一种电机单电阻采样控制方法及装置与流程

本发明涉及电机驱动技术领域，特别涉及一种电机单电阻采样控制方法及装置。

背景技术：

在电机运转过程中，需要采用电机三相线圈的相电流来实现对电机的控制。而采用何种方式对三相线圈的电流进行采样会影响控制电机运转的成本。

目前，在传统的电机的三相电流采样方法中，常使用三电阻或双电阻的方式采样电机的相电流。但由于利用双电阻及三电阻的采样控制电路较为复杂，且制作成本较高，因此，采用单电阻采样控制电路对电机的三相电流进行采样的方式已逐渐取代传统的采样方式。

但是，采用单电阻采样控制电路采样相电流的方式，需要通过控制芯片两路独立的模/数转换器(analog-to-digitalconverter，adc)，在一个pwm周期内的不同时刻完成两次电流采样，而当控制芯片资源有限，只有一路独立的adc时，则很难实现单电阻电流采样。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种电机单电阻采样控制方法及装置，能够通过具有一路独立adc的控制芯片完成单电阻采样控制电路相电流的采样。

第一方面，一种电机单电阻采样控制方法，包括：

预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长，以及控制芯片采集所述单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样时长；

确定所述待采样电机的三个相电流在一个pwm波的三个高电平中的第二高电平的持续时长，其中，所述第二高电平的持续时长小于所述三个高电平中的第一高电平的持续时长，且大于所述三个高电平中的第三高电平的持续时长，其中，所述pwm波采用中央对称模式；

根据所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点；

根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点；

当所述第一目标点与所述第二目标点的时间间隔小于所述控制芯片的模数转换的转换时长时，根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整，并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点，将调整后的第二目标点作为第二采样点；

按照所述第一采样点和所述第二采样点，控制所述控制芯片采集对应的第一相电流和第二相电流；

根据采集的第一相电流和第二相电流，确定所述待采样电机的第三相电流。

优选地，

所述根据所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，包括：

所述采样时长，包括：采样延迟时长和采样保持时长；

在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述第一时刻满足下述第一公式：

m1＝y+k-f

其中，m1表征所述第一时刻，f表征所述关断延迟时长，y表征所述采样延迟时长，k表征所述采样保持时长。

优选地，

所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点，包括：

在所述pwm波向上计数阶段，

当所述电流稳定时长大于所述采样延迟时长时，根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第二时刻，并将所述第二时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点；

当所述电流稳定时长不大于所述采样延迟时长时，根据所述关断延迟时长、所述死区时长和所述开通延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第三时刻，并将所述第三时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点。

优选地，

所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第二时刻，包括：

根据下述第二公式，确定所述第二高电平关断后的第二时刻：

m2＝f+d+o+w-y

其中，m2表征所述第二时刻，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长，w表征电流稳定时长，y表征所述采样延迟时长。

优选地，

所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长和所述开通延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第三时刻，包括：

根据下述第三公式，确定所述第二高电平关断后的第三时刻：

m3＝f+d+o

其中，m3表征所述第三时刻，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长。

优选地，

在所述根据所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点之前，进一步包括：

确定所述第二高电平的持续时长与所述第三高电平的持续时长的差值，以及所述第一高电平的持续时长与所述第二高电平的持续时长的差值是否均不小于2倍的预设的执行时长，如果是，执行所述在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述执行时长满足下述第四公式：

z＝f+d+o+k+r

其中，z表征所述执行时长，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长，k表征所述采样保持时长，当所述采样延迟时长大于所述电流稳定时长时，r表征所述采样延迟时长，当所述采样延迟时长不大于所述电流稳定时长时，r表征所述电流稳定时长。

优选地，

所述根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整，并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点，将调整后的第二目标点作为第二采样点，包括：

根据下述第五公式，确定所述第一采样点；

第五公式为：

其中，s1表征所述第一采样点，n1表征所述第一目标点，n2表征所述第二目标点，z表征所述转换时长，a表征预设的分母值，b表征预设的分子值，其中，a为大于0的正整数，b小于a；

根据下述第六公式，确定所述第二采样点；

第六公式为：

其中，s2表征所述第二采样点。

优选地，

所述根据采集的第一相电流和第二相电流，确定所述待采样电机的第三相电流，包括：

对第一相电流值和所述第二相电流值求和，获得求和值；

将所述求和值的相反数作为所述待采样电机的第三相电流值。

第二方面，本发明实施例提供了一种电机单电阻采样控制装置，包括：

时长信息确定模块，用于预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长，以及控制芯片采集所述单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样时长；

pwm波管理模块，用于确定所述待采样电机的三个相电流在一个pwm波的三个高电平中的第二高电平的持续时长，其中，所述第二高电平的持续时长小于所述三个高电平中的第一高电平的持续时长，且大于所述三个高电平中的第三高电平的持续时长，其中，所述pwm波采用中央对称模式；

采样信息确定模块，用于根据所述时长信息确定模块确定的所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述pwm波管理模块确定的所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点；根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点；当所述第一目标点与所述第二目标点的时间间隔小于所述控制芯片的模数转换的转换时长时，根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整，并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点，将调整后的第二目标点作为第二采样点；

采样管理模块304，用于按照所述采样信息确定模块303确定的所述第一采样点和所述第二采样点，控制所述控制芯片采集对应的第一相电流和第二相电流；根据采集的第一相电流和第二相电流，确定所述待采样电机的第三相电流。

优选地，

所述采样时长，包括：采样延迟时长和采样保持时长；

所述采样信息确定模块，用于在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述第一时刻满足下述第一公式：

m1＝y+k-f

其中，m1表征所述第一时刻，f表征所述关断延迟时长，y表征所述采样延迟时长，k表征所述采样保持时长。

优选地，

所述采样信息确定模块，进一步用于确定所述第二高电平的持续时长与所述第三高电平的持续时长的差值，以及所述第一高电平的持续时长与所述第二高电平的持续时长的差值是否均不小于2倍的预设的执行时长，如果是，执行所述在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述执行时长满足下述第四公式：

z＝f+d+o+k+r

其中，z表征所述执行时长，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长，k表征所述采样保持时长，当所述采样延迟时长大于所述电流稳定时长时，r表征所述采样延迟时长，当所述采样延迟时长不大于所述电流稳定时长时，r表征所述电流稳定时长。

优选地，

所述采样信息确定模块，用于根据下述第五公式，确定所述第一采样点；

第五公式为：

其中，s1表征所述第一采样点，n1表征所述第一目标点，n2表征所述第二目标点，z表征所述转换时长，a表征预设的分母值，b表征预设的分子值，其中，a为大于0的正整数，b小于a；

根据下述第六公式，确定所述第二采样点；

第六公式为：

其中，s2表征所述第二采样点。

优选地，

所述采样管理模块，用于对第一相电流值和所述第二相电流值求和，获得求和值；将所述求和值的相反数作为所述待采样电机的第三相电流值。

本发明实施例提供了一种电机单电阻采样控制方法及装置，通过确定待采样电机相连的单电阻采样控制电路从低电平状态切换至高电平状态所需要的开通延迟时长、从高电平状态切换至低电平状态所需要的关断延迟时长和电流稳定时长、为了防止单电阻采样控制电路上下桥臂直通所插入死区的死区时长，以及控制芯片采集一个相电流所需要的采样时长，再根据待采样电机的三相在pwm波的作用时间的中间值，即三个高电平中的第二高电平，可以确定控制芯片采集第一相电流的第一目标点以及第二相电流的第二目标点，由于具有一路独立adc的控制芯片在采集完第一相电流后需要进行模数转换，因此，当第一目标点与第二目标点之间的时间间隔小于adc的转换时长时，需要根据转换时长对第一目标点和第二目标点进行调整，以形成对应的第一采样点和第二采样点，再按照第一采样点和第二采样点即可完成第一相电流和第二相电流的采集，进而确定待采样电机的第三相电流，从而实现能够通过具有一路独立adc的控制芯片完成单电阻采样控制电路相电流的采样样。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例提供的一种电机单电阻采样控制方法的流程图；

图2是本发明一实施例提供的另一种电机单电阻采样控制方法的流程图；

图3是本发明一实施例提供的一种电机单电阻采样控制装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，本发明实施例提供了一种电机单电阻采样控制方法，包括：

步骤101：预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长，以及控制芯片采集所述单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样时长；

步骤102：确定所述待采样电机的三个相电流在一个pwm波的三个高电平中的第二高电平的持续时长，其中，所述第二高电平的持续时长小于所述三个高电平中的第一高电平的持续时长，且大于所述三个高电平中的第三高电平的持续时长；

步骤103：根据所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点；

步骤104：根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点；

步骤105：当所述第一目标点与所述第二目标点的时间间隔小于所述控制芯片的模数转换的转换时长时，根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整，并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点，将调整后的第二目标点作为第二采样点；

步骤106：按照所述第一采样点和所述第二采样点，控制所述控制芯片采集对应的第一相电流和第二相电流；

步骤107：根据采集的第一相电流和第二相电流，确定所述待采样电机的第三相电流。

在本发明实施例中，通过确定待采样电机相连的单电阻采样控制电路从低电平状态切换至高电平状态所需要的开通延迟时长、从高电平状态切换至低电平状态所需要的关断延迟时长和电流稳定时长、为了防止单电阻采样控制电路上下桥臂直通所插入死区的死区时长，以及控制芯片采集一个相电流所需要的采样时长，再根据待采样电机的三相在pwm波的作用时间的中间值，即三个高电平中的第二高电平，可以确定控制芯片采集第一相电流的第一目标点以及第二相电流的第二目标点，由于具有一路独立adc的控制芯片在采集完第一相电流后需要进行模数转换，因此，当第一目标点与第二目标点之间的时间间隔小于adc的转换时长时，需要根据转换时长对第一目标点和第二目标点进行调整，以形成对应的第一采样点和第二采样点，再按照第一采样点和第二采样点即可完成第一相电流和第二相电流的采集，进而确定待采样电机的第三相电流，从而实现能够通过具有一路独立adc的控制芯片完成单电阻采样控制电路相电流的采样。

在本发明一实施例中，所述根据所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，包括：

所述采样时长，包括：采样延迟时长和采样保持时长；

在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述第一时刻满足下述第一公式：

m1＝y+k-f

其中，m1表征所述第一时刻，f表征所述关断延迟时长，y表征所述采样延迟时长，k表征所述采样保持时长。

在本发明实施例中，控制芯片的采样时长可以包括采样前的采样延迟时长和采样时的采样保持时长，由于第二高电平从高电平状态切换至低电平状态后的关断延迟时长内，仍可以进行相电流的采集，因此，在pwm波向上计数阶段，控制芯片采集第一相电流所需要的采样延迟时长和采样保持时长之和，与关断延迟时长的差值，即为控制芯片在待采样电机输出第二高电平关断前即第二高电平从高电平状态切换至低电平状态时刻前)的第一时刻，进而确定控制芯片采集第一相电流的第一目标点。

在本发明一实施例中，所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点，包括：

在所述pwm波向上计数阶段，

当所述电流稳定时长大于所述采样延迟时长时，根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第二时刻，并将所述第二时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点；

当所述电流稳定时长不大于所述采样延迟时长时，根据所述关断延迟时长、所述死区时长和所述开通延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第三时刻，并将所述第三时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点。

在本发明实施例中，在确定采集第二相电流的第二目标点时，可以先通过对比电流稳定时长与采样延迟时长，来确定是通过第二高电平的持续时长、关断延迟时长、死区时长、开通延迟时长、电流稳定时长和采样延迟时长来确定输出第二高电平后的第二时刻点作为第二目标点，还是通过第二高电平的持续时长、关断延迟时长、死区时长和开通延迟时长确定输出第二高电平后的第三时刻点作为第二目标点。

所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第二时刻，包括：

根据下述第二公式，确定所述第二高电平关断后的第二时刻：

m2＝f+d+o+w-y

其中，m2表征所述第二时刻，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长，w表征电流稳定时长，y表征所述采样延迟时长。

在本发明实施例中，由于pwm波是采用中央对称模式的波，所以在pwm波向上计数阶段，通过第二高电平对应的上桥臂从高电平状态切换至低电平状态存在的关断延迟时长、防止上下桥臂直通所插入的死区的死区时长、第二高电平对应的下桥臂从低电平状态切换至高电平状态的开通延迟时长和电流的电流稳定时长之和，与控制芯片的采样延迟时长的差值，确定在输出第二高电平关断后的第二时刻。

在本发明一实施例中，所述根据所述关断延迟时长、所述死区时长和所述开通延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第三时刻，包括：

根据下述第三公式，确定所述第二高电平关断后的第三时刻：

m3＝f+d+o

其中，m3表征所述第三时刻，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长。

在本发明实施例中，由于pwm波是采用中央对称模式的波，所以在pwm波向上计数阶段，所以在电流稳定时长不大于控制芯片的采样延迟时长时，通过第二高电平对应的上桥臂从高电平状态切换至低电平状态所需要的关断延迟时长、插入的死区的死区时长、第二高电平对应的下桥臂从低电平状态切换至高电平状态的开通延迟时长之和，确定在输出第二高电平后的第三时刻。

在本发明一实施例中，在所述根据所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点之前，进一步包括：

确定所述第二高电平的持续时长与所述第三高电平的持续时长的差值，以及所述第一高电平的持续时长与所述第二高电平的持续时长的差值是否均不小于2倍的预设的执行时长，如果是，执行所述在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述执行时长满足下述第四公式：

z＝f+d+o+k+r

其中，z表征所述执行时长，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长，k表征所述采样保持时长，当所述采样延迟时长大于所述电流稳定时长时，r表征所述采样延迟时长，当所述采样延迟时长不大于所述电流稳定时长时，r表征所述电流稳定时长。

在本发明实施例中，在确定采集待采样电机通过单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点之前，还需要确定第二高电平与第三高电平的持续时长的差值，以及第一高电平与第二高电平的持续时长的差值是否均不小于2倍的预设的执行时长，以确定在pwm波向上计数阶段，第三高电平从高电平状态切换至低电平状态后，在第二高电平从高电平状态切换至低电平状态前是否能完成一个相电流的采集，以及确定在pwm波向上计数阶段，第二高电平从高电平状态切换至低电平状态后，在第一高电平从高电平状态切换至低电平状态前是否能完成一个相电流的采集，当可以进行第一相电流和第二相电流的采集时，可以确定采集第一相电流时的第一目标点。

在本发明一实施例中，所述根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整，并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点，将调整后的第二目标点作为第二采样点，包括：

根据下述第五公式，确定所述第一采样点；

第五公式为：

其中，s1表征所述第一采样点，n1表征所述第一目标点，n2表征所述第二目标点，z表征所述转换时长，a表征预设的分母值，b表征预设的分子值，其中，a为大于0的正整数，b小于a；

根据下述第六公式，确定所述第二采样点；

第六公式为：

其中，s2表征所述第二采样点。

在本发明实施例中，在第一目标点与第二目标点之间的时长小于控制芯片的adc进行模数转换的转换时长时，需要对第一目标点和第二目标点进行调整，即通过z-(n2+n1)可以确定第一目标点与第二目标点之间需要增加多少时长控制芯片才能进行正常采样，再通过第五公式将第一目标点从第二高电平关断前向前调整，通过第六公式将第二目标点从第二高电平关断后向后调整，即可获得采集第一相电流对应的第一采样点和第二相电流对应的第二采样点。

在本发明一实施例中，所述根据采集的第一相电流和第二相电流，确定所述待采样电机的第三相电流，包括：

对第一相电流值和所述第二相电流值求和，获得求和值；

将所述求和值的相反数作为所述待采样电机的第三相电流值。

在本发明实施例中，电流大小相同的三相电流在任何时刻，总有一个相电流与另两个相电流的方向相反，所以在确定出第一相电流值和第二相电流值后，通过确定第一相电流值和第二相电流值之和的相反数，即可确定待采样电机的第三相电流值。

为了更加清楚的说明本发明的技术方案及优点，下面对本发明实施例提供的一种电机单电阻采样控制方法，进行详细说明，如图2所示，具体可以包括以下步骤：

步骤201：预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长，以及控制芯片采集单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样延迟时长和采样保持时长。

具体地，由于单电阻采样控制电路的开通、关断以及开后的电流稳定会存在相应的延迟，并且为了防止单电阻采样控制电路的上下桥臂直通会插入死区，而且控制芯片在采集相电流时也会存在延迟，采集过程中也需要一定的采样保持时长来采集相电流。

举例来说，与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长为0.1s，关断延迟时长为0.2s，电流的电流稳定时长为0.3s，插入死区的死区时长为0.4s，控制芯片采集相电流的采样延迟时长为0.05s，采样保持时长为2s。

步骤202：确定待采样电机的三个相电流在一个pwm波的三个高电平中的第二高电平的持续时长，其中，第二高电平的持续时长小于三个高电平中的第一高电平的持续时长，且大于三个高电平中的第三高电平的持续时长，其中，pwm波采用中央对称模式。

可以立即的是，由于pwm波采用中央对称模式，所以三个高电平的持续时长为pwm波在向上计数时的时长。

举例来说，采用中央对称模式的一个pwm波周期内，待采样电机的三个相电流的持续时长为22s，第二持续时长为15s，第三持续时长为6s。

步骤203：确定第二高电平的持续时长与第三高电平的持续时长的差值，以及第一高电平的持续时长与第二高电平的持续时长的差值是否均不小于2倍的预设的执行时长。

具体地，通过下述第四公式，可以确定采集一个相电流所需要执行时长，当第二高电平的持续时长与第三高电平的持续时长的差值，以及第二高电平的持续时长与第一高电平的持续时长的差值均不小于2倍的该执行时长时，可以确定在pwm波向上计数阶段，能够在第三高电平从高电平切换至低电平状态后，在第二高电平从高电平切换至低电平状态前的时间内完成第一相电流的采集；在pwm波向上计数阶段，在第二高电平从高电平切换至低电平状态后，在第一高电平从高电平切换至低电平状态前的时间内完成第二相电流的采集。

第四公式为：

z＝f+d+o+k+r

其中，z表征执行时长，f表征关断延迟时长，d表征死区时长，o表征开通延迟时长，k表征采样保持时长，当采样延迟时长大于电流稳定时长时，r表征采样延迟时长，当采样延迟时长不大于电流稳定时长时，r表征电流稳定时长。

举例来说，电流稳定时长0.3s大于采样延迟时长0.05s，因此，执行时长为关断延迟时长0.2s+死区时长0.4s+开通延迟时长0.1s+电流稳定时长为0.3s+采样保持时长2s＝3s；

由于第二高电平的持续时长15s与第三高电平的持续时长6s的差值为9s，大于2倍的执行时长6s，因此在第三高电平从高电平状态切换至低电平状态后，在第二高电平从高电平状态切换至低电平状态前的时间内能够完成第二相电流的采集。

由于第一高电平的持续时长22s与第二高电平的持续时长15s的差值为7s，大于2倍的执行时长3s，因此在第二高电平从高电平状态切换至低电平状态后，在第一高电平从高电平状态切换至低电平状态前的时间内能够完成第二相电流的采集。

步骤204：如果是，根据关断延迟时长、采样延迟时长、采样保持时长，确定在pwm波向上计数阶段第二高电平关断前的第一时刻，并将第一时刻作为采集待采样电机通过单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点。

具体地，由于pwm波是采用中央对称模式，所以根据下述第一公式，将pwm波向上计数阶段第二高电平关断前的第一时刻，作为采集待采样电机通过单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点。

第一公式：

m1＝y+k-f

其中，m1表征第一时刻，f表征关断延迟时长、y表征采样延迟时长，k表征采样保持时长。

举例来说，待采样电机输出第二高电平关断前的第一时刻为：采样延迟时长0.05s+采样保持时长2s-关断延迟时长0.2s＝1.85s，即采集第一相电流的第一目标点为输出第二高电平关断前的1.85s。

步骤205：确定电流稳定时长是否大于采样延迟时长，如果是，执行步骤206，否则，执行步骤207。

步骤206：根据关断延迟时长、死区时长、开通延迟时长、电流稳定时长和采样延迟时长，确定在pwm波向上计数阶段第二高电平关断后的第二时刻，并将第二时刻作为采集待采样电机通过单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点，执行步骤208。

具体地，当电流稳定时长大于采样延迟时长时，由于pwm波是采用中央对称模式，所以根据下述第二公式可以确定在pwm波向上计数阶段，将第二高电平关断后的第二时刻作为采集第二相电流的第二采样点。

第二公式为：

m2＝f+d+o+w-y

其中，m2表征第二时刻，f表征关断延迟时长，d表征死区时长，o表征开通延迟时长，w表征电流稳定时长，y表征采样延迟时长。

举例来说，待采样电机输出第二高电平后的第二时刻m2为：关断延迟时长0.2s+死区时长0.4s+开通延迟时长0.1s+电流稳定时长0.3s-采样延迟时长0.05s＝1.95s，即在第二高电平关断后的1.95s为第二目标点。

步骤207：根据关断延迟时长、死区时长和开通延迟时长，确定第二高电平关断后的第三时刻，并将第三时刻作为采集待采样电机通过单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点，执行步骤208。

具体地，当电流稳定时长不大于采样延迟时长时，根据下述第三公式，可以将第二高电平关断后的第二时刻作为采集第二相电流的第二采样点。

m3＝f+d+o

其中，m3表征待采样电机输出第二高电平后的第三时刻，f表征关断延迟时长，d表征死区时长，o表征开通延迟时长。

步骤208：当第一目标点与第二目标点的时间间隔小于控制芯片的模数转换的转换时长时，根据第一目标点、第二目标点、转换时长、预设的分母值、分子值，分别对第一目标点和第二目标点进行调整，并将调整后的第一目标点作为第一采样点，将调整后的第二目标点作为第二采样点。

具体地，控制芯片在采集完第一相电流的模拟信号后需要转换为对应的数字信号，由于模数转换需要一定的时间，所以控制芯片在采集完第一相电流后无法立即采集第二相电流，因此，需要将第一目标点和第二目标点之间的时间间隔，与控制芯片模数转换的转换时长进行比对，当第一目标点和第二目标点之间的时间间隔不小于转换时长时，则可以通过第一目标点和第二目标点进行相电流的采集，而当第一目标点和第二目标点之间的时间间隔小于转换时长时，需要根据z-(n2+n1)确定第一目标点与第二目标点之间需要增加的时长，并根据需要增加的时长将第一目标点向前移动，以确定第一采样点，再根据需要增加的时长将第二目标点向后移动，以确定第二采样点。其中，第一采样点满足下述第五公式，第二采样点满足下述第六公式。

第五公式为：

其中，s1表征第一采样点，n1表征第一目标点，n2表征第二目标点，z表征转换时长，a表征预设的分母值，b表征预设的分子值，其中，a为大于0的正整数，b小于a。

第六公式为：

其中，s2表征第二采样点，n1表征第一目标点，n2表征第二目标点，z表征转换时长，a表征预设的分母值，b表征预设的分子值，其中，a为大于0的正整数，b小于a。

举例来说，控制芯片模数转换的转换时长为4s，预设的分母值为2，预设的分子值为1。

由于第二高电平关断前的1.85s与第二高电平关断后的1.95s之和为3.8s，小于转换时长4s，因此需要将第一目标点向前移，以及将第二目标点向后移。

第一采样点为：第二高电平关断前的

第二采样点为：

待采样电机输出第二相电流后的

步骤209：控制控制芯片按照第一采样点采集第一相电流，并按照第二采样点控制控制芯片采集第二相电流。

具体地，控制控制芯片在第二高电平关断前的1.95s采集第一相电流，并在第二高电平关断后的2.05s采集第二相电流。

步骤210：对第一相电流值和第二相电流值求和，获得求和值，将求和值的相反数作为待采样电机的第三相电流值。

具体地，通过三相电流之和等于零，可以确定待采样电机的第三相电流值。

如图3所示，本发明实施例提供了一种电机单电阻采样控制装置，包括：

时长信息确定模块301，用于预先确定与待采样电机相连的单电阻采样控制电路的开通延迟时长、关断延迟时长、电流稳定时长和插入死区的死区时长，以及控制芯片采集所述单电阻采样控制电路输出的一个相电流的采样时长；

pwm波管理模块302，用于确定所述待采样电机的三个相电流在一个pwm波的三个高电平中的第二高电平的持续时长，其中，所述第二高电平的持续时长小于所述三个高电平中的第一高电平的持续时长，且大于所述三个高电平中的第三高电平的持续时长，其中，所述pwm波采用中央对称模式；

采样信息确定模块303，用于根据所述时长信息确定模块301确定的所述关断延迟时长和所述采样时长，确定在所述pwm波管理模块302确定的所述第二高电平关断前采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点；根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样时长，确定在所述第二高电平关断后采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点；当所述第一目标点与所述第二目标点的时间间隔小于所述控制芯片的模数转换的转换时长时，根据所述转换时长对所述第一目标点和第二目标点进行调整，并将调整后的所述第一目标点作为第一采样点，将调整后的第二目标点作为第二采样点；

采样管理模块304，用于按照所述采样信息确定模块303确定的所述第一采样点和所述第二采样点，控制所述控制芯片采集对应的第一相电流和第二相电流；根据采集的第一相电流和第二相电流，确定所述待采样电机的第三相电流。

在本发明实施例中，通过时长信息确定模块确定待采样电机相连的单电阻采样控制电路从低电平状态切换至高电平状态所需要的开通延迟时长、从高电平状态切换至低电平状态所需要的关断延迟时长和电流稳定时长、为了防止单电阻采样控制电路上下桥臂直通所插入死区的死区时长，以及控制芯片采集一个相电流所需要的采样时长，通过采样信息确定模块根据pwm波管理模块确定的待采样电机的三相在pwm波的作用时间的中间值，即三个高电平中的第二高电平，可以确定控制芯片采集第一相电流的第一目标点以及第二相电流的第二目标点，由于具有一路独立adc的控制芯片在采集完第一相电流后需要进行模数转换，因此，当第一目标点与第二目标点之间的时间间隔小于adc的转换时长时，需要根据转换时长对第一目标点和第二目标点进行调整，以形成对应的第一采样点和第二采样点，采样管理模块再按照第一采样点和第二采样点即可完成第一相电流和第二相电流的采集，进而确定待采样电机的第三相电流，从而实现能够通过具有一路独立adc的控制芯片完成单电阻采样控制电路相电流的采样样。

在本发明一实施例中，所述采样时长，包括：采样延迟时长和采样保持时长；

所述采样信息确定模块，用于在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述第一时刻满足下述第一公式：

m1＝y+k-f

其中，m1表征所述第一时刻，f表征所述关断延迟时长，y表征所述采样延迟时长，k表征所述采样保持时长。

在本发明一实施例中，所述采样信息确定模块，进一步用于确定所述第二高电平的持续时长与所述第三高电平的持续时长的差值，以及所述第一高电平的持续时长与所述第二高电平的持续时长的差值是否均不小于2倍的预设的执行时长，如果是，执行所述在所述pwm波向上计数阶段，将所述第二高电平关断前的第一时刻，作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第一相电流的第一目标点，其中，所述执行时长满足下述第四公式：

z＝f+d+o+k+r

其中，z表征所述执行时长，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长，k表征所述采样保持时长，当所述采样延迟时长大于所述电流稳定时长时，r表征所述采样延迟时长，当所述采样延迟时长不大于所述电流稳定时长时，r表征所述电流稳定时长。

在本发明一实施例中，所述采样信息确定模块，用于根据下述第五公式，确定所述第一采样点；

第五公式为：

其中，s1表征所述第一采样点，n1表征所述第一目标点，n2表征所述第二目标点，z表征所述转换时长，a表征预设的分母值，b表征预设的分子值，其中，a为大于0的正整数，b小于a；

根据下述第六公式，确定所述第二采样点；

第六公式为：

其中，s2表征所述第二采样点。

在本发明一实施例中，所述采样管理模块，用于对第一相电流值和所述第二相电流值求和，获得求和值；将所述求和值的相反数作为所述待采样电机的第三相电流值。

在本发明一实施例中，所述采样信息确定模块，用于在所述pwm波向上计数阶段，当所述电流稳定时长大于所述采样延迟时长时，根据所述关断延迟时长、所述死区时长、所述开通延迟时长、所述电流稳定时长和所述采样延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第二时刻，并将所述第二时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点；当所述电流稳定时长不大于所述采样延迟时长时，根据所述关断延迟时长、所述死区时长和所述开通延迟时长，确定在所述第二高电平关断后的第三时刻，并将所述第三时刻作为采集所述待采样电机通过所述单电阻采样控制电路输出的第二相电流的第二目标点。

在本发明一实施例中，所述采样信息确定模块，用于根据下述第二公式，确定所述第二高电平关断后的第二时刻：

m2＝f+d+o+w-y

其中，m2表征所述第二时刻，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长，w表征电流稳定时长，y表征所述采样延迟时长。

在本发明一实施例中，所述采样信息确定模块，用于根据下述第三公式，确定所述第二高电平关断后的第三时刻：

m3＝f+d+o

其中，m3表征所述第三时刻，f表征所述关断延迟时长，d表征所述死区时长，o表征所述开通延迟时长。

本发明各个实施例至少具有如下有益效果：

1、在本发明一实施例中，通过确定待采样电机相连的单电阻采样控制电路从低电平状态切换至高电平状态所需要的开通延迟时长、从高电平状态切换至低电平状态所需要的关断延迟时长和电流稳定时长、为了防止单电阻采样控制电路上下桥臂直通所插入死区的死区时长，以及控制芯片采集一个相电流所需要的采样时长，再根据待采样电机的三相在pwm波的作用时间的中间值，即三个高电平中的第二高电平，可以确定控制芯片采集第一相电流的第一目标点以及第二相电流的第二目标点，由于具有一路独立adc的控制芯片在采集完第一相电流后需要进行模数转换，因此，当第一目标点与第二目标点之间的时间间隔小于adc的转换时长时，需要根据转换时长对第一目标点和第二目标点进行调整，以形成对应的第一采样点和第二采样点，再按照第一采样点和第二采样点即可完成第一相电流和第二相电流的采集，进而确定待采样电机的第三相电流，从而实现能够通过具有一路独立adc的控制芯片完成单电阻采样控制电路相电流的采样。

2、在本发明一实施例中，控制芯片的采样时长可以包括采样前的采样延迟时长和采样时的采样保持时长，由于第二高电平从高电平状态切换至低电平状态后的关断延迟时长内，仍可以进行相电流的采集，因此，在pwm波向上计数阶段，控制芯片采集第一相电流所需要的采样延迟时长和采样保持时长之和，与关断延迟时长的差值，即为控制芯片在待采样电机输出第二高电平关断前即第二高电平从高电平状态切换至低电平状态时刻前)的第一时刻，进而确定控制芯片采集第一相电流的第一目标点。

3、在本发明一实施例中，在确定采集第二相电流的第二目标点时，可以先通过对比电流稳定时长与采样延迟时长，来确定是通过第二高电平的持续时长、关断延迟时长、死区时长、开通延迟时长、电流稳定时长和采样延迟时长来确定输出第二高电平后的第二时刻点作为第二目标点，还是通过第二高电平的持续时长、关断延迟时长、死区时长和开通延迟时长确定输出第二高电平后的第三时刻点作为第二目标点。

4、在本发明一实施例中，通过第二高电平对应的上桥臂从高电平状态切换至低电平状态存在关断延迟时长、防止上下桥臂直通所插入的死区的死区时长、第二高电平对应的下桥臂从低电平状态切换至高电平状态的开通延迟时长和电流的电流稳定时长和第二高电平的持续时长之和，与控制芯片的采样延迟时长之差，确定在输出第二高电平后的第二时刻，以便进行第二相电流的采集。

5、在本发明一实施例中，在电流稳定时长不大于控制芯片的采样延迟时长时，通过第二高电平的持续时长、第二高电平对应的上桥臂从高电平状态切换至低电平状态所需要的关断延迟时长、插入的死区的死区时长、第二高电平对应的下桥臂从低电平状态切换至高电平状态的开通延迟时长之和，确定在输出第二高电平后的第三时刻，以便进行第二相电流的采集。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个······”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。

最后需要说明的是：以上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本发明的技术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。