技术总结
本申请公开了一种利用内部二极管测试IC虚焊的方法,包括：找出IC的GND引脚焊点的网络和IC的待测引脚焊点的网络；在上述两个网络的任意地点分别扎针，用电测的方法判断两扎针点之间二极管的存在性，如果检测到二极管存在则说明产品该两个引脚无虚焊。提供一种利用内部二极管测试IC虚焊的方法，该方法简单便捷，适应性广，可靠性高，可适用于批量重复性检测。
技术研发人员：周超
受保护的技术使用者：深圳市燕麦科技股份有限公司
文档号码：201610812629
技术研发日：2016.09.08
技术公布日：2017.01.11