电磁谐振电路和电磁加热装置的制作方法

本发明涉及电磁谐振技术领域，具体而言，涉及一种电磁谐振电路和一种电磁加热装置。

背景技术：

目前，采用两个独立工作的线圈盘实现对锅具不同部位进行加热的电磁加热产品，如电饭煲、电磁炉等，由于烹饪效果较好，得到了广泛普及。

但是，在实际应用中，由于两个线圈盘的安装距离有限，其中一个线圈盘工作时会在另一个线圈盘上产生感应电压，在同步电压信号采样时，感应电压作为一个干扰源存在，使芯片对同步信号的判定出现错误，导致IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor，绝缘栅双极型晶体管)开通出现异常，而且会出现IGBT击穿的问题。

因此，如何能够避免多个线圈盘之间产生干扰，进而导致同步信号的判断错误造成对IGBT的控制出现异常成为亟待解决的技术问题。

技术实现要素：

本发明旨在至少解决上述现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出了一种新的电磁谐振电路，能够避免多个线圈盘之间产生干扰，进而导致同步信号的判断错误造成对IGBT的控制出现异常的问题，实现了对IGBT的精确控制。

本发明的另一个目的在于提出了一种电磁加热装置。

为实现上述目的，根据本发明的第一方面的实施例，提出了一种电磁谐振电路，包括：电源模块；谐振电路单元，包括第一谐振电路和第二谐振电路，所述第一谐振电路的第一端和所述第二谐振电路的第一端均连接至所述电源模块；晶体管组件单元，用于控制所述谐振电路单元的工作状态，所述晶体管组件单元包括第一晶体管组件和第二晶体管组件，所述第一晶体管组件的输出端连接至所述第一谐振电路的第二端，所述第二晶体管组件的输出端连接至所述第二谐振电路的第二端；基准信号检测电路，所述基准信号检测电路的第一端连接至所述电源模块的输出端；谐振同步检测电路，包括第一同步检测电路和第二同步检测电路，所述第一同步检测电路的第一端连接至所述第一谐振电路的第二端，所述第二同步检测电路的第一端连接至所述第二谐振电路的第二端，所述第一同步检测电路的第二端通过第一晶体管开关接地，所述第二同步检测电路的第二端通过第二晶体管开关接地；比较器，所述基准信号检测电路的第二端连接至所述比较器的第一输入端，所述第一同步检测电路的第二端和所述第二同步检测电路的第二端均连接至所述比较器的第二输入端，所述比较器的第二输入端通过分压元件接地；控制芯片，连接至所述第一晶体管开关的控制端和所述第二晶体管开关的控制端，用于控制所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关的开关状态。

根据本发明的实施例的电磁谐振电路，第一同步检测电路的第二端通过第一晶体管开关接地，第二同步检测电路的第二端通过第二晶体管开关接地，且比较器的第二输入端通过分压元件接地，使得在其中一个晶体管组件工作时(以下以控制第一晶体管组件为例进行说明)，能够通过控制芯片控制第二晶体管开关导通，进而将第二同步检测电路输出至比较器的电压降为0，实现对第一晶体管组件的精确控制，避免由于第二谐振电路感应第一谐振电路的谐振产生感应电压，导致第二同步检测电路检测到信号并输出至比较器而影响比较器的比较结果，进而造成对第一晶体管组件的控制出现异常。类似地，在第二晶体管组件工作时，需要控制第一晶体管开关导通。

另外，根据本发明上述实施例的电磁谐振电路，还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述控制芯片具体用于：在所述第一晶体管组件工作时，控制所述第一晶体管开关截止，并控制所述第二晶体管开关导通；在所述第二晶体管组件工作时，控制所述第二晶体管开关截止，并控制所述第一晶体管开关导通。

根据本发明的实施例的电磁谐振电路，在第一晶体管组件工作时，控制第一晶体管开关截止，并控制第二晶体管开关导通，能够避免第二同步检测电路检测到的信号对比较器的比较结果产生影响；而在第二晶体管组件工作时，控制第二晶体管开关截止，并控制第一晶体管开关导通，能够避免第一同步检测电路检测到的信号对比较器的比较结果产生影响。

根据本发明的一个实施例，所述控制芯片还连接至所述比较器的输出端、所述第一晶体管组件的输入端和所述第二晶体管组件的输入端，所述控制芯片根据所述比较器的比较结果控制所述第一晶体管组件和所述第二晶体管组件的工作状态。具体地，在第一晶体管组件工作时，根据比较器的比较结果控制第一晶体管组件的工作状态；在第二晶体管组件工作时，根据比较器的比较结果控制第二晶体管组件的工作状态。

根据本发明的一个实施例，所述第一晶体管组件和所述第二晶体管组件中每个晶体管组件均包括：晶体管，所述晶体管的第一端作为所述每个晶体管组件的输出端，所述晶体管的第二端接地；以及驱动电路，所述驱动电路的输出端连接至所述晶体管的控制端，所述驱动电路的输入端作为所述每个晶体管组件的输入端。

根据本发明的一个实施例，所述晶体管包括绝缘栅双极型晶体管，即IGBT。

根据本发明的一个实施例，所述第一晶体管开关和所述第二晶体管开关均为三极管；所述第一晶体管开关的集电极连接至所述第一同步检测电路的第二端，所述第一晶体管开关的发射极接地，所述第一晶体管开关的基极作为所述第一晶体管开关的控制端；所述第二晶体管开关的集电极连接至所述第二同步检测电路的第二端，所述第二晶体管开关的发射极接地，所述第二晶体管开关的基极作为所述第二晶体管开关的控制端。

根据本发明的一个实施例，所述基准信号检测电路、所述第一同步检测电路和所述第二同步检测电路中每个电路均包括：串联连接的多个分压元件，所述多个分压元件串联连接后的一端作为所述每个电路的第一端，所述多个分压元件串联连接后的另一端接地，所述多个分压元件中任两个分压元件之间作为所述每个电路的第二端。优选地，所述分压元件包括电阻元件。

根据本发明的一个实施例，所述电源模块包括：整流电路，连接至交流电源，用于对所述交流电源输出的电压进行整流处理，以得到直流电压；滤波电路，连接至所述整流电路，用于对经过所述整流电路处理之后的所述直流电压进行滤波处理，并提供给所述第一谐振电路和所述第二谐振电路。

根据本发明第二方面的实施例，还提出了一种电磁加热装置，包括：上述任一项实施例中所述的电磁谐振电路。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1示出了根据本发明的实施例的电磁谐振电路的结构示意图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

图1示出了根据本发明的实施例的电磁谐振电路的结构示意图。

如图1所示，根据本发明的实施例的电磁谐振电路，包括：电源模块1；谐振电路单元，包括第一谐振电路21和第二谐振电路22，所述第一谐振电路21的第一端和所述第二谐振电路22的第一端均连接至所述电源模块1；晶体管组件单元，用于控制所述谐振电路单元的工作状态，所述晶体管组件单元包括第一晶体管组件31和第二晶体管组件32，所述第一晶体管组件31的输出端连接至所述第一谐振电路21的第二端，所述第二晶体管组件32的输出端连接至所述第二谐振电路22的第二端；基准信号检测电路4，所述基准信号检测电路4的第一端连接至所述电源模块1的输出端；谐振同步检测电路，包括第一同步检测电路51和第二同步检测电路52，所述第一同步检测电路51的第一端连接至所述第一谐振电路21的第二端，所述第二同步检测电路52的第一端连接至所述第二谐振电路22的第二端，所述第一同步检测电路51的第二端通过第一晶体管开关61接地，所述第二同步检测电路52的第二端通过第二晶体管开关62接地；比较器7，所述基准信号检测电路4的第二端连接至所述比较器7的第一输入端，所述第一同步检测电路51的第二端和所述第二同步检测电路52的第二端均连接至所述比较器7的第二输入端，所述比较器7的第二输入端通过分压元件接地；控制芯片8，连接至所述第一晶体管开关61的控制端和所述第二晶体管开关62的控制端，用于控制所述第一晶体管开关61和所述第二晶体管开关62的开关状态。

第一同步检测电路51的第二端通过第一晶体管开关61接地，第二同步检测电路52的第二端通过第二晶体管开关62接地，且比较器7的第二输入端通过分压元件接地，使得在其中一个晶体管组件工作时(以下以控制第一晶体管组件31为例进行说明)，能够通过控制芯片8控制第二晶体管开关62导通，进而将第二同步检测电路52输出至比较器7的电压降为0，实现对第一晶体管组件31的精确控制，避免由于第二谐振电路22感应第一谐振电路21的谐振产生感应电压，导致第二同步检测电路52检测到信号并输出至比较器7而影响比较器7的比较结果，进而造成对第一晶体管组件31的控制出现异常。类似地，在第二晶体管组件32工作时，需要控制第一晶体管开关61导通。

另外，根据本发明上述实施例的电磁谐振电路，还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述控制芯片8具体用于：在所述第一晶体管组件31工作时，控制所述第一晶体管开关61截止，并控制所述第二晶体管开关62导通；在所述第二晶体管组件32工作时，控制所述第二晶体管开关62截止，并控制所述第一晶体管开关61导通。

在第一晶体管组件31工作时，控制第一晶体管开关61截止，并控制第二晶体管开关62导通，能够避免第二同步检测电路52检测到的信号对比较器7的比较结果产生影响；而在第二晶体管组件32工作时，控制第二晶体管开关62截止，并控制第一晶体管开关61导通，能够避免第一同步检测电路51检测到的信号对比较器7的比较结果产生影响。

根据本发明的一个实施例，所述控制芯片8还连接至所述比较器7的输出端、所述第一晶体管组件31的输入端(图中未示出连接关系)和所述第二晶体管组件32的输入端(图中未示出连接关系)，所述控制芯片8根据所述比较器7的比较结果控制所述第一晶体管组件31和所述第二晶体管组件32的工作状态。具体地，在第一晶体管组件31工作时，根据比较器7的比较结果控制第一晶体管组件31的工作状态；在第二晶体管组件32工作时，根据比较器7的比较结果控制第二晶体管组件32的工作状态。

根据本发明的一个实施例，所述第一晶体管组件31和所述第二晶体管组件32中每个晶体管组件均包括：晶体管，所述晶体管的第一端作为所述每个晶体管组件的输出端，所述晶体管的第二端接地；以及驱动电路，所述驱动电路的输出端连接至所述晶体管的控制端，所述驱动电路的输入端作为所述每个晶体管组件的输入端。如图1所示，第一晶体管组件31包括晶体管311和驱动电路312；第二晶体管组件32包括晶体管321和驱动电路322。

根据本发明的一个实施例，所述晶体管包括绝缘栅双极型晶体管，即IGBT。

根据本发明的一个实施例，所述第一晶体管开关61和所述第二晶体管开关62均为三极管；所述第一晶体管开关61的集电极连接至所述第一同步检测电路51的第二端，所述第一晶体管开关61的发射极接地，所述第一晶体管开关61的基极作为所述第一晶体管开关61的控制端；所述第二晶体管开关62的集电极连接至所述第二同步检测电路52的第二端，所述第二晶体管开关62的发射极接地，所述第二晶体管开关62的基极作为所述第二晶体管开关62的控制端。

根据本发明的一个实施例，所述基准信号检测电路4、所述第一同步检测电路51和所述第二同步检测电路52中每个电路均包括：串联连接的多个分压元件，所述多个分压元件串联连接后的一端作为所述每个电路的第一端，所述多个分压元件串联连接后的另一端接地，所述多个分压元件中任两个分压元件之间作为所述每个电路的第二端。优选地，所述分压元件包括电阻元件。

根据本发明的一个实施例，所述电源模块1包括：整流电路12，连接至交流电源11，用于对所述交流电源11输出的电压进行整流处理，以得到直流电压；滤波电路13，连接至所述整流电路12，用于对经过所述整流电路12处理之后的所述直流电压进行滤波处理，并提供给所述第一谐振电路21和所述第二谐振电路22。

本发明还提出了一种电磁加热装置(图中未示出)，包括：图1中所示的电磁谐振电路。

以上结合附图详细说明了本发明的技术方案，本发明提出了一种新的电磁谐振电路，能够避免多个线圈盘之间产生干扰，进而导致同步信号的判断错误造成对IGBT的控制出现异常的问题，实现了对IGBT的精确控制。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。