场，M3表示记录头磁场。这里，图4(a)及图4(b)中的M2、M3的大小表示磁场强度的大小。
[0058]如图4(a)所示，ST0100的磁化Ml在ST0100的膜面内大幅度振荡时，ST0100的导磁率成为低至与空气的导磁率同等的状态。从而，来自主磁极20的磁通量与写间隙WG相比向盘2流通较多。结果，相对于写间隙WG内产生的间隙磁场M2，记录头磁场M3的强度变得较大。
[0059]另一方面，如图4(b)所示，ST0100的磁化MP在ST0100的膜面内不振荡及振荡的大小比通常的工作时小并朝向膜面垂直方向时，ST0100的导磁率成为比空气的导磁率高的状态。从而，来自主磁极20的磁通量较容易流向写间隙WG。结果，相对于写间隙WG内施加的间隙磁场M2，记录头磁场M3的强度变小。
[0060]图5是从头10对盘2施加的磁场强度的计算结果的一例的示图。图5中，虚线表示ST0100不振荡时的第1芯(主磁极20)的盘2的方向(以下，标记为正下方)的磁场强度。另外，图5中实线表示ST0100振荡时的第1芯的正下方的磁场强度。图5中，纵轴表示磁场强度(特斯拉:T)，横轴表示头10的行进方向位置(微米:um)。另外，在头10的行进方向位置，主磁极20的正下方的某区域中的ST0100振荡时和ST0100不振荡时的磁场强度的差用ΔΗ1表示。根据图5，若比较主磁极20的正下方的磁场强度，则判定ST0100振荡时比不振荡时仅大AH1。磁场强度的差ΔΗ1成为约0.1T或约IkOe程度。另外，作为一例，参照图5，比较了 ST0100振荡时和不振荡时，但是，在ST0100振荡时(通常的工作时)和ST0100振荡的大小比通常的工作时小时也同样(未图示)。S卩，ST0100振荡时与振荡的大小比通常工作时小时相比，在主磁极20的正下方的某区域处的磁场强度较大。
[0061]评价ST0100的振荡特性时，ST0100的振荡的状态大致分为ST0100振荡的状态、不振荡及振荡的大小比通常的工作时小的状态。向盘2流通的来自主磁极20的磁通量的大小与各个ST0100的振荡的状态对应地变化。
[0062]如前述，经由主磁极20对ST0100通电电流例如直流电流时，ST0100由于进动，导磁率变低。ST0100使高频磁场发生，对盘2施加该高频磁场。另外，通过记录线圈控制部112对第1记录线圈24及第2记录线圈25通交流电流时，主磁极20被励磁。此时，主磁极20对正下方的盘2的记录层施加垂直的记录磁场。通过对记录磁场重叠高频磁场，执行高保持力且高磁各向异性能量的磁记录。结果，在盘2的记录层以期望的轨道宽度记录信息。另外，通常对盘2进行记录再现工作时，如图3(a)所示，通过第1加热器28及第2加热器29加热头10，调整为使上浮量变小。
[0063][ST0的振荡特性的评价方法]
[0064]参照图6 (a)及图6 (b)，说明ST0100的振荡特性的评价方法。
[0065]图6(a)是使头10的上浮量比通常的记录工作时高的情况下，在ST0100不振荡(对ST0100的电流的通电关断及与通常的记录工作时相比通电的电流值小)状态下写入的低频信号(数据图形)的再现波形的示图。图6(b)是使头10的上浮量比通常的记录工作时高的情况下，在ST0100振荡(对ST0100的电流的通电导通及通常的记录工作时通电的电流值)状态下写入的低频信号(数据图形)的再现波形的示图。图6(a)及图6(b)中，第1输出(再现)信号TAA1及第2输出(再现)信号TAA2表示各自的状态下的再现波形的平均振幅即信号输出值。
[0066]本实施方式中，作为一例，使用来自读取头10R的再现波形的平均输出值TAA，评价ST0100的振荡特性。另外，头10在第1加热器28及第2加热器29关断的状态下，评价ST0100的振荡特性。S卩，头10在上浮量高的状态下，评价ST0100的振荡特性。由于头10的上浮量高，因此，从ST0100对盘2施加的高频磁场小到可以忽略。S卩，在ST0100的振荡特性评价时，盘2不受ST0100的辅助效应的影响。从而，若ST0100振荡，则从主磁极20到盘2的磁通量变大，对盘2记录的信号变大，若ST0100不振荡，则从主磁极20到盘2的磁通量变小，对盘2记录的信号变小。结果，ST0100振荡时(电流的通电导通及为通常的记录工作时通电的电流值时)，再现波形的输出信号变大，ST0100不振荡时(电流的通电关断及与通常的记录工作时相比通电的电流较小时)，再现波形的输出信号变小。
[0067]根据图6 (a)及图6 (b)，若比较TAA1和TAA2的再现波形，则可知:ST0100振荡地记录时与ST0100不振荡地记录时相比，再现波形的信号输出值较大(TAA2>TAA1)。
[0068]从而，通过检测TAA2和TAA1的再现波形的信号输出值的差，可以评价ST0100的振荡特性。例如，MPU14取得TAA1及TAA2，比较这些信号输出值，运算这些信号输出值的差即ΔΤΑΑ。通过检测该ATAA的值的正负及大小，可以评价ST0100的振荡的有无甚至振荡的程度。
[0069]以下，为了便于说明，TAA1(第1再现信号)设为ST0100不振荡时及与通常的记录工作时相比通电的电流值较小时记录的数据图形的再现信号，TAA2(第2再现信号)设为ST0100振荡时记录的数据图形的再现信号。Δ TAA设为比较TAA1和TAA2的比较数据。
[0070]另外，TAA1、TAA2及△ TAA设为低频信号的再现波形的平均振幅，但是，只要是由MPU14(信号测定部141)取得的信号，则也可以是其他信号。
[0071]以下，示出基于上述评价原理的ST0100的振荡特性即ST0100的劣化(振荡特性)的检测的一例。
[0072]图7是定期地监视比较数据ΔΤΑΑ300的结果的示图。图7中，纵轴表示平均振幅的比较数据ΔΤΑΑ(微伏:uV)，横轴表示磁盘装置1的工作时间(时间:hour(小时))。图7中，Δ TAA300表示比较数据(Δ TAA)。图7中，参照符号400表示预定的阈值(判定值)。
[0073]图7中，比较数据ΔΤΑΑ300是头10的上浮量比通常时大的情况下不对ST0100通电时的平均振幅TAA1和对ST0100通电时的平均振幅TAA2的差量。S卩，Δ TAA300 =TAA2-TAA1。另外，Δ TAA的确认处理由用户及MPU14定期或任意地执行。
[0074]另外，虽然未图示，ΔΤΑΑ300也可以是TAA1和TAA2的比率数据。此时，例如，ΔΤΑΑ300 = ΤΑΑ1/ΤΑΑ2ο
[0075]ST0100的振荡特性劣化时，ST0100的振荡强度也劣化。结果，Δ TAA300也降低。从而，ΔΤΑΑ300低于预定的阈值时，跟随MPU14，判定部143可以判断ST0100的劣化。例如，图7中，在Δ TAA300低于阈值400的时刻，判定部143判定ST0100劣化。这里，阈值400 (判定值)由判定部143任意设定。例如，阈值400由判定部143设定成从磁盘装置1的工作初期时的A TAA300的值降低10%后的值。以下，阈值400记载为由判定部143设定的判定值。
[0076][ST0的振荡特性的评价方法]
[0077]以下，说明基于前述的原理的ST0100的振荡特性的评价方法。
[0078]首先，说明ST0100的振荡特性的评价方法的概要。
[0079]ST0100的振荡特性的评价由MPU14任意或定期地执行。本实施方式中，评价ST0100的振荡特性时，首先，在盘2旋转的状态下，致动器4由MPU14驱动，头10移动到盘2上的预定的位置。这里，预定的位置是盘2的监视用区域200。此时，头10按照MPU14的控制，使得第1加热器28及第2加热器29维持在关断的状态，上浮量设定成比通常的记录时高的状态。通过使上浮量变大，由主磁极20的磁场使盘2的记录层的磁化不饱和。SP，提升头10的上浮量，直至使从写入头10W向盘2施加的高频磁场变为足够小的程度。
[0080]然后，通过写入头10W在盘2的监视用区域200记录预定的数据图形。记录的数据图形(记录信息)由读取头10R读取，将读取信号发送到再现信号检测部113。MPU14(信号测定部141)通过再现信号检测部113取得再现信号。MPU14通过信号比较运算部142比较再现信号，进行运算处理。判定部143用MPU14的运算结果判定ST0100的振荡特性。
[0081]以下，参照图，进一步详