一种基站放大器测试方法、装置及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试领域，尤其涉及一种基站放大器测试方法、装置及系统。
【背景技术】
[0002]目前，基站放大器广泛应用于移动通信业务中，用于增大信号发射功率以及扩展信号覆盖范围。
[0003]随着移动通信的飞速发展，基站放大器拥有更高的特性，例如，在一个基站放大器中内置两个或两个以上的功率放大器的设计方案，能够有效提高基站放大器的信号输出功率，增加载波数量，且当该基站放大器中的一个功率放大器无法正常工作时，可以通过射频开关的切换控制本地的其他功率放大器处于工作状态，从而保障通讯不会中断。
[0004]相较于一般的射频电子设备，包含多个功率放大器的基站放大器结构更复杂，其工作时所产生的功耗也更大，因此，要求基站放大器具备更好的耐高温以及耐高功率负荷的特性。而更优的设备测试方法能够获得上述高性能的基站放大器。
[0005]目前，通常采用温度循环测试方法进行基站放大器的老化性能测试，即通过被测设备本身工作时的热耗来升高设备的温度，并通过被测设备本身散热风扇的作用降低设备的温度，采用反复加热和冷却被测设备的方法，使被测设备内部各个元器件材料产生交替的膨胀和收缩形变，这种反复的应力冲击会导致诸如焊接不良、表面裂纹等问题加剧，从而加速被测设备中各个元器件的缺陷暴露。与恒温老化相比较，温度循环测试方法不依靠老化房、老化箱等外部辅助装置，具有测试准确度高，耗时少，成本低的优点，得到了广泛的应用。
[0006]对于包含多个功率放大器的基站放大器，根据其本地射频开关的状态拥有多种不同的工作模式，而常用的温度循环测试方法中，仅监测基站放大器多种工作模式中一种工作模式下基站放大器的温度变化情况，而忽略了各种不同工作模式下基站放大器的性能参数的变化情况，从而造成测试结果不准确的问题。
【发明内容】
[0007]本发明实施例提供一种基站放大器的测试方法、装置及系统，用以解决现有技术中仅监测一种工作模式下基站放大器的温度变化情况，而忽略了各种不同工作模式下基站放大器的性能参数的变化情况，存在测试结果不准确的问题。
[0008]本发明实施例提供的具体技术方案如下:
[0009]一种基站放大器测试方法，应用于基站放大器温度循环测试系统中，所述测试系统包括信号采集装置，基站放大器，以及基站放大器测试装置，所述方法包括:
[0010]基站放大器测试装置建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；
[0011]所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；
[0012]所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；
[0013]所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；
[0014]当所述测试次数达到预设的门限值时，所述基站放大器测试装置终止所述测试过程。
[0015]较佳的，所述测试系统还包括信号发生装置；在预设的时长之后，所述基站放大器测试装置指示信号发生装置向所述基站放大器发送预设形式的测试信号，令所述基站放大器基于所述预设形式的测试信号发起测试过程；在所述测试过程开始之后，所述基站放大器测试装置按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率，反射功率以及温度。在预设的时长后，令信号发生装置发起测试过程，可以保证基站放大器中功率放大器的可靠开启，避免了由于功率放大器未完全开启所造成的测试结果不准确的问题。
[0016]较佳的，所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。采用上述技术方案，统计每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率和反射功率，通过输出功率和反射功率的差值检测基站放大器中各个功率放大器及与其连接元器件的质量，当上述某一个功率放大器对应的差值不满足预设的功率差值门限值时，表明该功率放大器及与其连接元器件存在质量问题，从而增加了检测结果的可罪性，提闻了故障定位精度。
[0017]较佳的，当任意一个功率放大器的输出功率及其反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值时，终止所述测试过程。
[0018]较佳的，所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的功率放大器之后:所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度；所述基站放大器测试装置按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。采用上述技术方案，通过基站放大器中的散热风扇控制该基站放大器的温度，无须借助外部设备即可达到温度自循环的目的。
[0019]较佳的，在所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度达到预设的低温门限值或者预设的高温门限值之前，当检测到所述基站放大器发送的故障告警信息时，所述基站放大器测试装置终止所述测试过程。
[0020]较佳的，当确定存在至少一种所述射频开关状态未完成测试时，所述基站放大器测试装置指示所述基站放大器控制所述所有射频开关切换至所述至少一种射频开关状态中的任意一种射频开关状态。
[0021]一种基站放大器测试装置，应用于基站放大器温度循环测试系统中，所述测试系统包括信号采集装置，基站放大器，以及基站放大器测试装置，所述基站放大器测试装置包括:
[0022]连接建立单元，用于建立与信号采集装置，基站放大器之间的连接关系；
[0023]第一指示单元，用于指示所述基站放大器控制本地的所有射频开关均处于任意一种射频开关状态，其中，所述基站放大器中包含至少一个射频开关，且一个射频开关控制两个功率放大器的导通与旁路，所述射频开关对应至少一种射频开关状态，当所述射频开关状态不同时，所述基站放大器中处于导通状态的功率放大器不同；
[0024]第二指示单元，用于按照预设周期分别读取信号采集装置中记录的每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的高温门限值，且所述所有射频开关状态对应的功率放大器的输出功率及其反射功率的差值均满足预设的功率差值门限值时，指示所述基站放大器关闭所述所有射频开关状态对应的所有功率放大器；
[0025]第一处理单元，用于按照预设周期分别读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度，直至判定所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度均达到预设的低温门限值，且所有所述射频开关状态均完成测试时，将测试次数加一；
[0026]第二处理单元，用于当所述测试次数达到预设的门限值时，结束所述测试过程。
[0027]其中，所述第一指示单元，进一步用于:在预设的时长之后，指示信号发生装置向所述基站放大器发送预设形式的测试信号，令所述基站放大器基于所述预设形式的测试信号发起测试过程。
[0028]所述第二指示单元，具体用于:指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速降低至最小转速门限值，并通知所述测试系统中的信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应功率放大器的输出功率、反射功率以及温度；按照预设周期读取所述信号采集装置中记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的输出功率、反射功率以及温度。
[0029]所述第二指示单元，进一步用于:当任意一个功率放大器的输出功率及其反射功率的差值不满足预设的功率差值门限值时，终止所述测试过程。
[0030]所述第一处理单元，具体用于:指示所述基站放大器控制本地散热风扇的转速升高至最大转速门限值，并通知信号采集装置分别记录所述基站放大器中每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度；按照预设周期读取所述信号采集装置记录的所述每一个射频开关状态对应的功率放大器的温度。
[0031]所述基站放大器测试装置还包括检测单元，用于:在所述所有射频开关状态对应的功率放大器的温度达到预设的低温门限值或者预设的高温门限值之前，当检测到所述基站放大器发送的故障告警信息时，终止所述测试过程。
[0032]当确定存在至少一种所述射频开关状态未完成测试时，所述第二处理单元，进一步用于:指示所述基站放大器控制所述所有射频开关切换至所述至少一种射频开关状态中的任意一种射频开关状态。
[0033]一种基站放大器的测试系统，所述测试系统包括基站放大器测试装置，基站放大器