多路闪存测试筛选系统及设备的制作方法

1.本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种多路闪存测试筛选系统及设备。


背景技术：

2.随着科技社会的不断发展，电子数码设备早已成为人们日常生活必不可少的物品，而随着电子设备的不断改进，为满足人们对电子设备的轻量化与便携式需求，人们对闪存的要求也在不断提升。
3.但由于不同制造商生产的闪存质量有所不同，且仅由闪存的外观无法辨别其质量优劣，因此需要对闪存进行测试筛选，但面对市场上种类繁多且数量较多的闪存，传统单路检测的方法效率较低，需要消耗大量的人力物力。因此，如何通过有效措施提高对闪存的测试筛选效率，成为当前亟待解决的问题。
4.上述内容仅用于辅助理解本实用新型的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。


技术实现要素：

5.本实用新型的主要目的在于提供一种多路闪存测试筛选系统及设备，旨在解决现有技术闪存测试筛选效率不高的技术问题。
6.为实现上述目的，本实用新型提供了一种多路闪存测试筛选系统，所述多路闪存测试筛选系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块；
7.所述分流模块的输入端与上位机的输出端连接，所述分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与所述上位机的输入端连接；
8.所述分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将所述控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号；
9.所述多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机进行结果显示。
10.可选地，所述多路闪存测试筛选系统还包括桥接模块；
11.所述桥接模块的输入端与所述分流模块的输出端连接，所述桥接模块的输出端与各所述多路测试筛选模块的输入端连接。
12.可选地，所述桥接模块，用于获取所述分流模块的多路子控制通讯信号，并将所述多路子控制通讯信号发送至各所述多路测试筛选模块。
13.可选地，所述分流模块包括：主控单元及分流单元，所述主控单元包括一个主控芯片，所述分流单元包括若干分流芯片，所述主控芯片的输入端与所述上位机连接，所述主控芯片的输出端与所述各分流芯片的输入端连接，各所述分流芯片的输出端与所述桥接模块的各桥接芯片的输入端连接；
14.可选地，所述主控芯片，用于控制所述多路测试筛选模块的接入数量。
15.可选地，所述多路测试筛选模块包括：控制筛选单元，所述控制筛选单元包括一个控制芯片及一个存储芯片，所述控制芯片的输入端与所述各桥接芯片的输出端连接，所述控制芯片的输出端通过所述主控芯片与所述上位机连接，且所述控制芯片均连接有一存储芯片。
16.可选地，所述控制芯片，用于控制筛选程序的运行，得到筛选结果，并将所述筛选结果发送至所述上位机进行结果显示；
17.所述存储芯片，用于存储预先烧录的测试筛选程序，并将所述测试筛选程序传输至所述控制芯片，以使所述控制芯片进行测试筛选操作。
18.可选地，所述控制芯片，用于并行控制多个槽口，并同时对所述多个槽口的闪存进行测试筛选。
19.此外，为实现上述目的，本实用新型还提供一种电子设备，所述电子设备包含如上所述的多路闪存测试筛选系统。
20.本实用新型中的多路闪存测试筛选系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块；所述分流模块的输入端与上位机的输出端连接，所述分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与所述上位机的输入端连接；所述分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将所述控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号；所述多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机进行结果显示。本实用新型提出的多路闪存测试筛选系统，通过分流模块将上位机一路控制通讯信号分成多路子控制通讯信号，并将多路子控制通讯信号通过桥接模块传输至多个多路测试筛选模块，由此实现了一个上位机对多个测试筛选模块的控制，从而实现了多路测试筛选工作的同步进行，进而提高了闪存测试筛选的工作效率。
附图说明
21.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
22.图1为本实用新型多路闪存测试筛选系统第一实施例的结构示意图；
23.图2为本实用新型多路闪存测试筛选系统第一实施例的单元结构示意图；
24.图3为本实用新型多路闪存测试筛选系统第二实施例的结构示意图；
25.图4为本实用新型多路闪存测试筛选系统的连接示意图。
26.附图标号说明：
27.标号名称标号名称100上位机201主控单元200分流模块202分流单元300第一多路测试筛选模块310第一控制筛选单元30n第n多路测试筛选模块40n第n桥接芯片
400桥接模块401第一桥接芯片2011主控芯片3011第一控制芯片2021第一分流芯片301n第n控制芯片202n第n分流芯片3021第一存储芯片302n第n存储芯片31n第n控制筛选单元
28.本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
29.应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
30.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
31.需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
32.另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。
33.值得注意的是，在本实用新型的实际应用中，不可避免的会应用到软件程序，但申请人在此声明，该技术方案在具体实施时所应用的软件程序皆为现有技术，在本技术中，不涉及到软件程序的更改及保护，只是对为实现实用新型目的而设计的硬件架构的保护。
34.本实用新型提出一种多路闪存测试筛选系统，参考图1及图2，图1为本实用新型多路闪存测试筛选系统第一实施例的结构示意图，图2为本实用新型多路闪存测试筛选系统第一实施例的单元结构示意图。
35.所述多路闪存测试筛选系统包括分流模块200及若干个多路测试筛选模块300；
36.所述分流模块200的输入端与上位机100的输出端连接，所述分流模块200的输出端与各多路测试筛选模块300的输入端连接，各多路测试筛选模块300的输出端均与所述上位机100的输入端连接。
37.需要说明的是，所述上位机可以是具有命令发送及程序处理功能的设备，例如电脑或其他具有相似功能的电子设备。在本实施例中，所述上位机在接收到用户输入的操作控制指令时，将所述操作控制指令转换成控制通讯信号，并通过通信串口将控制通讯信号传输至分流模块，进一步地，所述分流模块将所述控制通讯信号传输至若干个多路测试筛选模块，以使各多路测试筛选模块对各路对应的闪存进行测试筛选操作，待测试完成得到测试筛选结果，各多路测试筛选模块将得到的测试筛选结果发送至上位机并将结果显示在
屏幕上，用户通过显示结果，可直观地知悉各路闪存的质量优劣。
38.需要补充说明的是，图1中所示第一至第n多路测试筛选模块在结构、功能上均相同，所述第一、第n仅表示在系统中的第一个和第n个测试筛选模块。
39.所述分流模块200，用于接收上位机100发送的控制通讯信号，并将所述控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号；
40.需要说明的是，所述子控制通讯信号可以理解为控制通讯信号的多路分支，其本质与控制通讯信号相同，对应的功能相同，产生的效果也相同。
41.在具体实施中，所述分流模块200包括：主控单元201及分流单元202，所述主控单元201包括若干主控芯片2011至201n，所述分流单元202包括若干分流芯片2021至202n，所述主控芯片2011的输入端与所述上位机100连接，所述主控芯片2011的输出端与所述各分流芯片的输入端连接，各所述分流芯片的输出端与所述多路测试筛选模块300的输入端连接；
42.需要说明的是，所述分流芯片可理解为将一路信号分成多路信号的一部件，所述各分流芯片的输入端与主控芯片的一输出端连接，以获取主控芯片的通讯信号。
43.在具体实施中，所述主控芯片包含有多个输出串口，用户可根据实际需求选择具体数量的串口进行连接，所述分流芯片的输入端与主控芯片的某一输出串口相连接，当然，所述各分流芯片的输出端也可以是包含至少一个输出串口，用户可根据具体实施场景具体选择需使用的串口数量，本实施例对此不加以限制。
44.所述主控芯片2011，用于控制所述多路测试筛选模块300的接入数量。
45.需要说明的是，所述主控芯片一方面用于与上位机进行连接，实现各路测试筛选模块与上位机之间的通讯，另一方面，所述主控芯片可直接与多路测试筛选模块中的电源芯片连接，实现对每一路的通断电控制，由此用户可通过主控芯片实现对任意路的测试筛选模块的控制，用户可根据实际需求选择某一路或某几路的测试筛选模块的接入。
46.在具体实施中，用户可通过上位机与主控芯片选择多路测试筛选模块的具体接入数量。当待测试闪存较多时，用户可在上位机软件中输入指令，使全部测试筛选模块通电，具体为程序指令，主控芯片接收到程序指令，并将所述程序指令直接传输至各多路测试筛选模块中的电源芯片，无需通过分流芯片，各多路测试筛选模块中的电源芯片接收到通电指令，并对所述指令进行响应，实现主控芯片与各多路测试筛选模块之间的电源信号互通。
47.所述多路测试筛选模块300，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机100进行结果显示。
48.需要说明的是，当各多路测试筛选模块接收到分流模块传输的子控制通讯信号时，说明此时上位机与各多路测试筛选模块实现了信号通讯，即各多路测试筛选模块将对上位机发出的控制指令进行响应，此时，各多路测试筛选模块将对各路闪存进行测试筛选操作。
49.为便于描述，以各路中第一路为例进行如下说明。
50.在具体实施中，所述多路测试筛选模块300包括：控制筛选单元310，所述控制筛选单元310包括一个控制芯片3011及一个存储芯片3021，所述控制芯片3011的输入端与所述各分流芯片的输出端连接，所述控制芯片的输出端通过所述主控芯片2011与所述上位机
100连接，且所述控制芯片3011均连接有一存储芯片3021。
51.需要说明的是，当上位机发送控制通讯信号时，分流芯片将控制通讯信号分流成多个子控制通讯信号并将各子控制通讯信号传输至各控制芯片，此时，控制芯片接收到上位机的操作指令，开始执行测试筛选操作。
52.所述控制芯片，用于控制筛选程序的运行，得到筛选结果，并将所述筛选结果发送至所述上位机100进行结果显示。
53.易于理解的是，当控制芯片控制测试筛选模块完成测试筛选工作之后，每路的控制芯片需要将筛选结果发送至主控芯片，进一步地，由于上位机与主控芯片之间通过串口可实现信号通信，因此，上位机可对主控芯片接收到的测试筛选结果进行显示。
54.所述控制芯片，用于并行控制多个槽口，并同时对所述多个槽口的闪存进行检测筛选。
55.需要说明的是，在对闪存进行测试时，可通过槽口固定闪存，进一步可通过槽口，响应控制芯片发出的测试筛选指令。在具体实施中，所述槽口的具体数量可根据实际场景具体设定，本实施例对此不加以限定。
56.所述存储芯片，用于存储预先烧录的测试筛选程序，并将所述测试筛选程序传输至所述控制芯片，以使所述控制芯片进行测试筛选操作。
57.需要说明的是，市场上闪存类型繁多，针对不同种类的闪存对应有不同的测试筛选程序。因此，可通过将对应的测试筛选程序烧录到存储芯片中，在对闪存进行测试时，只需要根据闪存类型对应接入相应的存储芯片，在实际操作中，所述存储芯片可为spi flash。当一批闪存测试完成后，只需要更换对应的spi flash，即可进行下一批闪存的测试筛选。
58.本实用新型通过上述系统，通过所述分流模块实现了对一路控制通讯信号的多路分支，进一步通过多路测试筛选模块实现对分流模块分出的多路子控制通讯信号的响应，从而实现多路测试筛选操作。与现有技术相比，本实用新型能通过一个上位机实现对多个闪存的测试筛选操控，在一定程度上节省了大量人力物力，多路操作提升了测试筛选效率，由于本实用新型筛选工作由电子设备进行，因此也可提高闪存的测试筛选准确率。
59.基于本实用新型的第一实施例，为进一步解决上位机与多路测试筛选模块之间信号不互通的问题，提出本实用新型多路闪存测试筛选系统的第二实施例，参考图3及图4。图3为本实用新型多路闪存测试筛选系统第二实施例的结构示意图，图4为本实用新型多路闪存测试筛选系统的连接示意图。
60.所述多路闪存测试筛选系统还包括桥接模块400；
61.所述桥接模块400的输入端与所述分流模块200的输出端连接，所述桥接模块400的输出端与各所述多路测试筛选模块300的输入端连接。
62.需要说明的是，现有技术中，一般使用usb实现设备间信号传输，但实际上，不同的usb设备传输的信号型号有所不同，有数字信号或模拟信号。
63.在本实施例具体实施中，用于与上位机进行信号通讯的主要部件是所述多路测试筛选模块中的一控制芯片，但所述控制芯片的信号接收和发送都是sata类型，与上位机信号类型不符，此时仅仅通过usb连接两者是无法实现信号通讯的，因此，需要引入桥接模块，具体为桥接芯片，用来连接控制芯片与上位机，实现信号互通，使得上位机能识别到各路测
试筛选模块。
64.为便于描述，以各路中第一路为例进行如下说明。
65.在具体实施中，所述分流模块200包括：主控单元201及分流单元202，所述主控单元201包括一个主控芯片2011，所述分流单元202包括若干分流芯片2021至202n，所述主控芯片2011的输入端与所述上位机100连接，所述主控芯片2011的输出端与所述各分流芯片的输入端连接，各所述分流芯片的输出端与所述桥接模块的各桥接芯片的输入端连接；
66.需要说明的是，所述分流芯片可理解为将一路信号分成多路信号的一部件，所述各分流芯片的输入端与主控芯片的一输出端连接，以获取主控芯片的通讯信号。
67.在具体实施中，所述主控芯片包含有多个输出串口，用户可根据实际需求选择具体数量的串口进行连接，所述分流芯片的输入端与主控芯片的某一输出串口相连接，当然，所述各分流芯片的输出端也可以是包含至少一个输出串口，用户可根据具体实施场景具体选择需使用的串口数量，本实施例对此不加以限制。
68.在一些实施例中，可选择stm32芯片作为主控芯片，选择usb hub芯片作为分流芯片，stm32芯片的输入端通过串口与上位机连接，接收到上位机的一路通讯信号，进一步地，将stm32芯片的第一至第六输出端分别连接一usb hub芯片，且各usb hub芯片有5个输出串口，由此，实现了将一路通讯信号通过stm32芯片与usb hub芯片分成30路子通讯信号。当然，具体分流芯片的接入数量可根据具体实施场景具体设定，本实施例对此不加以限定。
69.所述主控芯片2011，用于控制所述多路测试筛选模块300的接入数量。
70.需要说明的是，所述主控芯片一方面用于与上位机进行连接，实现各路测试筛选模块与上位机之间的通讯，另一方面，所述主控芯片可直接与多路测试筛选模块中的电源芯片连接，实现对每一路的通断电控制，由此可通过主控芯片实现用户对任意路的测试筛选控制。
71.在具体实施中，用户可通过上位机与主控芯片选择多路测试筛选模块的具体接入数量。当待测试闪存较多时，用户可在上位机软件中输入给全部测试筛选模块通电的指令，具体为程序指令，主控芯片接收到程序指令，并将所述程序指令直接传输至各多路测试筛选模块中的电源芯片，无需通过分流芯片，各多路测试筛选模块中的电源芯片接收到通电指令，并对所述指令进行响应，实现主控芯片与各多路测试筛选模块之间的电源信号互通。
72.所述多路测试筛选模块300，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机100进行结果显示。
73.需要说明的是，当各多路测试筛选模块300接收到分流模块传输的子控制通讯信号时，说明此时上位机100与各多路测试筛选模块300实现了信号通讯，即各多路测试筛选模块300将对上位机100发出的控制指令进行响应，此时，各多路测试筛选模块300将对各路闪存进行测试筛选操作。
74.在具体实施中，所述多路测试筛选模块300包括：控制筛选单元310，所述控制筛选单元310包括一控制芯片3011及一个存储芯片3012，所述控制芯片3011的输入端与所述各分流芯片的输出端连接，所述控制芯片3011的输出端通过所述主控芯片2011与所述上位机100连接，且所述控制芯片3011均连接有一存储芯片3021。
75.需要说明的是，当上位机发送控制通讯信号时，分流芯片将控制通讯信号分流成
多个子控制通讯信号，经桥接芯片传输至各控制芯片，此时，控制芯片接收到上位机的操作指令，开始执行测试筛选操作。
76.所述控制芯片，用于控制筛选程序的运行，得到筛选结果，并将所述筛选结果发送至所述上位机100进行结果显示。
77.易于理解的是，当控制芯片控制测试筛选模块完成测试筛选工作之后，每路的控制芯片需要将筛选结果发送至主控芯片，进一步地，由于上位机与主控芯片之间通过串口可实现信号通信，因此，上位机可对主控芯片接收到的测试筛选结果进行显示。
78.所述控制芯片，用于并行控制多个槽口，并同时对所述多个槽口的闪存进行检测筛选。
79.需要说明的是，在对闪存进行测试时，可通过槽口固定闪存，进一步可通过槽口，响应控制芯片发出的测试筛选指令。
80.在具体实施中，所述槽口的具体数量可根据实际场景具体设定，本实施例对此不加以限定。
81.所述存储芯片，用于存储预先烧录的测试筛选程序，并将所述测试筛选程序传输至所述控制芯片，以使所述控制芯片进行测试筛选操作。
82.需要说明的是，市场上闪存类型繁多，针对不同种类的闪存对应有不同的测试筛选程序。因此，可通过将对应的测试筛选程序烧录到存储芯片中，在对闪存进行测试时，只需要根据闪存类型对应接入相应的存储芯片，在实际操作中，所述存储芯片可为spi flash。当一批闪存测试完成后，只需要更换对应的spi flash，即可进行下一批闪存的测试筛选。
83.需要补充说明的是，如图4中所示的各分流芯片在结构、功能上均相同，同样地，图中各支路桥接芯片、各支路控制芯片及各支路存储芯片分别对应在结构及功能上均相同，所述第一、第n仅表示在系统中的第一个和第n个对应结构或部件。
84.为便于理解，结合图4对上述多路闪存测试筛选系统的工作过程举例进行具体说明。
85.例如，在某实施场景中，用户需要对112颗闪存进行测试筛选。
86.将待测试闪存固定到对应的槽口中，假设每一控制芯片并行控制4个槽口，每一槽口可筛选1颗闪存。打开上位机软件，通过串口对stm32主控芯片烧录主程序(所述主程序为包含测试筛选的程序指令)，将stm32主控芯片输出端连接6个usb hub芯片，且每一个usb hub芯片有5个输出串口，此时得到30路程序指令。识别各路桥接芯片，将桥接程序烧录到桥接芯片对应的存储器中(所述桥接程序即为包含测试筛选的程序指令)，进一步地，各路桥接芯片将程序指令传输至对应的控制芯片中，各控制芯片接收到程序指令，并对所述程序指令进行响应，进一步向存储芯片发送操作信号，此时存储芯片将具体的测试筛选程序发送至控制芯片，控制芯片根据所述测试筛选程序对4个槽口的4颗闪存进行测试筛选操作。打开上位机软件，控制每路的电源开关，接通每路测试筛选模块，待测试筛选操作完成，控制芯片将测试筛选结果发送至上位机，用户可根据上位机显示的信息直接判断每路的闪存质量概况。由于此时共具有120颗闪存的测试筛选能力，且用户只需要对112颗闪存进行测试筛选，因此可减少usb hub芯片的两个输出串口的使用，从而减少8颗闪存的测试筛选能力，节省资源的同时又高效完成了测试筛选工作。
87.本实用新型通过引入桥接模块，实现了上位机与各多路测试筛选模块之间的信号通讯，解决了因信号类型不匹配而导致的信号传输问题，操作容易，实现简单，能有效提高用户体验感。
88.此外，为实现上述目的，本实用新型还提出一种电子设备，所述电子设备包括如上所述的多路闪存测试筛选系统。
89.由于本电子设备采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
90.应当理解的是，以上仅为举例说明，对本实用新型的技术方案并不构成任何限定，在具体应用中，本领域的技术人员可以根据需要进行设置，本实用新型对此不做限制。
91.需要说明的是，以上所描述的工作流程仅仅是示意性的，并不对本实用新型的保护范围构成限定，在实际应用中，本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部来实现本实施例方案的目的，此处不做限制。
92.另外，未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本实用新型任意实施例所提供的多路闪存测试筛选系统，此处不再赘述。
93.此外，需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
94.上述本实用新型实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
95.以上仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。