一种电子设备的测试系统及其测试方法
【技术领域】
[0001]本发明属于自动化测试技术领域，尤其涉及一种电子设备的测试系统及其测试方法。
【背景技术】
[0002]高通无线芯片是无线局域网领域技术领先、增长最快的方案提供商之一，其产品类型覆盖了 802.1lb到802.1lac不同速率的所有无线模式，市场占有率仅次于博通系列，且在室外大功率和企业级公共无线产品方面占据着领导地位。高通无线芯片的测试是基于其自有的测试工具包art来实现的，现在已经升级到art2版本了，art2测试工具用脚本语言的形式以集成的测试方法成套的解决了高通无线芯片的功率、频偏的校准，信号的接收、发送等所有测试；但也因为其高集成的原因，无法通过底层接口去调整测试流程，因此，行业内普遍采用单机的测试方法，即测试仪器一次只能对一个高通无线芯片进行测试，所以目前的测试系统均为一个测试仪器对应一个高通无线芯片，这样测试仪器在测试完该高通无线芯片时，则需要将该高通无线芯片从测试系统中卸下，然后再将另一高通无线芯片装载进测试系统，并对需要对新装的高通无线芯片进行测试前的一系列准备工作，这样需要耗费大量的时间，导致测试仪器使用效率不高，严重影响了测试效率。
【发明内容】
[0003]本发明实施例的目的在于提供一种电子设备的测试系统及其测试方法，旨在解决上述测试仪器使用效率不高，严重影响了测试效率的问题。
[0004]本发明实施例是这样实现的，一种电子设备的测试系统，包括控制装置、分别与所述控制装置电性连接的测试仪器、RF组线路切换器以及多个待测电子设备，所述测试仪器还通过所述RF组线路切换器连接至所述多个待测电子设备，所述控制装置包括测试工具和自动化测试装置，所述自动化测试装置包括:
[0005]第一检测控制模块，用于检测所述待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；
[0006]第二检测控制模块，用于检测所述测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；
[0007]线路切换控制模块，用于根据所述待测电子设备的队列顺序控制所述RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；
[0008]测试模块，用于调用所述测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。
[0009]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述控制装置连接有四个待测电子设备，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与所述四个待测电子设备电性连接。
[0010]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述测试模块具体用于:
[0011 ] 调用所述测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量；
[0012]根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。
[0013]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，所述测试工具为art2测试工具。
[0014]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统中，还包括生产测试数据库，所述自动化测试装置还包括:
[0015]通讯模块，用于将所述测试结果上传到所述生产测试数据库。
[0016]本发明实施例的另一目的在于提供一种电子设备的测试系统的测试方法，包括:
[0017]检测待测电子设备的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备进入待测模式；
[0018]检测测试仪器的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态；
[0019]根据所述待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将所述待测电子设备切入RF组线；
[0020]调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。
[0021]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，控制装置连接有四个待测电子设备，所述RF切换器包括依次电性连接的输入端、多路转换开关以及四个输出端，所述RF切换器的输入端通过RF组线与所述测试仪器电性连接，所述RF切换器的四个输出端分别通过RF组线与四个待测电子设备电性连接。
[0022]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，所述调用测试工具控制所述测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果具体包括:
[0023]调用测试工具控制所述测试仪器测量切入RF组线中的待测电子设备的RF线路衰减量;
[0024]根据所述RF线路衰减量对所述待测电子设备进行无线功率测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果。
[0025]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，所述测试工具为art2测试工具。
[0026]在本发明实施例所述的电子设备的测试系统的测试方法中，还包括:将所述测试结果上传到生产测试数据库。
[0027]实施本发明实施例提供的电子设备的测试系统及其测试方法具有以下有益效果:
[0028]本发明实施例提供的电子设备的测试系统及其测试方法，由于在控制装置上设置有自动化测试装置，并能利用自动化测试装置根据待测电子设备的队列顺序控制RF组线路切换器以遍历的方式逐一将待测电子设备切入RF组线，进而再由自动化测试装置调用测试工具控制测试仪器对切入RF组线中的待测电子设备进行测试和校准，并根据测试进程实时显示测试结果，从而能够实现异步一拖多测试，即一个测试仪器可以对应连接多个待测电子设备，并逐一对多个电子设备进行测试，当某台待测电子设备的测试进程在占用测试仪器时，其他的待测电子设备可以利用这段时间完成装板、卸板以及测试前的模式设定等工作，这样可以使得测试仪器始终处于工作状态，可以在不改变art2测试流程的前提下提高测试仪器的利用率，大大提高了测试效率。
【附图说明】
[0029]图1是本发明实施例提供的电子设备的测试系统的结构示意图；
[0030]图2是本发明实施例提供的电子设备的测试系统中自动化测试装置的结构示意图；
[0031]图3是本发明实施例提供的电子设备的测试系统的测试方法的具体实现流程图。
【具体实施方式】
[0032]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0033]图1示出了本发明实施例提供的电子设备的测试系统的结构示意图。为了便于说明仅仅示出了与本实施例相关的部分。
[0034]参见图1所示，本发明实施例提供的一种电子设备的测试系统，包括控制装置1、分别与所述控制装置I电性连接的测试仪器2、RF(RadiC) Frequency，射频)线路切换器3以及多个待测电子设备4 (这里的多个为两个或两个以上)，所述测试仪器2还通过所述RF组线路切换器3连接至所述多个待测电子设备4，所述控制装置I包括测试工具和自动化测试装置。图2示出了自动化测试装置的结构示意图，参见图2所示，所述自动化测试装置包括:
[0035]第一检测控制模块121，用于检测所述待测电子设备4的物理连接状态，若连接成功，则控制所述待测电子设备4进入待测模式。
[0036]在本发明实施例中，控制装置I为一计算机，待测电子设备4为基于高通无线芯片的无线产品，例如:无线网卡；无线芯片包括但不限于型号为AR开头和QCA开头的所有无线芯片类型。控制装置I通过网线和交换机5与四个待测电子设备4，第一检测控制模块121具体用于:在控制装置I上运行cmd指令，确定后进入DOS (Disk Operating System，磁盘操作系统)窗口模式，在DOS窗口模式下输入:ping 192.168.1.l_t，其中192.168.1.1为待测电子设备4的IP地址(为了便于控制装置I可以区分识别各待测电子设备4，这里的交换机5可以为四个待测电子设备4设置不同的IP地址，这里的192.168.1.1仅仅为例举的一较佳实施例)，如果返回的结果是timeout，则说明所述待测电子设备4的物理连接状态不正常，需要重新连接；如果ping 192.168.1.1能过，则说明所述待测电子设备4的物理连接正常，此时，即可通过Telnet协议与所述待测电子设备4通信，向所述待测电子设备4下发指令使控制所述待测电子设备4进入测试模式。这里的Telnet协议是TCP/IP协议族中的一员，是Internet远程登陆服务的标准协议和主要方式。
[0037]第二检测控制模块122，用于检测所述测试仪器2的物理连接状态，若连接成功则对所述测试仪器2进行初始化，并检测RF切换器的物理连接状态。
[0038]在本发明实施例中，控制装置I通过网线与测试仪器2电性连接，测试仪器2为Litepoint IQ2010或者IQxel。第二检测控制模块122具体用于:在控制装置I上运行cmd指令，确定后进入DOS窗口模式，在DOS窗口模式下输入:ping 192.168.100.254_t，其中192.168.100.254为测试仪器2的IP地址(根据实际的设置不同实施例中测试仪器2的IP地址也可能各不相同)，如果pingl92.168.100.254能过，则说明测试仪器2连接成功，对测试仪器2进行初始化，并进一步检测RF切换器的物理连接状态，具体的:打开控制装置I上安装的NI MAX，在NI MAX运行的显示界面上通过“测试设备”图标开启虚拟切换界面，若能在该虚拟切换界面上控制RF切换器进行RF组线切换，则表示RF切换器连接正常。
[0039]线路切换控制模块123，用于根据所述待测电子设备4的队列顺序控制所述RF组线路切换器3以遍历的方式逐一将所述待测电子设备4切入RF组线。
[0040]在本发明实施例中，控制