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填充通孔以减少空隙和其它缺陷的方法与流程
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来源:国知局
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填充通孔以减少空隙和其它缺陷的方法与流程
技术特征:
技术总结
直流电镀覆方法抑制空隙形成,减少凹陷并且消除节结。所述方法涉及在高电流密度下电镀铜,接着暂停电镀,并且随后打开电流以在较低电流密度下电镀以填充通孔。
技术研发人员:
N·嘉雅拉朱;L·巴斯塔德;Z·尼亚兹伊别特娃;J·狄茨维斯泽柯
受保护的技术使用者:
罗门哈斯电子材料有限责任公司
技术研发日:
2017.02.06
技术公布日:
2017.08.22
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