移相器芯片射频自测试的制作方法

文档序号:12277978阅读:来源:国知局
技术总结
一种方法(300)包括:选择来自锁相环(260)的第一输出(262、262a),以及向第一被测设备(214、214a)和第二被测设备(214、214b)发送来自锁相环的第一输出。该方法包括:将连接到第一被测设备的第一相位旋转器(226、226a)调整为零的第一旋转器相位值(228、228a)。该方法包括:通过调整连接到第二被测设备的第二相位旋转器(226、226b)以在一个相位范围内进行扫描,来确定连接到第二被测设备的相位检测器(250)的相位检测器值(252)的集合。该方法包括:测量相位检测器的相位检测器值,以及通过对相位检测器值的集合求平均来确定相位检测器的相位检测器增益(254)并且存储相位检测器增益。

技术研发人员:A·R·菲尔德曼;B·J·莫萨维尔
受保护的技术使用者:谷歌公司
文档号码:201610615727
技术研发日:2016.07.28
技术公布日:2017.02.22

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