Ad检测电路及具有其的电烹饪器的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电热电器技术领域，特别涉及一种AD检测电路以及一种具有该AD检测电路的电烹饪器。
【背景技术】
[0002]当MCU(Micro Controller Unit，微控制器)的AD端口不足时，通常需要更换AD端口数量更多的MCU或者增加MCU的数量，这样都会相应地大大增加成本。并且，如果MCU是定制的，则只能靠增加MCU的数量来解决AD端口不足的问题，不仅增加成本，而且需要多个MCU之间进行相互通讯，大大降低了可靠性。
[0003]相关技术中，也有采用AD端口复用的电路来解决AD端口不足的问题，但是在特定条件下例如传感器下拉设置、传感器的一个引脚必须接GND时，AD端口复用的电路就很难实现。
【发明内容】
[0004]本发明的目的旨在至少解决上述的技术缺陷。
[0005]为此，本发明的一个目的在于提出一种AD检测电路，通过一个AD检测端可以检测多路AD信号，节省AD端口资源，有利于降低成本。
[0006]本发明的另一个目的在于提出一种电烹饪器。
[0007]为达到上述目的，本发明一方面实施例提出的一种AD检测电路，包括:N个AD检测模块，所述N个AD检测模块并联，其中，N为大于等于2的整数；控制器，所述控制器包括AD检测端和N个控制端，所述AD检测端与并联的所述N个AD检测模块相连，所述N个控制端中的每个控制端与所述N个AD检测模块中的每个AD检测模块--对应相连，所述控制器通过所述N个控制端输出控制信号以分别控制所述N个AD检测模块进行工作。
[0008]根据本发明实施例的AD检测电路，N个AD检测模块并联设置，控制器通过其N个控制端输出控制信号以分别控制N个AD检测模块进行工作，这样控制器的一个AD检测端可分别检测多路AD信号，从而节省了控制器的AD端口资源，有利于降低成本。并且，无需多个控制器之间进行通讯，可提高整个电路的可靠性。
[0009]根据本发明的一个实施例，当N为2时，所述N个AD检测模块为第一 AD检测模块和第二 AD检测模块，所述N个控制端为第一控制端和第二控制端。
[0010]根据本发明的一个实施例，所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号和通过所述第二控制端输出的控制信号的控制逻辑相反。
[0011]其中，所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号为高电平信号、通过所述第二控制端输出的控制信号为低电平信号时，所述第一 AD检测模块开始工作，所述第二 AD检测模块停止工作；所述控制器通过所述第一控制端输出的控制信号为低电平信号、通过所述第二控制端输出的控制信号为高电平信号时，所述第二 AD检测模块开始工作，所述第一 AD检测模块停止工作。
[0012]具体地，根据本发明的一个实施例，所述第一 AD检测模块包括:第一电阻，所述第一电阻的一端与所述第一控制端相连；第一传感器，所述第一传感器的一端与所述第一电阻的另一端相连，所述第一传感器的另一端接地；第一电容，所述第一电容与所述第一传感器并联；第一二极管，所述第一二极管的阳极分别与所述第一电阻的另一端和所述第一传感器的一端相连，所述第一二极管的阴极通过第二电阻接地，且所述第一二极管的阴极与所述AD检测端相连。
[0013]并且，所述第二 AD检测模块包括:第三电阻，所述第三电阻的一端与所述第二控制端相连；第二传感器，所述第二传感器的一端与所述第三电阻的另一端相连，所述第二传感器的另一端接地；第二电容，所述第二电容与所述第二传感器并联；第二二极管，所述第二二极管的阳极分别与所述第三电阻的另一端和所述第二传感器的一端相连，所述第二二极管的阴极通过所述第二电阻接地，且所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阴极相连后与所述AD检测端相连。
[0014]根据本发明的一个实施例，所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阴极相连后与所述AD检测端之间还连接有第四电阻。
[0015]根据本发明的一个实施例，所述第一 AD检测模块还包括第三二极管，所述第三二极管连接在所述第一传感器的另一端与地之间，所述第三二极管的阳极与所述第一传感器的另一端相连，所述第三二极管的阴极接地。所述第二 AD检测模块还包括第四二极管，所述第四二极管连接在所述第二传感器的另一端与地之间，所述第四二极管的阳极与所述第二传感器的另一端相连，所述第四二极管的阴极接地。
[0016]根据本发明的一个实施例，所述第一 AD检测模块和所述第二 AD检测模块集成设置，所述AD检测电路还包括第一开关控制模块，所述第一开关控制模块的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连，所述第一开关控制模块的另一端与集成设置后的第一 AD检测模块和第二 AD检测模块相连。
[0017]其中，所述第一开关控制模块包括:第五电阻，所述第五电阻的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连；第一三极管，所述第一三极管的基极与所述第五电阻的另一端相连，所述第一三极管的发射极接地；第六电阻，所述第六电阻并联在所述第一三极管的基极与发射极之间；继电器，所述继电器的线圈的一端与第一预设电源相连，所述继电器的线圈的另一端与所述第一三极管的集电极相连，所述继电器的开关的第一端通过第七电阻与第二预设电源相连，所述继电器的开关的第二端通过第一传感器接地，所述继电器的开关的第三端通过第二传感器接地；第五二极管，所述第五二极管与所述继电器的线圈并联，所述第五二极管的阳极与所述第一三极管的集电极相连，所述第五二极管的阴极与所述第一预设电源相连。
[0018]根据本发明的另一个实施例，还包括第二开关控制模块，所述第二开关控制模块的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连，所述第二开关控制模块的另一端分别与所述第一 AD检测模块和所述第二 AD检测模块相连。
[0019]其中，所述第二开关控制模块包括:第八电阻，所述第八电阻的一端与所述第一控制端或所述第二控制端相连；第二三极管，所述第二三极管的基极与所述第八电阻的另一端相连，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第二 AD检测模块相连；第九电阻，所述第九电阻并联在所述第二三极管的基极与发射极之间；第十电阻，所述第十电阻的一端与所述第八电阻的一端相连；第三三极管，所述第三三极管的基极与所述第十电阻的另一端相连，所述第三三极管的发射极与第二预设电源相连；第十一电阻，所述第十一电阻的一端与所述第三三极管的集电极相连；第四三极管，所述第四三极管的基极与所述第十一电阻的另一端相连，所述第四三极管的发射极接地，所述第四三极管的集电极与所述第一 AD检测模块相连。
[0020]根据本发明的再一个实施例，还包括:N个第三开关控制模块，所述N个第三开关控制模块中的每个第三开关控制模块分别对应连接在每个控制端与每个AD检测模块之间。
[0021]此外，本发明另一方面实施例提出了一种电烹饪器，其包括上述的AD检测电路。
[0022]本发明实施例的电烹饪器通过一个AD检测端可分别检测多路AD信号，从而节省了控制器的AD端口资源，有利于降低成本，提升市场竞争力，并且可靠性高，满足用户的需要。
[0023]本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
【附图说明】
[0024]本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:
[0025]图1为根据发明实施例的AD检测电路的方框示意图；
[0026]图2为根据发明一个实施例的AD检测电路的电路示意图；
[0027]图3为根据本发明一个实施例的AD检测电路中控制器通过控制端输出的控制信号波形图；
[0028]图4为根据发明另一个实施例的AD检测电路的电路不意图；
[0029]图5为根据发明再一个实施例的AD检测电路的电路示意图；
[0030]图6为根据发明还一个实施例的AD检测电路的电路示意图；以及
[0031]图7为根据发明又一个实施例的AD检测电路的电路示意图。
【具体实施方式】
[0032]下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。
[0033]下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此夕卜，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特征在第二特征之“上”的