技术总结
本公开的实施例提供了一种电子芯片，包括：在第一导电类型的区域上交替连续设置的多个具有第一导电类型的第一半导体条和多个具有第二导电类型的第二半导体条；设置在每个第二半导体条端部的两个检测触点；用于检测每个第二半导体条端部的两个检测触点之间的电阻的电路；在第二半导体条中延伸到电路元件之间的第一深度的绝缘槽；以及贯穿每个第二半导体条的整个宽度延伸到大于第一深度的第二深度的绝缘壁。
技术研发人员：A·萨拉菲亚诺斯;M·利萨特;J·弗特
受保护的技术使用者：意法半导体(鲁塞)公司
文档号码：201621292971
技术研发日：2016.11.29
技术公布日：2017.06.16