电路板结构的制作方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及电路板结构，特别涉及一种具有检测线路的电路板结构。
【背景技术】
[0002] 电路板具有承载电子零件和连接电路的特性，为了实现连接电路的特性通常在电 路板的末端设置有金手指。随着电子产品和电路板尺寸的不断减小，对金手指的位置偏差 要求也越来越高。从而，在对金手指区域进行成型后，如何准确判断金手指成型是否偏位， 也即如何判断金手指的位置偏差是否在允许的范围内，成为亟待解决的问题。 【实用新型内容】
[0003] 有鉴于此，有必要提供一种能够准确判断金手指的偏差是否在允许的范围内的电 路板结构。
[0004] 一种电路板结构，其包括至少一检测线路，该检测线路包括检测垫、第一及第二电 测垫；该检测垫为具有一开口的环状，其外环线大致呈方形且具有预定尺寸，该开口位于该 检测垫的一角，该检测垫在该开口的两个端部电连接有第一及第二电测垫。
[0005] 本实用新型的电路板结构的该开口位于该检测垫的一角，且该检测垫具有预定尺 寸，电测该第一电测垫及该第二电测垫就可以准确判断出该电路板结构的金手指上下左右 四边的位置偏差是否在允许的范围之内。
【附图说明】
[0006] 图1是本实用新型第一实施方式的电路板结构的局部示意图。
[0007] 图2是图1中的检测线路未开设通孔时的检测线路的示意图。
[0008] 图3是图1中的电路板结构的局部剖视图。
[0009] 图4是1中的电路板结构的检测线路的局部示意图。
[0010] 图5是图1中的电路板结构冲型前的电路基板的局部示意图。
[0011] 图6的（a)、（b)、（c)及⑷是图1中的电路板结构的金手指分别出现上偏差、右 偏差、下偏差及左偏差的检测线路的局部示意图。
[0012] 图7是图1中的电路板结构未冲孔之前的局部示意图。
[0013] 图8是图6中的电路板结构的局部剖视图。
[0014] 图9是本实用新型第二实施方式的电路板结构的局部示意图。
[0015] 图10是图9的电路板结构的局部剖视图。
[0016] 图11是图9中的电路板结构冲型前的电路基板的局部示意图。
[0017] 主要元件符号说明
[0018]
[0020] 如下【具体实施方式】将结合上述附图进一步说明本实用新型。
【具体实施方式】
[0021] 请参阅图1至图4,本实用新型的第一实施方式的电路板结构400包括基材层 40a、形成于该基材层40a的导电线路层40b及覆盖膜43。
[0022] 该导电线路层40b包括至少一检测线路42及多个金手指40。该检测线路42包括 一检测垫420、连接该检测垫420的第一导电线路421与第二导电线路422、连接该第一导 电线路421的第一电测垫4211、以及连接该第二导电线路422的第二电测垫4221。本实施 方式中，该检测线路42的数量为两个，两个该检测线路42间隔设置；可以理解，在其他实施 方式中，该检测线路42的数量可以根据需要增加或者减少。
[0023] 该检测垫420大致呈一非闭合的环状，即为具有至少一开口 423的环状，本实施例 中，其外环线4201大致呈方形，内环线4202大致呈圆形，该开口 423位于该检测垫420的 一角。该检测垫420的内环线4202及外环线4201均具有预设的尺寸，本实施例中，该内环 线4202及该外环线4201之间的距离为该金手指40左右上下四边允许的最大位置偏差。
[0024] 该基材层40a上形成有与该检测垫420的内环线4202围成的区域相通且直径相 同位置对应的通孔426。
[0025] 该第一导电线路421与该第二导电线路422分别平滑连接于该检测垫420在该开 口 423处的两个端部427。该第一及第二导电线路42U422之间形成有线路间隙424,该线 路间隙424与该检测垫420的内环线4202所包围的空间相连通。
[0026] 本实施方式中，该第一电测垫4211及该第二电测垫4221上镀有金；可以理解，在 其他实施方式中，该第一电测垫4211及该第二电测垫4221上还可以电镀其他金属，如钯、 镍、镍钯合金、镍金合金。
[0027] 该覆盖膜43覆盖于该检测线路42远离该基材层40a的一侧。该覆盖膜43形成 有第一覆盖膜开口 431，所述第一电测垫4211及所述第二电测垫4221均暴露于该第一覆 盖膜开口 431。
[0028] 请一并参阅图5,该电路板结构400是一电路基板100通过冲孔、冲型等方式形成 的。该电路基板100的结构与该电路板结构400相似，不同的是，该电路基板100包括产品 区及废料区，且该电路基板100的检测垫120大致为方形且具有开口 123。具体地，在冲型 或冲孔过程中，该电路基板100的废料区被去除，例如该电路基板100位于该多个金手指10 两侧的区域，同时，该检测垫120的部分区域被去除，从而形成环状的检测垫420。该内环线 4202与该通孔426是一起通过冲型或者冲孔形成的。
[0029] 该覆盖膜43的第一覆盖膜开口 431暴露出了该第一电测垫4211及该第二电测垫 4221，方便电测该第一电测垫4211和该第二电测垫4221之间的检测线路42的通断，进而 判断该金手指40上下左右四边的位置偏差是否均在允许的范围内。本实施方式中，该开口 423位于该检测垫420的右上角；多个该金手指40成排间隔设置。
[0030] 请参阅图4及图6(a)、（b)、（c)及（d)，冲型完成后，该金手指40的位置无偏差时， 该内环线4202到该外环线4201的距离为该金手指40左右上下四边允许的最大偏差。当 该金手指40的位置出现上偏差、右偏差、下偏差及左偏差中的至少一个超过允许的偏差范 围时，该检测垫420被冲断，电测该第一电测垫4211及该第二电测垫