用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，包括横杆一、绞盘一及绞盘二，所述绞盘一、绞盘二分别固定在横杆一的两端；所述绞盘一上设有能够以绞盘一为中心点而转动的横杆二、横杆三、横杆四，所述横杆二、横杆三、横杆四上对应设置有能够分别沿横杆二、横杆三、横杆四移动的移位基座二、移位基座三、移位基座四，所述移位基座二、移位基座三、移位基座四上对应设置有竖杆二、竖杆三、竖杆四，所述竖杆二、竖杆三及竖杆四上对应设有能够分别沿竖杆二、竖杆三、竖杆四移动的夹具二、夹具三、夹具四。本发明采用上述结构，能够实现各个试验关键部分的精确调节，方便调谐，确保获得较好的一致性。
【专利说明】用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及毫米波准光远近场测试领域，具体是用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置。
【背景技术】
[0002]如图1所示为毫米波准光功率合成系统原理图。其中，毫米波信号输入喇叭天线I转换为高斯波束，先后经过偏馈赋型抛物面I与面2，变换为MXN个波束，实现空间功率分配。每个波束被MXN接收喇叭天线阵中的一个喇叭接收后，转换为微带准TEM模式，经过MMICs功率放大后经喇叭天线辐射，辐射的多波束电磁波先后经过偏馈赋型抛物面3与面4后，馈入喇叭天线2实现了功率合成与输出。
[0003]该系统实验装置关键部分是喇叭天线1、偏馈抛物面1、偏馈抛物面2、喇叭天线波导阵列及其单元、偏馈抛物面3、偏馈抛物面4、喇叭天线2。试验中，传统的机械调节装置无法做到关键部分的精确定位，并且调谐操作十分不方便，导致一致性较差。
【发明内容】
[0004]本发明提供了用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，解决了以往测试装置关键部分定位不精确，调谐操作不方便，导致一致性差的问题。
[0005]本发明的目的通过下述技术方案实现:用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，包括横杆一·、绞盘一及绞盘二，所述绞盘一、绞盘二分别固定在横杆一的两端；
所述绞盘一上设有能够以绞盘一为中心点而转动的横杆二、横杆三、横杆四，所述横杆二、横杆三、横杆四上对应设置有能够分别沿横杆二、横杆三、横杆四移动的移位基座二、移位基座三、移位基座四，所述移位基座二、移位基座三、移位基座四上对应设置有竖杆二、竖杆三、竖杆四，所述竖杆二、竖杆三及竖杆四上对应设有能够分别沿竖杆二、竖杆三、竖杆四移动的夹具二、夹具三、夹具四；
所述绞盘二上设有能够以绞盘二为中心点而转动的横杆五、横杆六、横杆七，所述横杆五、横杆六、横杆七上对应设置有能够分别沿横杆五、横杆六、横杆七移动的移位基座五、移位基座六、移位基座七，所述移位基座五、移位基座六、移位基座七上对应设置有竖杆五、竖杆六、竖杆七，所述竖杆五、竖杆六、竖杆七上对应设有能够分别沿竖杆五、竖杆六、竖杆七移动的夹具五、夹具六、夹具七；
所述移位基座 、移位基座二.、移位基座四、移位基座五、移位基座/K、移位基座七上均设有锁紧装置；
所述夹具二、夹具三、夹具四、夹具五、夹具六、夹具七上均设有锁紧装置；
所述横杆一上设有能够沿横杆一移动的定位栅格框架，所述定位栅格框架上装配有多根呈水平和竖直交叉分布的钢丝。在测试的时候，通过这些钢丝，将喇叭天线波导阵列单元中间的波导部分夹紧，实现喇叭天线波导阵列单元的放置固定。
[0006]以夹具二为例，夹具二所在的竖杆为竖杆二，竖杆二所在的横杆为横杆二，横杆二能够以绞盘一为中心点转动，竖杆二能够沿着横杆二移动，夹具二能够沿着竖杆二移动，这样，只要横杆二和竖杆二的长度足够长，夹具二即可做到三维空间内的任意位置调节。同理，夹具三、夹具四、夹具五、夹具六、夹具七均可实现三维空间内的任意位置调节，由于喇叭天线一、偏馈抛物面一、偏馈抛物面一、偏馈抛物面三、偏馈抛物面四、喇叭天线二是对应固定在夹具二、夹具三、夹具四、夹具五、夹具六、夹具七上的，进而实现喇叭天线一、偏馈抛物面一、偏馈抛物面一、偏馈抛物面三、偏馈抛物面四、喇叭天线二在三维空间内的任意位置调节。
[0007]进一步地，所述绞盘一、绞盘二及各个横杆的活动端的下方均设有滚轮。
[0008]进一步地，所述除横杆一以外的所有横杆的长度均为80cm，宽度均为6cm。
[0009]进一步地，所述各个移位基座的长度均为8cm，宽度均为10cm。
[0010]进一步地，所述各个竖杆的长度均为80cm。
[0011 ] 进一步地，所述定位栅格框架的形状为方形，其长、宽分别为80cm、80cm，定位栅格框架的边框宽度为8cm，相邻两条平行的钢丝之间的距离为0.1cm0
[0012]进一步地，所述定位栅格框架的长度方向、高度方向均设有标尺。
[0013]进一步地，所述各个横杆、竖杆上均设有长度标尺，且长度标尺的最小刻度为
0.5_。通过增加长度标尺，可实现精确定位。
[0014]进一步地，所述绞盘一、绞盘二的直径为20cm，绞盘一、绞盘二上均设有角度标尺，且角度标尺的最小刻度为1°。
[0015]进一步地，所述绞盘一、绞盘二及各个横杆均采用不锈钢材料制成，所述定位栅格框架、各个竖杆和夹具采用硬铝材料制成。
[0016]本发明与现有技术相比具有以下优点和有益效果:
(O本发明通过采用绞盘、横杆、竖杆、夹具相配合的方式，实现了各个试验关键部分，比如喇叭天线一、偏馈抛物面一、偏馈抛物面一、偏馈抛物面三、偏馈抛物面四、喇叭天线二，在三维空间内的位置调节，做到了精确定位，调谐方便且一致性好。
[0017](2)本发明装拆方便，安装快捷，多次使用后不变形，承重强度高。
[0018](3)本发明在使用时具备很高灵活性，可应用于微波、毫米波其它多种测试场合，如相控阵天线、抛物面天线的远近场测试。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1为毫米波准光功率合成系统原理图；
图2为本发明的实施例1的整体结构示意图；
图3为本发明的实施例2的整体结构示意图。
【具体实施方式】
[0020]下面结合实施例及附图，对本发明作进一步的详细说明，但本发明的实施方式不仅限于此。
[0021]实施例1:
如图2所示，本实施例所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，包括横杆一 1、绞盘一 2及绞盘二 3,所述绞盘一 2、绞盘二 3分别固定在横杆一 I的两端； 本实施例的绞盘一 2上设有能够以绞盘一 2为中心点而转动的横杆二 21、横杆三22、横杆四23,所述横杆二 21、横杆三22、横杆四23上对应设置有能够分别沿横杆二 21、横杆三22、横杆四23移动的移位基座二 211、移位基座三221、移位基座四231，所述移位基座二211、移位基座三221、移位基座四231上对应设置有竖杆二 212、竖杆三222、竖杆四232，所述竖杆二 212、竖杆三222、竖杆四232上对应设有能够分别沿竖杆二 212、竖杆三222、竖杆四232移动的夹具二 213、夹具三223、夹具四233。
[0022]本实施例的绞盘二 3上设有能够以绞盘二 3为中心点而转动的横杆五31、横杆六32、横杆七33,横杆五31、横杆六32、横杆七33上对应设置有能够分别沿横杆五31、横杆六32、横杆七33移动的移位基座五311、移位基座六321、移位基座七331，移位基座五311、移位基座六321、移位基座七331上对应设置有竖杆五312、竖杆六322、竖杆七332，竖杆五312、竖杆六322、竖杆七332上对应设有能够分别沿竖杆五312、竖杆六322、竖杆七332移动的夹具五313、夹具六323、夹具七333。
[0023]以上所述的各个横杆、竖杆、可作相应的角度调节，移位基座可沿着所在的横杆滑动，而夹具则对应固定各个测试单元，如喇叭天线、偏馈抛物面等。
[0024]本实施例的移位基座二 211、移位基座三221、移位基座四231、移位基座五311、移位基座六321、移位基座七331上均设有锁紧装置；夹具二 213、夹具三223、夹具四233、夹具五313、夹具六323、夹具七333上均设有锁紧装置，该锁紧装置的结构为现有技术，本领域的技术人员能够较容易实现，该锁紧装置的目的是对各个移位基座、夹具调节后的位置进行锁紧固定，便于测试。
[0025]本实施例的横杆一 I上设有能够沿横杆一 I移动的定位栅格框架4,定位栅格框架4上装配有多根呈水平和竖直交叉分布的钢丝，作为优选，本实施例在定位栅格框架4上设置8根钢丝，其中四根位于水平方向上，另外四根位于竖直方向上，该8根钢丝平均分为两组，每组钢丝包括水平方向、竖直方向的钢丝各两根，且位于同一平面上，将测试时用到的喇叭天线波导阵列单元安放在该8根钢丝围成的区域内，通过调节钢丝的位置，可实现喇叭天线波导阵列单元的位置调节，方便测试。
[0026]测试前，首先根据毫米波准光理论设计值，通过先调整各横杆相对于绞盘的角度，然后调整各移位基座在各横杆上的水平位置，接着调整各竖杆相对于移位基座的旋转角度，再调整各夹具在各竖杆上的垂直位置，最后把喇叭天线、偏馈抛物面安装在各自夹具上。安装调节定位栅格框架上水平、竖直方向上的每根钢丝，对喇叭天线波导阵列单元进行精确空间定位，完成这些步骤后，就可以进行系统的初步测试，在测试过程中可以独立或联合地对各个喇叭天线、偏馈抛物面、喇叭天线波导阵列单元的位置进行微调，观察测试指标的变化规律，通过本发明，可大大提高测试的效率及精确度，也可适应不同的测试场合，除了毫米波准光功率合成远近场测试以外，还可以是相控阵天线、抛物面天线的远近场测试。
[0027]实施例2:
如图3所示，本实施例与实施例1基本相同，不同的地方是，本实施例在实施例1的基础上，在绞盘一 2、绞盘二 3及各个横杆的活动端的下方均设置滚轮，方便其在工作台上的移动。
[0028]实施例3:
本实施例在实施例2的基础上，对各个横杆、移位基座、竖杆、定位栅格框架4的尺寸进行选择，除横杆一 I以外的所有横杆的长度均为80cm，宽度均为6cm，80cm的横杆长度即可满足调节的需要，而6cm的宽度也能达到强度要求，长度、宽度过大或过小都不好，过大的话不仅增大了装置的体积，同时也增大了装置的投入成本；而过小的话不仅无法满足调节的需要，同时还可能达不到装置的支撑强度。
[0029]同理，本实施例对移位基座、竖杆、定位栅格框架4的尺寸选择如下:
本实施例的各个移位基座的长度均为8cm，宽度均为10cm。
[0030]本实施例的各个竖杆的长度均为80cm。
[0031]本实施例的定位栅格框架4的形状为方形，其长、宽分别为80cm、80cm，定位栅格框架4的边框宽度为8cm，相邻两条平行的钢丝之间的距离为0.1cm0
[0032]实施例4:
为了获得更好的调节精度，本实施例在实施例3的基础上，在定位栅格框架4的长度方向、高度方向均设有标尺。
[0033]本实施例的各个横杆、竖杆上均设有长度标尺，且长度标尺的最小刻度为0.5mm。
[0034]本实施例的绞盘一 2、绞盘二 3的直径为20cm，绞盘一 2、绞盘二 3上均设有角度标尺，且角度标尺的最小刻度为1°。
[0035]另外，综合考虑装置的重量和所需强度，本实施例的绞盘一 2、绞盘二 3及各个横杆均采用不锈钢材料制成，定位栅格框架4、各个竖杆和夹具采用硬铝材料制成。
[0036]本发明已经通过上述实施例进行了说明，但应当理解的是，上述实施例只是用于举例和说明的目的，而非意在将本发明限制于所描述的实施例范围内。此外，本领域技术人员可以理解的是，本发明并不局限于上述实施例，根据本发明的教导还可以做出更多种的变型和修改，这些变型和修改均落在本发明所要求保护的范围以内。
【权利要求】
1.用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:包括横杆一(I)、绞盘一(2)及绞盘二(3)，所述绞盘一(2)、绞盘二(3)分别固定在横杆一(I)的两端； 所述绞盘一(2)上设有能够以绞盘一(2)为中心点而转动的横杆二(21)、横杆三(22)、横杆四(23)，所述横杆二(21)、横杆三(22)、横杆四(23)上对应设置有能够分别沿横杆二(21)、横杆三(22)、横杆四(23)移动的移位基座二(211)、移位基座三(221)、移位基座四(231)，所述移位基座二(211)、移位基座三(221)、移位基座四(231)上对应设置有竖杆二(212)、竖杆三(222)、竖杆四(232)，所述竖杆二(212)、竖杆三(222)、竖杆四(232)上对应设有能够分别沿竖杆二(212)、竖杆三(222)、竖杆四(232)移动的夹具二(213)、夹具三(223)、夹具四(233)； 所述绞盘二( 3 )上设有能够以绞盘二( 3 )为中心点而转动的横杆五(31)、横杆六(32 )、横杆七(33),所述横杆五(31)、横杆六(32)、横杆七(33)上对应设置有能够分别沿横杆五(31)、横杆六(32)、横杆七(33)移动的移位基座五(311)、移位基座六(321)、移位基座七(331)，所述移位基座五(311)、移位基座六(321)、移位基座七(331)上对应设置有竖杆五(312)、竖杆六(322)、竖杆七(332)，所述竖杆五(312)、竖杆六(322)、竖杆七(332)上对应设有能够分别沿竖杆五(312)、竖杆六(322)、竖杆七(332)移动的夹具五(313)、夹具六(323)、夹具七(333)； 所述移位基座二(211)、移位基座三(221)、移位基座四(231)、移位基座五(311)、移位基座六(321)、移 位基座七(331)上均设有锁紧装置； 所述夹具二(213)、夹具三(223)、夹具四(233)、夹具五(313)、夹具六(323)、夹具七(333)上均设有锁紧装置； 所述横杆一(I)上设有能够沿横杆一(I)移动的定位栅格框架(4)，所述定位栅格框架(4)上装配有多根呈水平和竖直交叉分布的钢丝。
2.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述绞盘一(2)、绞盘二(3)及各个横杆的活动端的下方均设有滚轮。
3.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述除横杆一(I)以外的所有横杆的长度均为80cm,宽度均为6cm。
4.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述各个移位基座的长度均为8cm,宽度均为10cm。
5.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述各个竖杆的长度均为80cm。
6.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述定位栅格框架(4)的形状为方形，其长、宽分别为80cm、80cm，定位栅格框架(4)的边框宽度为8cm，相邻两条平行的钢丝之间的距离为0.1cm0
7.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述定位栅格框架(4)的长度方向、高度方向均设有标尺。
8.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述各个横杆、竖杆上均设有长度标尺，且长度标尺的最小刻度为0.5mm。
9.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述绞盘一(2)、绞盘二(3)的直径为20cm，绞盘一(2)、绞盘二(3)上均设有角度标尺，且角度标尺的最小刻度为1°。
10.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于:所述绞盘一(2)、绞盘二(3)及各个横杆均采用不锈钢材料制成，所述定位栅格框架(4 )、各个竖杆和夹 具采用硬铝材料制成。
【文档编号】H01Q3/00GK103441321SQ201310397271
【公开日】2013年12月11日 申请日期:2013年9月4日 优先权日:2013年9月4日
【发明者】邓建华, 王建, 周英平 申请人:成都鼎格科技有限公司