一种新型lte终端综合测试仪的制作方法_2

文档序号:8654118阅读:来源:国知局
ELECTMAP的控制管脚与第一 FPGA连接;所述的第一 FPGA与PCIe Switch的控制管脚连接,第一 FPGA还与千兆以太网芯片的配置信号连接。
[0017]所述的第一 DSP的型号为TMS320C6670,所述的第二 DSP的型号为TMS320C6670,所述的第一 FPGA的型号为XC6VLX75T,所述的第二 FPGA的型号为XC3S200AN。
[0018]所述的PCIe Switch的型号为PEX8617,所述的千兆以太网芯片的型号为88E1111。
[0019]第一 FPGA为主FPGA,主要负责对器件的控制,主要完成以下功能:
[0020]1、通过与第一 DSP的GP1接口及其他的设置管脚连接,控制该DSP的工作,并通过GTX接口与第一 DSP的AIF2接口连接,以实现传输数据;
[0021]2、通过与第二 DSP的一些设置管脚连接,控制第二 DSP的工作;
[0022]3、通过与第二 FPGA连接,经过第二 FPGA的转换,实现从PC_>第二 DSP_>第二FPGA-〉第一 FPGA的数据链路,通过第二 FPGA实例化一个SelectMAP接口以动态配置第一FPGA,并可在正常工作期间实现第二 DSP的并行接口到第一 FPGA的直通连接;
[0023]4、与PCIe Switch的控制管脚连接,选择工作模式;
[0024]5、与千兆以太网芯片的配置信号连接,控制其工作方式。
[0025]第一 DSP为主DSP,负责对外接口的数据汇聚与收发,同时协同FPGA控制其他的器件,主要完成以下功能:
[0026]1、接收来自第一 FPGA的GTX接口的数据和AIF2接口来自射频发送接收模块的数据;
[0027]2、通过GP1接口与第一 FPGA进行协同工作;
[0028]3、通过HyperLink接口、SR1接口与第二 DSP进行数据交互;
[0029]4、通过SGMII接口和第二 DSP与外部主控计算机连接;
[0030]5、通过PCIe*2接口与主控控制模块连接。
[0031]第二 DSP为从DSP,主要承担的是协同第一 DSP进行数据的处理任务,当第一 DSP需同步处理数据量过大的时候,第一 DSP会通过HyperLink接口、SR1接口传输到第二 DSP进行处理,主要完成以下功能:
[0032]1、与第一 DSP进行数据交换,以及连接外部主控的SGMII接口 ;
[0033]2、通过PI接口、第二 FPGA与第一 FPGA连接;
[0034]3、通过SGMII接口连接到千兆以太网芯片,以转换成普通以外网信号,充当交换机的较色。
[0035]第二 FPGA为辅助FPGA,主要用作第一 FPGA和第二 DSP之间的路由,实现的目的主要有两个:
[0036]1、在动态配置第一 FPGA的时候,通过内部逻辑虚拟成一个SelectMAP控制器,以控制第二 DSP的并行接口过来的配置数据;
[0037]2、在动态配置第一 FPGA完成之后,第二 FPGA的内部实现第一 FPGA的管脚与第二DSP的并行接口的直通,以实现第一 FPGA挂接在第二 DSP的并行接口上。
【主权项】
1.一种新型LTE终端综合测试仪,其特征在于:它包括射频发送接收模块、基带处理模块、时钟产生模块、主控控制模块和用户接口模块,所述的射频发射接收模块与基带处理模块连接,基带处理模块与主控控制模块连接,主控控制模块与用户接口模块连接,主控控制模块还与时钟产生模块连接; 所述的基带处理模块包括第一 DSP、第二 DSP、第一 FPGA和第二 FPGA ;所述的第一 DSP的AIF2接口与射频发送接收模块连接,第一 DSP的AIF2接口还与第一 FPGA的GTX接口连接,第一 DSP的PCIe*2接口通过PCIe Switch与主控控制模块连接,第一 DSP分别通过HyperLink接口、SR1接口、JTAG接口、SGMII接口与第二 DSP连接,第一 DSP还分别通过GP1接口、专用配置接口、状态标示接口与第一 FPGA连接;所述的第二 DSP依次通过SGMII接口、千兆以太网芯片与RJ-45接口连接,第二 DSP还分别通过GP1接口、配置管脚与第一 FPGA连接,第二 DSP还分别通过PI接口、纯并行接口的传递管脚与第二 FPGA连接;所述的第二 FPGA通过实现SELECTMAP的控制管脚与第一 FPGA连接;所述的第一 FPGA与PCIeSwitch的控制管脚连接,第一 FPGA还与千兆以太网芯片的配置信号连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型LTE终端综合测试仪,其特征在于:所述的第一DSP的型号为TMS320C6670,所述的第二 DSP的型号为TMS320C6670,所述的第一 FPGA的型号为XC6VLX75T,所述的第二 FPGA 的型号为 XC3S200AN。
3.根据权利要求1所述的一种新型LTE终端综合测试仪,其特征在于:所述的PCIeSwitch的型号为PEX8617,所述的千兆以太网芯片的型号为88E1111。
4.根据权利要求1所述的一种新型LTE终端综合测试仪,其特征在于:它还包括多个DDR3 RAM,所述的DDR3 RAM通过第一 DSP的DDR3接口与第一 DSP连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种新型LTE终端综合测试仪,它包括射频发送接收模块、基带处理模块、时钟产生模块、主控控制模块和用户接口模块,所述的射频发射接收模块与基带处理模块连接,基带处理模块与主控控制模块连接,主控控制模块与用户接口模块连接,主控控制模块还与时钟产生模块连接;所述的基带处理模块包括第一DSP、第二DSP、第一FPGA和第二FPGA,所述的第一DSP的AIF2接口与射频发送接收模块连接,第一DSP的AIF2接口还与第一FPGA的GTX接口连接。本实用新型的一种LTE终端综合测试仪,具有数据处理效果优秀、实现双天线收发同步的优点,尤其是对于数据多的情况下,采用双DSP和双FPGA的处理模式,使得数据处理的能力更强。
【IPC分类】H04W24-04, H04W24-02
【公开号】CN204362311
【申请号】CN201520098073
【发明人】时维勇
【申请人】成都贝尔通讯实业有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2015年4月20日
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