技术特征：
1.一种多路闪存测试筛选系统，其特征在于，所述多路闪存测试筛选系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块；所述分流模块的输入端与上位机的输出端连接，所述分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与所述上位机的输入端连接；所述分流模块，用于接收所述上位机发送的控制通讯信号，并将所述控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号；所述多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机进行结果显示。2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述多路闪存测试筛选系统还包括桥接模块；所述桥接模块的输入端与所述分流模块的输出端连接，所述桥接模块的输出端与各所述多路测试筛选模块的输入端连接。3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述桥接模块，用于获取所述分流模块的多路子控制通讯信号，并将所述多路子控制通讯信号发送至各所述多路测试筛选模块。4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述分流模块包括：主控单元及分流单元，所述主控单元包括一个主控芯片，所述分流单元包括若干分流芯片，所述主控芯片的输入端与所述上位机连接，所述主控芯片的输出端与所述各分流芯片的输入端连接，各所述分流芯片的输出端与所述桥接模块的各桥接芯片的输入端连接。5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述主控芯片，用于控制所述多路测试筛选模块的接入数量。6.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述多路测试筛选模块包括：控制筛选单元，所述控制筛选单元包括一个控制芯片及一个存储芯片，所述控制芯片的输入端与所述各桥接芯片的输出端连接，所述控制芯片的输出端通过所述主控芯片与所述上位机连接，且所述控制芯片均连接有一存储芯片。7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述控制芯片，用于控制筛选程序的运行，得到筛选结果，并将所述筛选结果发送至所述上位机进行结果显示；所述存储芯片，用于存储预先烧录的测试筛选程序，并将所述测试筛选程序传输至所述控制芯片，以使所述控制芯片进行测试筛选操作。8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述控制芯片，用于并行控制多个槽口，并同时对所述多个槽口的闪存进行测试筛选。9.一种设备，其特征在于，所述设备包含如权利要求1～8任一项所述的多路闪存测试筛选系统。
技术总结
本实用新型公开了一种多路闪存测试筛选系统，该系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块，分流模块的输入端与上位机的输出端连接，分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与上位机的输入端连接，分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号，多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至上位机进行结果显示，通过上述系统，实现了对一路控制通讯信号的多路分支，从而实现了对一定数量闪存的多路测试筛选操作，提高了闪存的测试筛选效率。提高了闪存的测试筛选效率。提高了闪存的测试筛选效率。
技术研发人员：张丽丽
受保护的技术使用者：深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
技术研发日：2021.04.12
技术公布日：2021/11/2