一种全频段数字微波集成测试系统的制作方法

本实用新型属于数字微波产品测试领域，具体涉及一种全频段数字微波集成测试系统。

背景技术：

目前，数字微波产品的校准和测试采用分离式，即发射和接收均需要分开测试和校准，则需要两个工位、两套仪表资源，测试效率较低。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种全频段数字微波集成测试系统，将发射和接收的测试和校准集成在一起，提高测试效率。

本实用新型为解决上述技术问题所采取的技术方案为：一种全频段数字微波集成测试系统，它包括依次连接的程控电源、隔直流模块和数字微波收发机；数字微波收发机的电压输出端连接有电压测试单元，其特征在于：

它还包括开关阵列、开关控制器和CPU；所述的隔直流模块的中频输入端和数字微波收发机的射频端口分别通过开关阵列与频谱仪、功率计和信号源连接；程控电源、隔直流模块、电压测试单元、频谱仪、功率计和信号源分别与CPU连接，CPU还通过开关控制器与所述的开关阵列连接；所述的开关阵列由若干个射频微波开关组合构成。

按上述方案，所述的开关阵列包括结构相同的第一开关、第二开关、第三开关、第四开关和第五开关；每个开关均设有第一端口、第二端口、公共端和控制端，每个开关的控制端均与所述的开关控制器连接；

第一开关的公共端与所述的隔直流模块的中频输入端连接，第一开关的第一端口与第二开关的第二端口连接，第一开关的第二端口第五开关的第二端口连接；

第二开关的公共端与所述的频谱仪连接，第二开关的第一端口与第四开关的第一端口连接；

第三开关的公共端与所述的数字微波收发机的射频端口连接，第三开关的第一端口与所述的功率计连接，第三开关的第二端口与第四开关的公共端连接；

第四开关的第二端口与第五开关的第一端口连接；

第五开关的公共端与所述的信号源连接。

按上述方案，所述的隔直流模块和电压测试单元分别通过RS232与所述的CPU连接。

按上述方案，所述的程控电源、频谱仪、开关控制器、信号源和功率计分别通过网线与集线器连接，集线器与所述的CPU通过网线连接。

按上述方案，本系统还包括显示器和输入端，与所述的CPU一起构成上位机。

本实用新型的有益效果为：

1、通过采用开关阵列，并由CPU控制开关阵列的逻辑关系，从而将数字微波收发机的收发测试合并在一个工位进行，相较原来的数字微波系统产品接收与发射测试分为2个工位，释放了一套仪表资源，减少了减少高端仪表采购需要。同时，发射和接收的合并，统一化的测试平台，提高了测试效率，减少了测试站，减少了人为操作干预，也释放部分人力和物力。

2、进一步的提供由五个开关构成的开关阵列，连接方式简单，实现容易。

3、通过将仪表组成局域网进行测试，信号稳定可靠，连接方式简单。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的结构示意图。

图2为本实用新型一实施例的电路原理图。

图中：1-程控电源，2-隔直流模块，3-数字微波收发机，4-电压测试单元，5-开关控制器，6-信号源，7-功率计，8-频谱仪，9-第一开关，10-第二开关，11-第三开关，12-第四开关，13-第五开关，14-上位机，15-集线器。

具体实施方式

下面结合具体实例和附图对本实用新型做进一步说明。

本实用新型提供一种全频段数字微波集成测试系统，如图1所示，它包括依次连接的程控电源、隔直流模块和数字微波收发机；数字微波收发机的电压输出端连接有电压测试单元，它还包括开关阵列、开关控制器和CPU；所述的隔直流模块的中频输入端和数字微波收发机的射频端口分别通过开关阵列与频谱仪、功率计和信号源连接；程控电源、隔直流模块、电压测试单元、频谱仪、功率计和信号源分别与CPU连接，CPU还通过开关控制器与所述的开关阵列连接；所述的开关阵列由若干个射频微波开关组合构成。

优选的，如图2所示，所述的开关阵列包括结构相同的第一开关9、第二开关10、第三开关11、第四开关12和第五开关13；每个开关均设有第一端口、第二端口、公共端和控制端，每个开关的控制端均与所述的开关控制器5连接；第一开关9的公共端与所述的隔直流模块2的中频输入端连接，第一开关9的第一端口与第二开关10的第二端口连接，第一开关9的第二端口第五开关13的第二端口连接；第二开关10的公共端与所述的频谱仪8连接，第二开关10的第一端口与第四开关12的第一端口连接；第三开关11的公共端与所述的数字微波收发机3的射频端口连接，第三开关11的第一端口与所述的功率计7连接，第三开关11的第二端口与第四开关12的公共端连接；第四开关12的第二端口与第五开关13的第一端口连接；第五开关13的公共端与所述的信号源6连接。

本实施例中，所述的隔直流模块2和电压测试单元4分别通过RS232与所述的CPU连接。程控电源1、频谱仪8、开关控制器5、信号源6和功率计7分别通过网线与集线器15连接，集线器15与所述的CPU通过网线连接。本系统还包括显示器和输入端，与所述的CPU一起构成上位机14。

本实施例的开关均采用Keysight的SPDT射频微波开关8765D。同时，系统考虑到了实际生产或测试中，仪器仪表资源不足的情况。正常情况下，系统可以对数字微波收发机3的发射和接收所有项目进行测试（Tx+Rx），当不具备相关夹具或仪表时，可以分为发射测试（Tx）和接收测试（Rx）进行测试。

下面列举几个本系统的应用场景：

测试系统发射和接收通路线损校准：测试软件具备线损自动校准功能，提示如何接线（文字或者示意图），确认接线后开始校准，并判断线损是否在规定范围以内（规避出现线缆损坏或者线缆没有拧紧的情景），如果校准成功，则写入校准文件中。

(校准频点分为高，中，低 三个频点)需要校准的链路和开关切换如下：

TX SA通路线损校准：RF线损+SW3（com to port2）+SW4(com to port1)+SW2(com to port2)+频谱仪线缆；接线：信号源+TX SA通路+功率计。

TX SA 通路电缆平坦度校准：RF线损+SW3（com to port2）+SW4(com to port1)+SW2(com to port2)+频谱仪线缆；接线：信号源+TX SA通路+频谱仪；设置频谱仪测量点数为801，测量读取TX SA 通路线损平坦度数组array_cable_Cal[]，在以后测试TX平坦度测试项目中，作补偿用，以得出待测物平坦度。

TX PM通路线损校准：RF线损+SW3（com to port1）+功率计线缆；接线：信号源+TX PM通路+功率计。

TX SG（350MHZ) 通路线损校准：信号源线缆+SW5（com to port2）+SW1（com to port2）+IF线缆；接线：信号源+TX PM通路+功率计。

RX SG通路线损校准：SG线缆+SW5（com to port2）+SW4（com to port2）+SW3（com to port2）+RF线缆；接线：信号源+RX SG通路+功率计。

RX SA(140MHZ)通路线损校准：SA线损+SW2（com to port2）+SW1(com to port1)+IF线缆；接线：信号源+RX SA(140MHZ)通路+功率计计算RX SA 通路线损平坦度值，在以后测试RX平坦度测试项目中，作补偿用，以得出待测物平坦度。