专利名称：读取信息的方法
技术领域：
本发明涉及一种读记录载体的方法以及应用这种方法的装置。
本发明特别地应用到读取磁或光的记录，并且更具体地讲，应用到高密度记录的读取。人们发现一种优选的应用是在诸如计算机外设的记录系统和所有商业系统中。
在数字记录设备中，二进制信息的解码涉及时间基准信号的再生，将其称为时钟信号，用于信息的记录。这个时钟信号通常是由插入到锁相环(PLL)中的压控振荡器(VCO)产生的。该时钟信号是与读取信号的变换同步的。
在多道记录设备中，在写在磁带上的所有磁道之间保持同步的条件下，有可能整个地使用一个为各磁道重建的单一时钟信号。
这是假设记录头和读取头是对准的，并且磁带没有变形。如果这些条件不能严格地保证，各个道的时间基准就彼此发生偏移，这就是本专业的技术人员称为“扭曲(skew)”的滑动现象。
在二进制信息包含在大量的并行道的情况下，例如在并行道之间的间距为10到20μm范围的情况下，在可接受的限度内保持这种滑动现象实际上是不可能的。因此对于每个道产生一种独立的时钟再生电路众所周知。这种办法具有许多缺点，具体包括不得不设置大量的电路。
本发明不具有这些缺点。
本发明的主题是一种读取写在载体上和构成至少一个道的二进制信息的方法，所述二进制信息是以Fbit的频率被写入载体的，其特征在于该方法包括—以取样频率Fe读取所述二进制信息的步骤，以便构成同道的连续读取样值SAM(k)的一个序列。k是读取样值SAM(k)的指数，每个读取样值SAM(k)具有其位于0和2π之间的相位φ(k)；—内插步骤，使其可能在读取样值SAM(k)和将读取值SAM(k)归类的i＋j个读取样值(SAM(k－i)，...，SAM(k＋j))的基础上，相对于读取样值SAM(k)计算相位等于π的内插样值I(k)，于是I(k)＝ak－iSAM(k－i)＋...＋akSAM(k)＋...＋ak＋jSAM(k＋j)，
系数ak－i、...、ak、...、ak＋j具有按照内插法则选择的各个值，—和确认步骤，使其可能产生一个信息项来确认或不确认内插样值I(k)。
本发明的主题还是一种用于读取写在一种磁载体上和构成至少一个道的二进制信息的系统，所述二进制信息是以Fbit的频率被写入载体的，该系统包括—一个磁光读取头，使其可能将以取样频率Fe，在至少一个道上同时读取的二进制信息变换为亮度信息；—一个电荷转移光敏器件，收集所述亮度信息并使其可能转换所述亮度信息为电压样值的一个序列，所述光敏器件包括至少一个发送所述电压样值的输出端，其特征在于它包括—连接到所述输出端的延迟装置(1、2)，使其可能重新安排在所述输出端所收集的电压样值，由此来得到相同道的连续读取样值SAM(k)序列，k是在该道上的样值SAM(k)的指数；内插装置，使其可能根据样值SAM(k)和归类样值SAM(k)的i＋j个读取样值计算每个读取样值的内插样值I(k)，于是I(k)＝ak－iSAM(k－i)＋...＋akSAM(k)＋...＋ak＋jSAM(k＋j)，系数ak－i、...、ak、...、ak＋j具有按照选择的内插法则的各个值；和确认装置，使其可能产生一个信息项(VAL)来确认或不确认内插样值I(k)。
本发明的优点是避免了时钟再生电路和二进制信息解码电路的增多。
本发明的其它特征和优点在参照附图阅读了给出的实施例后将是显而易见的，其中附图为
图1表示本发明用于其中的一个记录/读取系统的例子；图2表示本发明的装置的示意方框图；图3表示在图2中所表示的内插器(INT)的示意图；图4表示在图2中所表示的分类操作器(SRT)的示意图；图5表示按照本发明的装置的第一应用；图6表示按照本发明的装置的第二应用；
图7表示第二应用的第一实施例的图6中A-A剖面图；图8表示第二应用的第二实施例的图6中A-A剖面图；图1表示本发明用于其中的一个记录/读取系统的例子。记录是利用一个矩阵头进行的而读取是利用一个磁光系统进行的。更一般地，本发明涉及其它的各种记录/读取系统。对于这些其它的系统，在上面记录信息的载体可能不是磁载体，而可能是一种光载体。可能采取盘的形式，而不是带的形式。读取可以利用方式除了光束外的任何公知的方式，例如使用带磁阻元件的多道头。
在图1中所述的系统包括一个诸如磁带MT之类的记录载体。矩阵记录头MH1包括一个单元头矩阵MH2，MH2受到线路选择导线MH3和数据选择导线MH4的控制。这个头就可能在磁带MT上记录各种信息t1、t2、...、tx.
表示在图右边的是诸如描述在由Thomson Consumer electronics公司在1989年11月28日申请的法国专利申请No.89 17313中所描述的那种磁光读取头RH。
这个头RH包括磁光转换器RH1，例如安排为平行于磁带平面的并且其主要长度与磁带长度横切的克尔效应转换器。利用一束极化光并穿过一个聚焦系统RH3，光束在接近于磁带MT的转换器RH1的表面基本上聚焦为一条线，由此，光源RH2照亮转换器RH1。被转换器RH1反射的光束的极化根据磁带上的磁场被修正。被反射的光束由聚焦RH4系统和跟踪系统RH5传送到光电检测器RH6。
最好是，RH6检测器是一个包括一个光敏区和一个非光敏区的电荷转移光敏器件。光敏区最好是包括各个Np象素的线性阵列以及读取寄存器的非光敏区包括各个转移级。在光敏区中的一个象素上产生的电荷被聚集在读取寄存器的一个转移级中。检测器RH6包括至少与磁带上的磁道一样多的象素。
转换器RH1向检测器RH6反射一光束，它就是各磁道读取光束的实际集合，每个磁道读取的光束具有由磁带的磁道改变了的极化。这个读取光束的集合被检测器RH6接收，因此检测器便可能检测出磁带上每个磁道的信息。
当磁带以箭头FL所指示的方向运行时，磁光转换器RH1同时读取位于X个并行道t1、t2、...、tx上的类似于指数R(R＝1、2、...、k－1、k、k＋1、...)的二进制信息。
读取的信息可以在同一瞬间被记录。还可以是以在时间上交错的方式记录的信息。最好是，读取的信息是以大于在磁带MT写入的频率Pbit的频率Fe取样的。
图2表示本发明的装置的示意方框图。
由于方便的原故，在图2中仅表示出检测器RH6的读取寄存器RR。读取寄存器RR包括TS1、TS2、...、TSNp的Np个转移级序列。读取寄存器的输出电路OC包括由一个读取二极管和一个未表示在图中的第一读取放大器组成的电荷/电压变换器。
来自输出电路0C的信号包括一个串行信息列。在其本身为公知的方式中，来自输出电路OC的信号被顺序地通过第二读取放大器RA、模数变换器ADC、高通滤被器FI、均衡器EQ、和校正器CR。校正器CR是一个校正存在于一个象素和两个围绕这个象素的相邻象素之间的串音的电路。校正器CR例如可以是诸如描述在申请日为1992年12月22日和登记号为92 15474的法国专利申请中的那种校正器。
如上所述，由转换器RH1同时读取的信息是类似于含在X个并行道中的指数k。然后诸如高通滤被器FI、均衡器EQ、和校正器CR的数字操作器，拥有各连续的样值所要求的那么多的延迟电路，它们处理这些连续的样值，以便表示来自相同道的连续的信息。
在一种模拟传输信道中，从0到2π连续变化的相位是与读取模拟信号X(t)相联系的。一般，解调是通过观测信号x(t)在瞬时或相位等于π的符号来实现的。
在一种数字传输信道中，诸如本发明那样，读取信号是其相位被离散化的一串样值。因此，其相位等于π的各个样值必定是无法得到的。本发明的装置在于对于每个样值，在相同道的各相邻样值的帮助下内插计算出一个新的样值，它的相位等于π。按照本发明的装置使其有可能使读取错误的概率最小，因为在解码期间被检测的信号的幅度是在其最佳相位计算的。从这一点可以知道，本发明对于在具有低信噪比的高密度或高吞吐量信道中传送的信号特别有优势。
包含在相同信道中，通常称为多少比特的写入二进制信息的速率来定义频率Fbit。以大于Fbit的取样频率Fe提取样值而Fe对Pbit的比值定义了过取样系数。
按照本发明，每个来自校正器DR的样值SAM被同时发送到相位信息监视电路DP和内插器INT中。
相位监测电路DP的功能是估算样值SAM的相位φ。估算的相位φ被送到内插器INT中。
因此，INT内插器接收每个样值SAM的幅度和估算的相位。正如在图3精确表示出的那样，内插器INT的功能是根据指数k的样值和在相同的道中归类样值SAM(k)的各个样值的值，通过内插进行计算要被分配给指数k的样值的值I。
按照本发明，内插器INT还允许计算一个与该内插样值I相关的确认信号VAL并使其可能确认或不确认样值I。这种确认的原理被详细描述在图3中。
被内插的样值I以及与其相关的确认信号VAL然后被发送到分类操作器SRT，其功能是分类各个样值I，以便仅保留那些确认的样值。在操作器SRT的输出端得到的信号SI然后或者是包括各个确认的比特序列，或者是包括将确认的比特一起分为数据包的字序列，如图4描述的那样。
图3表示在图2中所表示的内插器的示意方框图。
按照表示在图3的实施例，对于指数k的样值I(k)的内插计算是借助于三个取样值SAM(k－1)、SAM(k)、SAM(k＋1)实现的。更具体地讲，然而本发明涉及其内插样值I(k)的计算借助于i＋j＋1个样值SAM(k－i)、SAM(k－(i－1))、...、SAM(k)、...、SAM(k＋i)来实现的实施例，其中i和j可以是相等或不相等的整数。
图3的内插器包括三个延迟操作器1、2、3。
延迟操作器1包含X个样值并且当它在其输入端接收指数k＋1的样值SAM(k＋1)时能使其输出端的指数k的样值SAM(k－1)复原。
同样，其输入端被连接到延迟操作器1的输出端的延迟操作器2包含X个样值并且当它在其输人端接收样值SAM(k)时能使样值SAM(k－1)复原。
按照优选的实施例，指数k的内插样值I(k)是借助于拉格朗日内插法则计算的。更具体地讲，然而基于不同最佳准则的其它内插法则也可以使用。
按照描述在图3中的实施例，计算的内插样值I(k)可以写为I(k)＝ak－1SAM(k－1)＋akSAM(k)＋ak＋1SAM(k＋1).
为此目的，样值SAM(k－1)、SAM(k)和SAM(k＋1)被发送到各自的乘法器7、8和9，这些乘法器具有分别以ak－1乘以SAM(k－1).以ak乘以SAM(k)和以ak＋1乘以SAM(k＋1)的功能。来自该三个乘法器7、8、9的结果被发送到加法器10，以便计算内插的样值I(k)。
按照本发明，系数ak－1、ak和ak＋1的值取决于所选的内插法则。它们的值是在k指数的样值的相位φ(k)的值的基础上进行选择的。
在内插器中，当延迟操作器3在其输入端接收指数k＋1的样值的相位φ(k＋1)时，相位φ(k)出现在其输出端。
相位φ(k)然后被发送到相位段搜索操作器4。相位φ(k)的值位于区间
内。按照本发明，区间
被分为宽度为2π/N的N个相位段。作为一个例子，N选为8。然而本发明涉及优选为所有大于较小的过取样系数的其它N值。
相位φ(k)属于N个相位段之一。对于每个相位段，有相关的一种系数ak－1、ak和ak＋1的三个预计算的值的集合。因此，相位段搜索操作器还有将与相位φ(k)属于其中的相位段相关的系数值分配给样值I(k)的内插计算的功能。
从表中提取系数ak－1、ak和ak＋1值。这个表可以是例如PROM型的存储器。对于I(k)的内插计算然后可以实时地执行。样值SAM(k－1)、SAM(k)和SAM(k＋1)分别实时地与系数ak－1、ak和ak＋1相乘。
按照另一个实施例，样值SAM(k－1)、SAM(k)和SAM(k＋1)分别与系数ak－1、ak和ak＋1相乘是预先执行的。对于每个可能样值的相位段然后预先由系数ak－1、ak和ak＋1进行相乘。按照这个实施例，各个样值的值以及各个相位的值就是允许对预先计算的结果的加法器10寻址的值。
按照刚刚描述的各个实施例，样值I(k)是从三个取样值SAM(k－1)、SAM(k)和SAM(k＋1)中计算出来的，并且最好是，过取样系数等于2。然而，本发明涉及其它的实施例，例如，在过取样系数等于1.5的5个连续样值的基础上进行内插。
过取样平均产生N比特位的Ne个样值。内插计算导致Ne个样值I(k)的计算。从各个样值I(k)中，仅N比特要被分配到需要保留的各个位中。然后需要对每个样值I(k)伴以能使其被确认或不确认的信息项。
在图4中表示为VAL的信息项是由确认操作器6产生的。
确认操作器6接收指数k的样值的相位φ(k)和指数k＋1的样值的相位φ(k＋1)作为输入。两个连续的样值之间的平均相位差等于2πFbit/Fe。
然后有可能围绕希望的相位π确定从π-πFbit/Fe到π＋πFbit/Fe的确认窗。
确认操作器6将相位φ(k)和φ(k＋1)的值与确认窗的上边界相比较，如果需要，可以延伸φ(k＋1)的值到
段。
如果上边界π＋πFbit/Fe属于区间〔φ(k)，φ(k＋1)〕，信息项VAL取一个表示计算的样值应被确认的值。
如果上边界π＋πFbit/Fe不属于区间〔φ(k)，φ(k＋1)〕，VAL信息项取一个表示计算的样值应不被确认的值。
涉及一个单一边界的比较约束使其可能甚至在例如由于磁带的运行速度变化而存在信息的暂时变化的情况下，保证确认样值。
在分类操作器的输出端得到的信息能够包括单一的确认比特序列。例如，在读取单道的情况下，分类操作器则包括一个对该确认信号的暂时存储操作。
在分类操作器的输出端得到的信息可以包括将各确认比特为数据包的字序列，如图4所示。
为了形成y比特的一个字，y是例如等于10的一个整数，则分类操作器SRT包括y个乘法器MUX1、MUX2、...、MUXy，和y个移位寄存器。
每个乘法器包括三个极P1、P2、P3和一个控制输入端C。在施加到C的命令的操作下，在极P1和P3之间或在极P2和P3之间，建立一个链路。
每个乘法器具有分别连接到一个移位寄存器的输入端和输出端的极P3和P2。每个移位寄存器包含有X个级，X是所读取轨道的数目。指数1的乘法器，MUX1的极P1接收内插的信号I(k)和大于1的指数X(X＝2、...、y)的乘法器的极P1被连接到指数X－1的乘法器的极P2。而且，y个移位寄存器的各个输出构成数据总线B。所有乘法器的各个控制输入端C被连接到一起并连接到确认信号VAL。
利用每个时钟节拍，也就是说暂时利用取样频率Fe，确认信号被同时施加到各个乘法器的所有命令端C。当要求信号VAL确认样值I(k)时，在每个乘法器的极P1和P3之间建立一个链路。接下来，确认的样值I(k)输入到指数1的移位寄存器，同时每个大于1的指数X(X＝2、...、y)的移位寄存器在其输入端大约接收从指数X－1的移位寄存器发来的信息项。在一些等于y倍的过取样系数的时钟节拍终了之时，存储到y个移位寄存器的y个输出级中的信息项构成了y比特的字。一个用于对每个道存储的比特数进行计数的同步装置保证重建字的完成。然后这个字在数据总线B上被恢复。
本发明的一个优点是工作在一个不是Pbit频率的频率上。
按照描述在图2的实施例，光电检测器RH6是一个电荷转移装置，其读取寄存器包括仅一个单输出电路。
然而，按照其它的各个实施例，光电检测器RH6的读取寄存器可以具有若干个输出端。有优点的是，有可能以高速率排空包含在读取寄存器中的电荷。
图5表示按照本发明的设备的第一应用，其中读取寄存器包括两个输出端。
按照这个第一应用，读取寄存器本身以公知的方式被分为所称的“偶数”寄存器和所称的“奇数”寄存器。偶数寄存器恢复在光敏区的偶数指数的象素中的电荷和奇数寄存器恢复在光敏区的奇数指数的象素中的电荷。
象征性地，这种将读取寄存器分为偶数寄存器和奇数寄存器的划分通过两个单独的输出端Sa和Sb表示在图6中。
每个来自各自的输出端Sa和Sb的信号然后被传送到在图3中所述的那种类型的读取链。
为了重建所希望的全部信息项，一个装置ID使其可能重新安排来自各自分类操作器SRTa和SRTb的信号SIa和SIb。
图6表示按照本发明的设备中读取寄存器包括数目为Q的输出端的第二应用。
读取寄存器RR包括Q个子寄存器(R1、R2、...、Rj、...、RQ)和每个子寄存器包括M个转移级。由于方便的缘故，举个例子，选择数目M等于6。然而，按照本发明的设备涉及M是对两个不同的子寄存器而不同的任何整数的情况。每个子寄存器Rj的M个转移级相互前后相接，以这种方式，电荷从指数1的级转移到指数M的级。指数j的子寄存器Rj的电荷/电压变换器的读取二极管被集成到该子寄存器Rj的M指数的转移级。转移级是由图6中的ESj表示的并且随后被称为中间输出级。
有优点地是，读取寄存器RR是这样的子寄存器Rj(j＝1、2、...、Q)的转移级相互前后相接，以这种方式，每个子寄存器Rj的中间输出级ESj与子寄存器Rj＋1的指数1的级相连接。
每个子寄存器Rj的电荷/电压变换器整体上包括包含在中间输出级ESj的读取二极管以及可以或可不，整体或部分地集成到读取寄存器所属于的部件中的第一读取放大器Aj。
正如本专业的技术人员所公知的那样，一个MOS晶体管(在图中未表示出)在电荷传送到子寄存器Rj前给二极管的电容预充电。
来自放大器Aj(j＝1、2、...、Q)的每个信号然后被发送到图2所示的那种类型的读取链。为了重建的所希望的全部信息项，来自各自分类操作器STR1、STR2、...、STRj、...、STRq的信号SI1、SI2、...、SIj、...、SIq在装置DI中被重新安排。
图7表示图6的A-A剖面图。
表示在图7中的是指数j的子寄存器Rj的一部分以及指数j＋1的子寄存器Rj＋1的一部分。所表示的子寄存器Rj一部分包括公知类型的转移级TS和中间输出级ESj。所表示的子寄存器Rj＋1一部分是连接到中间输出级ESj的公知类型的TS转移级的一部分。
举一个例子，所选择的转移模式是2相类型。然而，本发明涉及其相数大于2的转移模式。
转移级TS是在P搀杂的衬底1上形成的。N搀杂层2覆盖着衬底1，以便构成一个埋置沟道。正如本专业的技术人员所公知的那样，在二相模式中，N搀杂层2包括一系列交替搀N-和N的区。N-搀杂区被理解为是指一种比N搀杂区要低的搀杂比例的N搀杂区。一个电绝缘层3覆盖搀杂层2。允许转移的各个电极被设置在电绝缘层3的顶部。
按照选为例子的二相转移模式，4个电极E1、E2、E3、E4参与在级TS中的电荷转移。
在确定为从子寄存器Rj到子寄存器Rj＋1的方向F上，4个连续的电极E1、E2、E3和E4分别覆盖在埋置沟道2的N-、N、N-、N搀杂区。两个电极E1和E2被连接到相同的相Phi1上和两个电极E3和E4被连接到相同的相Phi2上。
以一种公知的方式调整相Phi1和Phi2，以便保证从子寄存器Rj的转移级向相同寄存器的中间输出级OSj的电荷转移。
中间输出级OSj也形成在P搀杂的衬底1上。在电荷转移方向上，中间输出级连续地包括连接到相同相位Phi1上的电极E6和E7，上面施加有电压Vg的输出电极4，N+的搀杂区5和搀杂P+的区6，区5和6都是形成在衬底1上的。
读取二极管是由N+搀杂区和P搀杂衬底1之间的结形成的。
电极E6和E7位于电绝缘层3的表面并分别覆盖埋置沟道2的N-搀杂区和N搀杂区。电极4也位于层3的表面并覆盖N-搀杂区。施加到电极4的电压Vg允许电荷转移到读取二极管。P+搀杂区6构成子寄存器Rj和子寄存器Rj＋1之间的绝缘壁垒。读取二极管的各个端上出现的电压通过导电连接kj，被加到第一读取放大器Aj的输入端(在图中未表示出)。
在从光敏区到读取寄存器的电荷转移期间，中间输出级保持与其相连的象素上积累的电荷。有优势地是，到每个子寄存器kj的输出放大器Aj的电荷转移是在空闲时间执行的。
N+搀杂区5沿与电荷在整个中间输出级的宽度的传导方向相垂直方向上延伸。可以看出使其可能朝着二极管方向加速电荷的电场是不变的。电荷的加速是均匀的，也可以不均匀地转移，因此比公知类型的读取寄存器更快。
图8表示读取寄存器的第二实施例的图6中的A-A剖面图。
类似于图7，图8表示的是指数j的子寄存器Rj的一部分以及指数j＋1的子寄存器Rj＋1的一部分。选择的转移模式是二相类型模式，但是，如上所述本发明还涉及相数大于2的转移模式。
表示在图8中的转移级TS是和表示在图7中的相同的。除了关于使其可能在子寄存器Rj和子寄存器Rj＋1之间构成绝缘壁垒的元件不同外，对于中间输出级是同样的。绝缘壁垒是由一个电势Vi施加于其上的电极7构成的。电极7位于层3的表面并覆盖N-搀杂区。
有优点地是，诸如描述在图6中的光敏器件的使用，使其可能提供非常高的信息通过量。例如，具有1024个象素和32个输出端的光电检测器RH6的使用，并用于读取具有1000个道的磁带，可以提供每秒数百Mb数量级的信息通过量。
权利要求
1.一种用于读取写在一种载体上和构成至少一个道的二进制信息的方法，所述二进制信息是以Fbit写入载体的，其特征在于，它包括以取样频率Fe读取所述二进制信息的步骤，以便构成该相同道的连续读取样值SAM(k)的序列，SAM(k)是指数k的读取样值，每个指数k的读取样值具有其位于0和2π之间的相位φ(k)；一个内插步骤，使其可能在读取样值SAM(k)和将读取样值SAM(k)归类的i＋j个读取样值(SAM(k－i)，...，SAM(k＋j)的基础上，相对于读取样值SAM(k)计算相位等于π的内插样值I(k)，于是I(k)＝a(k－i)SAM(k－i)＋...＋akSAM(k)＋...＋ak＋jSAM(k＋j)，系数ak－i、...、ak、...、ak＋j具有按照选择的内插法则的各个值；和确认步骤，使其可能产生一个信息项(VAL)来确认或不确认内插样值I(k)。
2.按照权利要求1的读取方法，其特征在于，确认步骤在于比较数量π＋πFbit/Fe与区间[φ(k)，φ(k＋1)]，由此如果π＋πFbit/Fe属于所述区间，则所述信息项使其可能确认内插样值I(k)，如果π＋πFbit/Fe不属于所述区间，则不确认内插样值I(k)。
3.按照权利要求1或2任何一个的读取方法，其特征在于，系数ak－i、...、ak、...、ak＋j的值包括在一个表中并根据样值SAM(k)的相位φ(k)的值进行选择。
4.按照权利要求3的读取方法，其特征在于，对划分间隔
的N个相位段预先计算所述系数的值，并且对所述系数选择的值是对应于样值SAM(k)的相位φ(k)所属的相位区间的那些值。
5.按照权利要求1或2任何一个的读取方法，其特征在于，对划分区间
的N个相位段预先计算可由ak－iSAM(k－i)...、akSAM(k)、...、ak＋jSAM(k＋i)这些量值得到的值，样值SAM(k－i)...、SAM(k)、...、SAM(k＋i)的值选择的值是从可由所述各个样值得到的所有的值中得到的，并且在于对所述那些量值选择的值是对应于样值SAM(k)的值和对应于样值SAM(k)的相位φ(k)所属的相位区间的那些的值。
6.按照上述的各权利要求的任何一个的读取方法，其特征在于，它包括按照所述内插样值是被确认的还是不被确认，分类各个内插样值的步骤。
7.按照权利要求6的读取方法，其特征在于，分类步骤有可能将各确认的内插样值分在一起为各数据包，以便构成一字序列。
8.按照权利要求6的读取方法，其特征在于，它涉及一个单道的读取，以及在于分类步骤包括分类各暂时带有试图确认该内插样值的信息项的内插样值。
9.用于读取写在磁性载体上的和构成至少一个道的二进制信息的系统，所述二进制信息以频率Fbit已经被写入载体，包括—读取装置，使其可能以取样频率Fe读取所述二进制信息，由此便得到相同道的连续读取样值SAM(k)的一个序列，k是在该道上样值SAM(k)的指数；一内插装置，使其可能根据样值SAM(k)和归类样值SAM(k)的i＋j个读取样值，对于每个读取样值SAM(k)计算内插样值I(k)，于是I(k)＝ak－iSAM(k－i)＋...＋akSAM(k)＋...＋ak＋jSAM(k＋j)，系数ak－i、ak、...、ak＋j具有按照选择的内插法则的各个值，和确认装置，有可能产生一个试图确认或不确认内插样值I(k)的信息项(VAL)。
10.用于读取写在磁性载体上的和构成至少一个道的二进制信息的系统，所述二进制信息以频率Pbit已经被写入载体，包括—一个磁光读取头，使其可能将在至少一个道上，以取样频率Fe同时读取的二进制信息变换为亮度信息；—一个电荷转移光敏器件，收集所述亮度信息并使其可能变换所述亮度信息为电压样值序列，所述光敏器件包括至少一个发送所述电压样值的输出端；其特征在于，还包括—连接到所述输出端的延迟装置(1、2)并使其可能重新安排在所述输出端收集的各个电压样值，由此便得到在相同道上连续读取的样值SAM(k)序列，k是在道上的样值SAM(k)的指数；内插装置，使其可能根据样值SAM(k)和将样值SAM(k)归类的i＋j个读取样值，对每个读取样值计算内插样值I(k)，于是I(k)＝ak－iSAM(k－i)＋...＋akSAM(k)＋...＋ak＋jSAM(k＋j)，系数ak－i、...、ak、...、ak＋j具有按照选择的内插法则的各个值；和确认装置，使其可能产生一个试图确认或不确认内插样值I(k)的信息项(VAL)。
11.按照权利要求9或10之一的读取二进制信息的系统，其特征在于，内插装置包括i＋j＋1个乘法器(7、8、9)，每个乘法器具有一个第一输入端和一个第二输入端，及一个加法器(10)，i＋j＋1个连续样值SAM(k－i)、...、SAM(k)、...、SAM(k＋j)被分别施加到i＋j＋1个乘法器(7、8、9)的第一输入端，所述各个乘法器的各个第二输入端接收各自的系数ak－i、...、ak、...、ak＋j，从每个乘法器发送出的结果被发送到加法器(10)，以便得到内插的样值I(k)，还在于确认确定装置包括确认操作器(6)，读取样值SAM(k)的相位φ(k)和读取样值SAM(k＋1)的相位φ(k＋1)被发送到其中，由此，如果数量π＋πFbit/Fe属于区间[φ(k)，φ(k＋1)]，则所述确认操作器产生一个信号(VAL)，使其可能确认内插样值，而如果数量π＋πFbit/Fe不属于该区间，则所述确认操作器产生一个信号使其可能不确认该内插样值。
12.按照权利要求9、10或11的任何一个读取系统，其特征在于，包括一个分类操作器(SORT)，使其可能仅保留确认的内插样值。
13.按照权利要求9到12任何一个的读取系统，其特征在于，电荷转移光敏器件包括一个含有线性的象素阵列的光敏区和含有带转移级的读取寄存器(RR)的非光敏区，在一个象素上产生的电荷被聚集在读取寄存器的转移级，读取寄存器(RR)包括Q个子寄存器(R1、R2、...、Rj、...、RQ)，每个子寄存器Rj包括M个转移级，M是对于两个不同的子寄存器可以是不同的任何整数，每个子寄存器的M个转移级相互前后紧接，以这样一种方式将电荷从指数1的级转移到指数为M的级，每个子寄存器的指数M的级包括一个读取二极管，它使得可能变换检测的电荷变量为电压变量，每个子寄存器的读取二极管构成读取寄存器(RR)的一个输出端。
14.按照权利要求9或10的任何一个的读取系统，其特征在于，该磁性载体包括若干非同步的可读取的信息道。
15.按照权利要求1的读取系统，其特征在于，该磁性载体包括若干非同步的可读取的信息道。
全文摘要
本发明涉及一种用于读取写在一种载体上和构成至少一个道的二进制信息的方法，所述二进制信息以频率Fbit已经被写入该载体，其特征在于，它包括以取样频率F
文档编号G11B11/10GK1150857SQ96190371
公开日1997年5月28日 申请日期1996年4月19日 优先权日1995年4月21日
发明者米歇尔·奥杜安, 谢拉夫·阿纳, 约瑟夫·科利诺, 马里奥·德维托 申请人:汤姆森多媒体公司