技术特征：
技术总结
本发明提供一种光纤链路的大量程高精度时延测量装置和方法，该方法采用了计数脉冲信号的副载波调制，在保持时延一致性的条件下，使得计数脉冲信号与计数频率信号共存传输，并通过相位指示测量和相位精细测量相结合的方式，精确测得光纤链路的绝对时延及其时延变化。本发明克服了传统光纤链路时延测量方法中相位测量模糊和量程不足问题，时延测量精度可以达到0.1ps。其测量精度高，应用范围广泛，具有较强的实用价值。
技术研发人员：郭俊成;吴传信;卢麟;张宝富;韦毅梅;魏恒;赵晓宇;刘航
受保护的技术使用者：中国人民解放军陆军工程大学
技术研发日：2018.12.03
技术公布日：2019.03.19