的主单位单元中的任意一个主单位单元中储存的数据，则可能不可能区分被选择的单位单元是以列为单位来修复的还是以行组为单位来修复的。

相应地，如图31中所示，如果相同的列地址储存在scrs5000的第二储存单元5200的第一地址储存元件5210和第二地址储存元件5220二者中，则用于选择主单位单元的优先级可以给以列为单位来修复且物理上重映射的主列。因此，如果产生了用于第二子阵列220中的具有列地址“1”的第二主列的读取命令，即使相同的列地址“1”储存在第一地址储存元件5210和第二地址储存元件5220二者中，也可以根据所述优先级来执行第二子阵列220中的第一备用列sc0(而非第二子阵列220中的第二主列)的读取操作。与此相反，如果产生了用于读出第一子阵列210中的具有列地址“1”的第二主列中的属于第二行组的主单位单元中储存的数据的读取命令，则可以根据scrs5000的第二储存单元5200的第二地址储存元件5220中储存的列地址信息来执行第一子阵列210的第二备用列sc1中的属于第二行组的备用单位单元的读取操作。

以上已经出于说明的目的公开了本公开的实施例。本领域技术人员将认识到，在不脱离所附权利要求书中公开的本公开的范围和精神的情况下，各种修改、添加和替代是可能的。