一种晶体管封装检测用托盘的制作方法

本实用新型涉及晶体管封装领域，尤其涉及一种晶体管封装检测用托盘。

背景技术：

在晶体管封装过程中，不同阶段的封装产品，都需要经检验合格后方可进行下一步封装处理，及时发现不良品，以便确定产生不良的原因，确保生产的质量。目前的晶体管产品在进行检测的过程中，在抽取封装产品时，往往会发生操作员手部碰触抽检产品的情况，由于晶体管产品是精密器件，这种碰触会引发产品污染或产品受损等多种风险，进而导致封装产品质量下降的问题。

现有的晶体管封装检测用托盘能避免操作员手部碰触抽检产品的情况，但是托盘挡板突出承载板的表面而形成阴影，容易产生检测视线死角，从而影响产品检测的效果，降低检测的精度，产品质量难以确保；此外，待检测封装产品放置于现有托盘后，在搬运托盘的过程中，托盘难免会发生抖动，而现有托盘缺乏对待检晶体管的限位结构，从而使待检晶体管发生位移，影响后续的检测操作，降低检测效率。

因此，提供一种有效防止检测视线死角、防止降低检测效率的影响和避免在检测过程中影响产品质量的晶体管封装检测用托盘已成为当务之急。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种晶体管封装检测用托盘，能有效防止检测视线死角和避免在检测过程中影响产品质量，提高对晶体管封装检测的效率，提高检测精度，进而提高产品质量。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种晶体管封装检测用托盘，包括底板和围边，所述围边包括第一横向挡边、纵向挡边和第二横向挡边，所述围边呈“U”型，所述纵向挡边的一端与所述第一横向挡边连接，所述纵向挡边的另一端与所述第二横向挡边连接，所述围边与所述底板连接；所述围边的内侧面在所述底板之上构成承载槽；

所述围边的内侧面为倾斜面，所述承载槽为倒梯形槽；

所述第一横向挡边和/或所述第二横向挡边的内侧下沿与所述底板之间设有凹槽，所述凹槽用于对待检晶体管定位。

优选的，所述“U”型围边的开口形成进料口，所述进料口设置于与所述纵向挡边相对的一端，所述进料口处的底板侧面为倾斜面，所倾斜面的倾斜角为1°～20°，所述底板的倾斜面下方与装载待检晶体管的料盒的出料口贴合，所述倾斜面用于使待检晶体管平缓转移至承载槽内。

优选的，所述第一横向挡边远离纵向挡边的一端与底板配合形成缺口，所述缺口的长度与所述料盒出料口的挡板的伸出长度一致，所述缺口的外侧面与所述挡板的内侧面接触。

优选的，所述凹槽的一侧面及槽底位于所述围边，所述凹槽的另一侧面为所述底板的上表面，所述凹槽的高度为0.3mm～1mm，所述凹槽的深度为0.5mm～2mm。

优选的，所述围边的内侧面与所述底板形成的倾斜角为45°～75°。

优选的，所述第一横向挡边远离所述纵向挡边的一端设有第一插入斜面，所述第二横向挡边远离所述纵向挡边的一端设有第二插入斜面。

优选的，所述第一插入斜面与所述第一横向挡边的外侧面形成的夹角为45°～75°，所述第一横向挡边的外侧面垂直于所述底板表面，所述第二插入斜面与所述第二横向挡边的外侧面形成的夹角为45°～75°，所述第二横向挡边的外侧面垂直于所述底板表面。

优选的，所述晶体管封装检测用托盘的材质为铝合金。

优选的，所述底板的上表面和所述围边的内侧面具有黑色电镀层。

优选的，所述第一横向挡边、所述纵向挡边和所述第二横向挡边的外侧面分别与所述底板的侧面相平齐；所述底板与所述围边通过连接件可拆卸连接。

本实用新型的有益效果：(1)本晶体管封装检测用托盘将围边的内侧面设置为倾斜面，所形成的承载槽为倒梯形槽，检测灯光从任一角度投射过来，在本晶体管封装检测用托盘的检测区域不会形成阴影，检测视线清晰，提高检测精度，提高产品质量；(2)本晶体管封装检测用托盘设置了凹槽，使晶体管的支架分脚能嵌入上述凹槽中，对待检晶体管的支架有一定的限位作用，防止待检晶体管松脱出来，从而便于对待检晶体管进行定位检测，提高对晶体管封装检测的效率；(3)进料口处的底板侧面为倾斜面，其倾斜角为1°～20°，使得待检晶体管从装载待检晶体管的料盒过渡到底板的过程是平缓的，尽量降低转移待检晶体管过程中对待检晶体管的影响；(4)本晶体管封装检测用托盘设置了缺口，当进料口与料盒的出料口进行无缝隙接触时，也能发挥挡板的导向作用，顺利输送至本晶体管封装检测用托盘上，同时，便于晶体管的抖出，同时防止本晶体管封装检测用托盘变形；(5)本晶体管封装检测用托盘设置了第一插入斜面和第二插入斜面，对待检晶体管的两侧有导向作用，确保待检晶体管的支架分脚顺利嵌入凹槽内。

附图说明

附图对本实用新型做进一步说明，但附图中的内容不构成对本实用新型的任何限制。

图1是本实用新型的晶体管封装检测用托盘的示意图；

图2是图1中A处的局部放大图；

图3是本实用新型的晶体管封装检测用托盘的俯视图；

图4是沿图3中B-B线的放大剖视图；

图5是本实用新型的晶体管封装检测用托盘处于工作状态的侧视图；

图6是本实用新型的晶体管封装检测用托盘处于工作状态的俯视图；

图7是本实用新型的晶体管封装检测用托盘与挡板组合后的示意图。

其中：底板1；凹槽11；进料口12；缺口13；围边2；第一横向挡边21；第一插入斜面211；纵向挡边22；第二横向挡边23；第二插入斜面231；料盒3；挡板31。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

本实用新型提供了一种晶体管封装检测用托盘，如图1～7所示，包括底板1和围边2，围边2包括第一横向挡边21、纵向挡边22和第二横向挡边23，围边2呈“U”型，纵向挡边22的一端与第一横向挡边21连接，纵向挡边22的另一端与第二横向挡边23连接，围边2与底板1连接；围边2的内侧面在底板1之上构成承载槽；

围边2的内侧面为倾斜面，承载槽为倒梯形槽；

第一横向挡边21和/或第二横向挡边23的内侧下沿与底板1之间设有凹槽11，凹槽用于对待检晶体管定位。

本晶体管封装检测用托盘由底板1和围边2构成，其结构简单，能避免出现操作员检查晶体管时手部碰触产品而影响产品质量的问题。本晶体管封装检测用托盘将围边2的内侧面设置为倾斜面，所形成的承载槽为倒梯形槽，检测灯光从任一角度投射过来，在本晶体管封装检测用托盘的检测区域不会形成阴影，检测视线清晰，提高检测精度，提高产品质量。避免了现有的检测用托盘由于其挡边的内侧面与底板相垂直，而导致挡边与底板的连接处形成的阴影而产生检测视线死角，从而影响产品检测的效果，降低检测的精度。本晶体管封装检测用托盘还在第一横向挡边21和/或第二横向挡边23的内侧的下沿与底板1之间设置凹槽11，晶体管的支架分脚能嵌入上述凹槽11中，对待检晶体管的支架有一定的限位作用，因而能防止托盘在搬运过程中由于抖动而导致待检晶体管松脱出来的情况，从而便于对待检晶体管进行定位检测，提高对晶体管封装检测的效率。

进一步的，“U”型围边的开口形成进料口12，进料口设置于与纵向挡边22相对的一端，进料口12处的底板侧面为倾斜面，所倾斜面的倾斜角为1°～20°，底板的倾斜面下方与装载待检晶体管的料盒3的出料口贴合，倾斜面用于使待检晶体管平缓转移至承载槽内。

“U”型围边的开口形成进料口12，实现将待检晶体管输送至本晶体管封装检测用托盘中，其进料口12设置的一端没有挡边，起到装载待检晶体管的料盒3与本晶体管封装检测用托盘的衔接作用。进料口12处的底板为倾斜面，其倾斜角为1°～20°，选择了一个足够平缓的倾斜面，使得待检晶体管从装载待检晶体管的料盒3过渡到底板1的承载槽内的过程是平缓的，尽量降低转移待检晶体管过程中对待检晶体管的影响。底板的倾斜面下方与装载待检晶体管的料盒3的出料口贴合，使得本晶体管封装检测用托盘与装载待检晶体管的料盒3之间进行无缝隙接触，确保待检晶体管直接从料盒3中转移到本晶体管封装检测用托盘上，直接快捷，减少对待检测晶体的影响。

进一步的，第一横向挡边21远离纵向挡边的一端与底板配合形成缺口13，缺口13的长度与料盒3出料口的挡板31的伸出长度一致，缺口13的外侧面与挡板31的内侧面接触。

为了防止待检晶体管从料盒3的出料口输出的过程中脱出，会在料盒3的出料口处设置挡板31，而挡板31的设置位置往往会与检测托盘放置的位置有所重合，这样，挡板31就会妨碍了检测托盘与料盒3在维持原有的输送轨道的基础上保持无缝隙接触，影响检测速率和待检晶体管质量。而在本晶体管封装检测用托盘中设置缺口13，其缺口13的设置就是为了上述挡板31而设置的，缺口13的长度与挡板31的伸出长度一致，缺口13的外侧面与挡板31的内侧面接触，意味着当本晶体管封装检测用托盘的进料口12与料盒3的出料口进行无缝隙接触时，挡板31能封住缺口13，让待检晶体管输出料盒3的出料口后，受到挡板31的导向作用，顺利输送至本晶体管封装检测用托盘上。另外，缺口13的设置，便于晶体管的抖出，同时防止本晶体管封装检测用托盘变形。

进一步的，凹槽11的一侧面及槽底位于围边，凹槽11的另一侧面为底板1的上表面，凹槽11的高度为0.3mm～1mm，凹槽11的深度为0.5mm～2mm。

凹槽11的一侧面及槽底位于围边，凹槽11的另一侧面为底板1的上表面，使得凹槽11在底板1的上表面形成，当待检晶体管的支架分脚进入凹槽时，也能保持待检晶体管的支架接触底板1的上表面，避免对支架分脚施以额外的承托力。凹槽11的高度设置若太高，则对待检晶体管的限位作用过于小，待检晶体管仍有可能松脱出来；高度设置若太低，可能会对待检晶体管有一定的损坏作用；高度设置为0.3mm～1mm，恰当好处地让待检晶体管的支架分脚顺利进入凹槽11内，又起到该有的限位作用。凹槽11的深度设置若太深，则第一横向挡边21和/或第二横向挡边23的内侧的下沿有可能接触到待检晶体管的支架，而影响待检晶体管的质量，同时也能可能影响检测视线；深度设置若太浅，则对待检晶体管的限位作用过于小，待检晶体管仍有可能松脱出来；深度设置为0.5mm～2mm，恰当好处地让待检晶体管的支架分脚顺利进入凹槽11内，又起到该有的限位作用。因而能防止托盘在搬运过程中由于抖动而导致待检晶体管松脱出来的情况，从而便于对待检晶体管进行定位检测，提高对晶体管封装检测的效率。

进一步的，围边2的内侧面与底板1形成的倾斜角为45°～75°。

设置围边2的内侧面与底板1形成的倾斜角为45°～75°，让围边2的内侧面具有合适的倾斜度，当光源从本晶体管封装检测用托盘上任意角度投射过来，在本晶体管封装检测用托盘的检测区域不会产生阴影，同时适当控制制作本晶体管封装检测用托盘的成本。

进一步的，第一横向挡边21远离纵向挡边22的一端设有第一插入斜面211，第二横向挡边23远离纵向挡边22的一端设有第二插入斜面231。

让待检晶体管输送至本晶体管封装检测用托盘后，第一插入斜面211和第二插入斜面231对待检晶体管的两侧有导向作用，确保待检晶体管的支架分脚顺利嵌入凹槽11内。

进一步的，第一插入斜面211与第一横向挡边21的外侧面形成的夹角为45°～75°，第一横向挡边21的外侧面垂直于底板1表面，第二插入斜面231与第二横向挡边23的外侧面形成的夹角为45°～75°，第二横向挡边23的外侧面垂直于底板1表面。

在第一横向挡边21和第二横向挡边23的外侧面均垂直于底板1表面的前提下，第一插入斜面211与第一横向挡边21的外侧面形成的夹角，第二插入斜面231与第二横向挡边23的外侧面形成的夹角均为45°～75°，确保待检晶体管的支架分脚更顺利地嵌入凹槽11内。

进一步的，晶体管封装检测用托盘的材质为铝合金。铝合金具有密度低、强度较高、塑性好、易于加工成各种型材、稳定性良好的特点，能满足本晶体管封装检测用托盘功能需求，稳定耐用，且铝合金价格低廉，能有效降低制造成本。

进一步的，底板1的上表面和围边2的内侧面具有黑色电镀层。底板1的上表面和围边2的内侧面具有黑色电镀层，使得本晶体管封装检测用托盘的检测区域都以黑色为背景色，突显待检晶体管原有的颜色的同时，让检验员在操作时减少眼睛的疲劳度，避免检验员在检测过程中出现人为误差。

进一步的，第一横向挡边21、纵向挡边22和第二横向挡边23的外侧面分别与底板1的侧面相平齐；加强本晶体管封装检测用托盘的结构紧凑性和组装的便捷性。底板1与围边2通过连接件可拆卸连接，方便本晶体管封装检测用托盘的日常维修与调整。

以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它具体实施方式，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。