个或多个过程谐波。
[0027] 轮胎谐波具有配合轮胎圆周内的整数次数的周期。典型的轮胎谐波可以归因于胎 面接头宽度、成型鼓的失圆度、压力效应和其它效应。过程谐波具有不配合轮胎圆周内的整 数次数的周期。典型的过程谐波可以例如在半成品（例如，胎面带）的制备过程中由归因于 挤出机控制系统的厚度变化或由可以使较软产品的形状变形的辊导致。
[0028] 过程谐波可以在各种参数方面来表达或识别，所述参数包含但不限于关于轮胎的 尺寸(例如，轮胎圆周、半径、直径、在轮胎周围的数据点的离散数目或类似者）引入的速率 (例如，频率或周期）。引入的速率还可以表达为谐波数目（例如，1.25、0.8等）。当考虑总数 为P的候选过程效应时，每一过程效应的引入速率可以在其相应谐波数目h P方面界定。
[0029] 可以例如通过将均匀性测量值模型化为一个或多个轮胎谐波项与一个或多个过 程谐波项的总和而从均匀性测量值识别例如过程谐波等谐波分量。可以使用统计分析(例 如，回归分析或编程分析)来估计与轮胎谐波项和过程谐波项相关联的系数。可以基于估计 系数确定过程谐波和轮胎谐波的特性。
[0030] 因为过程谐波的周期并不与轮胎圆周一致，所以过程谐波的峰的方位角位置在轮 胎间移位。举例来说，图1描绘表示跨越五个不同轮胎体现的过程谐波100的实例均匀性波 形。如图所示，过程谐波100的峰位于五个轮胎中的每一个的不同方位角位置处。在某些情 况下，过程谐波的峰在均匀取样模式中可位于等间隔数据点之间。
[0031] 为了更自然地对例如过程谐波等谐波分量进行取样，本发明的各方面是针对分析 已经使用非均匀取样模式测得的均匀性测量值。非均匀取样模式可指定用于以不规则或非 均匀方式获取均匀性测量值的多个数据点。举例来说，非均匀取样模式可指定取样模式中 的数据点之间的不等间距。如果预期多转，那么非均匀取样模式可指定轮胎的每一转的数 据点的不同模式和/或可指定用于每一转的均匀性测量值的获取的不同目标圆周。这可以 确保针对轮胎的每一转对不同数据点进行取样。以不规则或非均匀方式指定均匀性测量值 的获取可导致数据点更可能在过程谐波的峰的实际位置处发生，从而得到过程谐波的较准 确估计。当存在全部同时有效的多个竞争轮胎谐波时这也提供优点。
[0032 ]本发明的特定实例实施方案可针对识别为了估计特定谐波分量(例如特定过程谐 波)而定制的非均匀取样模式。举例来说，由非均匀取样模式指定的数据点的间距可确定为 最佳估计已知或疑似的过程谐波。可以使用例如匹配模式技术或统计搜索技术（例如， lasso搜索技术)等各种分析技术来识别用于特定过程谐波的非均匀取样模式。在这些实例 实施方案中，非均匀取样模式可允许当与指定围绕轮胎的等间隔数据点的取样模式相比时 在更少的数据点处获取均匀性测量值。
[0033] 用于改进轮胎的均匀性的实例方法
[0034] 图2描绘根据本发明的实例实施例的用于改进轮胎的均匀性的实例方法(200)的 流程图。出于说明和讨论的目的，图2描绘以特定顺序进行的步骤。使用本文中提供的公开 内容，所属领域的一般技术人员将理解，本文中所公开的方法中的任一个的各步骤可以各 种方式省略、调适、扩展和/或重新布置。另外，将参考从使用非均匀取样模式获取的均匀性 测量值识别过程谐波来论述图2。在不脱离本发明的范围的情况下可以使用本文所揭示的 方法识别其它谐波分量，例如轮胎谐波分量。
[0035] 在(202)处，所述方法包含识别至少一个候选过程谐波。可以指定单个过程谐波或 多个过程谐波作为用于分析的候选过程谐波。可以在各种参数方面来表达或识别所述至少 一个候选过程谐波，所述参数包含但不限于关于轮胎的尺寸引入的频率或周期。举例来说， 候选过程谐波可以表达为谐波数目（例如，0.75、1.25等）。
[0036] 所述候选过程谐波可以是基于制造过程的某些已知特征识别的已知过程效应，或 所述候选过程谐波可以是未知的。举例来说，如果物理过程源是已知的，那么从造过程的某 些方面和/或条件识别候选过程谐波可以是可能的。
[0037] 如果候选过程谐波是未知的，那么可以使用多种搜索技术识别候选过程谐波。一 个实例搜索技术可以涉及在候选过程效应的范围上以阶梯式递增指定一系列候选过程谐 波(例如，0.2、0.3、0.4-1.5等）。回归/编程分析可以通过求解与所述范围中的每一递增候 选过程谐波相关联的系数来识别候选过程谐波的范围内的过程谐波。可以确定与非可忽略 系数相关联的过程谐波以有助于轮胎的总体均匀性。
[0038] 在不偏离本发明的范围的情况下，其它合适的技术可以用于识别候选过程谐波。 举例来说，贝叶斯频谱分析技术可以应用于所测量均匀性波形以确定选定数目的候选过程 谐波的谐波数目。此类实例识别技术公开于第2013/0098148号美国专利申请公开案中，所 述公开案在使其教示符合本发明的程度上以引用的方式并入本文中。
[0039] 在(204)处，所述方法可包含识别用于获取轮胎的一转或多转的均匀性测量值的 非均匀取样模式。识别非均匀取样模式可包含例如根据本文所揭示的实例技术确定特定取 样模式，或可包含存取例如存储在存储器中的先前确定的非均匀取样模式。非均匀取样模 式可指定以非均匀或不规则方式获取轮胎的一转或多转的均匀性测量值。现将阐述可以根 据本发明的各方面分析的实例非均匀取样模式。
[0040] 在一个实例实施例中，非均匀取样模式可指定用于获取均匀性测量值的数据点之 间的不等或不规则间距。举例来说，取样模式可指定在处于不等间距的128个数据点处获取 均匀性测量值。在特定实施方案中，非均匀取样模式可指定数据点之间的随机间距。举例来 说，如果将s界定为轮胎圆周/SN数据点的相等间距，那么取样模式可指定轮胎的每一扇区 的数据点1.0 s、2. Os、3.5s、3.75s、4. Os、4.25s、8.0…数据点之间的间距可共同地针对一组 轮胎随机化，或者可针对每一个别轮胎随机化。当使用搜索技术搜索候选过程谐波时数据 点的随机间距可为合适的。
[0041] 图3描绘根据本发明的一个实例实施例的指定数据点之间的不等间距的非均匀取 样模式300的表示。图3绘制随围绕轮胎的方位角位置(Θ)而变的数据点。如图所示，非均匀 取样模式300包括多个数据点302。数据点302之间的间距是不等的。
[0042] 在另一实例实施例中，非均匀取样模式可预期获取轮胎的多转的均匀性测量值。 举例来说，非均匀取样模式可指定用于轮胎的每一转的不同取样模式。此非均匀取样模式 可允许针对轮胎的每一转在不同数据点处获取均匀性测量值，从而增加均匀性参数的取样 的分辨率。
[0043]图4描绘根据本发明的一个实例实施例的指定用于轮胎的每一转的不同取样模式 的非均匀取样模式310的表示。图4绘制随围绕轮胎的方位角位置(Θ)而变的数据点。如图所 示，非均匀取样模式310可包含用于轮胎的第一转的数据点的第一模式312。所述非均匀取 样模式可包含用于轮胎的第一转的数据点的第二模式314。数据点的第一模式312不同于数 据点的第二模式314。图4中所描绘的模式312和314中的数据点之间的间距是不等的。然而， 在不脱离本发明的范围的情况下，个别模式312和314中的每一者中的数据点之间的间距可 为相等的。
[0044]在又另一实例实施例中，非均匀取样模式可指定用于获取轮胎的每一转的数据点 的不同目标圆周。举例来说，非均匀取样模式可指定用于在第一转期间获取均匀性测量值 的第一目标圆周和用于在第二转期间获取均匀性测量值的第二目标圆周。第一目标圆周可 不同于第二目标圆周(例如，第一和第二目标圆周可具有不同的开始点和/或不同的点对点 间距）。目标圆周中的每一者可不等于真实轮胎圆周。此非均匀取样模式也可允许针对轮胎 的每一转在不同数据点处获取均匀性测量值，从而增加均匀性参数的取样的分辨率。在特 定方面，可基于候选过程谐波的周期选择目标圆周以使得对过程谐波更准确地进行取样。 [0045]图5描绘指定用于获取轮胎的每一转的数据点的不同目标圆周的非均匀取样模式 320的表示。非均匀取样模式320指定用于轮胎的四个不同转的四个不同目标圆周322。在不 脱离本发明的范围的情况下可以指定更多或