专利名称：非接触卡接近检测磁性开关的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种非接触卡接近检测开关，特别是一种非接触卡接近检测磁性开关。
背景技术：
非接触式IC卡是通过读卡装置内的天线不断发射和接收无线电波的方式来完成IC卡与读卡装置的信息交换，由于电路长期工作功耗很大，而用电池供电的读卡装置无法支持电路长时间工作。为降低功耗，延长电池的使用寿命，必须采取平时电路休眠，读卡时再把电路唤醒，读卡完成后电路又继续休眠的工作方式。目前的非接触式IC卡和读卡装置一般采用按钮方式触发唤醒，即在刷卡前须先按一下启动按钮，给用户的使用造成了不便。
发明内容
本实用新型的目的是为了解决上述技术的不足而提供一种能检测是否有卡接近，有卡接近时自动产生触发信号，唤醒读卡装置对卡进行信息操作，无卡时，不产生触发信号，使读卡装置保持休眠状态的微功耗非接触卡接近检测磁性开关。
为了达到上述目的，本实用新型所设计的一种非接触卡接近检测磁性开关，它包括动触片和静触片，动触片上设置有永久磁钢，在动触片、静触片和永久磁钢外设有非导磁材质制作的外壳。在具体实施时，导电材质的动触片和静触片可设置成常开结构，也可设置成常闭结构，还可以设置成具有导电材质的静触片两片和导电材质的动触片一片，构成常开、常闭结构。本磁性开关装在读卡装置的刷卡区内，便可与内部封有导磁金属片或永久磁片的非接触式IC卡配套使用。
本实用新型得到的非接触卡接近检测磁性开关结构简单，成本低，易于安装，与电路接口灵活，使用方便，特别是本实用新型的输出接点可制作为常开，常闭或开闭兼有的结构，能适应各种读卡装置的需要。
图1，图2是本实用新型实施例1示意图。
图3，图4是本实用新型实施例2示意图。
图4，图5是本实用新型实施例3示意图。
图中1、静触片；2、动触片；3、永久磁钢；4、外壳；5、IC卡；6、永久磁片。
具体实施方式
下面通过实施例结合附图对本实用新型作进一步的描述。
实施例1如图1、图2所示，本实施例描述的非接触卡接近检测磁性开关，它包括动触片2和静触片1，动触片2上设置有永久磁钢3，在动触片2、静触片1和永久磁钢3外设有非导磁材质制作的外壳4。
这种非接触卡接近检测磁性开关在无配套的非接触式IC卡5接近时处于开放状态，当配套的非接触式IC卡5接近时，非接触式IC卡5内封有导磁金属片或永久磁片6对非接触卡接近检测磁性开关内的永久磁钢3产生作用，使动触片2和静触片1闭合，从而激发读卡装置。当非接触式IC卡5离开后，动触片5还原为开放状态。
实施例2如图3、图4所示，本实施例描述的非接触卡接近检测磁性开关在无配套的非接触式IC卡5接近时处于闭合状态。配套的非接触式IC卡5接近后则变为开放状态。
实施例3如图5、图6所示，本实施例描述的非接触卡接近检测磁性开关具有两片静触片1。在无配套的非接触式IC卡5接近时处于一种闭合状态，配套的非接触式IC卡5接近后则变为另一种闭合状态。
权利要求1.一种非接触卡接近检测磁性开关，它包括动触片(2)和静触片(1)其特征在于动触片(2)上设置有永久磁钢(3)，在动触片(2)、静触片(1)和永久磁钢(3)外设有非导磁材质制作的外壳(4)。
2.根据权利要求1所述的非接触卡接近检测磁性开关，其特征在于导电材质的动触片(2)和静触片(1)为常开结构。
3.根据权利要求1所述的非接触卡接近检测磁性开关，其特征在于导电材质的动触片(2)和静触片(1)为常闭结构。
4.根据权利要求1所述的非接触卡接近检测磁性开关，特征在于具有导电材质的静触片(1)两片和导电材质的动触片(2)一片，构成常开、常闭结构。
专利摘要本实用新型公开了一种非接触卡接近检测磁性开关，它包括动触片和静触片，动触片上设置有永久磁钢，在动触片、静触片和永久磁钢外设有非导磁材质制作的外壳，导电材质的动触片和静触片可设置成常开结构，也可设置成常闭结构，还可以设置成具有导电材质的静触片两片和导电材质的动触片一片，构成常开、常闭结构。这种非接触卡接近检测磁性开关结构简单，成本低，易于安装，与电路接口灵活，使用方便，特别是本实用新型的输出接点可制作为常开，常闭或开闭兼有的结构，能适应各种读卡装置的需要。
文档编号H01H36/00GK2798295SQ20052010275
公开日2006年7月19日 申请日期2005年6月3日 优先权日2005年6月3日
发明者陈江南, 金权, 王培 , 施吾铨, 张建华 申请人:杭州先锋电子技术有限公司