用于抗攻击芯片的安全封装结构及封装完整性检测方法与流程

文档序号:16765442发布日期:2019-01-29 17:58阅读:来源:国知局
技术总结
本发明涉及芯片抗攻击领域,为实现实时监测金属网络的完整性,监测封装的完整性,保障集成电路芯片的信息安全。本发明采用的技术方案是,用于抗攻击芯片的安全封装结构,由底座Z1、盖板Z2构成,底座Z1由LTCC(Low Temperature Co‑fired Ceramic)技术制成,具有朝下的“凸”字形腔体,并由此具有三层表面:上表面层Z5、金属压焊盘PAD层Z4、芯片层Z3;盖板Z2由LTCC技术制成,为一内嵌金属导线的薄矩形板,其上表面不含任何金属导线,其下表面嵌入用于构成闭合金属网络的金属导线。本发明主要应用于芯片抗攻击场合。

技术研发人员:赵毅强;辛睿山;王佳;李跃辉;赵公元
受保护的技术使用者:天津大学
技术研发日:2016.08.23
技术公布日:2019.01.29

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