一种射频设备的测试方法、测试工作站及装置与流程

本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种射频设备的测试方法、测试工作站及装置。

背景技术：

基站是指在一定的无线电覆盖区内，通过移动通信交换中心，与移动终端之间进行信息传递的无线电收发信电台，是移动通信系统的重要组成部分。在移动通信系统中，还可以在基站覆盖的弱信号区域或盲区设置直放站，以中继传输基站与移动终端之间双向的射频信号，而且，由于直放站具有建设成本低、结构简单、易于安装等特点，已经成为提高移动通信信号质量的有力手段。

无线通信基站产品(如基站或直放站等)的各项射频指标直接影响着移动通信系统的运行质量，现有技术中往往需要对其射频性能进行测试，通常包括人工测试或半自动测试两种方法。

无线通信基站产品中通常包括多个射频通路，在采用人工测试的情况下，往往需要在测试过程中手动连接、切换射频通路，不仅时间长，效率低，而且，测试过程中复杂的操作步骤，使得测试结果与测试人员的经验、技术水平等因素相关性较强，导致测试结果的批量一致性较差。

而在采用半自动测试的情况下，需要在基站产品中采用标准程控开关自动连接、切换射频通路，由于标准程控开关模块价格昂贵，各厂商生产的标准程控开关模块之间互不兼容，使得虽然测试效率相比于人工测试有所提高，但测试成本也较高。

因此，目前亟需要一种射频设备的测试方法，用于解决无线通信基站产品的现有射频测试中存在的测试效率低、测试结果的一致性差，以及测试成本高的技术问题。

技术实现要素：

本发明提供一种射频设备的测试方法、测试工作站及装置，用于解决无线通信基站产品的现有射频测试中存在的测试效率低、测试结果的一致性和准确性差，以及测试成本高的技术问题。

本发明实施例中提供的一种射频设备的测试方法，所述方法应用于测试装置，所述测试装置包括至少一个测试工作站，所述方法包括：

第一测试工作站接收待测射频设备；所述第一测试工作站为所述测试装置中的任一测试工作站；

所述第一测试工作站确定所述待测射频设备移动到预设初始位置后，获取待测射频设备的产品信息，所述产品信息包括所述待测射频设备的产品型号；

所述第一测试工作站根据所述待测射频设备的产品型号，将所述待测射频设备移动到所述产品型号对应的预设测试位置；所述预设测试位置位于预设初始位置的上方；

所述第一测试工作站确定所述待测射频设备处于所述预设测试位置后，控制所述产品型号对应的N个测试插接件与所述待测射频设备的N个射频插接件进行连接，N为正整数；

所述第一测试工作站启动所述产品型号对应的测试程序对所述待测射频设备进行测试，得到所述待测射频设备的测试结果。

可选地，所述第一测试工作站接收待测射频设备，包括：

所述第一测试工作站确定所述待测射频设备为未被测试的射频设备后，接收所述待测射频设备。

可选地，所述测试装置包括串行设置的多个测试工作站，所述多个测试工作站通过传送带连接；

所述第一测试工作站得到所述待测射频设备的测试结果之后，还包括：

所述第一测试工作站确定将所述待测射频设备从所述预设测试位置移动至所述预设初始位置，并传送至下游。

可选地，所述第一测试工作站得到所述待测射频设备的测试结果之后，还包括：

所述第一测试工作站根据所述待测射频设备的测试结果，确定所述测试装置中所述待测射频设备对应的产品型号的测试通过率；

所述第一测试工作站若确定所述测试装置中所述产品型号的测试通过率大于等于设定阈值，则将之后从上游接收到所述产品型号对应的待测试设备中设定比例的待测试设备确定为免测试射频设备，并传送至下游。

基于同样的发明构思，本发明实施例进一步地提供一种测试工作站，所述测试工作站包括机架、控制模块，以及与所述控制模块连接的扫描模块、升降模块、射频插接模块、测试模块；

所述机架中设置有第一工作面和位于所述第一工作面上方的第二工作面；所述扫描模块位于所述第一工作面上；所述射频插接模块和所述测试模块位于所述第二工作面上；

所述扫描模块，用于在确定待测射频设备移动到预设初始位置后，获取待测射频设备的产品信息，所述产品信息包括所述待测射频设备的产品型号，以及将所述待测射频设备的产品型号发送给所述控制模块；其中，所述预设初始位置位于所述第一工作面上；

所述升降模块，用于在所述控制模块的控制下，将所述待测射频设备由所述预设初始位置向上移动至所述产品型号对应的预设测试位置，以及在所述测试模块完成测试后，将所述待测射频设备由所述预设测试位置向下移动至所述预设初始位置；其中，所述预设测试位置位于所述第二工作面上；

所述射频插接模块，用于在所述升降模块将所述待测射频设备由所述预设初始位置向上移动至预设测试位置后，推动所述产品型号对应的N个测试插接件与所述待测射频设备的N个射频插接件进行连接；

所述控制模块，用于在所述N个测试插接件与所述待测射频设备的N个射频插接件连接后，，控制所述测试模块对所述待测射频设备进行测试；

所述测试模块，用于在所述控制模块的控制下，启动所述产品型号对应的测试程序对所述待测射频设备进行测试，并输出测试结果。

可选地，所述测试工作站还还包括与所述控制模块连接的传感模块；

所述传感模块，用于检测到所述待测射频设备移动至所述预设初始位置后，向所述控制模块发送第一指示信息，以使所述控制模块控制所述升降模块将所述待测射频设备向上移动；以及，检测到所述待测射频设备向上移动至预设测试位置后，向所述控制模块发送第二指示信息，以使所述控制模块控制所述升降模块将所述待测射频设备保持在所述预设测试位置。

可选地，所述升降模块包括第一气缸，位于所述第一气缸上的第一气阀和第二气阀，以及导向柱；

所述控制模块具体用于，在接收到所述第一指示信息后，控制所述第一气阀处于开启状态且所述第二气阀处于关闭状态，以使所述第一气缸沿所述导向柱将所述待测射频设备向上移动；以及，在接收到所述第二指示信息后，控制所述第一气阀和第二气阀均处于关闭状态，以使所述第一气缸将所述待测射频设备保持在所述预设测试位置；以及，在所述测试模块对所述待测射频设备测试完成后，控制所述第一气阀处于关闭状态且所述第二气阀处于开启状态，以使所述第一气缸沿所述导向柱将所述待测射频设备向下移动至所述预设初始位置。

可选地，所述N个测试插接件中的第一测试插接件通过螺纹与第一导套连接，所述第一测试插接件与所述第一测试插接件连接的第一射频插接件的连接点位于所述第一导套内部；所述第一测试插接件为所述N个测试插接件中的任一测试插接件。

可选地，所述第一导套内设置有弹性部件；

所述弹性部件，用于在所述控制模块控制所述射频插接模块推动所述第一测试插接件与所述第一射频插接件进行连接的过程中，根据所述第一射频插接件的位置调整所述第一测试插接件的位置。

可选地，所述射频插接模块包括连接杆，所述连接杆的一端与所述N个测试插接件连接，所述连接杆的另一端与第二气缸连接；所述第二气缸上设置有第三气阀和第四气阀；

所述控制模块具体用于，确定所述待测射频设备位于所述预设测试位置后，控制所述第三气阀处于开启状态且所述第四气阀处于关闭状态，以使所述第二气缸推动所述N个测试插接件与对应的射频插接模块连接；以及，确定所述测试模块对所述待测射频设备测试完成后，控制所述第三气阀处于关闭状态且所述第四气阀处于开启状态，以使所述第二气缸将所述N个测试插接件与对应的射频插接模块分离。

可选地，所述扫描模块包括扫描仪；所述控制模块包括可编程逻辑控制器PLC。

基于同样的发明构思，本发明实施例还进一步地提供一种测试装置，所述测试装置包括多个测试工作站，多个所述测试工作站通过传送带串行连接。

本发明实施例中的射频设备的测试方法，应用于测试装置，所述测试装置中包括至少一个测试工作站，所述装置中的任一测试工作站通过接收待测射频设备，将待测射频设备移动到预设初始位置后，获取待测射频设备的产品信息，进而通过产品信息中的产品型号，将待测射频设备移动到产品型号对应的射频测试位置，控制N个测试插接件与待测射频设备N个射频插接件连接，并启动该产品型号对应的测试程序对待测射频设备进行测试。本发明实施例中，通过测试装置中测试工作站对待测射频设备进行测试，由于测试工作站可接收待测射频设备，根据待测射频设备的产品型号启动对应的测试程序，使得整个测试过程中无需人工参与，即可完成对待测射频设备的各项射频指标的测试，从而可有效提高测试效率，并确保测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中的一种射频设备的测试方法所对应的流程示意图；

图2a为本发明实施例中的一种测试工作站的结构示意图；

图2b为本发明实施例中的测试工作站的机架的结构示意图；

图3为本发明实施例中采用气缸传动的升降模块的结构示意图；

图4为本发明实施例中的测试插接件的剖面结构示意图；

图5为本发明实施例中的一种测试工作站的整体效果图；

图6为本发明实施例中的一种测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例，仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例中，所述待测射频设备可以为多种类型的射频设备，所述射频设备具体可以是无线通信基站中的射频设备，如分布式基站中的射频拉远单元，天线等，或者也可以是其他类型的射频设备。

其中，所述无线通信基站可以为多种类型的基站设备，如宏基站、微基站、分布式基站、直放站等，当然，也可以是其他类型无线通信基站产品，此处不做限制。

由于所述待测射频设备中通常包括多种类型的射频器件，如合路器、双工器、耦合器、低噪放、功分器、滤波器、N头、D头、T头、SMA头等，因此，所述待测射频设备的射频性能可用一项或多项射频指标来表征，其中包括但不限于，功率、增益、杂散、插损、驻波、复调指标等等。

本发明实施例中提供的一种射频设备的测试方法，可通过测试装置对所述待测射频设备的射频性能进行测试。其中，所述测试装置中可包括一个或多个测试工作站。

具体的，本发明实施例中可通过测试装置中的某一测试工作站对所述待测射频设备的各项射频指标进行测试。也就是说，在所述测试装置中只包括一个测试工作站的情况下，则可通过所述测试工作站对所述待测射频设备的射频性能进行测试；在所述测试装置中包括多个测试工作站的情况下，则可通过测试装置中多个测试工作站中选择其中一个测试工作站对待测射频设备进行测试。

在某些应用场景下，所述待测射频设备的数量可能较多，若所述测试装置中只包括一个测试工作站，则由于所述测试工作站只有在当前的射频设备的测试完成之后，才可对下一个射频设备进行测试，因而，完成所有的待测射频设备的射频性能的测试可能会花费较长时间。因此，在这种情况下，可在测试装置中设置多个测试工作站，多个测试工作站进行组线连接后，以串行形式安装在装配流水线上，并且，测试装置可通过预设的算法对各个测试工作站的测试工作进行控制。由于多个测试工作站之间可以并行工作，因而，可有效缩短批量射频设备的测试时间，大大提高测试效率，减小测试成本，尤其适合大批量自动化生产线。

本发明实施例中，所述测试装置具体可应用在射频设备的生产制造的场景中。以某一类型的无线通信基站产品的生产制造为例，所述无线通信基站产品在生产组装之后，需经过射频性能测试，以确保其各项射频指标都符合相应的设定标准，才可进行下一步工序，如包装、出厂等。

具体来说，所述无线通信基站产品中包括由射频器件组成的多个射频模块，生产制造过程中，首先通过装配流水线将各个射频模块按照设定的规则组装成无线通信基站产品，随后通过装配流水线将待测的基站产品传送到测试装置中，由所述测试装置对所述待测基站产品的各项射频性能进行测试，并输出测试结果，进而，在测试完成之后，可进一步通过装配流水线传送至下游进行下一步工序的处理。

由于测试装置可在测试装置中设置相关的入口和接口，通过装配流水线与射频设备的生产、组装过程有机结合，形成“组装-测试-包装”的全自动工艺流程，因而，所述射频设备在生产组装之后，即可通过装配流水线传送至测试装置处自动进行测试，无需人工参与，而且，测试装置中的多个测试工作站可并行对装配流水线传送过来的射频设备的射频性能进行测试，因而，可大大提高生产制造过程中的生产、测试效率，降低了基站产品的生产及测试成本，并有效确保了测试结果的一致性。

下面结合说明书附图对本发明实施例做进一步详细描述。

图1为本发明实施例提供的一种射频设备的测试方法所对应的流程示意图，所述方法应用于测试装置，所述测试装置中包括至少一个测试工作站。如图1所示，所述方法包括以下步骤S101至步骤S105：

步骤S101：第一测试工作站接收待测射频设备；所述第一测试工作站为所述测试装置中的任一工作站；

步骤S102：所述第一测试工作站确定所述待测射频设备移动到预设初始位置后，获取待测射频设备的产品信息，所述产品信息包括所述待测射频设备的产品型号；

步骤S103：所述第一测试工作站根据所述待测射频设备的产品型号，将所述待测射频设备移动到所述产品型号对应的预设测试位置；所述预设测试位置位于预设初始位置的上方；

步骤S104：所述第一测试工作站确定所述待测射频设备处于所述预设测试位置后，控制所述产品型号对应的N个测试插接件与所述待测射频设备的N个射频插接件进行连接；

步骤S105：所述第一测试工作站启动所述产品型号对应的测试程序对所述待测射频设备进行测试，得到所述待测射频设备的测试结果。

本发明实施例中，通过测试装置中测试工作站对待测射频设备进行测试，由于测试工作站可接收待测射频设备，根据待测射频设备的产品型号启动对应的测试程序，使得整个测试过程中无需人工参与，即可完成对待测射频设备的各项射频指标的测试，从而可有效提高测试效率，并确保测试结果的准确性。

需要说明的是，所述测试装置中任一测试工作站均可通过执行上述流程中的步骤S101至步骤S105，对待测射频设备的射频性能进行测试。

下面以所述测试装置中的第一测试工作站来具体说明测试过程。其中，所述第一测试工作站具体可以为测试装置中的任一测试工作站。

在步骤S101中，第一测试工作站若确定当前装配流水线传送来射频设备为未被测试的射频设备或需要测试的射频设备，则可从装配流水线接收该待测射频设备。其中，所述装配流水线包括电机、倍速链、传送带等。

具体的，第一测试工作站可以通过设定的算法判断待测射频设备是否为未被测试或需要测试的射频设备，也可以根据待测射频设备对应的标识信息判断待测射频设备是否为未被测试或需要测试的射频设备，此处不做限制。

本发明实施例中，待测射频设备可以是在生产制造过程中，在完成生产、组装等工序之后，由装配流水线传送过来的，也可以是在其他应用场景下通过多种方式放置在装配流水线上，再通过装配流水线传送过来的，此处不做限制。

步骤S102中，第一测试工作站接收待测射频设备后，通过装配流水线可将待测射频设备移动至预设初始位置。所述预设初始位置位于第一测试工作站的第一工作面上。

具体来说，第一测试工作站的预设初始位置处设置有传感器和扫描设备。其中，所述传感器可以为多种类型的传感器，如光电式传感器、压电式传感器等等，此处不做限制。同样地，所述扫描设备也可以为多种类型的扫描仪或是其他类型的扫描设备，此处不做限制。

所述装配流水线将所述待测射频设备移动至预设初始位置处后，会触发预设初始位置处的传感器，因而，若传感器被触发，第一测试工作站可确定待测射频设备已到达预设初始位置处，进而可启动扫描设备获取待测射频设备的产品信息。其中，产品信息可包括所述待测射频设备的产品型号。

本发明实施例中，所述第一测试工作站可通过多种方式获取所述待测射频设备的产品型号，比如说，通过扫描设备扫描待测射频设备对应的工装夹具的型号，以确定所述待测射频设备的产品型号，也可通过识别所述待测射频设备上贴附的产品标签、条形码或二维码等标识，以获取待测射频设备的产品型号，当然，也可以通过其他方式获取待测射频设备的产品型号，此处不做限制。

由于不同产品型号的射频设备的尺寸，其对应的射频插接件的数量、类型和所处位置，以及需要测试的射频指标的类型等可能不尽相同，因而，第一测试工作站中可预先设置有射频设备的各个产品型号对应的在第一测试工作站中的预设测试位置、各个射频接插件的位置和类型，以及对应的测试程序。

因而，在步骤S103中，所述第一测试工作站可根据上述步骤102中获取到的产品型号，通过第一测试工作站中的数据库中预先存储的产品型号和预设测试位置的对应关系，确定出所述产品型号的射频设备对应的预设测试位置，进而通过第一工作站中的升降模块将待测射频设备向上移动至预设测试位置处，并保持待测射频设备的位置不变，直至测试完成。其中，预设测试位置位于所述第一测试工作站的第二工作面上，所述第二工作面位于所述第一工作面的上方。

本发明实施例中，所述升降模块可以为气缸传动的升降装置，或者为由电机、齿轮等组成的升降装置，也可以为其他类型的可以上下往复移动的升降装置，此处不做限制。

本发明实施例中，在第一测试工作站的预设测试位置处也可设置有传感器，所述传感器可以为多种类型的传感器，如光电式传感器、压电式传感器等等，此处不做限制。

若所述升降模块将待测射频设备移动至预设测试位置处，则会触发预设测试位置处的传感器，进而，第一测试工作站可确定待测射频设备已位于其产品型号对应的预设测试位置处。

于是，在步骤S104中，第一测试工作站可控制待测射频设备的产品型号对应的N个测试插接件与待测射频设备中的N个射频插接件进行连接，以使第一测试工作站中的测试仪器与待测射频设备相连，N为正整数。

本发明实施例中，所述测试仪器可包括多种类型的测试仪器，如信号源、频谱分析仪、网络分析仪、功率计等等，所述测试仪器用于在射频设备的产品型号对应的测试程序的控制下，对待测射频设备的各项射频指标进行测试。

在步骤S105中，第一测试工作站确定N个测试插接件都与待测射频设备的N个射频插接件进行成功连接后，即可启动所述产品型号对应的测试程序对待测射频设备进行测试，并得到待测射频设备的测试结果。其中，所述测试结果包括各项射频指标对应的测试数据，以及测试是否通过的标识信息。

在对所述待测射频设备测试完成之后，第一测试工作站还可通过升降模块将待测射频设备由预设测试位置处向下移动至预设初始位置处，并通过装配流水线传送至下游。

本发明实施例中，第一测试工作站可将得到测试结果保存到相应的数据库中，并可通过数据库中存储的测试数据进行数据分析，以对测试方法、各项射频指标对应的参数等进行优化，进一步地提高测试效率和测试的准确性。

例如说，第一测试工作站可根据所述待测射频设备的测试结果，确定测试装置中对应的产品型号的测试通过率。其中，测试通过率为所述测试装置中已测试的射频设备中，通过测试的射频设备的数量与已测试的射频设备的总数的比值。

第一测试工作站若确定测试装置中某一产品型号的射频设备的测试通过率大于等于设定阈值，则可将之后从装配流水线上接收到所述产品型号对应的待测试设备中设定比例的待测试设备确定为免测试射频设备，并通过装配流水线传送至下游，此功能项称为“测试自优化”。其中，所述测试通过率也可以是某一产品型号的射频设备的部分射频指标的测试通过率。

以在基站产品生产制造的场景为例，若装配流水线上传送来的某一型号的基站产品，在连续1000件内的测试通过率高达99％以上，则第一测试工作站可在装配流水线上之后传送过来基站产品中，选取以一定比例(如50％)的基站产品作为免测试的基站产品，直接将其通过装配流水线传送至下游，而免去其的测试过程，从而提高整个装配流水线的测试效率。

基于同样的发明构思，本发明进一步提供了一种测试工作站，所述测试工作站可通过执行上述步骤S101至步骤S105中的方法流程对待射频设备的射频性能进行测试。

图2a为本发明实施例中提供的一种测试工作站的结构示意图，如图2a所示，所述测试工作站包括机架201、控制模块202，以及与所述控制模块202连接的扫描模块203、升降模块204、射频插接模块205、测试模块206。具体的，图2b为本发明实施例中的测试工作站的机架的结构示意图，如图2b所示，机架201上设置有第一工作面2011，以及位于所述第一工作面2011上方的第二工作面2012。

本发明实施例中，所述机架201可以由多种类型的材料(如铝合金或者不锈钢材料)制作而成的，具有多个平面的支撑性板架结构。其具体的尺寸、形状、结构等可由本领域技术人员根据实际需要自行设计，此处不做限制。

所述控制模块202中存储有预先设置的计算机程序或指令，其可通过向与之相连的各个模块发送控制指令的方式，控制各个模块执行相应的操作。

本发明实施例中，所述控制模块202可以为PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器)，或者也可以为计算机系统中的微处理器，又或者也可以为其他类型的可用于可向与之相连的其他模块发送控制指令的设备，此处不做限制。

虽然图2b中暂未示出，但所述测试工作站中与所述控制模块202相连的其他各个模块可具体位于第一工作面2011和/或第二工作面2012上，或者也可以设置在第一工作面2011和第二工作面2012之间。具体的，所述扫描模块203位于所述第一工作面上，所述射频插接模块205和所述测试模块206位于所述第二工作面上。本发明实施例中，测试工作站中各个组成模块设置的具体位置可由本领域技术人员根据实际情况确定，此处不做限制。

所述测试工作站的第一工作面2011上还可以包括装配流水线，所述装配流水线可用于接收所述待测射频设备，并将所述待测射频设备传送至预设起始位置。其中，所述预设起始位置位于第一工作面上。

所述测试工作站还包括与所述控制模块连接的传感模块207，所述传感模块207可包括一个或多个传感器。所述传感模块207中的各个传感器可设置在测试工作站的多个位置处，包括第一工作面、第二工作面、以及除第一工作面和第二工作面外的其他位置。

本发明实施例中，所述传感器可以为多种类型的传感器，如压电传感器、光电传感器等等，此处不做限制。

具体来说，所述测试工作站的预设起始位置处设置有第一传感器，所述第一传感器用于检测待测射频设备是否移动到预设起始位置。若所述待测射频设备移动到用预设起始位置处，则会触发所述第一传感器，进而，所述第一传感器可向所述测试工作站中的控制模块发送第一指示信息，所述控制模块接收到所述第一指示信息后，即可确定待测射频设备到达预设初始位置处。

举例来说，若预设初始位置处设置的第一传感器为光电传感器，其设置在装配流水线的一侧，而在装配流水线的另一侧对应位置处设置有激光发射器。在没有待测射频设备经装配流水线通过预设初始位置处的情况下，则光电传感器会接收到装配流水线的另一侧设置的激光发射器发射的激光信号；而当待测射频设备经装配流水线到达预设初始位置处时，待测射频设备会挡住另一侧的激光发射器发射的激光信号，光电传感器无法接收到激光信号，进而可确定有待测射频设备到达预设初始位置处。

所述测试工作站的预设初始位置处还设置有扫描模块203，所述扫描模块203具体用于在确定待测射频设备移动到预设初始位置后，获取预设初始位置处的待测射频设备的产品信息，以及，根据所述产品信息确定出待测射频设备的产品型号，并将所述产品型号发送给所述控制模块。其中，所述产品信息包括所述待测射频设备的产品型号。

本发明实施例中，所述扫描模块203可以是扫描仪或者照相机等其他类型的扫描设备，此处不做限制。

具体来说，所述扫描模块203可通过多种方式确定待测射频设备的产品信息，例如，可通过扫描所述待测射频设备对应的工装夹具的型号，以确定与工作夹具型号相对应的待测射频设备的产品型号，或者可通过扫描识别所述待测射频设备上贴附的产品标签中的信息，以获取待测射频设备的产品型号，又或者，可通过对条形码、二维码等多种形式的产品信息进行高清、高速扫描，关于产品信息载体此处不做限制。当然，也可以通过其他方式获取所述待测射频设备的产品型号，此处不做限制。

所述控制模块202若确定待测射频设备已通过装配流水线移动到预设初始位置处，则会控制扫描模块203启动，以获取待测射频设备的产品型号。进而，所述控制模块202在获取到待测射频设备的产品型号之后，启动升降模块204将所述待测射频设备由预设初始位置处向上移动到第二工作面上的预设测试位置处。

所述升降模块204，可设置在第一工作面和第二工作面之间，具体用于在控制模块202的控制下，将待测射频设备由第一工作面上的预设初始位置，向上移动至第二工作面上所述产品型号对应的预设测试位置，并在待测射频设备的测试过程中，使待测射频设备的位置保持在预设测试位置处不变；以及在待测射频设备的测试完成后，将待测射频设备由第二工作面上的预设测试位置，向下移动至第一工作面上的预设初始位置。

本发明实施例中，所述升降模块204可以采用多种类型的传动装置，如气缸、电机等等，下面将以采用气缸传动的升降模块为例，来具体说明升降模块204的工作过程。

图3为本发明实施例中采用气缸传动的升降模块的结构示意图，如图3所示，采用气缸传动的升降模块204，包括第一气缸2041，位于所述第一气缸2041上的第一气阀2042和第二气阀2043，以及导向柱2044。其中，第一气阀2042和第二气阀2043分别设置在第一气缸2041的靠近下底面和上底面的设定位置，导向柱2044垂直于所述第二气缸的上底面和下底面，即垂直于第一工作面和第二工作面。

在控制模块202接收到传感模块207发出的第一指示信息，并通过扫描模块203确定出待测射频设备的产品型号之后，即可控制升降模块204中的第一气阀2042开启，而第二气阀2043关闭，以使所述第一气缸2041沿所述导向柱将所述待测射频设备向第二工作面的方向上移动。

本发明实施例中，所述测试工作站还可在第二工作面上的预设测试位置处设置有第二传感器，用于检测待测射频设备是否到达预设测试位置处。同所述第一工作面上的预设初始位置处设置的第一传感器相似，所述第二传感器也可以为多种类型的传感器，如压电传感器、光电传感器等等，此处不做限制。

若待测射频设备到达第二工作面上的预设测试位置处，则会触发预设测试位置处设置的第二传感器，随后，所述第二传感器可向控制模块202发出用于表示待测射频设备已到达预设测试位置处的第二指示信息，所述控制模块202在接收到第二指示信息后，可控制升降模块204中的第一气阀和第二气阀都关闭，以使第一气缸停止移动。

进而，控制模块202可启动射频插接模块205将N个测试插接件与待测射频设备的N个射频插接件连接。其中，所述N个测试插接件用于将测试工作站中的测试仪器与待测射频设备相连，所述测试仪器包括但是不限于信号源、频谱分析仪、网络分析仪、功率计等等。

本发明实施例中，测试工作站的射频插接模块205中包括一个或多个测试插接件，由于不同的产品型号的射频设备的射频插接件的类型和数量可能不同，因而，所述N个测试插接件具体指，待测射频设备的产品型号对应的N个测试插接件，N为正整数。所述N个测试插接件可包括接口类型相同的测试插接件，也可以为接口类型互不相同的N个测试插接件，此处不做限制。

下面以N个测试插接件中的第一测试插接件为例，来具体说明射频插接模块的结构。其中，第一测试插接件为N个测试插接件中任一测试插接件。

需要说明的是，所述N个测试插接件中的任一测试插接件可以是公头，也可以是母头。当所述任一测试插接件是公头的情况下，与之对应连接的待测射频设备中射频插接件为母头；相反的，当所述任一测试插接件是母头的情况下，与之对应连接的待测射频设备中射频插接件则为公头。

图4为本发明实施例中的射频插接模块的剖面结构示意图，如图4所示，所述射频插接模块205包括第一测试插接件2051、第一导套2052、连接杆2053和第二气缸2054。

其中，第一测试插接件2051一端通过螺纹与第一导套2052的一端连接，另一端通过第一固定件2055与连接杆2053的一端连接，并通过卡环2056固定。所述连接杆2053的另一端通过第二固定件2057与第二气缸2054连接。所述第二气缸2054上设置有第三气阀、第四气阀和导向柱，图4中暂未示出。同所述第一气缸类似，所述第三气阀和第四气阀分别位于第二气缸的靠近下底面和上底面的设定位置。其中，第一固定件2055可以为套筒。

具体的，所述第一测试插接件2051上设置有外螺纹，第一导套2052上设置有内螺纹，二者通过螺纹旋合固定，而且，第一测试插接件2051与对应的射频插接件的连接点在第一导套的内部。

需要指出的是，作为一种示例，图4中的第一测试插接头为SMA类型的公头，第一射频插接头为SMA类型的母头。本发明实施例中，可根据待测射频设备上的射频插接件的类型具体选择合适类型的测试插接件，比如说，所述测试插接件可以为N头、D头、T头或SMA头，当然也可以为其他类型的测试插接件，此处不做具体限制。

若所述待测射频设备位于预设测试位置之后，所述第一测试插接件也将位于对应的指定位置，如设置在射频设备的机箱或PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)板上。因而，控制模块202可控制第二气缸中的第三气阀开启，而第四气阀关闭，因而，第二气缸可使连接杆沿导向柱向接近射频插接件的方向移动，以推动第一测试插接件靠近其对应的第一射频插接件，并在第一导套的约束和引导下与第一射频插接件连接。

本发明实施例中，在第一测试插接件和第一射频插接件连接的过程中，由于第一导套靠近射频插接件的一端设置有倒角，通过第一导套可预先对第一射频插接件的位置进行定位，进而通过导套的约束和引导下插入第一射频插接件中，从而可有效确保对插位置的精确度，并减少第一测试插接件和对应的第一射频插接件插针的损坏概率。

而且，由于所述第一导套内还可设置有弹性部件。所述弹性部件，用于在所述控制模块控制所述射频插接模块推动所述第一测试插接件与所述第一射频插接件进行连接的过程中，根据所述第一射频插接件的位置调整所述第一测试插接件的位置。

所述弹性部件具体可包括分别设置在第一测试插接件两端的第一弹簧和第二弹簧。其中，第一弹簧可设置在第一导套内部，第二弹簧可设置在套筒内部，所述第一弹簧和所述第二弹簧可沿第一测试插接件和第一射频插接件的插接方向弹性伸缩。由于所述第一弹簧和第二弹簧可在连接过程中，可根据对插的第一射频插接件的位置调整第一测试插接件在插接截面及垂直于插接截面的插接方向上的角度，因而，从而可有效确保连接过程的平稳、可靠，保证对插位置的准确性。

在上述插接件的连接过程中，在连接杆可在气缸的作用下始终保持一定的推力，无需使测试插接件与对应的射频插接件通过螺纹连接，在插接件成功连接之后，又可通过控制模块控制第二气缸中第三气阀和第四气阀都关闭，以使第二气缸停止推动连接杆移动，因而，可在实现插接件之间的快速插拔、提高连接效率的同时，又确保连接的稳定性和可靠性。

进而，控制模块202确定所述N个测试插接件均与待测射频设备上对应的射频插接件正确连接后，可启动测试模块206中与待测射频设备的产品型号对应的测试程序对待测射频设备进行测试，并输出测试结果。

其中，所述测试模块206中包括各个产品型号的射频设备对应的测试程序，所述测试程序可在控制模块202的控制下按照预设的次序或步骤启动相应的测试仪器对待测射频设备的各项射频参数进行测试。

需要说明的是，由于不同产品型号的待测射频设备的工作性质不同，所需要进行的测试的各项射频指标也各不相同，而且对于同一个射频指标来说，不同射频设备所要求达到的标准也并不完全一致，不同产品型号的待测射频设备对应的射频测试也可不同。

本发明实施例中，控制模块202可在待测射频设备的测试完成之后，将得到的测试结果保存，并上传到相应的数据库中，以便于后续可根据数据库中存储的测试数据进行数据分析，更一步地优化测试程序、测试方法或各项指标参数，以提高测试的效率和准确性。

本发明实施例中，所述数据库可设置在测试工作站的计算机系统中，也可设置在与所述测试工作站相连的服务器中，此处不做具体限制。

由于测试工作站可采用与待测射频设备的产品型号对应的测试程序进行射频测试，通过测试程序可自动完成待测射频设备的各项射频指标的测试步骤，并输出测试结果，无需人工参与，此外，控制模块中嵌入优化算法，对扫描数据进行深度挖掘并自动改进，完善程序，因此，不仅测试速度快、效率高、可有效降低测试成本，从而，可有效避免人工测试中存在的测试数据离散，测试结果偏差较大的缺陷。

在所述控制模块202确定待测射频设备的测试完成之后，可首先控制射频插接模块205中的第二气缸的第三气阀关闭，而第四气缸开启，以使第二气缸可拉动连接杆沿导向柱向远离第一射频插接件的方向移动，以使第一测试插接件与其连接的第一射频插接件分离。

进而，所述控制模块202确定所述待测射频设备的N个射频插接件均与对应的射频插接模块中的N个测试插接件分离之后，可控制升降模块204将待测射频设备由第二工作面上的预设测试位置向下移动至第一工作面上的预设初始位置。具体的，控制模块可控制升降模块中的第一气缸的第一气阀开闭，而第二气阀开启，以使第一气缸可沿导向柱的方向将待测射频设备向第一工作面的方向上移动。

在升降模块204将待测射频设备移动至第一工作面上的预设初始位置后，即可通过装配流水线将待测射频设备传送至下游，比如说，在射频设备的生产制造场景下，可以进一步进行射频设备的包装等工序。

需要说明的是，本发明实施例中的测试工作站中还可采用其他类型的传动装置构成的升降模块。举个例子，若测试工作站采用电机传动的升降模块，则所述升降模块可包括电机、齿轮、支撑板等部件，待测射频装置具体位于支撑板上。在将待测射频设备由预设初始位置移动至预设测试位置的过程，控制模块可控制升降模块中的电机使齿轮沿第一方向转动，从而可使支撑板带动待测射频装置向上移动。

当待测射频装置移动到预设测试位置之后，升降模块中的电机停止运转，而当待测射频装置测试完成之后，控制模块可控制电机时齿轮沿与第一方向相反的方向转动，以使支撑板带动待测射频装置向下移动。

需要说明的是，本发明实施例中的测试工作站中的传感模块，还可进一步包括报警器。所述报警器用于测试工作站或者测试工作站的各个模块出现异常的情况下，发出报警信息。所述报警信息可以为多种形式的信息，例如，可以采用竹节灯进行声光报警。

当所述测试工作站应用在射频设备的生产制造场景下时，测试工作站还可进一步包括夹具切换模块，所述夹具切换模块可在确定装配流水线上生产的射频设备的产品型号发生改变时，将当前装配流水线上的工装夹具自动切换为与当前生产的射频设备的产品型号相对应的工装夹具。由于所述夹具切换模块可在极短的时间内完成射频设备的工装夹具的切换，因而，特别适用于小批量多种类中的射频设备的生产制造的场景中。

图5为本发明例中提供的一种测试工作站的整体效果图。作为一种示例，图5中的测试工作站包括机架501、传送模块502、升降模块503、射频插接模块504、测试模块505、传感模块506、扫描模块507、控制模块508、夹具切换模块509等几部分组成，其中传送模块具体可指装配流水线或传送带。

基于同样的发明构思，本发明实施例还进一步提供一种测试装置，图6为本发明实施例中的一种测试装置的结构示意图，如图6所示，所述测试装置600中包括多个串行连接的测试工作站，即测试工作站1、测试工作站2、…测试工作站n。

所述测试装置中的多个测试工作站可共同设置在装配流水线上，通过测试装置中预先设置的算法控制各个测试工作站协同工作。

测试装置中的每个测试工作站都可为包括第一工作面和第二工作面的层式结构，其中，第一工作面可用于接收待测射频设备或将待测射频设备传送至下游的测试工作站，第二工作面位于第一工作面的上方，用于对待测射频设备进行测试。

具体来说，通过装配流水线传送过来的待测射频设备进入测试装置之后，可通过测试装置中的某一个测试工作站进行测试。例如，测试装置可采用待测射频设备当前到达的测试工作站进行测试，即将其通过升降模块上升到第二工作面进行测试，也可经装配流水线正常通过当前到达的测试工作站，采用之后的某一测试工作站进行测试。

由于测试装置中的多个测试工作站可并行地对装配流水线上传送过来的待测射频设备进行测试，因而，可有效提高测试效率，降低测试成本。

由上述内容可知：

本发明实施例中的射频设备的测试方法，应用于测试装置，所述测试装置中包括至少一个测试工作站，所述装置中的任一测试工作站通过接收待测射频设备，将待测射频设备移动到预设初始位置后，获取待测射频设备的产品信息，进而通过产品信息中的产品型号，将待测射频设备移动到产品型号对应的射频测试位置，控制N个测试插接件与待测射频设备N个射频插接件连接，并启动该产品型号对应的测试程序对待测射频设备进行测试。本发明实施例中，通过测试装置中测试工作站对待测射频设备进行测试，由于测试工作站可接收待测射频设备，根据待测射频设备的产品型号启动对应的测试程序，使得整个测试过程中无需人工参与，即可完成对待测射频设备的各项射频指标的测试，从而可有效提高测试效率，并确保测试结果的准确性。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或两个以上其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或两个以上流程和/或方框图一个方框或两个以上方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或两个以上流程和/或方框图一个方框或两个以上方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或两个以上流程和/或方框图一个方框或两个以上方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。