用于检查虾的方法与流程

1.本发明大体上涉及一种用于检查去皮虾的方法。


背景技术：

2.在虾的批量加工中，自动化虾去皮器可去除虾的头部、附肢和壳。虽然去皮过程通常是彻底的，但一些虾留有残余的壳。为了改善最终产品的质量，从完全去皮的虾当中剔除具有残余壳的虾。残余壳的检测经常是通过视觉检查来完成。但透明的残余壳并不总是容易注意到。


技术实现要素：

3.一种体现本发明的特征的用于检查去皮虾的方法包括：(a)提供暗室，所述暗室阻挡外部可见光进入室的内部；(b)发射紫外线(uv)辐射，所述紫外线辐射指向所述暗室的内部中的去皮虾的群组；(c)滤除所述uv辐射中的可见光以产生经滤波的uv辐射；(d)以经滤波的uv辐射照射所述暗室的内部中的所述去皮虾的群组以致使残余壳以可见光发荧光；以及(e)在暗室中提供人类操作者以用肉眼在视觉上检测发荧光的壳的可见光。
附图说明
4.图1是体现本发明的特征的用于检查剔除和壳检测台中的去皮虾的检查系统的俯视平面示意图；
5.图2是在图1的壳检测台中可用的uv源和滤波器的框图；
6.图3a是由图2的uv源发射的uv辐射的光谱，且图3b是在穿过阻挡可见光的滤波器之后的图3a的uv辐射的光谱；以及
7.图4a是完全带壳虾的反射辐射的光谱，且图4b是虾壳的反射辐射的光谱。
具体实施方式
8.在图1中在连续系统中示出了去皮虾检查系统8中的手动剔除和壳检测台。被装载到例如传送带的传送机12上的去皮虾10被递送通过剔除台14。在环境照明中为剔除台14配备的人类操作者16从经过的虾10的供应中剔除不希望的虾小块和碎屑18、20，并将碎屑18、20存放在收集容器22中。可以是一个或多个传送带或水槽(仅作为两个实例)的传送机12随后传送去皮虾10进入并通过暗室24。
9.暗室24防止环境可见光进入室的内部26。uv灯28发射uv辐射30，所述uv辐射指向室24中的虾10的群组，还如图2中所示。uv辐射30由带通滤波器32滤波以滤除可见光，且产生照射暗室24中的虾10的群组的经滤波的uv辐射34。照射虾10的经滤波的uv辐射34通过使uv辐射中的一些移位到光谱的可见光区中而造成残余壳36发荧光。来自发荧光的壳的可见光对人类肉眼是可见的，并且因此可在暗室24中由人类操作者38检测。在暗室中的人类操作者38从虾10的群组移除具有残余壳36的那些虾10
′
，且将它们存放在退回容器40中，它们
可以从退回容器返回到去皮器。退出暗室24的虾10不含残余壳。
10.作为一个替代方案，暗室24可以作为单独的质量控制台操作，其中去皮虾的样本放置于静态支撑表面上且由操作者用肉眼检查以检测发荧光的壳。
11.暗室24阻挡足够环境可见光进入其内部26，以确保壳的荧光可由肉眼检测。并且已发现，便宜的uva灯，更好地被称为黑灯，使得可检测到壳的足够荧光。除了便宜之外，uva灯不会使暗室24中的人类操作者38经受不安全水平的较高频率uv辐射。
12.图3a示出未经滤波的uva灯的光谱。所述光谱示出为波长(λ)而不是频率的函数。因此，较长波长和较低频率在图3a
‑
4b中的光谱的曲线图的右边。未经滤波的uva辐射具有集中于350nm附近的主带和在光谱的可见光区中的一些较长波长带。主带中的uva灯的最大能量发生在恰好在可见光区44(约380nm到740nm)下方的集中于约350nm的紫外线波长的范围42上方。带通滤波器32(图1和2)滤除高于约400nm的可见光以及低于约310nm的较短波长辐射，如在图3b中的经滤波的uva辐射的光谱中所示，以使得更容易看见壳的荧光。滤波器还通过使照射虾的经滤波的uva的光谱峰移位到约365nm而影响峰值在约350nm的主uva灯能量42的光谱。
13.图4a示出来自由图3b的经滤波的uva辐射照射的完全带壳虾的反射辐射的光谱。图4b示出来自由图3b的经滤波的uva辐射照射的壳的反射辐射的光谱。完全带壳虾的在可见光区中的反射辐射的水平46低于可在暗室中用肉眼检测的来自发荧光的壳的反射和荧光辐射的水平48。如图4b所示的来自虾壳的反射uva辐射的主带的峰值能量比如图4a所示的来自完全带壳虾的反射uva辐射低得多，指示入射uva能量的主带的许多被壳吸收且转换为肉眼容易可见的较高波长荧光。