专利名称：一种降额测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子领域，尤其涉及一种降额测试装置。
背景技术：
电视机的设计除了要完整地还原由电视台发送的信号外，还必须要保证电 视机有一定的可靠性，即要保证它在一定的时间内不出故障，出了故障对周围 的环境、人体不造成伤害。可靠性设计-降额测试就是在电视;机的测试中加入对 元器件运用的降额测试，使元器件的运用更可靠、更合理。
降额测试就是使在电视机内工作的元器件在其正常工作范围内(收看)的 应力低于该元器件在当时工作环境下的额定应力。应力在电子元件的范畴内有 电压、电流、功率、温度、频率、压力、湿度等等，对于电视机内的电子元件 我们考虑的主要是电压、电流、温度、功率、频率，应力是一个可度量的数据。 "当时工作环境下的额定应力" 一般不是指元件规格书中所标明的值， 一般情
况下规格书中标明的值不是在我们电视机的"当时工作环境"条件下使用，这 时就只能以元件规格书的标注条件为参考或进行换算。
但是在现有技术中， 一个电视机设计完成后要进行很多方面的检查而就是 没有降额方面的检查和评价，从而使得除设计者外或设计者本人都有可能不知 电视机中元器件运用不合理的部分，降低了电视机的可靠性。
发明内容
本实用新型实施例所要解决的技术问题在于，提供一种用于降额测试的装 置。可对电视机及其中的电子元器件进行降额测试，以提高电子元器件使用过 程中的稳定性。
为了解决上述技术问题，本实用新型实施例提供了 一种用于降额测试的装
置，包括
用于进行降额测试的测试单元；用于控制所述测试单元进行降额测试的控制单元，所述控制单元与所述测
试单元相连；
用于输出降额测试结果的输出单元，所述输出单元与所述测试单元相连。 实施本实用新型实施例，具有如下有益效果
通过对电视机及其中的电子元器件的降额测试，使得元器件的运用更可靠， 更合理，提高了整机的稳定性。
图1是本实用新型实施例中降额测试装置的结构示意图； 图2是本实用新型实施例中测试单元的结构示意图； 图3是本实用新型实施例中控制单元的结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本 实用新型作进一步地详细描述。
参照图1，本实用新型实施例降额测试装置包括
用于进行降额测试的测试单元2。用于控制所述测试单元进行降额测试的控 制单元l，所述控制单元1与所述测试单元2相连。用于输出降额测试结果的输 出单元3，所述输出单元3与所述测试单元2相连。
其中，控制单元1可以控制测试单元2进行指定的降额测试，而测试单元2 执行所述指定的降额测试后通过输出单元3将测试的结果进行输出。
参照图3，本实用新型优选实施例中控制单元1包括
降额控制单元11和测试控制单元12，其中，
降额控制单元11用于设定电子元器件降额测试时的降额比值，例如，降额 控制单元11可根据要进行降额测试的电子元器件具体应用环境及电子元器件本 身的性能参数进行降额比值的设定。
测试控制单元12用于根据所述降额控制单元11设定的降额比值控制所述 测试单元进行降额测试。
图2为本实用新型实施例中测试单元2优选实施例的结构示意图，包括
用于降额测试整机功耗和待机功耗的整机测试单元201，整机功耗是电视机机的消耗功率是有一定范围的，为避免整机 功耗过大，要做测试。整机功耗不合理的过大，必然是电视机电路中有无为的 损耗，这个损耗包括了设计不合理、用元件不恰当、电视机调整不恰当、或元 件质量有问题等等原因。优选方案为选取一个标准的电视信号，伴音选到额定
值的80%,用lKHz正弦波，电祸^几在标准收看状态去测试整才凡功库t。
待机功耗是我们的一个能耗指标，是对节约能源的一个限制。用遥控去使 电-见机待才几可测待机功肆€
用于降额测试的整机高低压启动功能的高低压启动测试单元202，我们通过 高低压启动测试单元202以低于额定电压的最小值和高于额定电压的最大值， 将电视机设置在标准工作状态进行用电源开关开关机、遥控开关机测试，特别 可以检查它在降低了待机功耗后的低压启动能力。
用于降额测试音频输出功率的音频输出功率测试单元203，由于各个电视台 发出的伴音调制度不同，在电视机相同的音量指标指示下，喇叭的输出功率是 不一样的，如果过大除了会影响功放IC的负载外，对电源的负载也会加重，还 有可能产生机械振动，这都是违反我们设计意愿的。因此我们的优选方案为在 伴音最大调制度下、电视机音量指标满刻度，通过音输出功率测试单元203用 lKHz正弦波去测试喇。八的最大输出功率。
用于降额测试显像管的显像管测试单元204,显像管测试单元204对显像管 进行的降额测试主要是针对显像管的不断变化而来。近来显像管在不断变化， 从普通球面管到平面管、直角、纯平、超平、50Hz、 100Hz、短管、超短管一代、 超短管二代，还有大小从14寸到34寸等。各种显像管的偏转电流都不一样。
在亮度、对比度最大的情况下测量行、场偏转电流峰峰值，从行偏转电流 峰峰值可以预见行管的电流峰值，估计行管的额定参数符不符合要求。从场偏 转电流峰峰值可以检查场IC的输出电流是否低于场IC的额定值。
用于降额测试行管的电压和电流峰值、波形及功耗的行管测试单元205,其 中，行管测试单元205首先对行管集电极的电压、电流峰值检测，把电视机的 亮度、对比度打到最大，选定一个标准信号，夹入电压探头、电流探头就可以 测出行管在最大工作状态下的集电极电压、电流的峰值，与行管的额定值比较 就可知道我们使用的行管在这台电视机下能否正常工作，除此之外有时也要检 查行管的安全工作区，就是用电压与电流在同一个时刻下的对应值去比较行管规格书中的SOA曲线。
行管集电极的电压、电流波形检测，这项的检测就不那么容易，它要依据 测试者对行管工作电路的熟悉、对行扫描电路的元件、参数的熟悉、对行扫描 电路各点的波形的熟悉、对电视机可靠性测试的情况熟悉，还要对显像管的了 解，同时也要对各种机型的生产、售前、售后的反馈情况熟悉。从行管集电极 的电压、电流波形可以大致判断行管工作状态的好坏，特别是工作状态明显不 好时能看出。
波形的检测有时就在于一个小小的变化，也看不出什么大的变化的弧度、 小小的弯角，下降沿，稍微一点的易常波动，这些都可能会使行管过早的结束 使用寿命。除了对行管集电极的电压、电流波形检测，有时还要对行管基极的 电压、电流波形检查，以及行推动的工作状态检查。
当对行管集电极的电压、电流波形检测没有发现很大的异常情况后(小的 异常有时是看不出的，有时甚至是合理的)，还要对行管的耗散功率检查，运用 示波器的数学运算功能测试行管的功耗，当发现行管的功耗过大时又要反过来 检查行管的工作波形、电路参数、集电极波形下降时间、基极存储时间等一系 列工作参数。必要时还要测试行管的温升，那又要在电视机工作数小时后。
用于降额测试电源开关管和/或电源IC的电源测试单元206,电源测试单元 206可用于测试电源IC和电源开关管高压输入脚的电压、电流峰值4全测，还可 测出电源开关管或电源IC在最大工作状态下的电压和电流，此时负载也应该设 置在最大状态。
电压和电流波形的检测是^#4居规格书的应用说明和以往此类机在正常工 作状况下正确波形来观察比对， 一般情况下注意线性、尖峰、振荡、平滑、异 常等，对于电源管它也有SOA的范围，对于电源IC周围元件参数虽然已经标 准化但有时也要适当调整，比如调整待机功耗，过流过压保护，EMI干扰等。
用于降额测试枕校管的枕校管测试单元207，枕校管测试单元207用于测试 枕校管的电压、电流波形，其中枕校管的电压、电流波形直流成分重，电压波 形一般就是带调制的正弦波，电流波形就有点各异，那是设计师们根据电路的 设计、配管、调整等参数的不一产生的，如果光栅线性、高压、等工作参数确 定是可以接受的，主观评价又通过，只要配管校正好，那在降额测试上也就通 过了。
6用于降额测试电源次级整流管的电源次级整流管测试单元208 ，可通过电源 次级整流管测试单元208测试电源次级整流管的输出负载，选择电源次级整流 管， 一般情况是余量都大于器件的额定值，有些低压的整流管都可不测了，熟 悉电路之后，看着型号，看着电路用途就知道可不可使用。但有几个问题要注 意
B+整流管要注意它的电流，选择的余地需要大些，才不致发热过大，有时 满足不了温升时不妨两只并联使用；
数字板供电的整流管有时是直接供数字板的，电流较大，要注意选取。整 流管发热也会大，要选低压降的。通过稳压IC供数字板的要注意稳压IC输入 电压大小，注意一方面要降低输入电压，减少稳压IC的压降，另一方面要保证 在待机时有足够的输入电压给稳压IC，以保证数字板有稳定的工作；
电流的分配尽量均匀一些，让整流管担负的电流都在一定的比例，不要重 的重、轻的又太轻；
用于降额测试稳压IC及DC-DC的稳压IC及DC-DC测试单元209，稳压 IC及DC-DC测试单元209测试各个稳压IC的压降、输出电流、计算稳压IC的 功耗，测量DC-DC输出电流和输出电压以检查DC-DC的带负载能力。
用于降额测试功率电阻的功率电阻测试单元210,功率电阻测试单元210对 功率大于等于2W的电阻基本上都做降额测试，降额比选在1/2,即2W额定值的 电阻只用在1W的电^各中，以此类推。熔断电阻、^床护电阻不这样选取。电阻 的使用功率大了 (与电流有关)会发热，而且影响到周边的元件。有些1W、 1/2W 的电阻要注意它的电压电流，电压电流如果大的也要适当调整。
用于降额测试电容的电容测试单元211，电容测试单元211用于测试电容工 作电压检查和紋波电流，其中，紋波电流是造成电容发热的主要原因，由于电 视机中的铝电解电容内部的电解液都不是阻燃材料，当出现负载过重，电容发 热引起失效、开裂、甚至爆炸、引燃电解液也会时有发生。主要对输入整流滤 波电容、变压器次级B+整流滤波电容、大电流的低压整流滤波电容、枕校电路 的大电流电容检查等，再与折算后的电容紋波电流比较，可以初步确定电容的 选用恰当与否。对于电容的工作电压一般不超过其额定电压80%就可以。
由于紋波电流直接影响的是电容的温升，所以测量电容的温升也可以检查 电容的选用情况，在有疑问的情况下就要既;险查紋波电流也^r查温升用于降额测试的场IC、 一见;改IC的IC测试单元212, IC测试单元212对场 IC、视放IC进行降额测试，这项只做一般的检查，不超过IC的额定值就可以 了。有时场IC的温升高与工作电压有关，此时又没有办法去调整，要调整就 要改开关变压器，是大事。那就要均衡一下，可以去换另一种型号的场IC或加 大散热器面积解决。视放IC或视放管主要是温升问题，降额没有发现过什么问 题。
由上可见，本实用新型实施例降额测试装置可对电视机及其电子元件进行 降额测试，从而使元器件的运用更可靠，更合理，提高了整机的稳定性。
需要说明的是，在其它实用新型实施例降额装置的测试单元2中也可只包 括上述各测试单元中的任意一种或是任意单元的组合。同时，所述测试单元2 也可对除电视机以外的电子器件或单个的电子元器件进行降额测试。
以上所揭露的仅为本实用新型一种较佳实施例而已，当然不能以此来限定 本实用新型之权利范围，因此依本实用新型权利要求所作的等同变化，仍属本 实用新型所涵盖的范围。
权利要求1、一种降额测试装置，其特征在于，包括用于进行降额测试的测试单元；用于控制所述测试单元进行降额测试的控制单元，所述控制单元与所述测试单元相连；用于输出降额测试结果的输出单元，所述输出单元与所述测试单元相连。
2、 如权利要求l所述的装置，其特征在于，所述测试单元包括以下任意一 个单元或^f壬意单元的组合用于降额测试整机功耗和待机功耗的整机测试单元; 用于降额测试整机的高低压启动功能的高低压启动测试单元； 用于降额测试音频输出功率的音频输出功率测试单元； 用于降额测试显像管的显像管测试单元；用于降额测试行管的电压和电流峰值、波形及功耗的行管测试单元；用于降额测试电源开关管和/或电源IC的电源测试单元；用于降额测试枕校管的枕校管测试单元；用于降额测试电源次级整流管的电源次级整流管测试单元；用于降额测试稳压IC及DC-DC的稳压IC及DC-DC测试单元；用于降额测试功率电阻的功率电阻测试单元；用于降额测试电容的电容测试单元；用于降额测试场IC、视二改IC的IC测试单元。
3、 如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述控制单元包括 用于设定电子元器件降额测试时的降额比值的降额控制单元。
4、 如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述控制单元还包括 用于根据所述降额控制单元设定的降额比值控制所述测试单元进行降额测试的测试控制单元。
专利摘要本实用新型实施例公开了一种降额测试装置，包括用于进行降额测试的测试单元，用于控制所述测试单元进行降额测试的控制单元，所述控制单元与所述测试单元相连，用于输出降额测试结果的输出单元，所述输出单元与所述测试单元相连。采用本实用新型实施例，可对电视机及其中的电子元器件进行降额测试，可使设计人员在设计更合理的运用元器件，提高了元器件运用的可靠性及整机的稳定性。
文档编号H04N17/04GK201315658SQ20082021319
公开日2009年9月23日 申请日期2008年11月7日 优先权日2008年11月7日
发明者陈志强 申请人:康佳集团股份有限公司