一种兼容可控硅的LED灯串驱动电路以及方法与流程

一种兼容可控硅的led灯串驱动电路以及方法
技术领域
1.本发明涉及led照明技术领域，尤其涉及的是一种兼容可控硅的led灯串驱动电路以及方法。


背景技术：

2.在led灯串驱动中，可通过可控硅切割交流电相位来改变交流电压的有效值，从而到达到调光的效果。然而，对于一般的可控硅,即使调节得到最大输出功率,有效电压也比无可控硅情况下要小10％左右。因此，如果led灯串电流保持不变,则有可控硅时的功率要比无可控硅时小10％。
3.而更多情况下,为了满足调光效果和兼容性,led灯串电流会随可控的相位变化而变化,即电压有效值为90％，则电流有效值也调节为90％,那么最终的输出功率就只有81％。也就是说，在有可控硅的使用环境下的led灯串的最大功率比无可控硅的使用环境下要小20％左右,从而导致了性能的损失。
4.因此，现有技术还有待于改进和发展。


技术实现要素：

5.鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种兼容可控硅的led灯串驱动电路以及方法，以解决现有led灯串驱动电路在有可控硅的使用环境下led灯串的最大功率比无可控硅的使用环境下要小20％左右，导致存在性能损失的问题。
6.本发明的技术方案如下：
7.一种兼容可控硅的led灯串驱动电路，其包括：
8.整流模块，与led灯串连接，用于将输入的交流电转换为供电电压并输出至所述led灯串；
9.电压采样模块，与所述整流模块连接，用于采集所述整流模块输出的供电电压并得到检测电压；
10.检测模块，与所述电压采样模块连接，用于将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并输出判断结果；若所述检测电压小于预设电压，则判断有可控硅接入，否则判断无可控硅接入；
11.参考电压选择模块，与所述检测模块连接，用于根据所述判断结果输出参考电压或参考电流；若检测到有可控硅接入，则输出第一参考电压或第一参考电流，若检测到无可控硅输入，则输出第二参考电压或第二参考电流；其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压，所述第一参考电流大于所述第二参考电流；
12.控制电流源模块，分别与所述led灯串以及所述参考电压选择模块连接，用于根据所述参考电压或参考电流控制所述led灯串的电流。
13.本发明的进一步设置，所述电压采样模块包括：
14.采样单元，与所述整流模块连接，用于采集所述检测电压；
15.滤波单元，与所述采样单元连接，用于对所述检测电压进行滤波。
16.本发明的进一步设置，所述采样单元包括:第一电阻与第二电阻；所述第一电阻的一端与所述整流模块连接，所述第一电阻的另一端与所述第二电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端接地；
17.所述滤波单元包括：第一电容，所述第一电容的一端连接所述第一电阻与所述第二电阻的共接端，所述第一电容的另一端接地。
18.本发明的进一步设置，所述检测模块包括：第一模拟比较器，所述第一模拟比较器的同相输入端与所述电压采样模块连接，所述第一模拟比较器的反相输入端与用于提供第一预设电压的第一预设电压源连接，所述第一模拟比较器的输出端与所述参考电压选择模块连接；若所述检测电压大于所述第一预设电压，则所述第一模拟比较器输出高电平，否则，所述第一模拟比较器输出低电平。
19.本发明的进一步设置，所述检测模块包括：第二模拟比较器、第三模拟比较器、计时器以及比较器；其中，所述第二模拟比较器与所述第三模拟比较器的同相输入端均与所述电压采样模块连接，所述第二模拟比较器与用于提供第二预设电压的第二预设电压源连接，所述第三模拟比较器的反相输入端与用于提供第三预设电压的第三预设电压源连接；所述第二模拟比较器的输出端与所述计时器的第一输入端连接，所述第三模比较拟器的输出端与所述计时器的第二输入端连接，所述计时器的第一输出端与所述比较器的第一输入端连接，所述计时器的第二输入端与所述比较器的第二输入端连接，所述比较器的输出端与所述参考电压选择模块连接。
20.本发明的进一步设置，所述参考电压选择模块包括：第一mos管、第二mos管以及反向器；其中，所述第一mos管的栅极与所述检测模块300连接，所述第一mos管的漏极与所述控制电流源模块连接，所述第一mos管的源极与用于提供第一参考电压的第一参考电压源或用于提供第一参考电流的第一参考电流源连接；所述第二mos管的栅极与所述反向器的输出端连接，所述第二mos管的源极与所述控制电流源模块连接，所述第二mos管的漏极与用于提供第二参考电压的第二参考电压源或用于提供第二参考电流的第二参考电流源连接；所述反向器的输入端与所述检测模块连接；。
21.本发明的进一步设置，所述参考电压选择模块包括：第一mos管、第二mos管以及反向器；其中，所述第一mos管的栅极与所述检测模块300连接，所述第一mos管的漏极与所述控制电流源模块连接，所述第一mos管的源极与所述电压采样模块连接；所述第二mos管的栅极与所述反向器的输出端连接，所述第二mos管的源极与所述控制电流源模块连接，所述第二mos管的漏极与用于提供第二参考电压的所述第二参考电压源连接；所述反向器的输入端与所述检测模块连接。
22.本发明的进一步设置，所述控制电流源模块包括：第一运算放大器、第三mos管以及第三电阻；
23.其中，所述第一运算放大器的同相输入端与所述参考电压选择模块连接，所述第一运算放大器的反向输出端与所述第三电阻的一端连接，所述第一运算放大器的输出端与所述第三mos管的栅极连接，所述第三mos管的漏极与所述led灯串连接，所述第三mos管的源极与所述第三电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端接地。
24.本发明的进一步设置，所述控制电流源模块包括：第四mos管与第五mos管；其中，
所述第四mos管的栅极与所述第五mos管的栅极连接，所述第四mos管的漏极与所述参考电压选择模块连接，所述第五mos管的漏极与所述led灯串连接，所述第五mos管的源极接地。
25.基于同样的发明构思，本发明还提供了一种兼容可控硅的led灯串驱动方法，其包括：
26.采集led灯串的供电电压并得到检测电压；
27.将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并输出判断结果；
28.根据所述判断结果输出参考电压或参考电流；
29.根据所述参考电压或参考电流控制所述led灯串的电流。
30.本发明所提供的一种兼容可控硅的led灯串驱动电路以及方法，其中，所述兼容可控硅的led灯串驱动电路包括：整流模块，与led灯串连接，用于将输入的交流电转换为供电电压并输出至所述led灯串；电压采样模块，与所述整流模块连接，用于采集所述整流模块输出的供电电压并得到检测电压；检测模块，与所述电压采样模块连接，用于将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并输出判断结果；若所述检测电压小于预设电压，则判断有可控硅接入，否则判断无可控硅接入；参考电压选择模块，与所述检测模块连接，用于根据所述判断结果输出参考电压或参考电流；若检测到有可控硅接入，则输出第一参考电压或第一参考电流，否则输出第二参考电压或第二参考电流；其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压，所述第一参考电流大于所述第二参考电流；控制电流源模块，分别与所述led灯串以及所述参考电压选择模块连接，用于根据所述参考电压或参考电流控制所述led灯串的电流。本发明通过对led灯串的供电电压进行采集以得到检测电压，其后将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并根据判断结果输出相应的参考电压或参考电流给到控制电流源模块，电流源模块能够根据输出的参考电压或参考电流控制led灯串在有无可控硅的环境下功率一致，减小了led灯串性能的损失，使得led灯串在有无可控硅的情况下都可以发挥最佳性能。
附图说明
31.为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
32.图1是本发明中兼容可控硅的led灯串驱动电路功能模块架构图。
33.图2是本发明中兼容可控硅的led灯串驱动电路的原理图。
34.图3是本发明中一个实施例中兼容可控硅的led灯串驱动电路的电路原理图。
35.图4是本发明中另一实施例中兼容可控硅的led灯串驱动电路的电路原理图。
36.图5是本发明中再一实施例中兼容可控硅的led灯串驱动电路的电路原理图。
37.图6是本发明中兼容可控硅的led灯串驱动方法的流程示意图。
38.附图中各标记：100、整流模块；200、电压采样模块；300、检测模块；400、参考电压选择模块；500、控制电流源模块；600、led灯串。
具体实施方式
39.本发明提供一种兼容可控硅的led灯串驱动电路以及方法，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
40.在实施方式和申请专利范围中，除非文中对于冠词有特别限定，否则“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
41.应该进一步理解的是，本发明的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
42.本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
43.另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
44.请同时参阅图1至图5，本发明提供了一种兼容可控硅的led灯串驱动电路的较佳实施例。
45.如图1与图2所示，本发明提供的一种兼容可控硅的led灯串600驱动电路，其包括：整流模块100、电压采样模块200、检测模块300、参考电压选择模块400以及控制电流源模块500。其中，所述整流模块100与led灯串600连接，用于将输入的交流电转换为供电电压并输出至所述led灯串600；所述电压采样模块200与所述整流模块100连接，用于采集所述整流模块100输出的供电电压并得到检测电压；所述检测模块300与所述电压采样模块200连接，用于将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并输出判断结果；所述参考电压选择模块400与所述检测模块300连接，用于根据所述判断结果输出参考电压或参考电流；所述控制电流源模块500分别与所述led灯串600以及所述参考电压选择模块400连接，用于根据所述参考电压或参考电流控制所述led灯串600的电流。
46.具体地，请结合图2，所述整流模块100为整流桥，电网输入的交流电经所述整流桥整流后输出直流电的线网电压vbus作为led灯串600的供电电压，所述电压采样模块200对所述整流桥输出的供电电压进行采样，以得到检测电压vsen1，其后通过所述检测模块300将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并输出判断结果至所述参考电压选择模块400，所述参考电压选择模块400根据判断结果输出输出参考电压
或参考电流至所述电源控制模块，其后所述电源控制模块根据所述参考电压或参考电流控制所述led灯串600的电流。其中，若所述检测模块300检测到有可控硅接入，即所述检测电压小于所述预设电压，则输出第一参考电压vref1或第一参考电流至所述电流源控制模块，若所述检测模块300没有检测到有可控硅接入，即所述检测电压大于所述预设电压，则输出第二参考电压vref2或第二参考电流至所述电流源控制模块，其中所述第一参考电压vref1大于所述第二参考电压vref2，所述第一参考电流大于所述第二参考电流。
47.通过上述技术方案，当检测到没有可控硅接入时，输出第二参考电压vref2(或第二参考电流)至所述电流源模块，当检测到有可控硅接入时，则输出比第二参考电压vref2(或第二参考电流)大的第一参考电压vref1(或第一参考电流)至所述控制电流源模块500，即增加led灯串600的输出电流，使在可控硅输出最大的状态下输出电压与led灯串600电流的乘积与无可控硅状态下的输出电压与led灯串600电流的乘积相等，即有无可控硅接入的状态下led灯串600的输出功率均一致，减小了led灯串600的损失，使得led灯串600在有无可控硅的情况下都能发挥最佳性能。
48.请参阅图3，在一个实施例的进一步地实施方式中，所述电压采样模块200包括：采样单元与滤波单元，所述采样单元与所述整流模块100连接，用于采集所述检测电压，所述滤波单元与所述采样单元连接，用于对所述检测电压进行滤波。
49.具体地，所述采样单元包括:第一电阻r1与第二电阻r2；所述第一电阻r1的一端与所述整流模块100连接，所述第一电阻r1的另一端与所述第二电阻r2的一端连接，所述第二电阻r2的另一端接地。所述滤波单元包括：第一电容c1，所述第一电容c1的一端连接所述第一电阻r1与所述第二电阻r2的共接端，所述第一电容c1的另一端接地。经所述第一电阻r1与所述第二电阻r2对所述整流模块100输出的线网电压vbus进行分压采样，并经所述第一电容c1进行滤波后输出检测电压vsen1至所述检测模块300。
50.请参阅图3，在一些实施例中，所述检测模块300包括：第一模拟比较器cmp1，所述第一模拟比较器cmp1的同相输入端与所述电压采样模块200连接，所述第一模拟比较器cmp1的反相输入端与用于提供第一预设电压的第一预设电压源连接，所述第一模拟比较器cmp1的输出端与所述参考电压选择模块400连接；其中，若所述检测电压vsen1大于所述第一预设电压vcmp1，则所述第一模拟比较器cmp1输出高电平，否则，所述第一模拟比较器cmp1输出低电平。
51.具体地，通过在所述电压采样模块200与参考电压选择模块400之间设置所述第一模拟比较器cmp1，其中所述第一模拟比较器cmp1的反相输入端连接第一预设电压vcmp1，通过将所述电压采样模块200输出的检测电压vsen1与该第一预设电压vcmp1进行比较，若所述检测电压vsen1大于所述第一预设电压vcmp1，则说明没有可控硅接入，所述第一模拟比较器cmp1输出高电平，若所述检测电压vsen1小于所述第一预设电压vcmp1，则说明有可控硅接入，则所述第一模拟比较器cmp1输出低电平。
52.其中，经所述第一电容c1滤波后，所述检测电压vsen1是整流后的平均电压，在没有可控硅接入时，输入的正弦波是完整的，平均电压会比较高，而有可控硅输入时，输入的正弦波会存在缺失，平均电压就会比较低。因此，所述第一预设电压vcmp1为有可控硅接入与无可控硅接入时两个平均电压的中间值，因而所述检测电压vsen1大于所述第一预设电压vcmp1，则说明没有可控硅接入，若所述检测电压vsen1小于所述第一预设电压vcmp1，则
说明有可控硅接入。
53.请参阅图3，在一个实施例的进一步地实施方式中，所述参考电压选择模块400包括：第一mos管p1、第二mos管p2以及反向器re；其中，所述第一mos管p1的栅极与所述检测模块300连接，所述第一mos管的漏极与所述控制电流源模块500连接，所述第一mos管p1的源极与第一参考电压源或第一参考电流源连接；所述第二mos管p2的栅极与所述反向器re的输出端连接，所述第二mos管p2的源极与所述控制电流源模块500连接，所述第二mos管p2的漏极与第二参考电压源或第二参考电流源连接；所述反向器re的输入端与所述检测模块300连接。
54.具体地，所述第一mos管p1与所述第二mos管p2均为p型mos管，在一些实施例中，所述第一mos管p1与用于与提供第一参考电压vref1的第一参考电压源连接，所述第二mos管p2与用于提供第二参考电压源的第二参考电压源连接。当所述第一模拟比较器cmp1输出高电平时，即所述检测模块300检测到没有可控硅接入时，所述第一mos管p1关闭，所述反向器re输出低电平，使得所述第二mos管p2导通，所述参考电压选择模块400输出第二参考电压vref2至所述控制电流源模块500，当所述第一模拟器cmp1输出低电平时，即所述检测模块300检测到有可控硅接入时，所述第一mos管p1导通，所述反向器re输出高电平，使得所述第二mos管p2关闭，从而所述参考电压选择模块400输出第一参考电压vref1至所述控制电流源模块500，以增加led灯串600的输出电流，使在可控硅输出最大的状态下输出电压与led灯串600电流的乘积与无可控硅状态下的输出电压与led灯串600电流的乘积相等。
55.需要说明的是，在一些实施例中，所述第一mos管与所述第二mos管还可以设置为n型mos管，只需对应将所述第一mos管与所述第二mos管的栅极连接交换即可，即只要能够在检测到有可控硅输入时输出第一参考电压，在检测到无可控硅时输出第二参考电压即可，其实现原理与上述实施例一致，因而在此不再赘述。
56.请继续参阅图3，在一个实施例的进一步地实施方式中，所述控制电流源模块500包括：第一运算放大器op、第三mos管p3以及第三电阻r3；其中，所述第一运算放大器op的同相输入端与所述参考电压选择模块400连接，所述第一运算放大器op的反向输出端与所述第三电阻r3的一端连接，所述第一运算放大器op的输出端与所述第三mos管p3的栅极连接，所述第三mos管p3的漏极与所述led灯串600连接，所述第三mos管p3的源极与所述第三电阻r3的一端连接，所述第三电阻r3的另一端接地。
57.具体地，当所述第一运算放大器op接收到所述参考电压选择模块400输出的第一参考电压vref1或第二参考电压vref2时，所述第三mos管p3导通，以控制led灯串600的电流。当所述参考电压选择模块400输出第一参考电压vref1时，所述led灯串600的电流为所述第一参考电压vref1与所述第三电阻r3之间的比值，即iled＝vref1/r3,当所述参考电选择压模块400输出第2参考电压时，所述控制led灯串600的电流为所述第二参考电压vref2与所述第三电阻r3之间的比值，即iled＝vref2/r3，从而使得led灯串600在有无可控硅接入的情况下输出电流一致，以达到led灯串600在有无可控硅接入的状态下led灯串600的输出功率均一致的目的。
58.请参阅图4，在上述实施例中，所述参考电压选择模块400还可以设置为包括：第一mos管p1、第二mos管p2以及反向器re；其中，所述第一mos管p1的栅极与所述检测模块300连接，所述第一mos管p1的漏极与所述控制电流源模块500连接，所述第一mos管p1的源极与所
述电压采样模块200连接；所述第二mos管p2的栅极与所述反向器re的输出端连接，所述第二mos管p2的源极与所述控制电流源模块500连接，所述第二mos管p2的漏极与所述第二参考电流源连接；所述反向器re的输入端与所述检测模块300连接。
59.具体地，在上述技术方案中，通过将所述第一mos管p1的源极与所述电压采样模块200连接，也就是说，直接将检测电压vsen1作为有可控硅接入时的参考电压，即使用检测电压vsen1来替代第一参考电压vref1，其中第二参考电压vref2小于检测电压的最大值(可控硅调节至最大输出功率的情况下的检测电压)，使得在检测到有可控硅接入时led灯串600的电流能够随可控硅的调节相位变化而变化，即能够在有可控硅接入的时候降低led灯串600的电流，使得控制电流源模块500需要的输出电压也降低，从而能够抑制在可控硅输出相位比较小的时候的闪烁问题，进而能够改善调光效果。
60.如图5所示，本发明还提供了兼容可控硅的led灯串600驱动电路的另一实施例。在该兼容可控硅的led灯串600驱动电路中，所述检测模块300包括：第二模拟比较器cmp2、第三模拟比较器cmp3、计时器t以及比较器u；其中，所述第二模拟比较器cmp2与所述第三模拟比较器cmp3的同相输入端均与所述电压采样模块200连接，所述第二模拟比较器与用于提供第二预设电压的第二预设电压源连接，所述第三模拟比较器的反相输入端与用于提供第三预设电压的第三预设电压源连接；所述第二模拟比较器cmp2的输出端与所述计时器t的第一输入端连接，所述第三模拟比较器cmp3的输出端与所述计时器t的第二输入端连接，所述计时器t的第一输出端与所述比较器u的第一输入端连接，所述计时器t的第二输入端与所述比较器u的第二输入端连接，所述比较器u的输出端与所述参考电压选择模块400连接。
61.具体地，在上述实施例中，所述第二模拟比较器cmp2连接第二预设电压vcmp2，所述第三模拟比较器cmp3连接第三预设电压vcmp3，其中所述第二预设电压vcmp2小于第三预设电压vcmp3。其中，所述检测模块300包括第一电阻r1与第二电阻r2，没有连接电容，因而采集的检测电压为整流后的瞬时电压，也就是说，完整的正弦波上升和下降的波形是对称的。所述检测模块300将电压采样模块200输出的检测电压vsen1分别与所述第二预设电压vcmp2与所述第三预设电压vcmp3进行比较，并通过所述计时器t与所述比较器u分别输出第二模拟比较器cmp2输出值的上升沿到第三模拟比较器cmp3输出值的上升沿的时间t1，以及第三模拟比较器cmp3输出值的下降沿到第二模拟比较器vcmp2输出值的下降沿的时间t2，当t1＝t2时则比较器u输出高电平1，代表无可控硅接入，否则说明正弦波被切相，代表有可控硅接入，比较器u输出低电平0，其后所述参考电压选择模块400根据输入信号选择第一参考电流iref1或第二参考电流iref2中的一个作为输出电流。当所述比较器u输出信号为高电平1时，所述第一mos管p1关闭，所述反向器re输出低电平，使得所述第二mos管p2导通，此时所述参考电压选择模块400输出第二参考电流iref2至所述控制电流源模块500，当所述比较器u输出信号低电平0时，即所述检测模块300检测到有可控硅接入时，所述第一mos管p1导通，所述反向器re输出高电平，使得所述第二mos管p2关闭，从而所述参考电压选择模块400输出第一参考电流iref1至所述控制电流源模块500，其中，所述第一参考电流iref1大于所述第二参考电流iref2。
62.在上述实施例中，所述控制电流源模块500包括：第四mos管p4与第五mos管p5；其中，所述第四mos管p4的栅极与所述第五mos管p5的栅极连接，所述第四mos管p4的漏极与所述参考电压选择模块400连接，所述第五mos管p5的漏极与所述led灯串600连接，所述第五
mos管p5的源极接地。
63.具体地，所述第四mos管p4与第五mos管p5均为nmos管，当所述参考电压选择模块400输出第一参考电流iref1或第二参考电流iref2时，所述控制电流源模块500根据输入的参考电流控制led灯串600的输出电流，即当所述参考电压选择模块400输出第一参考电流iref1时，控制led灯串600的电流iled＝a
·
iref1当所述参考电压选择模块400输出第二参考电流iref2时，控制led灯串600的电流iled＝a
·
iref2；其中，a为所述第四mos管与第五mos管的宽长比之比。
64.请参阅图6，在一些实施例中，本发明还提供了一种兼容可控硅的led灯串驱动方法，其包括步骤：
65.s100、采集led灯串的供电电压并得到检测电压；具体如一种兼容可控硅的led灯串驱动电路所述，在此不再赘述。
66.s200、将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并输出判断结果；若所述检测电压小于预设电压，则判断有可控硅接入，否则判断无可控硅接入；具体如一种兼容可控硅的led灯串驱动电路所述，在此不再赘述。
67.s300、根据所述判断结果输出参考电压或参考电流；若检测到有可控硅接入，则输出第一参考电压或第一参考电流，否则输出第二参考电压或第二参考电流；其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压，所述第一参考电流大于所述第二参考电流；具体如一种兼容可控硅的led灯串驱动电路所述，在此不再赘述。
68.s400、根据所述参考电压或参考电流控制所述led灯串的电流。具体如一种兼容可控硅的led灯串驱动电路所述，在此不再赘述。
69.综上所述，本发明所提供的一种兼容可控硅的led灯串驱动电路以及方法，其中，所述兼容可控硅的led灯串驱动电路包括：整流模块，与led灯串连接，用于将输入的交流电转换为供电电压并输出至所述led灯串；电压采样模块，与所述整流模块连接，用于采集所述整流模块输出的供电电压并得到检测电压；检测模块，与所述电压采样模块连接，用于将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并输出判断结果；若所述检测电压小于预设电压，则判断有可控硅接入，否则判断无可控硅接入；参考电压选择模块，与所述检测模块连接，用于根据所述判断结果输出参考电压或参考电流；若检测到有可控硅接入，则输出第一参考电压或第一参考电流，否则输出第二参考电压或第二参考电流；其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压，所述第一参考电流大于所述第二参考电流；控制电流源模块，分别与所述led灯串以及所述参考电压选择模块连接，用于根据所述参考电压或参考电流控制所述led灯串的电流。本发明通过对led灯串的供电电压进行采集以得到检测电压，其后将所述检测电压与预设电压比较并根据比较结果判断是否有可控硅接入，并根据判断结果输出相应的参考电压或参考电流给到控制电流源模块，电流源模块能够根据输出的参考电压或参考电流控制led灯串在有无可控硅的环境下功率一致，减小了led灯串性能的损失，使得led灯串在有无可控硅的情况下都可以发挥最佳性能。
70.应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。