双波长同步测试的插损回损测试仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种双波长同步测试的插损回损测试仪。它包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接到波分复用器上，波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块直接与中央处理器进行信息传输。采用上述的结构后，光发射模块的发射信号能够通过波分复用器传输到光分路器，然后经过接头和测试线到被测跳线的前端面，CPU连接回损测试模块，由此可通过与CPU联动的方式，轮流发射1310nm、1550nm脉冲信号，同时进行1310nm和1550nm波长的测试，实现了同时测试光纤跳线在1310nm和1550nm两个波长的光学性能，极大地提升产品测试效率。
【专利说明】
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及一种用于光纤连接器测试的设备，具体地说是一种双波长同步测 试的插损回损测试仪，属于光纤通信【技术领域】。 双波长同步测试的插损回损测试仪
【背景技术】
[0002] 光纤通信具有信号稳定、损耗小、传输距离长、容量高等多方面优点，已在各国现 代通信网络建设中广泛采用备。当前，我国的光纤通信网络建设迅猛，三大运营商及广电系 统都确定了"加快光进铜退、推进接入网战略转型"的思路。光纤活动连接器和光纤一样，属 于光纤通信网络中最基本的组成部分，在光纤通信网络中具有巨大的需求量。国家的相关 主管部门针对光纤活动连接器也制定了多项行业标准，对其性能指标作出了具体的规定。 行业标准规定，光纤活动连接器出厂前的光学性能检验项目为插入损耗和回波损耗。
[0003] 光纤连接器生产厂家出厂检验主要是利用插损回损测试仪来检测光纤连接器的 性能指标。目前我国光纤通信网络常用的通信窗口主要是1310nm和1550nm，市场上现有的 插损回损测试仪可以进行这两个波长的测试，但是每次只能测试一个波长，如果需要测试 两个波长的指标，就需要进行两次测试。
【发明内容】
[0004] 本实用新型要解决的技术问题是提供一种能够同时测试两个波长的光学性能的 高效的双波长同步测试的插损回损测试仪。
[0005] 为了解决上述技术问题，本实用新型的双波长同步测试的插损回损测试仪，包括 中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接 到波分复用器上，波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测 跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块直接与中央处 理器进行信息传输。所述被测跳线的后端面连接插损测试模块，插损测试模块与中央处理 器连接。
[0006] 所述光分路器通过接头和测试线连接被测跳线的前端面。
[0007] 米用上述的结构后，由于中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个 1550nm光发射模块连接到波分复用器上，光发射模块的发射信号能够通过波分复用器传输 到光分路器，然后经过接头和测试线到被测跳线的前端面，CPU连接回损测试模块，由此可 通过与CPU联动的方式，轮流发射1310nm、1550nm脉冲信号，同时进行1310nm和1550nm波 长的测试，实现了同时测试光纤跳线在1310nm和1550nm两个波长的光学性能，极大地提升 产品测试效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0008] 图1为本实用新型双波长同步测试的插损回损测试仪的原理框图。
【具体实施方式】
[0009] 下面结合附图和【具体实施方式】，对本实用新型的双波长同步测试的插损回损测试 仪作进一步详细说明。
[0010] 如图所示，本实用新型的双波长同步测试的插损回损测试仪，包括中央处理器 (CPU)，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复 用器（WDM)上；波分复用器信号的输出端连接光分路器(高回损光分路器)，高回损光分路 器的输出端通过FC/APC接头和测试线连接到被测跳线的前端面上，高回损光分路器的回 损信号端连接回损测试模块；回损测试模块直接与中央处理器进行信息传输。进一步的还 可以在被测跳线的后端面连接插损测试模块，插损测试模块与中央处理器连接。
[0011] 其工作原理如下：
[0012] 测试时，先将标准测试线APC端与测试仪的标准FC/APC接头相连，另一端接入插 损测试模块进行插损测试光源的标定，再将标准测试线的另一端接入消光模块进行回损的 标定，标定工作结束后，可以将被测跳线的A端与标准测试线相连，B端接入插损测试模块， 屏幕上显示被测跳线A端两个波长的插损值；将被测跳线的B端接入消光模块，屏幕上显示 被测跳线A端两个波长处的回损值，在测试时，1310nm激光器(光发射模块)和1550nm激光 器由CPU控制，与回损测试模块及插损测试模块联动，轮流发射脉冲信号，并将两个波长的 测试结果同时显示在屏幕上。
【权利要求】
1. 一种双波长同步测试的插损回损测试仪，其特征在于：包括中央处理器，中央处理 器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接到波分复用器上，所述 波分复用器信号的输出端连接光分路器，所述光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面 上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；所述回损测试模块直接与中央处理器进行 信息传输。
2. 按照权利要求1所述的双波长同步测试的插损回损测试仪，其特征在于：所述被测 跳线的后端面连接插损测试模块，插损测试模块与中央处理器连接。
3. 按照权利要求1所述的双波长同步测试的插损回损测试仪，其特征在于：所述光分 路器通过接头和测试线连接被测跳线的前端面。
【文档编号】H04B10/075GK203883841SQ201420158837
【公开日】2014年10月15日 申请日期:2014年4月3日 优先权日:2014年4月3日
【发明者】周永军 申请人:镇江奥菲特光电科技有限公司