传感器芯片的静电处理方法和装置的制造方法

文档序号:8514376阅读:498来源:国知局
传感器芯片的静电处理方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明实施例设及传感器巧片技术,尤其设及一种传感器巧片的静电处理方法和 装置。
【背景技术】
[0002] 在现实生活中,由于摩擦现象的存在,导致人体W及周围的物体带有电荷,也称静 电(staticElectricity)。当人体与该些物体接触或者接近接触时,由于两者电荷电位的 差异会导致电荷的流动。特别是在相对湿度较低的环境下,会伴随着短暂的瞬间大电流的 产生。该种现象被称为静电放电巧SD,ElectrostaticDischarge)。
[0003] 对于电子产品来说,静电放电问题轻则会使巧片内部寄存器中存储的数据被扰 乱,造成巧片工作异常(例如,用户在通话过程中的误挂断电话等),重则还会击穿或损坏 巧片,降低电子产品的使用寿命。因此,在电子终端设备飞速发展的今天,如何降低或者消 除静电对电子产品的影响,是电子终端厂商不断力求突破的一个焦点问题。
[0004] 在现有技术中,主要通过在电子设备的结构和硬件方面进行改进W减少或者解决 静电问题,采取该种手段必然会导致电子设备的制造成本升高,工艺变得复杂。

【发明内容】

[0005] 有鉴于此,本发明实施例提供一种传感器巧片的静电处理方法和装置,W优化现 有的静电处理技术,满足人们日益增长的简单化、节约化的静电处理需求。
[0006] 在第一方面,本发明实施例提供了一种传感器巧片的静电处理方法,包括:
[0007] 在传感器巧片处于工作状态时,读取所述传感器巧片中标识寄存器的当前寄存 值,其中,所述标识寄存器为存储设定配置参数的寄存器;
[000引在所述当前寄存值与预存的标准寄存值不同时,对所述传感器巧片进行复位处 理,W消除所述传感器巧片中的静电。
[0009] 在第二方面,本发明实施例提供了一种传感器巧片的静电处理装置,包括:
[0010] 当前寄存值读取模块,用于在传感器巧片处于工作状态时,读取所述传感器巧片 中标识寄存器的当前寄存值,其中,所述标识寄存器为存储设定配置参数的寄存器;
[0011] 复位模块,用于在所述当前寄存值与预存的标准寄存值不同时,对所述传感器巧 片进行复位处理,W消除所述传感器巧片中的静电。
[0012] 本发明实施例通过在传感器巧片处于工作状态时,将用于存储设定配置参数的标 识寄存器的当前值与预存的标准寄存值进行比对,如果根据比对结果确定标识寄存器中存 储的数值发生变化,则确定该传感器巧片受到静电影响进而复位该传感器巧片的技术手 段,解决了现有技术中通过对电子设备的结构和硬件方面进行改进W减少或者解决静电问 题而带来的电子设备的制造成本升高,工艺变得复杂等问题,减小了电子设备在防静电方 面的经济投入,降低了工艺复杂度,此外,能够在电子设备的使用过程中及时发现静电问题 并及时恢复,提高了用户体验。
【附图说明】
[0013] 图1是本发明第一实施例的一种传感器巧片的静电处理方法的流程图;
[0014] 图2是本发明第二实施例的一种传感器巧片的静电处理方法的流程图;
[0015] 图3是本发明第S实施例的一种传感器巧片的静电处理方法的流程图;
[0016] 图4是本发明第四实施例的一种传感器巧片的静电处理方法的流程图;
[0017] 图5a是本发明实施例的一种具体应用场景的示意图;
[0018] 图化是本发明实施例的具体应用场景中的定时器处理流程示意图;
[0019] 图6是本发明第五实施例的一种传感器巧片的静电处理装置的结构图。
【具体实施方式】
[0020] 为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图对本发明具体实 施例作进一步的详细描述。可W理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明, 而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关 的部分而非全部内容。
[0021] 第一实施例
[0022] 图1为本发明第一实施例提供的一种传感器巧片的静电处理方法的流程图,本实 施例的方法可W由传感器巧片的静电处理装置来执行,该装置可通过硬件和/或软件的方 式实现,并一般可W集成于配置有所述传感器巧片的终端设备中。例如,智能手机或者平板 电脑等,对此并不进行限制。
[0023] 本实施例的方法具体包括如下步骤;
[0024] 110、在传感器巧片处于工作状态时,读取所述传感器巧片中标识寄存器的当前寄 存值,其中,所述标识寄存器为存储设定配置参数的寄存器。
[0025] 目前,市面上流行的各种智能终端设备,均具有一个或者多个传感器,该些传感器 通过探测并获取外界信号、光、热量W及温度等物理参量,并按一定规律变换成为电信号或 其他所需形式的信息输出,使得终端设备能够越来越智能化。其中,按照传感器所具有的功 能,可W将传感器分为:重力传感器,加速度传感器、环境光传感器、接近传感器W及手势传 感器等。
[0026] 在本实施例中,所述传感器巧片可W为仅具有一个传感器功能的巧片,也可W为 同时兼容有多个传感器功能的巧片,对此并不进行限制。例如,AMS(奥地利微电公司)的 TMG399X传感器巧片中同时集成有环境光传感器(简称AL巧功能、接近传感器(简称PROX) 功能W及四个方向上的手势传感器(简称GE巧功能等。
[0027] 一般来说,传感器巧片中具有多个寄存器,该些寄存器的用途主要包括:存储设定 配置参数(例如,正常工作时的各类配置参数或者测量算法的配置参数等),W及存储实时 测量值等。其中,用于存储实时测量值的寄存器中的寄存值会实时变化,而用于存储设定配 置参数的寄存器中的寄存值则会始终保持不变。
[002引因此,在本实施例中,通过检测传感器巧片中存储有设定配置参数的标识寄存器 中的寄存值是否发生变化的方式,来判断该传感器巧片是否存在静电。
[0029] 其中,当用户通过人机交互界面或者操作系统后台开启一个传感器功能时,会触 发产生与该传感器功能对应的传感器巧片开启事件,相应的,当用户通过人机交互界面或 者操作系统后台关闭一个传感器功能时,会触发产生与该传感器功能对应的传感器巧片关 闭事件。
[0030] 在本实施例中,可W通过实时检测上述传感器巧片开启事件W及传感器巧片关闭 事件,来确定传感器巧片是否处于工作状态;或者
[003U也可W首先为传感器巧片设置一个工作标识(例如;sensor_work_flag),该工 作标识会根据检测到的传感器巧片开启事件或者传感器巧片关闭事件而设置为不同的值 (例如,sensor_work_flag在检测到传感器巧片开启事件时被设置为"1",在检测到传感器 巧片关闭事件时被设置为"0"),因此,可W通过直接检测该工作标识的方式,来确定传感器 巧片是否处于工作状态。
[0032] 120、在所述当前寄存值与预存的标准寄存值不同时,对所述传感器巧片进行复位 处理,W消除所述传感器巧片中的静电。
[0033] 在本实施例中,需要首先将传感器巧片中各标识寄存器中的寄存值作为标准寄存 值进行存储;之后在传感器巧片处于工作状态时,读取该传感器巧片中标识寄存器的当前 寄存值与预存的标准寄存器进行比对;若不一致,则确定该传感器巧片中存在有静电,进而 对所述传感器巧片进行复位处理,W消除所述传感器巧片中的静电。
[0034] 其中,由于标识寄存器的数目一般为多个,因此,可W在对比过程中发现一个标识 寄存器的当前寄存值与预存的标准寄存值不同时,即对所述传感器巧片进行复位处理;
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