专利名称：一种lin总线数据链路层测试方法
技术领域：
本发明涉及一种用于LIN(Local Interconnect Network)总线数据链路层测试的方法，该方法用来检验被测LIN总线数据链路层是否满足LIN总线协议的一致性要求。
背景技术：
LIN总线是一种低成本的串行通讯网络，用于实现汽车中的分布式电子系统控制。在不需要CAN总线的带宽和多功能的场合，比如智能传感器和制动装置之间的通讯使用LIN总线可大大节省成本。由于对于由自然语言所描述的LIN总线协议的理解存在着主观的因素，因此，对于LIN总线数据链路层的协议一致性测试验证工作尤为重要。为了检验LIN总线数据链路层是否满足LIN总线协议的一致性要求，需要提出一种LIN总线数据链路层测试方法。
发明内容
为了检验LIN总线数据链路层是否满足LIN总线协议一致性要求，本发明提出了一种LIN总线数据链路层测试方法的协同测试方法，对于被测LIN总线数据链路层的测试在具体实施上通过直接对被测LIN总线的LIN控制器及其驱动软件的测试实现。该方法直接利用逻辑分析仪与被测LIN总线中的被测LIN控制器RX、TX引脚电连接，波形发生器与被测LIN控制器TX引脚电连接，逻辑分析仪、波形发生器以及对其进行控制、分析的上位机构成下测试器，包含被测LIN控制器的测试模块中除了被测LIN控制器的部分构成上测试器，通过上测试器和下测试器的协同工作，检验被测LIN总线数据链路层是否满足LIN总线协议的一致性要求。
附图为一种LIN总线数据链路层测试系统原理图，其中①为上位机PC ;虚线框中为测试模块，主要由②上测试器和③被测LIN控制器组成为逻辑分析仪；⑤为波形发生器。
具体实施例方式本发明-一种LIN总线数据链路层测试方法，对于被测LIN总线数据链路层的测试在具体实施上通过直接对被测LIN总线的LIN控制器及其驱动软件的测试实现。本测试方法直接利用逻辑分析仪与被测LIN总线中的被测LIN控制器RX、TX引脚电连接，波形发生器与被测LIN控制器TX引脚电连接，逻辑分析仪、波形发生器以及对其进行控制、分析的上位机构成下测试器，包含被测LIN控制器的测试模块中除了被测LIN控制器的部分构成上测试器，通过上测试器和下测试器的协同工作，检验被测LIN总线数据链路层是否满足LIN协议的一致性要求。按照该方法构建如附图所示一种LIN总线数据链路层测试系统。附图中，测试模块中的被测LIN控制器直接与上测试器交互信息，其RX及TX两引脚接至逻辑分析仪探头，Rx引脚与波形发生器的输出端电连接。上位机、逻辑分析仪与波形发生之间可以进行相关信息的交互。上位机同时与上测试器进行信息交互。逻辑分析仪的触发信号输出电连接至波形发生器的触发信号输入。测试中，上位机将测试用例及相关命令发送至逻辑分析仪、波形发生器以及测试 模块，逻辑分析仪监测TX及RX两信号线上的信号序列，并根据TX信号线上的信号判定是否满足触发条件从而触发波形发生器输出所要求的测试序列至RX信号线。TX及RX的全部信号都将由逻辑分析仪予以记录，并传送回上位机，上位机通过对下测试器传回的信息与上测试器传回的被测LIN控制器信息进行对比、分析，得出被测LIN总线数据链路层是否满足LIN协议一致性测试的结果。
权利要求
1.一种LIN总线数据链路层测试方法，其特征是该方法为一种协同测试方法，对被测LIN总线数据链路层的测试通过对被测LIN总线中LIN控制器及其驱动软件的测试实施，该方法直接利用逻辑分析仪与被测LIN总线中的被测LIN控制器RX、TX引脚电连接，波形发生器与被测LIN控制器TX引脚电连接，逻辑分析仪、波形发生器以及对其进行控制、分析的上位机构成下测试器，包含被测LIN控制器的测试模块中除了被测LIN控制器的部分构成上测试器，上测试器和下测试器协同工作。
2.根据权利要求I所描述的下测试器，其特征是上位机将测试用例及相关命令发送至逻辑分析仪、波形发生器以及测试模块，逻辑分析仪监测TX及RX两信号线上的信号序列，并根据TX信号线上的信号判定是否满足触发条件从而触发波形发生器输出所要求的测试序列至RX信号线。TX及RX的全部信号都将由逻辑分析仪予以记录，并传送回上位机，上位机通过对下测试器传回的信息与上测试器传回的被测LIN控制器信息进行对比、分析，得出被测LIN总线数据链路层是否满足LIN总线协议一致性测试的结果。
全文摘要
本发明涉及一种用于LIN(Local Interconnect Network)总线数据链路层测试的方法，该方法用来检验被测LIN总线数据链路层是否满足LIN协议的一致性要求。为了检验LIN总线数据链路层是否满足LIN协议一致性要求，本发明提出了一种LIN总线数据链路层测试方法的协同测试方法，对于被测LIN总线数据链路层的测试在具体实施上通过直接对被测LIN总线的LIN控制器的测试实现。该方法直接利用逻辑分析仪和波型发生器分别与被测LIN总线中的被测LIN控制器RX、TX引脚分别相连，逻辑分析仪、波形发生器以及对其进行控制、分析的上位机构成下测试器，包含被测LIN控制器的测试模块中除了被测LIN控制器的部分构成上测试器，通过上测试器和下测试器的协同工作，检验被测LIN总线数据链路层是否满足LIN总线协议的一致性要求。
文档编号H04L12/26GK102801573SQ20111013900
公开日2012年11月28日 申请日期2011年5月26日 优先权日2011年5月26日
发明者莫莽, 刘矗, 李力, 吴宝红 申请人:上海固泰科技有限公司