电子产品开机测试设备的制作方法

本发明涉及测试工装技术领域，具体涉及一种电子产品开机测试设备。

背景技术：

无线耳机是中间的线被电波代替，是从电脑的音频出口连接到发射端，再由发射端通过电波发送到接受端的耳机中，接受端就是相当于是一个收音机。

如今，无线耳机在各种场合得到越来越频繁的使用，且无线耳机趋向无按钮、整体化，而目前的无线耳机只能通过充电盒进行开机测试，但是充电盒为注塑成型的一体式结构，且充电盒的测试针使用次数有限，一旦充电盒的测试针损坏或者充电盒的寿命用尽将无法拆装维修，只能废弃，造成生产成本过高；另外，充电盒的测试产品单一，即一种型号的充电盒只能测试与该充电盒相适配的无线耳机，造成资源浪费。在生产制造时，大批量使用充电盒去实现耳机开机测试是不切实际的，因此，迫切需要一种易于拆换，适用范围广的开机测试设备。

技术实现要素：

针对现有技术存在的以上缺陷，本发明提供一种电子产品开机测试设备，该电子产品开机测试设备易于拆换，使用方便灵活，适用范围广。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：

电子产品开机测试设备，包括底座，所述底座内竖向设置有隔板，所述隔板将所述底座的内腔分隔为前腔和后腔，所述后腔内设置有测试电路板；所述前腔设置有产品放置装置、产品测试装置和产品压紧装置；所述产品放置装置可拆卸地设置于所述前腔，所述产品放置装置的上端设置有与产品相适配的用于放置所述产品的仿形定位槽，所述产品放置装置的内部设置有与所述仿形定位槽相连通的探针通道，所述探针通道用于探针穿过并且与所述产品的测试针点相接触；所述产品测试装置包括探针固定座和可拆卸地固定于所述探针固定座的所述探针，所述探针与所述测试电路板电连接；所述产品压紧装置包括压盖，所述压盖的一端铰接于所述隔板顶部，所述压盖的另一端通过磁吸结构与所述底座相吸合。

优选地，所述产品放置装置包括产品放置板和产品定位块，所述产品放置板可拆卸的设置于所述前腔的上开口，所述产品放置板上设置有用于与所述产品定位块的上端镶嵌的放置板通孔，所述产品定位块的上端设置有所述仿形定位槽，所述产品定位块的内部设置有所述探针通道。

优选地，所述探针固定座包括与所述产品放置板固定连接的安装块，所述安装块的下方固定设置有下盖板，所述安装块靠近所述下盖板的一侧设置有与所述探针相适配的用于安装所述探针的沉孔，所述下盖板上对应所述沉孔的位置处设置有探针避让孔。

优选地，所述前腔的底部设置有下开口，所述下盖板固定设置于所述下开口。

优选地，所述磁吸结构包括第一磁吸部件和与所述第一磁吸部件相吸合的第二磁吸部件，所述第一磁吸部件设置在所述底座上，所述第二磁吸部件设置在所述压盖的内侧。

优选地，所述底座还包括与所述隔板相对设置的吸合块，所述吸合块固定设置在所述前腔的侧壁上，所述第一磁吸部件设置在所述吸合块的上表面。

优选地，所述隔板上凸出设置有铰接块，所述铰接块上转动安装有销轴，所述压盖上设置有与所述铰接块相适配的避让口，所述压盖转动安装在所述铰接块两侧的所述销轴上。

优选地，所述铰接块设置有第一转动限位结构，所述压盖的内侧设置有与所述第一转动限位结构相配合的第二转动限位结构。

优选地，所述压盖的内侧设置有用于与所述产品相接触的硅胶片。

优选地，所述后腔设置有后盖。

采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

由于本发明提供的电子产品开机测试设备，产品放置装置可拆卸地设置于前腔，产品放置装置的上端设置有与产品相适配的用于放置产品的仿形定位槽，而产品测试装置包括探针固定座和可拆卸地固定于探针固定座的探针，探针与测试电路板电连接，当需要进行不同型号产品的开机测试时，只需更换与待开机测试产品相适配的产品放置装置，即可使用一台设备对多种不同型号的产品进行开机测试；当用于测试产品的探针损坏或者使用寿命用尽时，无需将整个设备废弃，只需将探针固定座上的探针拆卸下来进行更换即可。综上所述，本发明提供的电子产品开机测试设备便于拆换，一台设备可用于多种产品的开机测试，使用灵活方便，适用范围广，同时，便于拆装维修和更换零部件，合理利用了资源，降低了生产成本。

附图说明

图1是本发明电子产品开机测试设备的结构示意图；

图2是本发明电子产品开机测试设备中产品放置装置与产品测试装置的连接示意图；

图3是本发明电子产品开机测试设备的打开状态示意图；

图4是本发明电子产品开机测试设备的开机测试流程框图；

图中：1-底座，2-隔板，21-铰接块，3-产品放置板，4-产品定位块，41-仿形定位槽，5-安装块，6-探针，7-下盖板，71-探针避让孔，8-压盖，81-避让口，9-吸合块，10-第一磁吸部件，11-第二磁吸部件，12-销轴，13-第一转动限位结构，14-第二转动限位结构，15-硅胶片，16-后盖，17-顶紧螺栓，18-连接板。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。其中，为了便于清楚描述本发明电子产品开机测试设备的结构，将电子产品开机测试设备的方位表述为上、下、前和后，该方位的表述并不构成对保护范围的限定。

如图1和图3共同所示，电子产品开机测试设备，包括底座1，底座1内竖向设置有隔板2，隔板2将底座1的内腔分隔为前腔和后腔，后腔内设置有测试电路板。

如图1至图3共同所示，底座1的前腔设置有产品放置装置、产品测试装置和产品压紧装置；产品放置装置可拆卸地设置于前腔，产品放置装置的上端设置有与产品相适配的用于放置产品的仿形定位槽41，产品放置装置的内部设置有与仿形定位槽41相连通的探针通道，探针通道用于探针6穿过并且与产品的测试针点相接触；产品测试装置包括探针固定座和可拆卸地固定于探针固定座的探针6，探针6与测试电路板电连接；产品压紧装置包括压盖8，压盖8的一端铰接于隔板2顶部，压盖8的另一端通过磁吸结构与底座1相吸合。

如图1至图3共同所示，本实施例中的产品放置装置包括产品放置板3和产品定位块4，产品放置板3可拆卸的设置于前腔的上开口，产品放置板3上设置有用于与产品定位块4的上端镶嵌的放置板通孔，产品定位块4的上端设置有仿形定位槽41，产品定位块4的内部设置有探针通道。本实施例中优选产品定位块4为仿形注塑件，既保证产品放入位置准确，又避免了产品在本机构中的划伤风险，而且使用注塑材料，降低了生产成本。

如图1至图3共同所示，本实施例中的探针固定座包括与产品放置板3固定连接的安装块5，安装块5的下方固定设置有下盖板7，安装块5靠近下盖板7的一侧设置有与探针6相适配的用于安装探针6的沉孔，下盖板7上对应沉孔的位置处设置有探针避让孔71。本实施例中的产品放置板3的两侧分别设置有连接板18，安装块5的两端部通过连接板18与产品固定板3相连接。

如图1和图3共同所示，本实施例中的前腔的底部设置有下开口，下盖板7固定设置于下开口。

如图1和图3共同所示，本实施例中的磁吸结构包括第一磁吸部件10和与第一磁吸部件10相吸合的第二磁吸部件11，第一磁吸部件10设置在底座1上，第二磁吸部件11设置在压盖8的内侧。本实施例中的底座1还包括与隔板2相对设置的吸合块9，吸合块9固定设置在前腔的侧壁上，第一磁吸部件10设置在吸合块9的上表面。本实施例优选第一磁吸部件10和第二磁吸部件11均为磁铁，通过第一磁吸部件10对第二磁吸部件11的磁吸力，给压盖8增加向下的压力，使放入仿形定位槽41内的产品的测试针点与探针6接触的更加稳定。

如图1和图3共同所示，本实施例中的隔板2上凸出设置有铰接块21，铰接块21上转动安装有销轴12，压盖8上设置有与铰接块21相适配的避让口81，压盖8转动安装在铰接块21两侧的销轴12上。本实施例中，压盖8的侧部对应销轴12的位置处设置有用于顶紧销轴12的顶紧螺栓17。

如图1和图3共同所示，本实施例中铰接块21设置有第一转动限位结构13，压盖8的内侧设置有与第一转动限位结构13相配合的第二转动限位结构14。本实施例中优选第一转动限位结构13为设置在铰接块21外侧的第一限位块，第一限位块沿销轴12的轴向向外延伸，第二限位结构14为设置在避让口81内侧的第二限位块，第二限位块沿销轴12的轴向向内延伸。本实施例中优选压盖8可以绕销轴12旋转120°，当压盖8由水平状态绕销轴12向上旋转120°后，通过第二限位结构14对第一转动限位结构13的限位作用，压盖8停止旋转。实际应用中，对于压盖8的旋转角度不限定，只要能将产品在不损坏的情况下放置到产品定位块4的仿形定位槽41内，实现产品的正常开机测试即可。

如图1和图3共同所示，本实施例中压盖8的内侧设置有用于与产品相接触的硅胶片15。采用这样的结构，避免了压盖8下压时对产品的压伤或划伤，保证了产品的质量。

如图1和图3共同所示，本实施例中的后腔设置有后盖16。

如图4所示，为本发明电子产品开机测试设备的开机测试流程框图，在产品进行开机测试前，压盖8处于打开状态，放入产品后，把压盖8合上，产品的测试针点会与探针6稳定接触，测试指令由测试设备发出，通过测试电路板转接传输到产品，实现对产品的开机激活，并读取产品中的编号，反馈到测试设备，测试设备依据是否有产品编号数据返回，判断产品开机激活是否成功，给出成功(ok)或失败(ng)的信息；打开压盖8，取出产品，完成产品的开机激活测试，再装夹下一个待测产品。

本发明电子产品开机测试设备，设置有可拆卸的产品放置板3，产品放置板3固定设置有产品定位块4，产品定位块4设置有与产品相适配的用于放置产品的仿形定位槽41，而探针固定座上可拆卸的设置有与测试电路板电连接的探针6，当需要进行不同型号产品的开机测试时，只需更换与待开机测试产品相适配的产品放置板3和产品定位块4，即可使用一台设备对多种不同型号的产品进行开机测试；当用于测试产品的探针6损坏或者使用寿命用尽时，无需将整个设备废弃，只需将探针固定座上的探针6拆卸下来进行更换即可。

综上所述，本发明提供的电子产品开机测试设备便于拆换，一台设备可用于多种产品的开机测试，使用灵活方便，适用范围广，同时，便于拆装维修和更换零部件，合理利用了资源，降低了生产成本。

本发明不局限于上述具体的实施方式，本领域的普通技术人员从上述构思出发，不经过创造的劳动，所做出的种种变换，均落在本发明的保护范围之内。