通过均匀性参数的经修改取样得到的轮胎均匀性改进的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及轮胎均匀性，且更具体地说涉及基于根据经修改取样模式获取的均匀 性参数来改进轮胎的均匀性。
【背景技术】
[0002] 在轮胎的某些可量化特性中，轮胎非均匀性与关于轮胎的旋转轴线的对称性(或 缺乏对称性）相关。不幸的是，常规轮胎成型方法具有许多产生在轮胎中的非均匀性的机 会。在轮胎旋转期间，存在于轮胎结构中的非均匀性在车轮轴线处产生周期性变化的力。当 这些力变化作为明显的振动传送到车辆和车辆乘员时，轮胎非均匀性是重要的。这些力通 过车辆的悬架传送并且可以在车辆的座椅和方向盘上被感觉到，或者作为噪声在乘客室中 传送。传送到车辆乘员的振动的量已经被分类为轮胎的"乘坐舒适"或"舒适"。
[0003] 轮胎均匀性参数或属性一般被分类为尺寸或几何变化(径向偏心和横向偏心）、质 量变量，以及滚动力变化(径向力变化、横向力变化以及切向力变化，有时也称为纵向或前 后力变化）。均匀性测量机器通常通过测量在轮胎围绕其轴线旋转时在轮胎周围的多个点 处的力来计算上述和其它均匀性特性以生成均匀性波形。
[0004] 许多不同因素可对轮胎中的均匀性特性的存在产生贡献。轮胎中的均匀性分散可 由轮胎谐波均匀性效应和过程谐波均匀性效应两者产生。轮胎谐波均匀性效应具有符合轮 胎圆周（例如，在轮胎圆周内配合整数次数）的变化周期。轮胎谐波均匀性效应可归因于胎 面接合宽度、成型鼓的失圆度、硫化机效应和其它效应。过程谐波均匀性效应具有并不符合 轮胎圆周的变化周期。过程谐波效应大体上涉及过程要素而非轮胎圆周。过程谐波效应可 (例如)在半成品（例如，胎面带)的制备过程中由归因于挤出机控制系统的厚度变化或由可 以使较软产品的形状变形的辊导致。过程谐波效应的影响可取决于相对于轮胎圆周的过程 谐波效应的引入速率而在不同轮胎间改变。
[0005] 通常在针对轮胎的旋转的多个等间隔数据点（例如，128个数据点或256个数据点） 处测量或取样轮胎均匀性参数。在等间隔数据点处的均匀性测量值的取样可用以构造轮胎 的均匀性波形。随后可分析均匀性波形(例如，通过使用傅里叶分解或通过估计模型化均匀 性测量的数学模型的系数）以识别所关注的各种均匀性属性，例如均匀性参数的各种轮胎 谐波和过程谐波。
[0006] 在围绕轮胎的等间隔数据点处对轮胎的均匀性参数取样的问题可能在于，在离散 数据点中的一者的位置处某些均匀性效应可能并不对轮胎具有最大影响。这会造成估计对 轮胎的均匀性有贡献的某些均匀性效应的影响中的误差，从而导致由于较多轮胎可能超过 分拣限制的事实而减少的均匀性产量。
[0007] 作为一个实例，当在围绕轮胎的等间隔数据点处对轮胎的均匀性进行取样时，过 程谐波在离散数据点处不会表现出来。举例来说，过程谐波均匀性效应的峰可位于针对轮 胎获得的两个取样数据点之间。然而，过程谐波均匀性效应的峰将表现为位于最近的相邻 数据点处。因此，等间隔取样模式不会自然地对一组轮胎的过程效应进行取样，从而导致从 使用等间隔取样模式获得的均匀性测量值估计过程谐波中的误差。
[0008] 因此，需要改进围绕轮胎的均匀性测量值的取样以改进例如过程谐波均匀性效应 等均匀性效应的估计。
【发明内容】
[0009] 本发明的各方面以及优点将部分在以下描述中进行阐述，或者可以从所述描述中 显而易见，或者可以通过本发明的实践来习得。
[0010]本发明的一个实例方面涉及一种用于改进轮胎的均匀性的方法。所述方法包含识 别用于测量一个或多个轮胎的均匀性参数的非均匀取样模式。所述非均匀取样模式具有多 个数据点。所述方法进一步包含获得所述一个或多个轮胎的多个均匀性测量值。所述多个 均匀性测量值是根据所述非均匀取样模式而获取。所述方法可进一步包含使用所述多个均 匀性测量值估计所述均匀性参数的谐波分量，且至少部分地基于所述谐波分量修改轮胎的 制造。
[0011] 本发明的另一实例方面针对一种用于改进轮胎的均匀性的系统。所述系统可包含 均匀性测量机器，其经配置以根据用于轮胎的一转或多转的非均匀取样模式获得轮胎的均 匀性测量值。所述非均匀取样模式具有多个数据点。所述系统可进一步包含耦合到所述测 量机器的一个或多个计算装置。所述一个或多个计算装置可包含一个或多个处理器和至少 一个存储器。所述至少一个存储器可以存储计算机可读指令，所述指令在由所述一个或多 个处理器执行时使得所述一个或多个处理器执行操作。所述操作可包含使用所述多个均匀 性测量值估计所述均匀性参数的谐波分量。所述非均匀取样模式可指定所述多个数据点之 间的不等间距。
[0012] 参考以下描述以及所附权利要求书，本发明的这些以及其它特征、方面以及优点 将得到更好的理解。并入在本说明书中且构成本说明书的一部分的【附图说明】了本发明的实 施例，并且与所述描述一起用以解释本发明的原理。
【附图说明】
[0013] 本发明的针对所属领域的技术人员的完整且令人能够实现的揭示(包含其最佳模 式)在说明书中得到阐述，所述揭示参考附图，在所述附图中：
[0014] 图1描绘跨越五个不同轮胎体现的实例过程谐波。图1绘制沿着横坐标的围绕轮胎 的方位角位置和沿着纵坐标的过程谐波的量值。
[0015] 图2描绘根据本发明的实施例的用于改进轮胎的均匀性的实例方法的流程图。
[0016] 图3描绘根据本发明的一个实例实施例的非均匀取样模式。图3绘制沿着轮胎的方 位角的取样模式的数据点。
[0017] 图4描绘根据本发明的另一实例实施例的非均匀取样模式。图4绘制沿着轮胎的方 位角的取样模式的数据点。
[0018] 图5描绘根据本发明的另一实例实施例的非均匀取样模式。图5绘制沿着轮胎的方 位角的取样模式的数据点。
[0019] 图6描绘根据本发明的一个实例实施例的提供过程谐波的量值之间的相等间距的 数据点的识别。图6绘制沿着横坐标的围绕轮胎的方位角以及沿着纵坐标的与过程谐波相 关联的余弦值的量值。
[0020] 图7描绘根据本发明的一个实例实施例的用于识别针对识别候选过程谐波而优化 的非均匀取样模式的实例方法的流程图。
[0021] 图8描绘根据本发明的一个实例实施例的用于改进轮胎的均匀性的系统。
【具体实施方式】
[0022] 所属领域的一般技术人员应了解，本论述仅是对示范性实施例的描述，且并不意 欲限制本发明的更广泛的方面。每个实例是为了解释本发明而提供，而非限制本发明。实际 上，所属领域的技术人员将显而易见，在不脱离本发明的范围或精神的情况下可以在本发 明中进行各种修改以及改变。举例来说，图示或描述为一个实施例的一部分的特征可以与 另一实施例一起使用以产生再一实施例。因此，希望本发明涵盖如落入所附权利要求书及 其等效物的范围内的此类修改和变化。
[0023] 挺塗
[0024] 大体上，本发明的实例方面是针对用于通过识别例如过程谐波等均匀性属性来改 进轮胎均匀性的方法和系统。更确切地说，可以获得且分析根据非均匀取样模式获取的均 匀性测量值以估计一或多个过程谐波(例如，过程谐波的量值）。非均匀取样模式可指定围 绕轮胎的一转或多转以变化或不规则方式获取均匀性测量值。从所述均匀性测量值估计的 过程谐波可用以修改轮胎的制造以改进轮胎均匀性。
[0025] 已发现利用使用非均匀取样模式获取的均匀性测量值估计例如过程谐波等谐波 分量可以克服与使用等间隔数据点的取样模式估计谐波分量相关联的许多问题。举例来 说，非均匀取样模式可更准确地对过程谐波进行取样，从而得到过程谐波的较好估计。估计 的增加的准确性可带来许多优点，例如增加的轮胎均匀性产量(例如，通过均匀性审查的轮 胎的％)。
[0026] 更确切地说，可以通过在轮胎的一转或多转的多个离散数据点处获得表示多个均 匀性测量值的均匀性波形而分析均匀性参数。均匀性参数可以是例如径向偏心、径向力变 化、横向偏心、横向力变化、静态平衡、切向力变化或其它合适的均匀性参数。可以分析均匀 性测量值以识别所关注的均匀性参数的一个或多个谐波，例如一个或多个轮胎谐波和/或 一