易清洁键盘的制作方法

文档序号:7217752阅读:331来源:国知局
专利名称:易清洁键盘的制作方法
技术领域
本实用新型涉及的是一种电脑输入设备,具体是一种在形状与构造上便于清洁的电脑键盘。背荣技术众所周知,电脑键盘是比较易脏和比较难清洁的电脑输入设备。目前解决电脑键盘清洁 问题的思路,基本上是以设计清洁用品为主。具体而言,目前解决电脑键盘清洁问题的方法, 一般可归纳有以下四种① 土办法。例如使用"抹布+棉签"法清洁键盘,抹布主要用于擦拭键盘壳及按键键帽的 上顶面,棉签主要用于擦拭按键键帽的各个侧面。② 专用清洁工具法。例如使用专利申请号为03241477.3所述的"键盘清洁消毒器"清 洁键盘。③ 吸尘法。例如使用一种市售的"USB键盘清洁器"清洁键盘。④ 防护套法。例如使用目前市售的,用橡胶或硅胶之类的弹性材料制成的"电脑键盘防 护套",套罩键盘。上述四法中①法效率太低。②法需使用专门的清洁工具,效率也不高。③法只能吸去粉尘,不能擦除污渍。④法虽然可以保持键盘的整洁,却又另外多出了一个需要清洁的键盘防护套;另外,此法还存在影响使用手感,以及存在防护套易脏易坏等问题。 可以说,到目前为止,还没有比较好的方法来解决电脑键盘的清洁难问题。 下面结合《说明书附图》图1,从按键的结构上去分析普通电脑键盘之所以难清洁的深层次原因。图1是普通传统键盘的键帽的典型结构+清洁过程示意图。其中键(F1)、键(F2)、键(F3) 为相邻的按键;虚线(1)为按键(F1)未被按下时的位置,虚线(2)为按键(F2)被按下到位 后的位置;键帽的高度(a)等于虚线(l)和虚线(3)之高度差;按键的可按深度(b)等于虚 线(1)和虚线(2)之高度差;键帽的侧面倾斜度(A)- 60°角。 其清洁过程分析① 以海绵、抹布等为代表的清洁体(O),在按压下键(F2)后,不能或很难继续向左右方向 移动清洁的原因,是被左边的键(F1)和右边的键(F3)明显横向阻挡住。在此情况下, 若进一步用力移动清洁体(O)擦抹,则可能会造成按键或者清洁体被损坏的后果。② 存在明显较深的键盘清洁盲区。发明人把键盘的清洁盲区定义为从按键的顶面位置 虚线(l)算起,键帽的高度(a)减去按键的可按深度(b),得出的差(c),贝ij(c)段对应 的键帽侧面区域,也即是虚线(2)位置以下的所有按键键帽区域,就是键盘的清洁盲区 区域。通常情况下,清洁体(O)受压变形后会相对有稍凸起的部分,这稍凸起的部分是 能够对深度较浅的清洁盲区进行清洁的,而对于较深的清洁盲区而言,比如本案例,则清洁不到。由于按键结构上的原因,普通传统键盘往往存在着较深的清洁盲区,这就 是目前普通传统键盘难以被清洁的根本原因。 发明内容为了解决电脑键盘难以清洁的问题,本实用新型提供了一种易清洁键盘,该键盘在设计 上引入易清洁设计理念,通过对键盘按键的外观形状,以及按键的可按深度的优化设计,来 达到键盘易于被清洁的目的。本实用新型键盘的结构包括壳体、按键及电子电路三个组成部分,这与普通传统键盘的 组成结构是相同的。而在设计中贯彻易清洁设计理念,针对按键的形状与构造,作特别便利 于键盘清洁的优化设计,则是本实用新型键盘与普通传统键盘的区别所在。本实用新型解决技术问题所采取的方案是-① 一方面,针对按键的键帽作特别的优化设计,使得键帽四周侧面的倾斜度(B)在35n角至 55°角范围之内,以倾斜度(8)在45°角至50°角范围之内为优选;② 另一方面,针对按键的可按深度作特别的优化设计,使得键帽的高度(d)与按键的可按 深度(e)的差值在0毫米至2毫米范围之内,以差值在0毫米至1. 5毫米范围之内为优选。采用本实用新型技术的键盘,其突出的好处是①键盘特别容易被清洁。比如,可用柠 干水的清洁布,通过简单的上下左右来回擦抹,就能够把键盘面,包括键帽的各个侧面,擦 拭干净。②节省材料成本。与普通传统键盘对比,该实用新型键盘键帽的高度相对较低,故 其生产时所耗用材料也相对要少。

图1是普通传统键盘的键帽的典型结构+清洁过程示意图。 图2是实施例1中的键盘键帽的结构+清洁过程示意图。
具体实施方式
除按键之外,本实用新型键盘与传统通用键盘的组成结构是可以相同的。因此,实施本 实用新型完全可以在传统通用键盘的基础上,再根据本实用新型所述的按键的特征,作出相 应的调整修改,就可以了。实例l:①把键帽的下底面设计成18X18毫米;②在键帽的四个侧面中,把背向使用者的一个侧面的倾斜度设计成50"角,而把其另外的三个侧面的倾斜度(B)设计成45°角;③把键 帽的高度(d)设计成4毫米;④把按键的可按深度(e)设计成4毫米;⑤对于键盘的其它方面的设计,可参照现有键盘的结构方式设计即可。下面结合《说明书附图》中的图2,分析本实用新型键盘的清洁过程图2中,键(F4)、键(F5)、键(F6)为相邻的三个按键;键帽高度(d)等于虚线(5)和虚线(6) 之高度差,按键的可按深度(e)等于虚线(6)和虚线(7)之高度差;键帽的侧面倾斜度(B)-458角。分析本例清洁过程-①以海绵、抹布等为代表的清洁体(O),在按压下键(F5)后,可以比较容易地向前后左右移动清洁的原因,是当清洁体(0)碰触到周边的键,如本例的键(F4)或键(F6)时,由于其键 帽的侧面斜面倾斜度(B)较小,为45°角,故其能获得较大的向下作用力,使得按键被按压下去。② 也由于键帽的侧面倾斜度(B)较小,键帽对清洁体(O)的横向阻力也相对较小,故清洁体 可以比较容易地来回横向移动擦抹,而键盘也不易导致损坏。③ 根据前面关于键盘清洁盲区的定义,如果键帽的高度(d)减去按键的可按深度(e),得 出的差,等于或者几乎等于零,则就没有、或者几乎没有清洁盲区。本例中,键帽的高度 (d)为4毫米,按键的可按深度(e)也为4毫米,本例的清洁盲区的深度为4毫米一4毫米 =0毫米。由于本例没有清洁盲区,故用一块普通的抹布就能把键盘擦拭干净。实例2:在键盘的所有按键中,①针对最靠键盘四周边缘的按键的键帽作设计,使得其位 于键盘四周边缘一侧的侧面倾斜度为5(f角,而其它的侧面的倾斜度则为46"角;②针对非最 靠键盘四周边缘的按键键帽作设计,使得其键帽四周侧面的倾斜度为46°角。③把键帽的高度 设计成4毫米;④把按键的可按深度设计成3毫米;⑤对于键盘的其它方面的设计,可参照现有键盘的结构方式设计即可。 分析本例清洁情况本例的清洁盲区的深度为4毫米一3毫米=1毫米。通常情况下,清洁体(O)受压变形后 会相对有稍凸起的部分,这稍凸起的部分完全可以对深度较浅的清洁盲区进行清洁。故本 例虽有l毫米深的清洁盲区,但其仍然可以被清洁体擦拭干净。实例3:①把键帽的下底面设计成18X18毫米;②在键帽的四个侧面中,把背向使用者的一个侧面的倾斜度设计成50°角,而把其另外的三个侧面的倾斜度(B)设计成48°角;③把按键的可按深度设计成2毫米;④把键帽的高度设计成3毫米。⑤对于键盘的其它方面的设计,可参照现有键盘的结构方式设计即可。关于本实用新型实施的补充说明在实施本实用新型时,对于键帽四周侧面的倾斜度,并不要求一定对称相等,如可以是其中的二侧面为45。角,而另外的两个侧面是50°角;或者可以是其中的一面側为52°角,另 外的三侧面为45°角等。总之允许有多种不同的键帽侧面倾斜度的组合。
权利要求1. 一种易清洁键盘,其特征为键帽四周侧面的倾斜度(B),在35°角至55°角范围之内;并且,键帽的高度(d),与按键的可按深度(e)之差值在0毫米至2毫米范围之内。
专利摘要本实用新型涉及的是一种电脑输入设备,具体是一种在形状与构造上便于清洁的电脑键盘。本实用新型旨在克服现有通用电脑键盘由于形状与构造的原因,而直接导致的键盘不易被清洁的问题。该键盘由壳体、按键及电子电路三个部分组成,其特征在于键帽四周侧面的倾斜度(B),在35°角至55°角范围之内;并且,键帽的高度(d),与按键的可按深度(e)之差值在0毫米至2毫米范围之内。与现有通用电脑键盘相比,采用本实用新型技术的电脑键盘,其突出的好处是①键盘特别容易被清洁;②生产成本少。
文档编号H01H13/14GK201091027SQ20062006509
公开日2008年7月23日 申请日期2006年9月29日 优先权日2006年9月29日
发明者卢向勇 申请人:卢向勇
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